JPH0726689Y2 - 光ディスクのハブ吸着力測定装置 - Google Patents
光ディスクのハブ吸着力測定装置Info
- Publication number
- JPH0726689Y2 JPH0726689Y2 JP6398291U JP6398291U JPH0726689Y2 JP H0726689 Y2 JPH0726689 Y2 JP H0726689Y2 JP 6398291 U JP6398291 U JP 6398291U JP 6398291 U JP6398291 U JP 6398291U JP H0726689 Y2 JPH0726689 Y2 JP H0726689Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical disk
- hub
- magnet
- load cell
- movable body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measurement Of Force In General (AREA)
- Holding Or Fastening Of Disk On Rotational Shaft (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、光ディスクのハブ吸着
力を測定する装置に関する。
力を測定する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光ディスクは、コンパクトであり
ながら容量が大きい優れた記憶手段として、コンピュー
タ産業をはじめ各種の分野で使用されているが、この光
ディスクをドライブ装置において適正に機能させるに
は、そのハブの機械的特性の一つである吸着力が高精度
に所定の値とされていることが極めて重要である。
ながら容量が大きい優れた記憶手段として、コンピュー
タ産業をはじめ各種の分野で使用されているが、この光
ディスクをドライブ装置において適正に機能させるに
は、そのハブの機械的特性の一つである吸着力が高精度
に所定の値とされていることが極めて重要である。
【0003】なぜなら、周知のように光ディスクは、そ
のハブ(金属製)が磁石により吸着されてドライブ装置
において位置決めされ、この状態で駆動(回転)させら
れるものであり、ハブの特性によっては、吸着力が弱過
ぎて回転中に光ディスクが脱落したり、逆に吸着力が強
過ぎて光ディスクがスムーズにはずれないといった不具
合が生じるからである。
のハブ(金属製)が磁石により吸着されてドライブ装置
において位置決めされ、この状態で駆動(回転)させら
れるものであり、ハブの特性によっては、吸着力が弱過
ぎて回転中に光ディスクが脱落したり、逆に吸着力が強
過ぎて光ディスクがスムーズにはずれないといった不具
合が生じるからである。
【0004】このため、光ディスクのハブ吸着力の標準
化はドライブ装置に対する光ディスクの互換性を確保す
る上で重要であり、所定の条件に対するハブ吸着力の値
をISO規格として定める規格案が提案されている。
化はドライブ装置に対する光ディスクの互換性を確保す
る上で重要であり、所定の条件に対するハブ吸着力の値
をISO規格として定める規格案が提案されている。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、従来、
この光ディスクのハブ吸着力を測定する実用的な手段が
なかったため、前記規格に適合した光ディスクの良品を
確実に選別することが困難であった。すなわち、光ディ
スクはハブと磁石とが0.4mm程度離間した状態で駆動さ
れるので、ハブ吸着力の測定も被測定品のハブとテスト
磁石とが正確にこの距離だけ離れたときの値を問題とす
べきである(上記規格案でも0.4mmとなっている)が、
例えばテスト磁石を付けたロードセルをハブに手動で近
づける手段では、この間隔を正確に設定して吸着力の測
定を行うことは困難で又手数のかかるものとなってい
た。このため、前記吸着力について短時間で大量の製品
の検査を処理することが困難で、光ディスクの大量生産
に対応できないという問題があった。
この光ディスクのハブ吸着力を測定する実用的な手段が
なかったため、前記規格に適合した光ディスクの良品を
確実に選別することが困難であった。すなわち、光ディ
スクはハブと磁石とが0.4mm程度離間した状態で駆動さ
れるので、ハブ吸着力の測定も被測定品のハブとテスト
磁石とが正確にこの距離だけ離れたときの値を問題とす
べきである(上記規格案でも0.4mmとなっている)が、
例えばテスト磁石を付けたロードセルをハブに手動で近
づける手段では、この間隔を正確に設定して吸着力の測
定を行うことは困難で又手数のかかるものとなってい
た。このため、前記吸着力について短時間で大量の製品
の検査を処理することが困難で、光ディスクの大量生産
に対応できないという問題があった。
【0006】本考案は、上記従来の事情に鑑みなされた
もので、光ディスクの吸着力の測定が短時間でしかも安
定した精度で容易に行える光ディスクのハブ吸着力測定
装置を提供することを目的としている。
もので、光ディスクの吸着力の測定が短時間でしかも安
定した精度で容易に行える光ディスクのハブ吸着力測定
装置を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本考案の光ディスクの吸
着力測定装置は、上下動自在に設けられ上面に載せた光
ディスクのハブを下方に露出させる貫通穴が形成された
光ディスクの載置台と、この載置台の位置を設定する位
置決め手段と、この位置決め手段により設定された位置
から前記載置台を上昇させる駆動手段と、前記貫通穴の
下方に配設され前記ハブの裏面と対向するように上部に
磁石が取付けられたロードセルであって、前記ハブが上
昇するときに前記磁石が受ける力に応じた信号を出力す
るロードセルとを備えることを特徴としている。
着力測定装置は、上下動自在に設けられ上面に載せた光
ディスクのハブを下方に露出させる貫通穴が形成された
光ディスクの載置台と、この載置台の位置を設定する位
置決め手段と、この位置決め手段により設定された位置
から前記載置台を上昇させる駆動手段と、前記貫通穴の
下方に配設され前記ハブの裏面と対向するように上部に
磁石が取付けられたロードセルであって、前記ハブが上
昇するときに前記磁石が受ける力に応じた信号を出力す
るロードセルとを備えることを特徴としている。
【0008】
【作用】本考案の光ディスクの吸着力測定装置による
と、載置台の位置(高さ)を設定する位置決め手段が設
けられているので、載置台上の光ディスクの高さ、すな
わち載置台上の光ディスクのハブとこの下方に位置する
ロードセルに取付けられた磁石との間隔を正確に設定す
ることが容易にできる。
と、載置台の位置(高さ)を設定する位置決め手段が設
けられているので、載置台上の光ディスクの高さ、すな
わち載置台上の光ディスクのハブとこの下方に位置する
ロードセルに取付けられた磁石との間隔を正確に設定す
ることが容易にできる。
【0009】そして、このように設定された位置から駆
動手段によって載置台(すなわち、光ディスク)が上昇
されるときにロードセルから出力される信号は、設定さ
れたハブと磁石との間隔についての吸着力に応じたもの
となる。
動手段によって載置台(すなわち、光ディスク)が上昇
されるときにロードセルから出力される信号は、設定さ
れたハブと磁石との間隔についての吸着力に応じたもの
となる。
【0010】
【実施例】以下、本考案の一実施例を図1により説明す
る。本実施例の測定装置は、上下動自在に設けられ上面
に水平に載せた光ディスクのハブHを下方に露出させる
貫通穴1が中心に形成された光ディスクの載置台2と、
この載置台2の位置(高さ)を設定する位置決め手段3
と、この位置決め手段3により設定された位置から載置
台2を上昇させるアクチュエータ(駆動手段)4と、前
記貫通穴1の下方に配設され前記ハブHの裏面と対向す
るように上部に磁石5が取付けられたロードセル6とを
備えるものである。
る。本実施例の測定装置は、上下動自在に設けられ上面
に水平に載せた光ディスクのハブHを下方に露出させる
貫通穴1が中心に形成された光ディスクの載置台2と、
この載置台2の位置(高さ)を設定する位置決め手段3
と、この位置決め手段3により設定された位置から載置
台2を上昇させるアクチュエータ(駆動手段)4と、前
記貫通穴1の下方に配設され前記ハブHの裏面と対向す
るように上部に磁石5が取付けられたロードセル6とを
備えるものである。
【0011】載置台2は、上面に載置された光ディスク
のハブHが貫通穴1にはまり込むような形状とされたも
ので、装置の筐体7に対して上下動自在に設けられた可
動体8に支持されている。可動体8は、例えば筐体7に
固定された固定板9に対して固定状態に設けられた鉛直
方向の摺動軸(図示略)にリニアベアリングを介して取
付けられることにより上下動自在とされたもので、上方
に伸びて先端に載置台2が取付けられるアーム部8a
と、固定板9を貫通して横に伸びるレバー部8bとを有
する。また、この可動体8は、後述する位置決め軸13
が貫通する嵌合穴10が下端に形成され、内部が中空と
されている。
のハブHが貫通穴1にはまり込むような形状とされたも
ので、装置の筐体7に対して上下動自在に設けられた可
動体8に支持されている。可動体8は、例えば筐体7に
固定された固定板9に対して固定状態に設けられた鉛直
方向の摺動軸(図示略)にリニアベアリングを介して取
付けられることにより上下動自在とされたもので、上方
に伸びて先端に載置台2が取付けられるアーム部8a
と、固定板9を貫通して横に伸びるレバー部8bとを有
する。また、この可動体8は、後述する位置決め軸13
が貫通する嵌合穴10が下端に形成され、内部が中空と
されている。
【0012】位置決め手段3は、鉛直方向に配されて固
定板9に固定された支持部材11に軸受け12を介して
水平回転自在に支持された位置決め軸13と、前記可動
体8内に伸びるこの位置決め軸13の先端に取付けられ
たバネ押え14と前記可動体8の下端との間に設けられ
た圧縮バネ15と、可動体8の下側に配置され位置決め
軸13に形成されたネジ部13aに螺合させられた位置
決め可動体16と、位置決め軸13に歯車等を介して連
結されてこれを筐体7の外部から回転させるための操作
ハンドル(図示略)と、やはり位置決め軸13に連結さ
れてこの回転角度を検出する検出器(図示略)とを備え
るものである。
定板9に固定された支持部材11に軸受け12を介して
水平回転自在に支持された位置決め軸13と、前記可動
体8内に伸びるこの位置決め軸13の先端に取付けられ
たバネ押え14と前記可動体8の下端との間に設けられ
た圧縮バネ15と、可動体8の下側に配置され位置決め
軸13に形成されたネジ部13aに螺合させられた位置
決め可動体16と、位置決め軸13に歯車等を介して連
結されてこれを筐体7の外部から回転させるための操作
ハンドル(図示略)と、やはり位置決め軸13に連結さ
れてこの回転角度を検出する検出器(図示略)とを備え
るものである。
【0013】なおここで、圧縮バネ15は、可動体8を
下方に付勢し、アクチュエータ4が作動しない限り、常
に可動体8を位置決め可動体16に接合させておくもの
である。また、位置決め可動体16は、可動体8と同様
に、固定板9に固定された鉛直軸に取付けられることに
よって上下動自在とされているもので、アクチュエータ
4が作動しない限り可動体8と位置決め可動体16とは
一体となって上下動する。
下方に付勢し、アクチュエータ4が作動しない限り、常
に可動体8を位置決め可動体16に接合させておくもの
である。また、位置決め可動体16は、可動体8と同様
に、固定板9に固定された鉛直軸に取付けられることに
よって上下動自在とされているもので、アクチュエータ
4が作動しない限り可動体8と位置決め可動体16とは
一体となって上下動する。
【0014】また、前記検出器の出力は、筐体7内に設
けられた処理装置(図示略)により、可動体8が位置決
め可動体16に接合している状態における、前記磁石5
と載置台2上のハブHとの間隔に換算され、筐体7の表
面に設けられた表示器に表示されるようになっている。
すなわち、前記ロードセル6に取付けられた磁石5は固
定状態に設けられているので、可動体8の位置すなわち
ハブHの高さが決ればこれらの間隔は算出することがで
き、可動体8の位置を決める位置決め可動体16の送り
量(位置決め軸13の回転量)から求まるのである。
けられた処理装置(図示略)により、可動体8が位置決
め可動体16に接合している状態における、前記磁石5
と載置台2上のハブHとの間隔に換算され、筐体7の表
面に設けられた表示器に表示されるようになっている。
すなわち、前記ロードセル6に取付けられた磁石5は固
定状態に設けられているので、可動体8の位置すなわち
ハブHの高さが決ればこれらの間隔は算出することがで
き、可動体8の位置を決める位置決め可動体16の送り
量(位置決め軸13の回転量)から求まるのである。
【0015】アクチュエータ4は、この場合例えば直動
型のもので、固定板9に固定されて設けられ、上下に動
作するその出力軸17が鉛直方向になるように配され
て、出力軸17の先端が可動体8のレバー部8bに当接
するように構成されたものである。すなわち、このアク
チュエータ4が作動すると、出力軸17が上昇しレバー
部8bを押し、圧縮バネ15に逆らって可動体8が上昇
する構成とされている。なお、アクチュエータ4として
は、例えばエアシリンダ、あるいはモータとボールネジ
を組合せたもの等の公知技術を利用したものが使用でき
る。
型のもので、固定板9に固定されて設けられ、上下に動
作するその出力軸17が鉛直方向になるように配され
て、出力軸17の先端が可動体8のレバー部8bに当接
するように構成されたものである。すなわち、このアク
チュエータ4が作動すると、出力軸17が上昇しレバー
部8bを押し、圧縮バネ15に逆らって可動体8が上昇
する構成とされている。なお、アクチュエータ4として
は、例えばエアシリンダ、あるいはモータとボールネジ
を組合せたもの等の公知技術を利用したものが使用でき
る。
【0016】ロードセル6は、固定板9に固定された支
持部材18に基端が取付けられて支持されたもので、そ
の先端には取付け部材19が取付けられ、この取付け部
材19を介して磁石5が取付けられている。すなわち、
取付け部材19の先端には段付軸20が形成され、この
段付軸20の基端側外周にリング状の磁石5が嵌合させ
られている。また、光ディスクのハブHの穴がこの段付
軸20の先端側外周にはまり込むようになっている。
持部材18に基端が取付けられて支持されたもので、そ
の先端には取付け部材19が取付けられ、この取付け部
材19を介して磁石5が取付けられている。すなわち、
取付け部材19の先端には段付軸20が形成され、この
段付軸20の基端側外周にリング状の磁石5が嵌合させ
られている。また、光ディスクのハブHの穴がこの段付
軸20の先端側外周にはまり込むようになっている。
【0017】なお、ロードセル6は、前記ハブHが上昇
するときに前記磁石5が受ける力に応じた信号を出力す
るものであり、この信号も前述の処理装置により吸着力
の値に換算されて表示器に表示されるようになってい
る。また、磁石5としては、テスト用としての特性を満
足したもの、例えば、基準Ni板に対して0.4mmの間隔
で3.3±0.2Nの吸着力を有するものが使用されている。
するときに前記磁石5が受ける力に応じた信号を出力す
るものであり、この信号も前述の処理装置により吸着力
の値に換算されて表示器に表示されるようになってい
る。また、磁石5としては、テスト用としての特性を満
足したもの、例えば、基準Ni板に対して0.4mmの間隔
で3.3±0.2Nの吸着力を有するものが使用されている。
【0018】以上のように構成された測定装置である
と、以下のようにして容易に短時間で高精度な光ディス
クの吸着力測定が行える。
と、以下のようにして容易に短時間で高精度な光ディス
クの吸着力測定が行える。
【0019】まず、載置台2に光ディスクをはめ込み、
表示器に表示される値を見ながら前述のハンドルを回
し、位置決め可動体16とともに可動体8及び載置台2
を上下動させて、光ディスクのハブHと磁石5の間隔を
0.4mmに設定する。
表示器に表示される値を見ながら前述のハンドルを回
し、位置決め可動体16とともに可動体8及び載置台2
を上下動させて、光ディスクのハブHと磁石5の間隔を
0.4mmに設定する。
【0020】次に、アクチュエータ4を作動させること
により、位置決め可動体16は動かさないで、可動体8
及び載置台2を図1の一点鎖線に示す如く上昇させれ
ば、このとき表示されるロードセル6の出力信号に基ず
く値が吸着力である。
により、位置決め可動体16は動かさないで、可動体8
及び載置台2を図1の一点鎖線に示す如く上昇させれ
ば、このとき表示されるロードセル6の出力信号に基ず
く値が吸着力である。
【0021】
【考案の効果】以上の説明から明らかなように、本考案
の光ディスクの吸着力測定装置によると、光ディスクの
ハブとロードセルに取付けられた磁石との間隔を正確に
設定することができ、この条件下でロードセルから吸着
力に応じた信号を確実に出力させることができるので、
高精度な吸着力の測定を一回の操作で確実にしかも容易
に行うことができるようになる。このため、光ディスク
の大量生産ラインにおけるハブ吸着力の検査が少ない人
手で容易に行えるという効果がある。
の光ディスクの吸着力測定装置によると、光ディスクの
ハブとロードセルに取付けられた磁石との間隔を正確に
設定することができ、この条件下でロードセルから吸着
力に応じた信号を確実に出力させることができるので、
高精度な吸着力の測定を一回の操作で確実にしかも容易
に行うことができるようになる。このため、光ディスク
の大量生産ラインにおけるハブ吸着力の検査が少ない人
手で容易に行えるという効果がある。
【図1】光ディスクの吸着力測定装置の要部構造を示す
側断面図である。
側断面図である。
1 貫通穴 2 載置台 3 位置決め手段 4 駆動手段(アクチュエータ) 5 磁石 6 ロードセル
Claims (1)
- 【請求項1】 上下動自在に設けられ上面に載せた光デ
ィスクのハブを下方に露出させる貫通穴が形成された光
ディスクの載置台と、この載置台の基準位置を設定する
位置決め手段と、この位置決め手段により設定された位
置から前記載置台を上昇させる駆動手段と、前記貫通穴
の下方に配設され前記ハブの裏面と対向するように上部
に磁石が取付けられたロードセルであって、前記ハブが
上昇するときに前記磁石が受ける力に応じた信号を出力
するロードセルとを備えることを特徴とする光ディスク
のハブ吸着力測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6398291U JPH0726689Y2 (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | 光ディスクのハブ吸着力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6398291U JPH0726689Y2 (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | 光ディスクのハブ吸着力測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0625748U JPH0625748U (ja) | 1994-04-08 |
JPH0726689Y2 true JPH0726689Y2 (ja) | 1995-06-14 |
Family
ID=13245003
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6398291U Expired - Lifetime JPH0726689Y2 (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | 光ディスクのハブ吸着力測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0726689Y2 (ja) |
-
1991
- 1991-08-13 JP JP6398291U patent/JPH0726689Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0625748U (ja) | 1994-04-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19951219 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |