JPH01137403U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH01137403U JPH01137403U JP3423988U JP3423988U JPH01137403U JP H01137403 U JPH01137403 U JP H01137403U JP 3423988 U JP3423988 U JP 3423988U JP 3423988 U JP3423988 U JP 3423988U JP H01137403 U JPH01137403 U JP H01137403U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cylinder
- cylindrical body
- measuring device
- ceramic pieces
- body measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
Description
第1図は本考案の第1の実施例を示す平面図、
第2図はその一部切欠正面図、第3図、第4図は
本考案の他の実施例の平面図、第5図は本考案を
外径測定用の円筒体測定装置に適用した例を示す
平面図、第6図は本考案を直角度測定用の円筒体
測定装置に適用した例を示す一部切欠正面図であ
る。 1:試料台本体、2:セラミツク片、8:円筒
体。
第2図はその一部切欠正面図、第3図、第4図は
本考案の他の実施例の平面図、第5図は本考案を
外径測定用の円筒体測定装置に適用した例を示す
平面図、第6図は本考案を直角度測定用の円筒体
測定装置に適用した例を示す一部切欠正面図であ
る。 1:試料台本体、2:セラミツク片、8:円筒
体。
Claims (1)
- 円筒体8を回転させつつ公差を検査、測定する
円筒体測定装置の円筒体8を載せる試料台本体1
の上面に、表面が平滑で耐摩耗性を有する複数の
セラミツク片2を、各セラミツク片2の表面を同
一平面上に位置させて突設したことを特徴とする
円筒体測定装置用試料台。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988034239U JPH0734322Y2 (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 円筒体測定装置用試料台 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988034239U JPH0734322Y2 (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 円筒体測定装置用試料台 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01137403U true JPH01137403U (ja) | 1989-09-20 |
JPH0734322Y2 JPH0734322Y2 (ja) | 1995-08-02 |
Family
ID=31260961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1988034239U Expired - Lifetime JPH0734322Y2 (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 円筒体測定装置用試料台 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0734322Y2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014111315A (ja) * | 2012-12-05 | 2014-06-19 | Ngk Insulators Ltd | セラミックハニカム構造体の製造方法、及びセラミックハニカム乾燥体の仕上げ加工装置 |
JP2016095269A (ja) * | 2014-11-17 | 2016-05-26 | 株式会社東京精密 | 形状測定機及び形状測定方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49137553U (ja) * | 1973-03-23 | 1974-11-27 | ||
JPS58201002A (ja) * | 1982-05-20 | 1983-11-22 | Kyushu Refract Co Ltd | セラミツクス製測定器具 |
-
1988
- 1988-03-15 JP JP1988034239U patent/JPH0734322Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49137553U (ja) * | 1973-03-23 | 1974-11-27 | ||
JPS58201002A (ja) * | 1982-05-20 | 1983-11-22 | Kyushu Refract Co Ltd | セラミツクス製測定器具 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014111315A (ja) * | 2012-12-05 | 2014-06-19 | Ngk Insulators Ltd | セラミックハニカム構造体の製造方法、及びセラミックハニカム乾燥体の仕上げ加工装置 |
JP2016095269A (ja) * | 2014-11-17 | 2016-05-26 | 株式会社東京精密 | 形状測定機及び形状測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0734322Y2 (ja) | 1995-08-02 |