JPH07294609A - モード切換システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【構成】単体機能試験時に試験対象にならないレベル信
号生成回路１１，このレベル信号生成回路１１で生成さ
れた信号に基いて真出力と補出力を発生するＣＭＬイン
タフェースゲート１２，通常使用時ＣＭＬインタフェー
スゲート１２の真出力を論理回路１から出力し単体機能
試験時テスタ挿入によって自動的に与えられるロウレベ
ル信号を論理回路１に入力する端子１４，およびこの端
子１４およびゲート１２からの信号に基づき通常モード
／試験モードの切換えを行うモード切換部１３を含む。 【効果】ハードウェアの増大を防止しインタフェース信
号線の本数の増大を防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は論理回路のためのモード
切換システムに関し、特に単体機能試験時に通常使用時
と異なるモード設定を必要とする論理回路のためのモー
ド切換システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】モード切換のための入力端子数がモード
の増加とともに増加するという問題点を解決した技術が
特開昭６２−１９５９２０号公報に開示されている。

【０００３】この公報には、初期設定制御信号を入力と
する第１の入力端子１と、第２の入力端子２と、この第
２の入力端子２に接続された微分回路３と、この微分回
路３の出力側をクロック端子に、第１の入力端子３を各
リセット端子に、初期値設定後の出力論理値を反転した
論理値レベル電圧端子を最初の遅延回路４のデータ入力
端子に接続し、かつ縦続接続した複数の遅延回路４−７
と、これら複数の遅延回路の各出力側に接続された複数
の出力端子とからなるモード切換回路が示されれてい
る。

【０００４】同様にモード制御入力ピンの増設およびパ
ッド数の増加を防止するようにした技術が特開昭６３−
１７２９７７号公報に示されている。

【０００５】この公報では、集積回路内部に回路の動作
モード切り替え信号を発生する受光用フォトトランジス
タ１を組込むようにしたことを特徴とする。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】これらの従来技術で
は、モードを変更するため外部から与えられる電気信号
または光に依存しなければならないという欠点がある。

【０００７】本発明の目的は、モード変更のためのレベ
ル信号を内部発生するようにしてインタフェース信号数
および端子等のハードウェアの増加を抑止するようにし
たモード切替システムを提供することにある。

【０００８】本発明の他の目的は単体機能試験時のみテ
スタと接続しインタフェース信号数の増加を抑止するよ
うにしたモード切替システムを提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明の第１のモード切
換システムは、論理回路に単体機能試験時に試験対象と
ならないレベル信号生成回路と、通常使用時このレベル
信号生成回路からの信号に基いた信号を入力し単体機能
試験時前記レベル信号生成回路からの信号に基いた信号
およびテスタからの試験モード設定指示信号を入力し通
常使用時か単体機能試験時かを判別し通常モード／試験
モードを切換えるモード切換部とを含む。

【００１０】本発明の第２のモード切換システムは、第
１のモード切換システムにおける前記論理回路は、通常
使用時前記レベル信号生成回路からの信号に基いた信号
を該論理回路外部へ出力し単体機能試験時外部からの信
号を入力する端子を含み単体機能試験時前記論理回路の
前記端子に接続し試験モード設定指示信号を前記端子に
送出する試験モード設定指示部を含むテスタを備えてい
る。

【００１１】本発明の第３のモード切換システムは、前
記第１のモード切換システムにおける論理回路は、前記
レベル信号生成回路の出力を受け真出力および補出力を
生成し前記モード切換部に供給するゲートを含む。

【００１２】本発明の第４のモード切換システムは、単
体機能試験時に試験対象にならず通常使用時２値信号を
出力するレベル信号生成回路と、このレベル信号生成回
路からの２値信号を受け真出力および補出力を発生する
ゲートと、通常使用時このゲートからの２値信号を論理
回路から出力し単体機能試験時外部から試験モード設定
指示信号を受入れる端子と、この端子からの信号および
前記ゲートの真出力としての信号を入力する第１の入力
端子および前記ゲートの補出力としての信号を入力する
第２の入力端子を備え通常使用時該第１の入力端子から
与えられる真出力としての信号および該第２の入力端子
から与えられる補出力としての信号の論理状態が一致し
ているか否かを検出し、単体機能試験時前記第１の入力
端子から与えられる前記端子からの信号および前記第２
の入力端子から与えられる補出力としての信号の論理状
態が一致しているか否かを検出し通常モード／試験モー
ドを切換えるモード切換部とを含む。

【００１３】本発明の第５のモード切換システムは、第
１のモード切換システム，第２のモード切換システム，
および第４のモード切換システムは、単体機能試験時に
試験対象となり前記モード切換部からの信号により通常
使用時と異なるモード設定の下で動作する論理部１５を
含む。

【００１４】本発明の第６のモード切換システムは、前
記第３のモード切換システムおよび第４の切換モードシ
ステムにおけるゲートがカレントモードロジック回路で
構成されることを特徴とする。

【００１５】

【実施例】次に本発明の一実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。

【００１６】図１を参照すると、本発明の一実施例は論
理回路１およびテスタ２を含む。

【００１７】テスタ２は、単体機能試験時、論理回路１
の挿入によって論理回路１の端子１４と接続され、この
接続により生成するロウレベル信号を試験モード設定指
示信号として端子１４に供給する試験モード設定指示部
２１を有する。

【００１８】論理回路１は、レベル信号生成回路１１
と、このレベル信号生成回路１１に接続されたカレント
モードロジック（ＣＭＬ）インタフェースゲート１２
と、このインタフェースゲート１２の真出力およびテス
タ２の試験モード設定指示部２１に接続される端子１４
と、この端子１４およびインタフェースゲート１２の真
出力に接続される第１の入力端子およびインタフェース
ゲート１２の補出力に接続される第２の入力端子を有し
両入力端子からの信号の排他的論理の否定論理をとる論
理一致（イクスクルーシブ・ノア ＸＮＯＲ）回路から
なるモード切換部１３と、このモード切換部１３からの
モード設定を受け単体機能試験時に試験対象となり通常
使用時と異なるモードで動作する論理部１５を含む。

【００１９】論理回路１においてレベル信号生成回路１
１は、単体機能試験時に試験対象にならず、通常使用時
にハイまたはロウレベル信号を生成する。レベル信号生
成回路１１は、通常使用時例えば論理回路搭載数や論理
回路品種名等の情報を生成する。

【００２０】図２を参照すると、ＣＭＬインタフェース
ゲート１２の出力部は、第１のトランジスタ１２１，第
２のトランジスタ１２２，これらのトランジスタ１２１
および１２２のエミッタに共通に接続された定電流源１
２３，第１のトランジスタ１２１のコレクタに接続され
た抵抗１２４および第２のトランジスタ１２２のコレク
タに接続された抵抗１２５を備えている。

【００２１】ＣＭＬインタフェースゲート１２は第２の
トランジスタ１２２のコレクタと抵抗１２５との間から
真出力を出し、第１のトランジスタ１２２のコレクタと
抵抗１２４との間から補出力を出す。

【００２２】図１を参照すると、端子１４は通常使用時
ゲート１２からの出力レベル信号を論理回路部１から出
力し、単体機能試験時テスタ２１の挿入により試験モー
ド設定指示部２１からのロウレベル入力信号の入力を受
ける。

【００２３】モード切換部１３、通常使用時か単体機器
試験時かを判別して通常モード／試験モードの切り替え
をする。すなわち、モード切換部１３は通常使用時ゲー
ト１２の真出力および補出力の排他的論理和の否定論理
をとり、単体機能試験時，テスタ２の試験モード設定指
示部２１からのロウレベル入力信号およびゲート１２の
補出力の排他的論理和の否定論理をとる。

【００２４】次に本発明の一実施例の動作を詳細に説明
する。

【００２５】図１を参照すると、通常使用時レベル信号
生成回路１１は、例えば、論理回路搭載数や論理回路品
種名等の情報としてハイまたはロウのレベル信号を生成
し出力する。

【００２６】ＣＭＬインタフェースゲート１２は、レベ
ル生成回路１１からのハイまたはロウレベル信号の入力
を受け真出力および補出力の両方を出力する。端子１４
はＣＭＬインタフェースゲート１２の真出力を出力す
る。モード切換部１３はＣＭＬインタフェースゲート１
２の真出力および補出力の排他的論理和の否定論理，す
なわちイクスクルーシブ ノア（Exclusive nor ）をと
りその結果であるハイレベル信号，すなわち負論理の
“０”を常時出力する。

【００２７】単体機能試験時には、レベル信号生成回路
１１がハイレベル信号を出力するように回路１１が設定
される。

【００２８】ＣＭＬインタフェースゲート１２は、レベ
ル信号生成回路１１からのハイレベル信号に応答して真
出力としてハイレベル信号を出力するとともに補出力か
らロウレベル信号を出力する。

【００２９】図２を参照すると、テスタ２内の試験モー
ド設定指示部２１が論理回路１の挿入で端子１４に接続
された状態が示されている。

【００３０】この状態で端子１４はゲート１２の真出力
であるロウレベルが与えられている。このため、モード
切換部１３は、端子１４，すなわちゲート１２の真出力
であるハイレベル信号とゲート１２の補出力であるロウ
レベル信号との排他的論理和の否定論理をとる。この結
果はロウレベル信号，すなわち負論理“１”がモード切
換部１３から出力される。

【００３１】本発明の一実施例では、試験モードの設定
／解除の切換えを専門に行うスイッチ等ハードウェアを
設ける必要がないのでハードウェアの増加を防止できる
という効果がある。

【００３２】さらに、本発明の一実施例では、外部から
単体機能試験時か通常使用時かを判別するためのレベル
信号を入力する必要がないので、論理回路のインタフェ
ース信号線の本数を従来と同数に抑えることができると
いう効果がある。

【００３３】

【発明の効果】本発明は、モード変更のためのレベル信
号を内部発生するようにしてインタフェース信号線数お
よび外部接続用端子数の増加を抑止できる効果がある。

【００３４】本発明は、単体機能試験時のみテスタと接
続しインタフェース信号線数の増加を防止することがで
きるという効果もある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す図である。

【図２】本発明の一実施例で論理回数１をテスタ２に挿
入された状態を説明するための図である。

【符号の説明】

１ 論理回路 ２ テスタ １１ レベル信号生成回路 １２ ＣＭＬインタフェースゲート １３ モード切換部 １４ 端子 １５ 論理部 ２１ 試験モード設定指示部 １２１ トランジスタ １２２ トランジスタ １２３ 定電流回路 １２４ 抵抗 １２５ 抵抗

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 単体機能試験時に試験対象とならないレ
   ベル信号生成回路と、 通常使用時このレベル信号生成回路からの信号に基いた
   信号を入力し単体機能試験時前記レベル信号生成回路か
   らの信号に基いた信号およびテスタからの試験モード設
   定指示信号を入力し通常使用時か単体機能試験時かを判
   別し通常モード／試験モードを切換えるモード切換部と
   を含むことを特徴とするモード切換システム。
2. 【請求項２】 単体機能試験時に試験対象にならず通常
   使用時２値信号を出力するレベル信号生成回路と、 このレベル信号生成回路からの２値信号を受け真出力お
   よび補出力を発生するゲートと、 通常使用時このゲートからの２値信号を論理回路から出
   力し単体機能試験時外部から試験モード設定指示信号を
   受入れる端子と、 この端子からの信号および前記ゲートの真出力としての
   信号を入力する第１の入力端子および前記ゲートの補出
   力としての信号を入力する第２の入力端子を備え通常使
   用時該第１の入力端子から与えられる真出力としての信
   号および該第２の入力端子から与えられる補出力として
   の信号の論理状態が一致しているかを否かを検出し単体
   機能試験時前記第１の入力端子から与えられる前記端子
   からの信号および前記第２の入力端子から与えられる補
   出力としての信号の論理状態が一致しているか否かを検
   出し通常モード／試験モードを切換えるモード切換部と
   を含むことを特徴とするモード切換システム。
3. 【請求項３】 前記ゲートがカレントモードロジック回
   路で構成されることを特徴とする請求項２記載のモード
   切換システム。