JPH07243958A - 粒度・水分測定装置 - Google Patents

粒度・水分測定装置

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JPH07243958A
JPH07243958A JP7241794A JP7241794A JPH07243958A JP H07243958 A JPH07243958 A JP H07243958A JP 7241794 A JP7241794 A JP 7241794A JP 7241794 A JP7241794 A JP 7241794A JP H07243958 A JPH07243958 A JP H07243958A
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JP
Japan
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light
measured
moisture
wavelength
signal
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JP7241794A
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English (en)
Inventor
Isao Hishikari
功 菱刈
Katsuyuki Miyauchi
克之 宮内
Takao Shimizu
孝雄 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chino Corp
Original Assignee
Chino Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】測定対象の粒度または正しい水分測定を行う。 【構成】被測定対象に少なくとも1個以上の所定の光量
の光又は水分に吸収する波長の光及び水分に吸収しない
波長の光を投光する投光手段(回転セクタ5等)と、被
測定対象3を反射した光を検出する検出素子6と、この
検出手段の出力のうち1個の光量の光についての変動量
または互いに異なる光についての変動量の比に基いて被
測定対象の粒度を演算するとともにこの粒度信号を用い
て水分に吸収する波長の光及び水分に吸収しない波長の
光の比信号を補正して水分信号を演算する演算手段10
とを備えるようにした粒度・水分測定装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、赤外線を利用して測
定対象の粒度又は水分率を測定する装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、赤外線を利用して被測定対象の水
分率を測定するには、水分の吸収波長帯における被測定
対象からの反射光の測定信号と、水分の非吸収波長帯に
おける反射光の1または2の比較信号との比率信号から
被測定対象の水分率を求める2色または3色赤外線水分
計が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな2色または3色方式のみでは、コンクリートの原料
となる細骨材(砂、砂利)、ガラス原料の硅砂、鉄鋼原
料の焼結材料(鉄鉱石、石炭)、鋳物砂、コークス、粉
体等の被測定対象では、同一の水分であっても、その粒
度等が変化すると出力特性も変化してしまい、正しい水
分値が測定できない問題点がある。
【0004】この発明の目的は、以上の点に鑑み、被測
定対象の粒度を測定するとともに粒度の変化の影響を受
けずに水分の測定を行うことができる装置を提供するこ
とである。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、被測定対象
に少なくとも1個以上の所定の光量の光とともに水分に
吸収する波長の光及び水分に吸収しない波長の光を投光
する投光手段と、被測定対象を反射した光を検出する検
出素子と、この検出素子の出力のうち1個の光量の光に
ついての変動量または互いに異なる光量の光についての
変動量の比に基いて被測定対象の粒度を演算しこの粒度
信号を用いて水分に吸収する波長の光及び水分に吸収し
ない波長の光の比信号を補正して水分信号を演算する演
算手段とを備えるようにした粒度・水分測定装置であ
る。
【0006】
【実施例】図1(a)は、反射式の赤外線水分計の一実
施例を示し、光源1の光は集光レンズ2によりモータM
で回転する投光手段としての回転セクタ5のフィルタ5
1、52、…を透過してミラーM1により例えば波長λ
1、λ2、…の光としてコンベア等で所定速度で移動す
るような粒度をもつ被測定対象3に投光され、反射光が
凹面鏡M2により集光されPbS、サーミスタボロメー
タ、InGaAs等よりなる検出素子6に入射される。
この検出素子6の出力信号は増幅器7により増幅され、
回転セクタ5に設けられた同期信号発生器9の同期信号
により信号分離・整流器8で、回転セクタ5のフィルタ
51、52、…の上記波長λ1、λ2、…に対応する信
号が取り出され、演算手段10により後述する粒度信
号、水分信号等を取り出すことができる。
【0007】また、回転セクタ5には、図1(b)で示
すように、水分に吸収する波長λ1の光を透過するフィ
ルタ51、水分に吸収しない波長λ2の光を透過するフ
ィルタ52、…のほかに、粒度測定用の少なくとも1個
以上の所定の光量の光を被測定対象3へ投光するための
開孔の大きさの異なるスリット53、54が設けられて
いる。スリット53の開孔の大きさの方がスリット54
の開孔の大きさより大とされ、互いに異なる大きさとさ
れ、異なる光量の光が被測定対象3に投光される。これ
らフィルタ51、52、…、スリット53、54を介し
て被測定対象3に投光された光源1の光は、回転セクタ
5の対応する小孔91,92,93,94を介し光イン
タラプタのような同期検出器9で位置タイミングが検出
されることになる。
【0008】つまり、被測定対象3で反射し検出素子6
で検出されたフィルタ51、52、…、スリット53、
54を透過した対応した信号S、R、E1,E2は信号
分離・整流器8において取り出される。これらの信号
は、いずれも粒度の影響を受け、各信号について被測定
対象3からの反射光が断続的に変化することによる変動
分が乗った信号となる。
【0009】図2(a)で示す粒度の大きい移動する被
測定対象31では、粒の半径が大きいため、凸部の平坦
面が大きく、入射光Lに対する反射光の量は大きくな
り、凹凸の差が大きいため、被測定対象の移動に従って
出力の変動量は大きくなる。また、図2(b)で示す粒
度の小さい移動する被測定対象32では、粒の半径が小
さいため、凸部の平坦面が小さく、入射光Lに対する反
射光の量は小さくなり、凹凸の差が小さいため、被測定
対象の移動に従って出力の変動量は小さくなる。つま
り、スリット大のスリット53、又はスリット小のスリ
ット54出力E1、又はE2は、図3(a)で示すよう
に、移動する被測定対象3の粒度が大きいほど、その形
状の凹凸等の影響により、移動による出力の変動量は大
きくなる。そして、この移動する被測定対象の反射光の
変動量の大きさから被測定対象の粒度を測定することが
でき、また、図3(b)で示すように、両信号の出力比
をとると、特に距離変動の影響等を受けずに粒度の測定
ができる。
【0010】つまり、図3(a)、(b)において、各
粒度についての、平均値からのズレを積分して得られる
出力の変動量、あるいは、所定時間内における各測定値
と平均値のバラツキの大きさ、つまり二乗平均誤差のよ
うな出力の変動量の大きさをみると、図4(a)のよう
に、大小のスリットとも粒度が大きいほど、変動量は大
きくなるものとなる。この変動量の各出力yに基いて、
被測定対象3の粒度を演算手段10で求めることができ
る。また、図4(a)における、スリット53、54の
大小に応じた出力の変動量の比を演算手段10でとっ
て、図4(b)の比出力yを求め、これにより、被測定
対象3の粒度を演算手段10で求めることもできる。つ
まり、この比をとることにより単一の場合と比べて、同
様に変化するドリフトや距離変動等の影響を除去するこ
とができる。
【0011】次に、水分に吸収する波長の光を透過する
フィルタ51、水分に吸収しない波長の光を透過するフ
ィルタ52の出力S、Rの比信号出力は、図5(a)で
示すように粒度と所定の関数関係にあり、粒度に応じ検
量線が複数本となる。つまり、水分の吸収波長帯の第1
の波長λ1における被測定対象3の反射光の第1の信号
Sと、水分の影響を受けない第2の波長λ2の比較波長
帯における被測定対象3の反射光の第2、第3の信号R
を求め、第1、第2の信号S、Rの比率信号S/Rを求
め、この水分に関連する比率信号x=S/Rの関数f
を、上記、粒度に関連する信号yの関数gにて補正する
ようにすれば粒度の影響を受けない出力となり、図5
(b)で示すように1本の検量線とすることができる。
つまり、一般には、水分率Mは、 M=H(S、R) (1) で求まり(関数Hはマトリックス等の多変数関数)、具
体的には、被補正関数をf(x)、この関数fと異なる
補正関数をg(y)とすれば、水分率Mは、 M=f(x)・g(y) (2) 又は、ベキ関数である M=f(x)g(y) (3) 等で求まる。互いに異なる関数fおよび関数gをあらか
じめ実験等で求めて上記演算を行うことにより、粒度等
の変化による補正が行なわれ、粒度等によらず常に正し
い水分測定が可能となる。なお、以上の例では、2色水
分計について説明したが、比較波長を水分の吸収波長の
両側にとり、その出力をR1,R2として、x=S/R
1、S/R2、S/(aR1+bR2)、[a,bは定
数]を用いてもよい。この互いに異なる関数f,関数g
は、それぞれ多項式の関数、指数関数、対数関数等いず
れでもよい。
【0012】また、被測定対象3の移動速度は、約0.
1〜10m/minにおいて十分精度よく測定すること
ができ、移動しない被測定対象3については、適当な光
学的な走査手段で光源1からの光を被測定対象3に走査
して投光すればよい。また、図6(a)で示すように、
水分に吸収する波長の光を透過するフイルタ51,5
1′に重ねて、開孔の大きさを異にするスリット53
a、54aを設け、これにより、同様にして、粒度を求
め、水分を求めるようにしてもよい。また、水分を吸収
しない波長の光を透過するフイルタ52,52′に重ね
て開孔を異にするスリット53b,54bを設け、同様
にして粒度を求め、水分を求めるようにしてもよい。つ
まり、図4等におけることが、各フイルタの出力につい
ても言えるので、その出力の変動量を利用して粒度を求
め、水分を求めればよい。また、図6(b)で示すよう
に、水分に吸収する波長の光及び吸収しない波長の光を
透過するフイルタ51,52をもつ回転セクタ5Aと、
開孔を異にするスリット53,54ををもつ回転セクタ
と別々に重ねて設け、両回転セクタ5A,5B回転速度
を制御して、同様にして、その出力の変動量を利用して
粒度を求め、水分を求めるようにしてもよい。
【0013】また、上記の例では、2種の波長を用いて
粒度補正したが、各種成分等に対応したそれ以上の多数
の波長λiを用いて検出信号Ri等を得てその情報を取
り出すととともに、この信号RiないしRi/R等を、
関数fや関数gの変数に更に用いることにより、よりい
っそう高精度、多角的な測定が可能となる。
【0014】
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、被測定
対象に少なくとも1個以上の所定の光量の光とともに水
分に吸収する波長の光及び水分に吸収しない波長の光を
投光し、測定対象を反射した光を検出する検出素子の出
力のうち、1個の光量の光についての変動量または互い
に異なる光量の光についての変動量の比に基いて被測定
対象の粒度を演算するとともにこの粒度信号を用いて水
分に吸収する波長の光及び水分に吸収しない波長の光の
比信号を補正して水分信号を演算する演算手段とを備え
るようにした粒度又は水分測定装置である。
【0015】従って、被測定対象の粒度を十分精度よく
測定することができるとともに、被測定対象の粒度が変
化したとしても、この粒度の影響を受けずに高精度の正
しい水分測定信号が常に得られ、粒度毎に補正をする必
要は全くなく、大幅な工数低減が図れる。また、粒度に
関する信号と水分信号が得られるので、これを利用し
て、粉体等の多品種少量生産工程において、完全に近い
自動化、省エネルギー化が図れ、常に高品質の製品が生
産でき、実用的効果はきわめて大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明一実施例を示す構成説明図である。
【図2】この発明一実施例を示す動作説明図である。
【図3】この発明一実施例を示す動作説明図である。
【図4】この発明一実施例を示す動作説明図である。
【図5】この発明一実施例を示す動作説明図である。
【図6】この発明一実施例を示す構成説明図である。
【符号の説明】
1 光源 3 被測定対象 5、5A、5B 回転セクタ 51、52 フィルタ 53、54 開孔 6 検出素子 7 増幅器 8 信号・分離整流器 9 同期信号発生器 10 演算手段

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定対象に少なくとも1個以上の所定の
    光量の光を投光する投光手段と、測定対象を反射した光
    を検出する検出素子と、この検出素子の出力のうち1個
    の光量の光についての変動量または互いに異なる光量の
    光についての変動量の比に基いて被測定対象の粒度を演
    算する演算手段とを備えたことを特徴とする粒度測定装
    置。
  2. 【請求項2】被測定対象に少なくとも1個以上の所定の
    光量の光とともに水分に吸収する波長の光及び水分に吸
    収しない波長の光を投光する投光手段と、被測定対象を
    反射した光を検出する検出素子と、この検出素子の出力
    のうち1個の光量の光についての変動量または互いに異
    なる光量の光についての変動量の比に基いて被測定対象
    の粒度を演算しこの粒度信号を用いて水分に吸収する波
    長の光及び水分に吸収しない波長の光の比信号を補正し
    て水分信号を演算する演算手段とを備えたことを特徴と
    する粒度・水分測定装置。
JP7241794A 1994-03-04 1994-03-04 粒度・水分測定装置 Pending JPH07243958A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006242824A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Chino Corp 光学的測定装置
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JP2014227559A (ja) * 2013-05-20 2014-12-08 株式会社日向製錬所 鉱石中水分の測定方法、並びにフェロニッケル製錬の乾燥工程における乾燥処理方法及びフェロニッケルの製錬方法
WO2016031128A1 (ja) * 2014-08-27 2016-03-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 物質検出センサ、物質検出方法及び物質検出システム

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