JPH07324929A - 座標測定装置を用いて加工物の座標を測定する方法 - Google Patents
座標測定装置を用いて加工物の座標を測定する方法Info
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- JPH07324929A JPH07324929A JP7130805A JP13080595A JPH07324929A JP H07324929 A JPH07324929 A JP H07324929A JP 7130805 A JP7130805 A JP 7130805A JP 13080595 A JP13080595 A JP 13080595A JP H07324929 A JPH07324929 A JP H07324929A
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Abstract
この種の装置の測定精度を向上させる。 【構成】 種々の影響量たとえば測定力、加速度、装置
の測定容積体における測定キャリッジ2,4の位置にも
とづく、CMMの弾性曲げ特性が求められ、これから補
正値が算出される。これを用いて機械曲げによる測定誤
差が補償できる。補正値は測定領域における測定キャリ
ッジ2,4の位置すなわち走査ヘッドの位置に依存し、
そのため種々の位置のために求められて記憶される。こ
の方法は有利に、固定のモデルにもとづいて開発された
公知の案内誤差補正法および、機械部材の振動に起因す
る機械偏差のダイナミック補正法と組み合わせることが
できる。
Description
憶されている補正値により補償する形式の、CMM(座
標測定装置)による加工物の座標測定法に関する。
かなり以前から測定結果が、即ち機械の測定軸における
スケールから供給される座標値が計算により補正され
る。通常はいわゆる“固定のモデル”から導出された、
直線座標系および直交座標系からの、CMMの測定キャ
リッジのスタティックな案内偏差から得られる補正が考
慮される。この種の補正法は例えば論文“Numeri
cal Error Correction of a
Coordinate MeasuringMach
ine” K.Busch,H.Kunzmann,
F.Waeldele著、Proceedings o
f the InternationalSympos
ium on Metrology for Qual
ityControl in Production,
Tokyo 1984,284−288頁、および米国
特許出願公報第4819195号に記載されている。
式で走査する座標測定の場合、測定されるべき加工物と
の接触中の接触ピンの曲げを大きさに従って検出して、
測定値の後続の評価の際に共に考慮する構成も公知であ
る。この種の方法は例えば論文“Korrektur
der Taststiftbiegung beiM
essung mit Mehrkoordinate
n−Messgeraeten”(Correctio
n of probe bending when m
easuring with coordinate
measuring machines)A.Weck
enmann,G.Goch,H.D.Springb
orn,in Feinwerktechnik un
d Messtechnik 87(1979)1,p
p.5−9および論文“Messende Taste
r mit mehreren Freiheitsg
raden”(Measuring probes w
ith severaldegrees of fre
edom)W.Lotze著、Technische
Rundschau,50号(1992)20−25頁
に記載されている。 この方法の場合、それぞれの走査
ピン用の曲げテンソルが、相異なる測定力による較正球
の複数回の検出装置により定められる。次にこれから、
加工物における測定の際に用いられる相異なる走査ピン
のための補正値が算出されて記憶され、さらに未知の加
工物の測定の際の測定結果の評価中に考慮される。さら
に次の構成も公知である。即ちCMMの測定キャリッジ
のダイナミック偏差を、即ち誤差を補正する構成も公知
である。この誤差の生ずる理由は、測定アームの端部に
取り付けられたCMMの走査ヘッドが静止せず、障害量
たとえば駆動装置の加速度等によりその休止位置を中心
に振動するからである。この種の補正法は例えば米国特
許第4333238号公報に示されている。この種のダ
イナミック補正法は、振動する走査ヘッドの近傍に設け
られているセンサを使用し、このセンサは走査時点にお
ける障害振動の経過を表わす信号を送出する。
座標測定装置における誤差の影響が、次の2つの論文に
おいて検討されている:Eindhoven Unix
ersity,J.W.U.C. Teeuwsen
著 Jan,1989,chapter 3,および
H.Soons 著 June 16,1993,p
p.85−91:しかし論文の著書は誤差発生源とし
て、運動するクロスバーに基因する質量の変位だけしか
考慮せず、加工物と座標測定装置との間に生ずる測定力
すなわち検出力を無視している。
測定速度を形成する目的でますますより軽量に構成され
るため、例えば走査器と加工物との間の検出装置力に起
因する測定キャリッジの弾性変形はますます重大な意味
を得ている。これらの変形はKMGの測定キャリッジの
くり出し長さに依存し、そのため機械の測定領域におけ
る走査ヘッドの位置に依存して、座標測定値の相異なる
大きさの偏差を生ぜさせる。
の測定誤差を低減し、そのためこの種の装置の測定精度
を向上させることである。
徴部分に示された構成により解決されている。
構成体の曲げ性と弾性特性を考慮する、即ち例えば加工
物の検出装置過程の際にCMMの走査ヘッドへ作用する
力にもとづく測定キャリッジの曲げ性を考慮する。これ
らは著しく小さくてこれにより発生される機械構成の変
形も著しく小さいが、CMMの測定不正確さがサブミク
ロンの範囲で特定される時は、この測定不正確さは測定
誤差として現われる。
げ特性がCMMの測定領域における走査器の複数個の位
置のために測定される。曲げ特性のための測定値から次
に補正値が算出されて記憶され、さらに装置の測定ソフ
トウエアにより続いて、未知の加工物の測定の際に例え
ばCMMのスケールから供給される、検出装置点の座標
測定値が補正算出される。このようにして既存のCMM
の測定不正確さが低減されるだけではなく、さらにCM
Mを今後はより軽量に構成可能にした。何故ならば軽量
構成に伴なう機械のより高い弾性変形は計算器により補
償できるからである。
ィメンションの補正テーブルとして作成して記憶する。
この場合、加工物のさらに測定値の本来の補正の際に、
記憶されている補正値の間で補間することもできる。
正値はわずかになる。
性を数学的関数たとえば多項式により近似化することも
可能である。この場合、これらの近似化関数の係数を記
憶することだけが必要とされる。
と同様に曲げテンソルにより記述可能であり、さらに正
確なCMMの場合、走査ピンのたわみ用の曲げテンソル
は現在はいずれにしても測定される。そのためCMMの
局所依存性の曲げ特性は著しく簡単に次のようにして求
められる。即ち曲げテンソルを、機械の測定領域におけ
る種々の個所において検査体の検出装置により測定する
ことにより、求められる。次の構成は著しく好適である
ことがわかった。即ちこの曲げテンソルを測定するため
に例えば立方体角の形状の検査体を使用し、この検査体
がCMMの測定領域における種々の個所を検出装置す
る。この場合、走査器から検査体へ作用された測定力の
大きさと方向を変化させる。このようにして、較正球の
検出装置の場合よりも曲げテンソルの要素を著しく良好
にかつ一層正確に測定可能となる。
を、既に公知の“固定モデル”による測定キャリッジの
スタティックな案内偏差補正法と共に使用することであ
る。そうしない場合にCMMの構成において案内構成の
品質の中に投資されるべき費用は、著しく低減される。
も補償される時に達成される。このダイナミック誤差は
個々の機械部材の接続振動にもとづいて発生し、例えば
長くて細い測定アームに当接される走査ヘッドの位置を
正確には定められなくしてしまう。これらの位置偏差は
センサを用いて好適に、検出装置と測定値検出の時点の
前から始まる時間間隔において求め、さらにこれらのセ
ンサの信号から、CMMの一層の精度向上に寄与するダ
イナミック補正値を算出する。このことは、本出願人に
よる11.12.1993の先行の特許出願第P434
2312.4号公報“Procedure for t
he correction of vibratio
n−related measuring error
s incoordinate measuring
machines,Dec.11,1993,および冒
頭に述べた米国特許第4333238号公報に記載され
ている。弾性偏差用のこの新規な補正法とダイナミック
偏差補正用の方法との組み合わせは、いわゆる切り換え
式走査ヘッドを備えている固定台測定装置の場合に有利
である。何故ならばこの機種の場合、弾性変形は測定キ
ャリッジの位置に依存して著しく大きく現われる。さら
に切り換え式走査式と加工物との短時間の接触により、
検出装置時点における機械振動により定められる位置不
安定性が著しく高いからである。
即ち機械の曲げの新規な補正法と、“固定モデル”によ
る公知のスタティック案内誤差補正法と、同じく公知の
ダイナミック誤差の補正法との組み合わせにより、測定
不安定性が従来は達せられなかった位に著しくわずかに
なる。
の記載で説明する。
細な説明に入る前に、この種の弾性偏差を定義してお
く。その目的はこの弾性偏差を、既に公知のようにいわ
ゆる“固定モデル”に従って冒頭に述べた従来技術によ
り補正される案内路誤差と区別するためである。“固定
モデル”の公知の案内路誤差は走査ヘッドの位置の関数
である、または当該の運動軸におけるそれぞれの測定キ
ャリッジの位置の関数である。それに応じて例えば並進
誤差および旋回誤差は、誤差の種類と2つの軸−即ち運
動軸と誤差軸−を記入することにより、識別する。例え
ば“X”測定キャリッジが測定軸Xに沿って運動される
際のY方向への横方向変位(並進)は通常の様にxTy
として示され、X方向へ運動する際のY軸を中心とする
揺動運動はxRyとして表わされる。しかしこれらの場
合、正確にはxTy(X)およびxRy(X)を用いる
べきであろう。何故ならばこの表現法は数学的に一義的
に並進座標への依存性を示すからである。最初の文字は
運動連鎖体の補正される部材すなわちその都度の案内方
向を示す。第2の文字は並進運動における誤差成分と旋
回における誤差成分とを区別し、第3の文字は変位方向
または旋回軸を示す。
は、連鎖体の項の個々の成分の変形の結果である。この
場合この変形は当該の運動軸そのものにおける位置の関
数だけではない。さらにこの変形は種々の変数たとえば
検出装置力F,加速度a,補正されるべき本来の案内方
向に垂直な他の測定キャリッジの位置に依存する。例え
ばX方向へ案内される測定キャリッジの、その固有の軸
を中心とする揺動運動に対しては、弾性モデルにより次
の式が適用される。
装置F,加速度a,Z方向、Y方向への測定キャリッジ
の瞬時位置へ関数的に依存することを示す。
にもとづいて弾性に起因する幾何学的寸法の偏差を補正
できる−を説明する。この状態を説明するために、説明
は水平アーム形CMMを対象とする。さらに、水平アー
ム形CMMにおいては生じないが、他の形式のCMMの
場合に重要な弾性偏差のための付加的な式を説明する。
を示す。これはX方向へ変位可能な支柱2のための案内
体1′を有する機械テーブル1から構成されている。こ
の支柱にはY方向に案内体2′に、垂直方向へ変位可能
な交差スライダ3が支承されている。交差スライダ3の
支承体3′の中で軸4は、それらの案内体4′と共に矢
印Z方向へ滑動する。軸は前方の端部に走査ヘッド5を
支持する。走査ヘッドの中にはフレキシブルに支持され
た走査ピン6を有する。運動連鎖体の4つの部材の間の
空隙は、即ちテーブル1、支柱2、交差スライダ3およ
び軸4の間の空隙は参照記号1″,2″,3″で示され
ている。
一般的に表わすと、次のように表わせる。
ルクの印加個所は、運動連鎖体の2つの相続く部材がそ
れぞれ互いに結合されている個所である、即ち空隙
1″,2″,3″である。CMMの運動連鎖体の所定の
部材における定義“弾性”誤差は常に、この連鎖体のよ
り高い部材またはより低い部材において現われる過重に
起因するため、この表現は一般的に妥当で完全である。
一例として軸4について説明する。フレキシブル性のた
め軸はその固有の重量の下に変形する。しかしこのこと
は前記の定義の意味での“弾性”偏差ではない、何故な
らばこの変形は軸の、Z方向の突出だけに依存するから
である。しかしこの重量のずれは、軸4の位置に依存す
るトルクとして、支柱2へ伝達される。トルクも支柱に
おける作用点も互いに独立に変化し得るため、垂直方向
の運動軸すなわちY軸において“弾性”誤差が生ずる。
この誤差はCMMの座標系を図3に示されている様にゆ
がめてしまう。図3に示されているように座標Y,Zの
方向における運動軸のゆがみは、軸4の位置に依存す
る。
記述の結果は並進偏差Tiと旋回偏差Riのベクトルか
ら成る。これにより次のことが可能となる。即ち弾性に
起因する誤差が、固定のモデル(冒頭に述べた従来技術
参照)による案内誤差のための既に確立されている補正
法と両立する形式で記述することを、即ち各々の運動軸
のための6つの誤差自由度により記述することを、可能
にする。図2はこの状態を示す。機械テーブル1と走査
ピン6との間の運動連鎖体の結合部材内部での構造上の
変形は、“典型的な”部材誤差すなわち“固定のモデ
ル”により考慮される部材誤差の発生個所の中へ、即ち
運動軸の空隙1″,2″,3″の中へ移される。
正アルゴリズムの作成は、式(6)による変形マトリク
スAiの微分係数により表わされる関数関係の分析だけ
に制限される。
本的に相異なる方法で実施される:例えば、 a) CMMの各々の構成部材の構成データから数値分
析法による。
より近似化することによる、測定技術だけによる。この
方法は、ブリッジ形のCMMのための図10〜図16を
用いて後述する。
する分析式による。この式にもとづいて著しくわずかな
測定技術費用により、変形マトリクスAiの係数が、前
もって設定された式関数により算出できる。この方法は
次のように進行する:変形マトリクスの作成 このことは複数個のステップにおいて処理される: 1. 相応の構成部材たとえば軸4のために、完全に一
般的な形式で記述された式(6)による変形マトリクス
Aiが次のようにして作成される。即ち荷重と構成部材
の並進または旋回による変形との関係を形成することに
より、作成される。この場合、前提された負荷の下で変
形のうちの1つが生じない時は、マトリクスAiの相応
の要素はゼロへセットされる。
結果の多項式近似により定量的に決定する目的で、次に
適切な測定法が形成される。
ーのために、例えば図1のCMMの軸4が示しているよ
うなクロスバーのために、変形カタログが作成される。
この変形カタログを用いて機械的な変形の項のための簡
単な割り当てが行なえる。このカタログ−その構成要素
は図5〜図8に示されている−においてクロスバーの4
種の主な荷重が考慮される:即ち a) クロスバー軸線に垂直に力が加えられる: b) クロスバー軸線に平行に力が加えられる。
えられる。
えられる。
心とする旋回、tは添字で示されている軸線に沿う並進
を、それぞれ示す。Kはそれぞれの変形の場合の尺度と
しての係数を示し、Fは加えられた力、Mは加えられた
トルクである。クロスバーのための個々の項の導出は、
典型的な機械工学の公式から形成される。この公式は機
械技師のための標準作業のためのDubbelのハンド
ブック、I巻、“Festigkeitslehr
e”、III“Bending”に記載されている。
幾何学的状態を示す。
は、軸位置のほかに検出装置力、検出装置方向、変化す
る走査ピン長さおよび走査ピン方向も考慮する。
る。この点は中立の力の交点である、即ち軸の対称軸線
と走査ヘッドの中心軸線との交点である。バーの荷重は
この基準点において作用し、検出装置力と、基準点への
検出装置力の伝達により形成されるモーメントとから形
成される。
ために、基準点のための並進成分と旋回成分が算出さ
れ、これに全部の“典型的な”誤差成分が関係づけられ
る。
進成分へ割り当てられる。
る。この力により軸は特に支承体の中で旋回される。こ
の旋回により生ずる走査球変位を算出可能にする目的
で、旋回角度に区間Z+Ztが乗算される。この場合、
並列誤差への割り当てが必要とされる。この装置が行な
わせる旋回がZRYと表わされるならば、走査球変位は
正確には算出できない、何故ならば軸の旋回誤差に走査
ピンの長さだけしか乗算されないからである。
る。これにより軸にはトルクによる荷重も加わる。この
トルクは特に軸の曲げを行なわせる。これにより走査ヘ
ッドは所定の角度だけ旋回される。旋回による走査球の
変位を算出可能とする目的で、角度に走査ピンの長さだ
けを乗算する必要がある。そのためこの誤差はZRYと
して扱かうことができる。
うに形成される:
されたクロスバーのための変形カタログを用いて、相応
の項により充足する必要がある。微分係数のための項は
個々に次のように表わせる。
れる(全部の定数は量である)。検出装置の場合、測定
データは、常に検出装置方向において劣化されるため、
補正値には走査方向とは反対の極性をえる必要がある。
いられた。軸4に作用する力とトルクは(即ち軸の固有
の重力も)、基準点へ伝達される。この基準点は支柱2
において交差スライダ3の中心に位置する。伝達後の支
柱2の荷重は図9に示されている。
(検出装置力)の和として、および軸の固有重量の変位
により生ずる。支柱の荷重を軸の荷重から区別するため
に右上に星印(*)を付す。
変位は著しく複雑であるため、軸の位置(Z位置)と交
差スライダの位置(Y位置)に依存する、支柱のわずか
なねじれが生ずる。この場合、Zに依存する、Y軸の横
揺れが対象とされる。この理由からマトリクス要素δr
y/δMx*が設けられた。このねじれ特性は物理的に
モデル化が著しく困難であり、そのため相応の測定から
経験的に導出されるべき関数により近似化する必要があ
る。
次のように表わされる。
られる、即ちその都度に分子における“δ”を“Y”と
入れ替えると“典型的な”誤差成分に対する表示が形成
されるように定められる。これに弾性の影響量が重畳さ
れる。
考慮されていない。その理由は、これらの“弾性”誤差
は、X方向案内路の旋回誤差と並進誤差に簡単に割り当
て可能であることによる。この割り当てがすすめられ
る。何故ならば支柱の支承体の曲げ性は運動連鎖体の全
部の後続の部材へ、X軸の旋回誤差が有するのと同様の
作用を有するからである。
ように表わされる。
の支承体曲げ性のための定数から形成され、次のように
表わされる:
ルの18(+3)個の誤差の場合に定められたのと同様
にして得られる。
有する、テーブル、支柱、軸の弾性の影響が良好に補正
される。
やすい場合は、軸の引き出しの際に生ぜしめられるX軸
を中心とする旋回は、付加的にさらにX位置に依存する
ことがある。この誤差は例えば鋳物台を有する大きい水
平アーム式測定装置の場合に、および特にブリッジ形の
CMMの場合に現われる。この弾性にもとづくX方向案
内体における揺動がZ位置に依存するトルクに生ぜしめ
られ、かつX方向案内体が曲げ特性N′(X)を有する
時は、軸は次のような荷重力Aを有する:
する目的で、旋回角度の経過を2つの相異なるZ位置に
おいて測定する必要がある。続いて両方の旋回角度測定
からの差により係数NRXが決定される。
この揺動運動の旋回点が固定されていることである。そ
うでない場合は、さらにXとYに依存する並進変位を加
える必要がある。この場合、次の式が適用される:
案内体に沿って軸位置に依存する、弾性効果による揺動
特性も、補正可能となる。
弾性変形を相応の軸線位置に依存して測定技術により検
出することにより決定される。定数は次に測定結果から
近似化により計算により決定される。例えば軸4の変形
は精密球を測定することにより決定できる。この場合、
次のよう行なわれる。即ちY方向に突出している走査ピ
ンを用いてX方向に球直径を検出装置することにだけに
より、球直径が測定される。同様に球直径が、Z方向に
突出している走査ピンを用いてY方向において測定され
る。このようにして、加工物と走査球との間の検出装置
力にもとづく相異なる曲げ性が分離できる。この場合、
てこの力の作用を増加させる目的で走査ピンを長くする
と好適である。
めに選定された走査ピンと、これから得られた、CMM
の軸4の弾性変形との間の関係を示す。上述の較正球の
測定は、式(7)に示された軸の変形マトリクスに含ま
れている全部の係数を決定するために、十分である。こ
の場合、測定値の近似化は最小2乗誤差法により行なえ
る。
測定を介して検出できる。この場合、適切な測定構成に
より、支柱2の曲げと支承体のたわみ性とを互いに分離
して検出されることを、保証する必要がある。支柱の曲
げを検出する目的で、例えばY軸に沿って種々のZ位置
における支柱の曲げが測定される。他方、支承体のたわ
み性の測定のためには、支柱が運動していてかつ交差ス
ライダがいちばん下の位置を取る時に、支柱の傾斜を、
Z方向に1回測定するだけで十分である。この測定線で
十分である、何故ならば軸のいちばん下のY位置におい
ては支柱の曲げの影響が著しく小さいからである。
ば、測定がなされなくても、どのパラメータを曲げ補正
のために有利に考慮すべきかすべきでないかが、判定で
きる。例えば平行な支承体変位は無視することができ
て、さらに伸び、ちぢみ、せん断は通常は機械変形へ著
しくわずかの影響しか与えないことを前提とすることが
できる。前述の水平アーム形式のCMMの場合は、通常
は次の作用が補正に値する: 検出装置力にもとづく変形 X軸およびY軸方向への検出装置の際の弾性作用の補正
すべきであることが示された。この場合、軸の変形が曲
げならびにねじれとして現われる。このことはこの測定
キャリッジの細長い構造にもとづいて予想可能でもあ
る。さらに、軸4が多かれ少なかれ引き出された際に交
差スライダ3が高さ方向すなわちY方向へ走行される時
に発生する支柱の曲げも考慮すべきである。
み性係数が測定された後で、このたわみ性係数は補正値
として、相応に準備処理されたプログラムモジュールへ
導びける。このプログラムモジュールは、弾性に起因す
る機械偏差の補正を実施する。弾性による機械偏差の補
正のためのこのモジュールを、典型的な幾何学形状の補
正モジュールに基本的に前置接続して、このモジュール
が案内誤差を、案内誤差補正用の公知の“固定の”モデ
ルにより除去すると好適である。その目的は、“弾性的
に”補正されたCMMが以後は剛性(固い)のCMMの
ような特性を有するようにするためである。変形マトリ
クスを用いての弾性偏差の算出は、未知の加工物が測定
される時に、検出装置ごとに実施すべきである。何故な
らば機械構造のたわみ性はCMMの各々の軸運動により
変化するからである。水平アーム形式のCMMの弾性偏
差を前述のように補正して、同時に“典型的な”誤差の
補正を“固定のモデル”にしたがって実施する時は、次
の順序で行なうと好適である: 1. スケールの読み取りおよび付加情報(検出装置
力、走査ピンの長さ)の転送; 2. 軸の変形の算出; 3. 軸の変形に起因する偏差の算出; 4. 支柱の変形の算出; 5. X案内路の変形の算出(支承体たわみ性); 6. 弾性作用に起因する全偏差の算出; 7. “固定のモデル”によるCMMの幾何学寸法誤差
に起因する偏差の測定; 8. 幾何学的寸法と弾性に起因する偏差の累算; 前述の方法によりそれまでは約4.5μmもなっていた
CMMの支柱の弾性偏差が1.5μmよりも小さい値へ
低減される。同時に軸における走査ヘッドの位置におけ
る、検出装置力にもとづく、従来は6μmにも達してい
た誤差は、その他の条件が同じ場合は、前述の補正法に
より2μmよりも小さい値へ低減される。前述の誤差モ
デルにより、出願人によるUSMC120810形の水
平アーム形CMMが、弾性偏差に関して、かつ同時に
“固定”誤差モデルによる典型的な案内体誤差に関し
て、完全に補正された。その結果、これにより実施され
た測定により、測定容積(760mm)3における系統
的な弾性誤差がランダム誤差の値まで低減できた。この
系統的な弾性残留誤差は1.5μmで測定の不正確さを
生ぜさせた。この値は、系統的成分およびランダム成分
の場合の3μmの検出装置の不正確さに比較して無視で
きる。この水平アーム式CMMの誤差成分の一層の低減
は、次のことによってだけ達成される。即ち機械構造の
振動にもとづくダイナミック誤差成分も例えば走査ヘッ
ド6の近傍におけるセンサにより検出して補正すること
により、達せられる。このセンサの信号は、瞬時の加速
度を、したがってサブミクロンの振幅で振動する走査ヘ
ッドの運動状態を検出する。
て著しい弾性変形がブリッジ形CMMにおいて補正され
るかを説明する。この場合もちろん、水平アーム形測定
装置のために図1〜図9を用いて選定された変形マトリ
クスの要素の定量的決定のための分析式を用いるのでは
なく、測定結果が多項式により近似化される測定技術的
方法だけが用いられる。さらにCMMの弾性変形が実質
的に検出装置力だけにより生ぜさせられることを前提と
する。最後にブリッジ形式のCMMの基本構成の考慮の
下に、測定偏差に最大の影響を与えるのは弾性曲げであ
るという付加的な前提がなされる。図10にブリッジ形
のこの種のCMMが示されている。このCMMは機械テ
ーブル21、この機械テーブル上を水平にY方向へ運動
するブリッジ22、および横方向キャリッジ23におい
て垂立にZ方向に案内される軸24から構成されてい
る。このブリッジはクロスバー22aの上でX方向に案
内されるいわゆるクロススライド23を支持する。軸2
4には走査ピン26を有する走査ヘッド25が取り付け
られている。
で示されている。
の弾性変形が生ずる: 1. 著しく細いかつ軽く構成されている軸24は、そ
のZ方向への引き出し位置に依存して、検出装置方向と
は逆の方向へ曲げする。このことが2つの誤差成分xT
x(Z,F)とyTy(Z,F)を生ぜさせる。
ジ22における横方向案内体の支承体を中心に傾く。こ
の運動の大きさはてこの長さに依存する、即ちX方向へ
のクロススライド23の位置に依存する。このことが誤
差成分yty(X,F)を生ぜさせる。
のその他の弾性偏差は無視できる。前述の考察の場合、
走査器26と加工物29との間の測定力にもとづく弾性
曲げだけが考慮されたため、機械曲げの影響が走査ピン
16の曲げと同様に測定されて、さらに計算器で考慮さ
れる。このことは通常のように次のように求められる。
即ち各々の走査ピンのために、走査器曲げに起因する測
定偏差を下記の関係式により記述する、曲げテンソルを
測定することにより、求められる。
ル、Sは測定装置により走査ヘッド25において測定さ
れる変位、NTは曲げテンソル、Fは走査球と加工物と
の間に形成される測定力ベクトルである。NTは一般的
に式(15)で表わされる。
に対して通常の様に較正球の検出装置により測定され
る。しかしこの曲げテンソルの測定の際に走査ピンその
ものの曲げだけでなく、軸24とクロスバー22aの弾
性変形も“共に測定されるため、前述の3つの誤差影響
量は次のようにして求められる。即ち、曲げテンソルN
Tが1つの任意の走査ピンに対して、機械の測定容積に
おける種々の点において、即ち主として軸24とクロス
スライド23の種々の位置において測定されることによ
り、求められる。後続の評価の際に、走査ピン曲げを表
わす曲げテンソルの、場所に依存する成分だけを分離す
る必要があり、次にこの曲げテンソルの場所に依存する
成分から弾性機械誤差が算出される。この方法の場合、
走査ピン曲げの較正は較正個所に依存しない。
機械曲げを確実に算出可能とする目的で、曲げテンソル
をできるだけ正確に測定することである。この目的で著
しく簡単な方法が開発された。これによれば曲げテンソ
ルはもはや較正球の走査により求められない。それに代
えて3つ組球(図11A)または3つ組ローラ(図11
B)が凹面の立方体頂点の形式でCMMの測定領域にお
ける種々の個所に取り付けられていて、ここで自己復帰
的に検出装置される。さらに検出装置中に測定力が変化
され、測定値の変化が測定力の関数として求められる。
図12のダイヤグラム図に傾斜した走査ピンの場合の、
3つの座標X,Y,Zの方向の測定値の変化が、X方向
への9つの異なる測定力による印加により示されてい
る。3つの近似直線の勾配は直接、曲げテンソルの第1
列の3つの要素を形成する。Y方向、Z方向への測定力
の印加により、類似の3つ組直線が得られる。この3つ
組は次に曲げテンソルの第2、第3の列の要素を形成す
る。この方法は種々の利点を有する:まず第一に、曲げ
センサの測定の際に機械の駆動が停止可能となり、その
ため測定値検出が著しく迅速に行なわれ、機械駆動に起
因するダイナミック誤差が除去される。さらにテンソル
要素の算出が数学的に簡単になり、近似直線がテンソル
要素に直接割り当てられるため前記の算出動作が安定化
される。そのため反復が必要とされない。最後に複数個
の測定力が平均化され、これによりテンソル要素の測定
の精度がさらに向上される。図13に個々のセンサ要素
のばらつきが示されている。一方は較正球における検出
装置による測定の方法の場合である。他方は、図11B
に示した自己復帰形3つ組ローラによる前述の走査法1
3bが、実施されたそれぞれ10のテンソル測定の場合
に示されている。9つのテンソル要素のうちの1つのテ
ンソル要素のために測定された値からの偏差の値がμm
/Nで、記入されている。図示されている様にこの新規
な方法によりばらつきは50%だけなくなる。
作用する測定力に起因するY方向への弾性偏差が、クロ
ススライド23に依存して、X位置にわたるテンソル要
素の変化から測定される。同様に同じくY方向へ作用す
る測定力FyにもとづくY方向への弾性偏差が主軸のZ
方向に依存して、Z位置にわたるテンソル要素a22の変
化から測定される。同様に同じくX方向へ作用する測定
力FxによるX方向への弾性偏差がZ位置に依存して、
主軸24のZ位置にわたるテンソル要素a11の変化から
測定される。図14にこの種の測定の結果として、X軸
およびY軸の剛性がμm/ニュートンで、主軸24のZ
位置に依存して示されている。
く良好に近似化できる。これらの3つの多項式Y=f
(x)、X=f(z)、およびY=f(z)の係数
A0,A1,A2は最適の適合化により求められ、補正値
としてCMMのマイクロプロセッサ制御装置19の中に
記憶される。
場合、各々の測定された座標値のために、CMMの測定
容積におけるその位置に応じて多項式関数の値が、記憶
されている係数から算出される。これらの値に、検出装
置の際に測定されたその都度の測定力が乗算され、この
積は補正のために測定値により相殺される。
MMにおけるこの補正の良好な成果が、図15A〜図1
5Dおよび図16A〜図16Dに示されている。これら
の図面にはそれぞれCMMの長さ測定の不正確さがステ
ップゲージにより相異なる測定個所において求められて
示されている。この場合、端位置X(図15)とY左下
(図16)におけるゲージブロック偏差曲線は、それぞ
れ0.2ニュートンの測定力の場合に、および1ニュー
トンの測定力の場合に、“弾性”誤差の補正された場合
とされない場合とで対照されて示されている。これらの
最終値偏差曲線は、前述の測定方向X,Yへ方向づけら
れたゼロ接続段階値により求められる。
曲げ補正なしに求められた偏差曲線のずれにおいて明瞭
である。ここにおいて弾性誤差の補正は評価プログラム
において同時に考慮された。
の測定の不確実性を示す領域の限界を与える。本発明の
方法により補正された装置は明らかに良好に特徴づけら
れる。
れたCMMの座標系を示す図である。
示す図である。
る。 B) ローラ3つ組の形式の検査体を示す図である。
された座標測定値の変化を検出装置力の関数として3つ
の座標方向(X,Y,Z)に示したダイヤグラム図であ
る。
テンソルNTの要素のばらつきを示すダイヤグラムであ
る。 B) 複数個の測定値から定められた、曲げテンソルN
Tのばらつきを示すダイヤグラムである。
4のZ位置に依存して示したダイヤグラムである。
た、図10によるCMMの長さ測定の不正確さを、種々
の測定値の場合に、弾性誤差を補正した場合としない場
合とで対照して示した図である。
た、図10によるCMMの長さ測定の不正確さを、種々
の測定値の場合に、弾性誤差を補正した場合としない場
合とで対照して示した図である。
Claims (14)
- 【請求項1】 求められた測定値を座標測定装置CMM
の弾性曲げ特性を表わす記憶されている補正値を用いて
数学的に補正する形式の、座標測定装置(CMM)を用
いて加工物の座標を測定する方法において、 曲げ特性を表わすパラメータを、測定装置の測定領域に
おいて複数個のプローブ(検出走査子)位置に対して求
め、 これらのパラメータのうちのプローブ(検出走査子)に
依存しない成分を求めて補正値の形式で記憶し、前記補
正値は、測定キャリッジの位置に依存する、および、少
なくとも加工物へ作用する測定力に依存する、CMMの
曲げ特性を表わすものであり、 該補正値により、加工物の以後の座標測定の際にCMM
の測定値に対して補償を行なうことを特徴とする、座標
測定装置を用いて加工物の座標を測定する方法。 - 【請求項2】 曲げ特性を表わす補正値を多次元の補正
テーブルとして作成して記憶する、請求項1記載の方
法。 - 【請求項3】 補正値算出の際に、テーブルに記憶され
ている補正値の間に中間値を補間する、請求項2記載の
方法。 - 【請求項4】 曲げ特性を表わす測定値の位置依存性を
数学的関数により近似化する、請求項1記載の方法。 - 【請求項5】 近似化関数が多項式であり、それらの係
数を、測定値の、算出による補正のために記憶する、請
求項3記載の方法。 - 【請求項6】 記憶されているテーブルすなわち関数が
測定力パラメータに依存し、該測定力を補正値算出の際
に関与させる、請求項1から5までのいずれか1項記載
の方法。 - 【請求項7】 前記の補正値が曲げテンソルの要素であ
り、これらの要素を前もって次のようにして測定し、即
ち被検体を相次いでCMMの測定領域における相異なる
位置に固定してこれらの位置において検出し、この場
合、被検体へ作用される測定力の大きさと方向を変化す
ることにより、前もって測定する、請求項1から6まで
のいずれか1項記載の方法。 - 【請求項8】 被検体が立方体コーナーの形式の凹状部
材であり、この部材の中へCMMの走査球が挿入され
る、請求項7記載の方法。 - 【請求項9】 直線座標系および直交座標系からのCM
Mの測定キャリッジの案内のスタティック偏差を求め、
これから別の補正値を算出して記憶し、この別の補正値
を加工物の以後の測定の際に同じく座標測定値に対して
補償する、請求項1記載の方法。 - 【請求項10】 前述の順序において以下の方法ステッ
プを選択的に実施し、即ち、 座標測定装置の弾性曲げ特性を第1の較正中にこの曲げ
特性の、CMMへ作用する力に依存して求め、この求め
られた値から第1組の補正値を算出して記憶し、該1組
の補正値は、CMMの測定領域における走査器の依存
し、かつ例えば加工物が検出装置されている間中にCM
Mへ作用する測定力に付加的に依存し測定キャリッジの
案内のスタティック偏差を第2の較正中に求め、この求
められた案内偏差から、同じくCMMの測定領域におけ
る走査器の位置に依存する、かつ測定力に依存しない第
2組の補正値を算出して記憶し、 被測定物の測定の際に、両方の組の補正値を、CMMの
測定装置から供給された座標測定値により補償される、
請求項9記載の方法。 - 【請求項11】 付加的にCMMの測定キャリッジのダ
イナミック偏差を座標測定の時点にセンサを用いて測定
し、これから第3組の補正値を算出し、この第3組の補
正値も正しい座標測定値の算出のために用いる、請求項
1から10までのいずれか1項記載の方法。 - 【請求項12】 CMMの測定キャリッジのダイナミッ
ク偏差を、センサによる被測定物との接触の時点前から
始まる時間間隔において検出し、センサの信号をこの時
間間隔中に評価し、これから、被測定物の検出装置の時
点に関連づけてダイナミック補正値を算出する、請求項
11記載の方法。 - 【請求項13】 CMMの弾性曲げ特性を表わす、補正
値の走査器に依存しない成分が、力方向と測定方向との
選択された組み合わせのためにだけ測定されて記憶され
る、請求項1から12までのいずれか1項記載の方法。 - 【請求項14】 測定装置の弾性曲げ特性を表わす補正
値をさらに、駆動の加速度にもとづいてKMGへ作用さ
れた力に依存して測定して記憶し、被測定物における後
続の座標測定の際に共に考慮する、請求項1から13ま
でのいずれか1項記載の方法。
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