JPH07227737A - ステージ装置及び露光装置 - Google Patents

ステージ装置及び露光装置

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JPH07227737A
JPH07227737A JP2132294A JP2132294A JPH07227737A JP H07227737 A JPH07227737 A JP H07227737A JP 2132294 A JP2132294 A JP 2132294A JP 2132294 A JP2132294 A JP 2132294A JP H07227737 A JPH07227737 A JP H07227737A
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JP
Japan
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dust
stage
upper plate
lower plate
moving direction
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Application number
JP2132294A
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Hisato Matsubara
寿人 松原
Takeshi Naraki
剛 楢木
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages

Abstract

(57)【要約】 【目的】吸着力が十分に大きい吸着装置を備えたステー
ジ装置を提供することを目的とする。 【構成】下板15と、下板15に対して水平方向に移動
可能なように、下板15に載せられている上板17と、
上板17に配設され、前記移動時に発生するダストを集
塵する集塵手段とを備えたステージ装置において、前記
集塵手段は、前記ダストを吸着する吸着部材19と、前
記吸着のために、吸着部材19と前記ダストとのいずれ
か一方を正の電荷に帯電させると共に、吸着部材19と
前記ダストとの他方を負の電荷に帯電させる帯電手段と
を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はステージ装置に関し、特
に、露光装置に用いて好適なステージ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のステージ装置は、複数のローラを
回転可能に保持するリテーナを下板の上面に配置し、こ
のリテーナを介して、下板の上面に上板が配置され、下
板に対して、上板は一方向に相対移動をしていた。ま
た、ローラや上板及び下板の慴動面には、相対移動を滑
らかに行うために適量の油やグリースなどが塗布されて
いた。
【0003】上板が下板に対して相対移動をするとき
に、ローラの回転により、経時変化によりミスト状にな
ったグリースが散乱したり、ローラとローラを保持する
部分との摩擦によりローラを保持する部分から発塵する
ことがあった。これらのグリースのミスト状の散乱やロ
ーラを保持する部分から発塵(以下、総称してダストと
いう)は、ステージ装置の精度を劣化させたり、例え
ば、露光装置に使用されるステージ装置であれば、ステ
ージ装置に載置されている感光基板に前述のダストが付
着して正確な露光ができないという問題があった。
【0004】この問題を解決するために、ステージ装置
にダストを集塵する集塵装置が備えられるようになっ
た。図3は、従来のステージ装置を示す図であり、図3
(a)はステージ装置全体を示した図であり、図3
(b)は矢視部分の断面を拡大して示した断面図であ
る。
【0005】図3(a)において、矩形状の下板31の
上面にリテーナ32が配置されており、このリテーナ3
2を介して矩形状の上板33が載っている。上板33は
下板31に対して矢印Ya方向に移動可能である。真空
配管35は2本の配管35a,35bからなり、それぞ
れの一端が真空源34に接続されており、それぞれの他
端がカバー部36に接続されている。
【0006】カバー部36は、上板33の移動方向と直
交する両端に配設されており、図3(b)に示してある
ように、中空形状である。上述のように集塵装置は、真
空源34と真空配管部35とカバー部36とから構成さ
れており、図3(b)に示してあるように、ガバー部3
6の内部を真空状態にして、ダストを吸着していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のよう
な真空を利用した集塵装置では、上板の相対移動量を考
慮して真空配管の引回しを行うため、配管の長さが長く
なり吸引力が弱くなるために十分にダストを吸着できな
いという問題点があった。また、従来のように吸着力が
十分でない集塵装置を備えたステージ装置を露光装置に
用いた場合には、ダストが感光基板上に付着して、正確
な露光を実行できないという問題点があった。
【0008】そこで本発明では、吸着力が十分に大きい
集塵装置を備えたステージ装置及びこのステージ装置を
備え、正確な露光が実行できる露光装置を提供すること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の問題点を解決する
ために、本発明の一実施例を示す図1と図2に対応付け
て説明すると、請求項1記載のステージ装置は、下板
(15)と、下板(15)に対して水平方向に移動可能
なように、下板(15)に載せられている上板(17)
と、上板(17)に配設され、前記移動時に発生するダ
ストを集塵する集塵手段と、を備えたステージ装置(1
3)において、前記集塵手段は、前記ダストを吸着する
吸着部材(19)と、この吸着のために、吸着部材(1
9)と前記ダストとのいずれか一方を正の電荷に帯電さ
せると共に、吸着部材(19)と前記ダストとの他方を
負の電荷に帯電させる帯電手段(21)と、を備えてい
る。
【0010】請求項2記載のステージ装置(13)は、
吸着部材(19)は、前記移動方向の上板(17)の両
端から外方へ突出した一対のカバー(19a,19b)
であり、帯電手段(21)は、それぞれのカバー(19
a,19b)の下方に配設され、カバー(19a,19
b)と前記ダストとのいずれか一方に正のイオンを与え
ると共に、カバー(19a,19b)と前記ダストとの
他方に負のイオンを与えるイオン発生装置(21)であ
る。
【0011】請求項3記載のステージ装置(13)は、
それぞれ配設されているイオン発生装置(21)のう
ち、前記移動方向の向きに応じて、一方のイオン発生装
置(21)のみを作動させる選択手段(20)を備えて
いる。請求項4記載のステージ装置(13)は、選択手
段(20)は、前記移動方向と逆向きの一端に配設され
ているイオン発生装置(21)のみを作動させる。
【0012】請求項5記載の露光装置は、下板(15)
と、下板(15)に対して水平方向に移動可能なよう
に、下板(15)に載せられている上板(17)と、上
板(17)に配設され、前記移動時に発生するダストを
集塵する集塵手段と、を備えたステージ装置(13)を
有し、このステージ装置(13)に載置された感光基板
(14)へ、マスク(9)のパターンを透過した光束を
投影光学系(12)によって転写する露光装置におい
て、前記集塵手段は、前記移動方向の上板(17)の両
端から外方へ突出し、前記ダストを吸着する絶縁性の高
い一対のカバー(19a,19b)と、この吸着のため
に、それぞれのカバー(19a,19b)の下方に配設
され、それぞれのカバー(19a,19b)と前記ダス
トとのいずれか一方に正のイオンを与えると共に、それ
ぞれのカバー(19a,19b)と前記ダストとの他方
に負のイオンを与えるイオン発生装置(21)と、を備
えている。
【0013】請求項6記載の露光装置は、それぞれ配設
されているイオン発生装置(21)のうち、前記移動方
向と逆向きの一端に配設されているイオン発生装置(2
1)のみを作動させる制御装置(20)を備えている。
【0014】
【作用】請求項1記載のステージ装置(13)は、帯電
手段(21)が吸着部材(19)とダストとのいずれか
一方を正の電荷に帯電させると共に、吸着部材(19)
とダストとの他方を負の電荷に帯電させている。これに
より、ダストは吸着部材(19)に吸着される。集塵手
段(19,21)は、静電気によりダストを吸着するの
で、十分に大きい吸着力でダストを吸着できる。
【0015】請求項2記載のステージ装置(13)は、
イオン発生装置(21)が一対のカバー(19a,19
b)とダストとのいずれか一方に正のイオンを与えると
共に、一対のカバー(19a,19b)とダストとの他
方に負のイオンを与えているので、十分に大きい吸着力
でダストを吸着できる。請求項3記載のステージ装置
(13)は、選択手段(20)が移動方向に応じてイオ
ン発生装置を選択して印加しているので、効率よくダス
トを吸着できる。
【0016】また、一度印加された一対のカバー(19
a,19b)は、帯電状態を保つことができるので、吸
着したダストは保持されたままである。請求項4記載の
ステージ装置(13)は、選択手段(20)が移動方向
と逆方向の一端に配設されているイオン発生装置(2
1)を選択して印加しているので、更に効率よくダスト
を吸着できる。
【0017】請求項5記載の露光装置は、イオン発生装
置(21)が一対のカバー(19a,19b)とダスト
とのいずれか一方に正のイオンを与えると共に、一対の
カバー(19a,19b)とダストとの他方に負のイオ
ンを与えている。集塵手段(19,21)は、静電気に
よりダストを吸着するので、十分に大きい吸着力でダス
トを吸着できる。これにより、ダストが感光基板(1
4)上に付着することはない。
【0018】請求項6記載の露光装置は、制御装置(2
0)が移動方向と逆方向の一端に配設されているイオン
発生装置(21)を選択して印加しているので、効率よ
くダストを吸着できるので、ダストが感光基板(14)
上に付着することはない。
【0019】
【実施例】以下、図1〜図2を参照して本発明の一実施
例を説明する。図1は本発明のステージ装置を露光装置
に利用した場合の概要図である。図1において、超高圧
水銀ランプ1から射出した光束を、楕円鏡2が集光す
る。集光された光束は、シャッター3を通過し、反射鏡
4で反射して、波長選択フィルター5に入射する。波長
選択フィルター5は、露光に必要な波長(一般にはg線
やi線の波長)のみを通過させる。
【0020】フライアイインテグレータ6は、波長選択
フィルター5を通過した光束を照明分布が均一になるよ
うにして、レンズ7に射出する。レンズ7は、この光束
をほぼ平行束にして視野絞り8に入射させる。視野絞り
8は、開口Sの大きさを変化させて、レチクル9上の照
明範囲を調節する。視野絞り8の開口Sを通過した光束
は、反射鏡10で反射され、レンズ系11に入射する。
レンズ系11は、視野絞り8の開口Sを通過した光束の
像をレチクル9に結像させる。レチクル9の照明範囲に
存在するパターンの像は、投影光学系12により、2次
元に移動可能なステージ装置13に載置されたウエハ1
4に結像される。これにより、ウエハ14の特定領域に
レチクル9のパターンの像が結像される。
【0021】図2は図1のステージ装置13の詳細を示
した図であり、図2(a)はステージ装置13全体の概
要を示した図であり、図2(b)は、図2(a)の矢視
部分の断面を拡大して示した断面図である。図2(a)
において、後述のYステージ17の下板であるXステー
ジ15は、不図示のリテーナを介してベース板16に載
っており、同図のX方向に移動する。
【0022】Yステージ17は、リテーナ18を介して
Xステージ15に載っており、同図のY方向に移動す
る。リテーナ18は、複数のローラを回転可能に保持し
ている。また、リテーナ18の複数のローラやXステー
ジ15及びYステージ17の慴動面には、ステージの移
動を滑らかにするために適量の油が塗布されている。な
お、本実施例において、Yステージ17は、Xステージ
15に対して上板となる。
【0023】カバー19は、Yステージ17のY方向の
両端から外方へ突出した一対のカバー19a,19bで
あり、絶縁性の高いベークライト材である。選択手段で
ある制御装置20は、後述する帯電手段であるコロナ放
電発生装置21の印加を制御する。図2(b)におい
て、コロナ放電発生装置21は、制御装置20から印加
される高電圧によりコロナイオンを発生する。このコロ
ナイオンは、制御装置20から与えられる高電圧の極性
に応じて、正のコロナイオンになったり、負のコロナイ
オンになったりする。また、不図示ではあるが同様のコ
ロナ放電発生装置21がカバー19bの下方に配設され
ている。
【0024】本実施例において、集塵手段はカバー19
a(若しくは19b)と制御装置20とコロナ放電発生
装置21とから構成されている。なお、Xステージ15
とYステージ17とは、それぞれ不図示の駆動軸を介し
てモータにより駆動されている。また、露光装置全体
は、不図示のCPUにより、露光動作が制御されてい
る。
【0025】以上のように構成されたステージ装置13
を備えた露光装置の動作について説明する。露光装置の
露光動作については、従来の装置の露光動作と同じであ
るのでその説明を省略し、本実施例においては、ステー
ジ装置13が移動するときにダストを集塵する動作につ
いて以下説明を行う。ステージ装置13が移動するとき
に、前述のローラの回転により、経時変化によりミスト
状になったグリースが散乱したり、ローラとこのローラ
を保持する部分との摩擦により発塵が起こる。(以下、
総称してダストという。)このダストを集塵するため
に、制御装置20の印加電圧により、コロナ放電発生2
1は、カバー19に正のイオンを与えると共に、Xステ
ージ15に向かって(即ち、ダストに対して)負のイオ
ンを与える。これにより、カバー19は正の電荷に帯電
し、ダストは負の電荷に帯電するので、負の電荷のダス
トは、正の電荷のカバー19に吸着される。これによ
り,大きな吸着力でダストを集塵できるので、ダストが
ウエハ14上に付着することがなくなり、正確な露光が
実行できる。
【0026】また、本実施例では、Yステージ17のみ
に集塵装置を配設して説明したが、Xステージ15に同
様の集塵装置を配設していいことは勿論である。この場
合は、ベース板16が下板となり、Xステージ15がX
方向に移動するので、X方向とほぼ直交している両端面
に集塵装置を配設すればいい。更に、本実施例では、コ
ロナ放電発生21は、カバー19に正のイオンを与え、
ダストに負のイオンを与えたが、カバー19に負のイオ
ンを与え、ダストに正のイオンを与えてもいい。
【0027】次に本実施例の変形例を示す。本変形例に
おいては、装置の構成は実施例と同じものである。Yス
テージ17が図2(a)の矢印Ya方向に移動するとき
に、制御装置20はカバー19aの下方に配設されてい
るコロナ放電発生装置21のみに印加する。図2(b)
に示してあるように、Yステージ17がYa方向に移動
するときに、リテーナ18のローラはYa方向に回転す
る。このため、前述のようなダストはYa方向の反対方
向から矢印A1 〜A5 のように発生する。このため、カ
バー19aの下方に配設されているコロナ放電発生装置
21を印加することにより効率的にダストを吸着でき
る。また、矢印Yaと反対方向に移動するときには、カ
バー19aの下方に配設されているコロナ放電発生装置
21への印加の代わりに、カバー19bの下方に配設さ
れているコロナ放電発生装置21へ印加すればいい。な
お、カバー19aの下方に配設されているコロナ放電発
生装置21へ印加がされなくても、カバー19aは帯電
された状態のままなので吸着したダストは保持されたま
まである。
【0028】本実施例及び本変形例では、ローラの回転
により発生するダストの集塵を例に説明したが、例え
ば、Yステージ17の移動時に不図示の駆動軸から発生
するダストを集塵できるのは言うまでもない。また、本
実施例及び本変形例では、露光装置を例に説明したが、
ステージ13を他の装置に用いても有効なことは勿論で
あり、例えば、ウエハに形成されたパターンの検査を行
う検査装置などに用いても有効である。
【0029】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1記載
のステージ装置は、帯電手段が吸着部材とダストとのい
ずれか一方を正の電荷に帯電させると共に、吸着部材と
ダストとの他方を負の電荷に帯電させている。これによ
り、ダストは吸着部材に吸着される。集塵手段は、静電
気によりダストを吸着するので、十分に大きい吸着力で
ダストを吸着できる。
【0030】請求項2記載のステージ装置は、イオン発
生装置が一対のカバーとダストとのいずれか一方に正の
イオンを与えると共に、一対のカバーとダストとの他方
に負のイオンを与えているので、十分に大きい吸着力で
ダストを吸着できる。請求項3記載のステージ装置は、
選択手段が移動方向に応じてイオン発生装置を選択して
印加しているので、効率よくダストを吸着できる。
【0031】請求項4記載のステージ装置は、選択手段
が移動方向と逆方向の一端に配設されているイオン発生
装置を選択して印加しているので、更に効率よくダスト
を吸着できる。請求項5記載の露光装置は、集塵手段
が、静電気によりダストを吸着するので、十分に大きい
吸着力でダストを吸着できる。このため、感光基板にダ
ストが付着することがなくなるので、精度の高い露光が
実行できる。
【0032】請求項6記載の露光装置は、制御装置が移
動方向と逆方向の一端に配設されているイオン発生装置
を選択して印加しているので、効率よくダストを吸着で
きる。このため、感光基板にダストが付着することがな
くなるので、精度の高い露光が実行できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施例を示す露光装置の概要図である。
【図2】図1のステージ装置13の詳細を示した図であ
り、図2(a)はステージ装置13全体の概要を示した
図であり、図2(b)は、図2(a)の矢視部分の断面
を拡大して示した断面図である。
【図3】従来のステージ装置を示した図であり、図3
(a)はステージ装置全体の概要を示した図であり、図
3(b)は、図3(a)の矢視部分の断面を拡大して示
した断面図である。
【符号の説明】
9 レチクル 12 投影光学系 13 ステージ装置 14 ウエハ 15 Xステージ 17 Yステージ 19 カバー 20 制御装置 21 コロナ放電発生装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B03C 3/40 A B23Q 1/60 H01L 21/027 21/68 N

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】下板と、 前記下板に対して水平方向に移動可能なように、前記下
    板に載せられている上板と、 前記上板に配設され、前記移動時に発生するダストを集
    塵する集塵手段と、を備えたステージ装置において、 前記集塵手段は、 前記ダストを吸着する吸着部材と、 前記吸着のために、前記吸着部材と前記ダストとのいず
    れか一方を正の電荷に帯電させると共に、前記吸着部材
    と前記ダストとの他方を負の電荷に帯電させる帯電手段
    と、を備えていることを特徴とするステージ装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載のステージ装置において、 前記吸着部材は、前記移動方向の前記上板の両端から外
    方へ突出した一対のカバーであり、 前記帯電手段は、それぞれのカバーの下方に配設され、
    前記カバーと前記ダストとのいずれか一方に正のイオン
    を与えると共に、前記カバーと前記ダストとの他方に負
    のイオンを与えるイオン発生装置であることを特徴とす
    るステージ装置。
  3. 【請求項3】請求項2記載のステージ装置において、 前記それぞれ配設されているイオン発生装置のうち、前
    記移動方向の向きに応じて、一方のイオン発生装置のみ
    を作動させる選択手段を備えていることを特徴とするス
    テージ装置。
  4. 【請求項4】請求項3記載のステージ装置において、 前記選択手段は、前記移動方向と逆向きの一端に配設さ
    れているイオン発生装置のみを作動させることを特徴と
    するステージ装置。
  5. 【請求項5】下板と、 前記下板に対して水平方向に移動可能なように、前記下
    板に載せられている上板と、 前記上板に配設され、前記移動時に発生するダストを集
    塵する集塵手段と、を備えたステージ装置を有し、 前記ステージ装置に載置された感光基板へ、マスクのパ
    ターンを透過した光束を投影光学系によって転写する露
    光装置において、 前記集塵手段は、 前記移動方向の前記上板の両端から外方へ突出し、前記
    ダストを吸着する絶縁性の高い一対のカバーと、 前記吸着のために、それぞれのカバーの下方に配設さ
    れ、前記それぞれのカバーと前記ダストとのいずれか一
    方に正のイオンを与えると共に、前記それぞれのカバー
    と前記ダストとの他方に負のイオンを与えるイオン発生
    装置と、を備えていることを特徴とする露光装置。
  6. 【請求項6】請求項5記載の露光装置において、 前記それぞれ配設されているイオン発生装置のうち、前
    記移動方向と逆向きの一端に配設されているイオン発生
    装置のみを作動させる制御装置を備えていることを特徴
    とする露光装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006165579A (ja) * 2004-12-09 2006-06-22 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
JP2008277481A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Komatsu Ltd 極端紫外光源装置
JP2009023020A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Yaskawa Electric Corp 防塵機構を備えた基板搬送ロボット及びそれを備えた半導体製造装置
CN105549334A (zh) * 2016-01-28 2016-05-04 武汉华星光电技术有限公司 曝光机
JP2017092488A (ja) * 2016-12-28 2017-05-25 大日本印刷株式会社 インプリント装置
WO2022128112A1 (en) * 2020-12-17 2022-06-23 Applied Materials, Inc. Roller for a carrier transport assembly, substrate processing system, method of maintaining a substrate processing system, and method of manufacturing a device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006165579A (ja) * 2004-12-09 2006-06-22 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
JP2008277481A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Komatsu Ltd 極端紫外光源装置
JP2009023020A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Yaskawa Electric Corp 防塵機構を備えた基板搬送ロボット及びそれを備えた半導体製造装置
CN105549334A (zh) * 2016-01-28 2016-05-04 武汉华星光电技术有限公司 曝光机
JP2017092488A (ja) * 2016-12-28 2017-05-25 大日本印刷株式会社 インプリント装置
WO2022128112A1 (en) * 2020-12-17 2022-06-23 Applied Materials, Inc. Roller for a carrier transport assembly, substrate processing system, method of maintaining a substrate processing system, and method of manufacturing a device

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