JPH0722274A - チップ型電子部品 - Google Patents
チップ型電子部品Info
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Abstract
板に加えられる外力によるたわみに起因する応力に耐え
得る機械的強度を備え、かつ部材の厳格な寸法管理を必
要としないチップ型電子部品を提供する。 【構成】 外部電極13a,13bを有するチップ型電
子部品素子12の外部電極13a,13bに、金属端子
14,15を接合してなり、金属端子14,15が、外
部電極13a,13bに接合される外部電極接合部14
a,14bと、外部と電気的にかつ機械的に接合される
端子先端部14b,15bと、外部電極接合部14a,
15aと端子先端部14b,15bとの間に設けられた
屈曲部14c,15cとを有する、チップ型電子部品1
1。
Description
し、特に、基板上に実装した状態における熱的及び機械
的強度を高め得る構造を備えたチップ型電子部品に関す
る。
上に実装した状態を断面図で示す。回路基板1上にチッ
プ型電子部品2を実装するための電極ランド1a,1b
が形成されている。チップ型電子部品2は、セラミック
焼結体よりなる素子本体2aと、素子本体2aの両端面
に形成された外部電極2b,2cとを有する。外部電極
2b,2cは、はんだ3a,3bにより電極ランド1
a,1bに接合されている。
ように面実装することができるが、チップ型電子部品2
が直接基板1上に実装されているため、以下のような問
題があった。
て熱衝撃が加えられた場合、該熱衝撃に起因する基板1
の矢印A方向の伸縮応力により、チップ型電子部品2が
破壊することがあった。特に、基板1として、熱伝導性
に優れたアルミニウム基板などを用いている場合には、
上記伸縮応力が大きいため、より問題となっていた。
直接実装されているため、基板1に実装する際、あるい
は基板1に加えられる外力などによって発生する基板1
のたわみに起因する応力がチップ型電子部品2に加わり
易く、該応力によってもチップ型電子部品2を破壊する
ことがあった。
として、チップ型電子部品素子に円筒状の金属キャップ
を取り付けた構造のものが提案されている。例えば、図
10に示すように、外部電極4a,4bを両端面に有す
るチップ型電子部品素子4の両端に円筒型の金属キャッ
プ5a,5bを取り付けた構造のものが提案されてい
る。この場合、金属キャップ5a,5b内にチップ型電
子部品素子4が挿入され、はんだによりあるいは導電性
接着剤により金属キャップ5a,5bが外部電極4a,
4bに接合されている。
プ型電子部品では、図11に示すように、金属キャップ
5a,5bを電極ランド1a,1bにはんだ3a,3b
により接合することにより、基板1上への実装が行われ
ていた。
ャップ5a,5bを用いた構造では、予めチップ型電子
部品素子4を金属キャップ5a,5b内に挿入して固定
しなければならなかった。従って、金属キャップ5a,
5bの内径は、チップ型電子部品素子4が挿入され得る
ような大きさに保たれねばならなかった。他方、チップ
型電子部品素子4は、セラミックスからなるものである
ため、焼成により収縮するが、この収縮度が一定ではな
い。従って、金属キャップ5a,5bの精度を高めたと
しても、挿入すべきチップ型電子部品素子4の外形寸法
が一定でないため、金属キャップ5a,5bに挿入され
なかったり、あるいは挿入することが可能であってもチ
ップ型電子部品素子4と金属キャップ5a,5bとの間
のクリアランスが大きくなり過ぎ、強固に両者を接合す
ることができなかったりすることがあった。
図10のチップ型電子部品素子4は、単一のチップ型電
子部品素子を用いるものであるため、単一の部品で得ら
れる特性しか得ることができず、例えばより大きな静電
容量(例えば積層コンデンサの場合)を得ることができ
ないという問題もあった。
撃に起因する基板の伸縮応力や基板実装時もしくは基板
に加えられる外力により発生する基板のたわみによる応
力に耐え得ることができ、かつ部品の寸法精度の高度の
管理を必要とすることがない、チップ型電子部品を提供
することにある。
する少なくとも1個のチップ型セラミック電子部品素子
と、前記外部電極に接合された金属端子とを備え、前記
金属端子が、外部電極に接合された外部電極接合部と、
外部電極接合部と離れた位置に配置されており、かつ外
部と電気的に接続するための端子先端部と、前記外部電
極接合部と端子先端部とを連結している屈曲部とを有す
ることを特徴とする、チップ型電子部品である。
に上記金属端子が接合されており、上記金属端子は、外
部電極に接合される外部電極接合部と、外部と電気的に
接続するための端子先端部との間に屈曲部を有する。従
って、上記金属端子の屈曲部がばね性を有するため、端
子先端部が外力により移動しようとした場合、端子先端
部の移動による応力が屈曲部で吸収され、外部電極接合
部への該応力の伝達を軽減することができる。
部が基板上の電極ランド等にはんだ等により電気的及び
機械的に接合されることになる。この場合、熱衝撃を受
けたり、基板実装時や基板に加えられる外力により基板
がたわんだとしても、基板からの応力が上記金属端子の
屈曲部により受け止められる。従って、チップ型電子部
品素子がセラミックスからなる場合であっても、チップ
型電子部品素子自体の破壊が生じ難い。
え得るように、上記屈曲部を有する金属端子を用いてチ
ップ型電子部品素子を保護したことに特徴を有する。
することにより、本発明を明らかにする。
プ型電子部品を基板上に実装した状態を示す断面図であ
る。本実施例のチップ型電子部品11は、積層コンデン
サを構成するためのチップ型電子部品素子12を有す
る。チップ型電子部品素子12は、誘電体セラミックス
よりなるセラミック焼結体内に複数の内部電極(図示せ
ず)をセラミック層を介して重なり合うように配置した
構造を有する。また、セラミック焼結体の両端面を覆う
ように、外部電極13a,13bが形成されている。
13a,13bに、それぞれ、金属端子14,15が接
合されている。金属端子14,15の構造の詳細につい
て、金属端子14を代表して、図2を参照して説明す
る。
ることにより構成されており、外部電極接合部14a、
端子先端部14b、屈曲部14c及び一対の把持部14
d,14eを有する。
に電気的にかつ機械的に接続される部分に相当し、図示
のようにある程度の面積を有する平板状部分として構成
されている。また、端子先端部14bは、後述するよう
に基板上の電極ランドに電気的にかつ機械的に接続され
る部分を構成するため、同じくある程度の面積を有する
ように構成されている。他方、端子先端部14bと、外
部電極接合部14aとの間に設けられた屈曲部14c
は、金属端子14の一部にばね性を与えるために設けら
れており、本実施例では、外部電極接合部14aの下端
から外側に延ばされており、かつ先端側において再度上
方を向くように曲げられて構成されている。
電極接合部14aの側縁から端子先端部14bと反対
側、すなわちチップ型電子部品素子側に延ばされてい
る。端子把持部14d,14eは、図示のように外側に
湾曲した形状とされており、それによってチップ型電子
部品素子12をばね性をもって保持し得るように構成さ
れている。
属端子14と同様に構成されている。従って、相当の部
分については、相当の参照番号を付することによりその
説明を省略する。
の外部電極13a,13bに、上記金属端子14,15
の外部電極接合部14a,15aが接合材16a,16
bにより接合されている。接合材16a,16bとして
は、はんだ、ろう、導電性接着剤等の公知の導電性接合
材を用いることができる。
金属端子14,15を利用して、基板1上に実装され、
固定される。すなわち、基板1上に形成された電極ラン
ド1a,1bに対し、金属端子14,15の端子先端部
14b,15bがはんだ3a,3bにより接合され、チ
ップ型電子部品11が基板1上に実装されている。実装
後の状態において、例えば熱衝撃が加えられ、基板1に
矢印A方向に伸縮応力が発生したとする。この場合、上
記応力によって金属端子14,15の端子先端部14
b,15bが矢印A方向に移動される。しかしながら、
金属端子14,15に上記屈曲部14c,15cが設け
られているため、該屈曲部14c,15cにより該応力
が吸収され、上記応力の外部電極接合部14a,15a
側への伝達を効果的に軽減することができる。
るセラミック焼結体の割れ等を効果的に防止することが
でき、かつ金属端子14,15と、チップ型電子部品1
1との間の接合部分及び金属端子14,15と電極ラン
ド1a,1bとの間の接合部分の破壊も効果的に防止す
ることができる。
に、把持部14d,14e,15d,15e(図示せ
ず)が構成されているため、図1に紙面−紙背方向に外
力が加わった場合においても、このような外力が把持部
14d,14e,15d,15eで受け止められる。従
って、紙面−紙背方向に発生した外力に対しても、チッ
プ型セラミック電子部品11を効果的に保護することが
できる。
6bとして、ある程度の弾性を有する導電性接着剤、例
えばシリコン樹脂にカーボン粉末や金属粉末等の導電性
粉末を配合したものが用いられる。このような弾性を有
する導電性接着剤を接合材16a,16bとして用いる
ことにより、屈曲部14c,15cで吸収し得なかった
応力を、接合材16a,16bの弾性によりさらに減衰
させることができる。
電子部品を基板上に実装した状態を示す断面図である。
本実施例のチップ型電子部品21では、3個のチップ型
電子部品素子(内部構造は省略)22,23,24が用
いられている。チップ型電子部品素子22〜24は、そ
れぞれ、セラミック焼結体22a,23a、24aの両
端面を覆うように外部電極25a,25b,26a,2
6bを形成した構造を有する(電子部品素子23につい
ては外部電極は図示されず)。
金属端子27,28により接合されて一体化されてい
る。金属端子27の構造を、図4を参照して説明する。
図4(a),(b)に示すように、金属端子27は、外
部電極接合部27a、端子先端部27b,屈曲部27c
及び一対の把持部27d,27eを有する。これらの各
部分の詳細は、図2に示した金属端子14と同様である
ため、詳細な説明は省略する。もっとも、本実施例で用
いられている金属端子27では、前述した3個のチップ
型電子部品素子22〜24を一体化するため、第1の実
施例で用いた金属端子14に比べて、基板上に実装した
状態における上下方向の寸法が長くされている。
属端子27と同様に構成されているため、相当の部分に
ついては、相当の参照番号を付する。図3に戻り、第2
の実施例では、金属端子27が、接合材29aにより、
チップ型電子部品素子22〜24の外部電極25a,2
6aに電気的にかつ機械的に接合されている。同様に、
金属端子28についても、接合材29bにより、外部電
極25b,26bに機械的にかつ電気的に接合されてい
る。上記接合材29a,29bとしては、第1の実施例
の場合と同様に、はんだ、ろう、導電性接着剤等の公知
の導電性接合材を用いることができる。
ンド1a,1bに対し、はんだ3a,3bにより端子先
端部27b,28bを接合することにより、チップ型電
子部品21を基板1上に実装することができる。この場
合、第1の実施例と同様に、屈曲部27c,28cのば
ね性により、基板の変形に起因する応力を効果的に吸収
することができるため、第1の実施例の場合と同様にチ
ップ型電子部品素子の破壊や接合部分の破壊を防止する
ことができる。
7,28の把持部27d,27e,28d,28e(図
示せず)により、側方に加えられた応力に対して、チッ
プ型電子部品素子22〜24を保護することができる。
部品素子22〜24を積層しているため、チップ型電子
部品素子22〜24間の位置ずれも、上記把持部27
d,27e,28d,28eにより防止することができ
る。
子22〜24を積層しているため、単一のチップ型電子
部品素子では得られない特性、例えば高静電容量(積層
コンデンサの場合)を実現することができる。さらに、
3個の電子部品素子としては、機能が異なるものを用い
てもよく、例えば何れか1個の素子をを積層コンデン
サ、他の素子をインダクタ等の他の電子部品素子として
もよい。
を積層し、金属端子により一体化してもよい。図5は、
本発明の第3の実施例のチップ型電子部品素子を基板上
に実装した状態を示す断面図である。第3の実施例のチ
ップ型電子部品素子31は、第1の実施例のチップ型電
子部品素子11の変形例に相当するため、相当の部分に
ついては相当の参照番号を付し、説明を省略する。本実
施例が、第1の実施例と異なるところは、金属端子3
4,35の構造にある。
に、金属端子35では、外部電極接合部35aと、端子
先端部35bとの間の屈曲部35cが基板上に実装され
た状態で上方、すなわち基板とは反対側の方向に設けら
れている。その他の点については、第1の実施例で用い
た金属端子14,15と同様であり、外部電極接合部3
5aの側方からセラミック電子部品素子側に設けられた
把持部35d,35eを有する。他方の金属端子34に
ついても、金属端子35と同様に構成されているため、
相当の部分については相当の参照番号を付することによ
り、説明は省略する。
屈曲部34c,35cが上方、すなわち基板1と離れた
部分に位置されているため、はんだ3a,3bの屈曲部
34c,35cへの付着を確実に防止することができ
る。従って、屈曲部34c,35cのばね性による外力
の吸収を、第1の実施例に比べてより確実に行うことが
できる。
電子部品素子41を基板1上に実装した状態を示す断面
図である。第4の実施例は、第2の実施例のチップ型電
子部品の変形例に相当し、異なるところは、金属端子4
6,47の構造にある。
すように、外部電極接合部47aと端子先端部47bと
の間に屈曲部47cを有するが、この屈曲部47cが上
方、すなわち基板1上に実装された状態において基板1
とは反対側に位置されている。また、外部電極接合部4
7aの側方からは把持部47d,47eが延ばされてい
る。他方の金属端子46についても金属端子47と同様
に構成されている。従って、相当の部分については、相
当の参照番号を付することにする。
47により、第2の実施例と同様の作用効果が発揮され
るが、第3の実施例の場合と同様に、屈曲部46c,4
7cが上方に位置されているため、電極ランド1a,1
bとの接合に用いられるはんだ3a,3bの屈曲部46
c,47cへの付着を確実に防止することができる。従
って、屈曲部46c,47cの弾性による外力の軽減作
用をより確実に発揮させることができる。
プ型電子部品素子の外部電極が形成されている部分に上
記屈曲部を有する金属端子が接合されている。従って、
金属端子の端子先端部を基板上の電極ランド等とはんだ
により接合して実装した場合、基板の変形等に起因する
応力が加えられたとしても、上記屈曲部により該応力を
効果的に軽減することができる。
の伸縮に起因する応力や、基板実装時あるいは基板に加
えられた外力により偶発的に発生する基板のたわみに起
因する応力が、上記屈曲部で吸収されるため、チップ型
電子部品素子の破壊やチップ型電子部品素子と金属端子
との接合部もしくは金属端子と基板との接合部の破壊を
効果的に防止することができる。
品素子を挿入するような形状とされているものではない
ため、チップ型電子部品素子に寸法ばらつきがある場合
であっても、確実に上記金属端子を接合することができ
る。従って、従来の円筒型の金属キャップを用いた場合
には厳格な寸法精度の管理が必要であったのに対し、本
発明ではこのような寸法精度の厳格な管理を必要としな
い。
り実装する場合には、上記金属端子がはんだと接合され
る部分となるため、外部電極をAg等により構成した場
合であっても、金属端子をはんだ喰われし難い金属材料
で構成することにより、はんだ喰われを確実に防止する
ことができる。
る場合には、チップ型電子部品素子とこて先とが直接接
触しないため、はんだ付けに際しての急激な温度上昇に
よるチップ型セラミック電子部品素子の破壊を防止する
こともできる。
を積層して上記金属端子を用いて一体化することができ
るため、この場合には、実装面積を拡大することなく、
単一のチップ型電子部品素子では得ることができない特
性、例えば大きな静電容量を得ることができる。
装した状態を示す断面図。
で用いられた金属端子を示す斜視図及び平面図。
装した状態を示す断面図。
で用いられた金属端子を示す斜視図及び平面図。
装した状態を示す断面図。
で用いられた金属端子を示す斜視図及び平面図。
装した状態を示す断面図。
で用いられた金属端子を示す斜視図及び平面図。
態を示す断面図。
ャップを接合する工程を示す斜視図。
プ型電子部品を基板上に実装した状態を示す断面図。
Claims (1)
- 【請求項1】 外部電極を有する少なくとも1個のチッ
プ型セラミック電子部品素子と、 前記外部電極に接合された金属端子とを備え、 前記金属端子が、外部電極に接合された外部電極接合部
と、外部電極接合部と離れた位置に配置されており、か
つ外部と電気的に接続するための端子先端部と、前記外
部電極接合部と端子先端部とを連結している屈曲部とを
有することを特徴とする、チップ型電子部品。
Priority Applications (1)
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Related Child Applications (1)
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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