JPH07211740A - 樹脂封止用金型 - Google Patents

樹脂封止用金型

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Publication number
JPH07211740A
JPH07211740A JP384494A JP384494A JPH07211740A JP H07211740 A JPH07211740 A JP H07211740A JP 384494 A JP384494 A JP 384494A JP 384494 A JP384494 A JP 384494A JP H07211740 A JPH07211740 A JP H07211740A
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JP
Japan
Prior art keywords
resin
mold
sealing
air vent
lead frame
Prior art date
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Pending
Application number
JP384494A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuhiro Furukawa
光浩 古川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Yonezawa Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Yonezawa Electronics Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP384494A priority Critical patent/JPH07211740A/ja
Publication of JPH07211740A publication Critical patent/JPH07211740A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 流入した封止樹脂がエアベントを塞ぐことの
ない樹脂封止用金型を提供する。 【構成】 リードフレーム4上にマウンティングされ、
ボンディングされた半導体チップ2を封止樹脂5で成形
封止する樹脂封止用金型1のエアベント8に、封止樹脂
5との接着力がリードフレーム4と封止樹脂5との接着
力よりも弱いフッ素系樹脂(非付着性部材)9を埋設す
る。これによって、エアベント8に流入した封止樹脂5
はリードフレーム4側へ付着することになるので、エア
ベント8が塞がれることがなく、モールド不足やバルク
ボイドの発生が防止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂モールドによる半
導体集積回路装置(以下「モールド半導体装置」とい
う。)を製造する樹脂封止用金型に関し、特にモールド
半導体装置のモールド不足やバルクボイドの発生を防止
できる樹脂封止用金型について有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】モールド半導体装置の樹脂封止用金型
(以下単に「金型」という。)には、封止樹脂の充填を
完全にするために、充填される封止樹脂によってキャビ
ティ内のエアが外部に排出されるエアベントが設けられ
ている。従って、金型のキャビティ内に封止樹脂を注入
した場合には、それがエアベントにも流入することとな
る。
【0003】しかし、リードフレームと封止樹脂とは密
着性が良くないため、エアベントに流入した封止樹脂は
リードフレーム側ではなく金型側に付着、残留すること
となり、結果として金型のエアベントを塞いでしまう。
そして、エアベントが塞がれたままの状態で次のモール
ドを行うと、今度は排出されることのないエアが封止樹
脂の流れを阻害し、モールド不足やバルクボイドが発生
することとなる。
【0004】このように、封止樹脂の充填を完全にする
ために設けたエアベントが封止樹脂の充填を不完全にし
てしまうという矛盾を解決するために、従来では、フッ
素樹脂などのように封止樹脂との接着力が弱い物質をエ
アベントにコーティング処理することが行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、フッ素樹脂等
のコーティング処理では、連続成形によってコーティン
グ剤が磨耗してエアベントの樹脂非付着機能が容易に減
殺されることとなり、前記したモールド不足やバルクボ
イドが再発しやすいという問題点があった。確かに再コ
ーティング処理をすればこのような問題点は解消される
ものの、工数のかかるコーティング処理を頻繁に要する
こととなり、メンテナンスが煩雑化し、費用もかかるこ
とになる。
【0006】そこで、本発明の目的は、流入した封止樹
脂がエアベントを塞ぐことのない樹脂封止用金型を提供
することにある。
【0007】本発明の他の目的は、樹脂非付着機能を維
持するためのメンテナンスが安価、且つ容易な樹脂封止
用金型を提供することにある。
【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかにな
るであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を説明すれば、次の通
りである。
【0010】すなわち、本発明の樹脂封止用金型はリー
ドフレーム上にマウンティングされ、ボンディングされ
た半導体チップを封止樹脂で成形封止する金型であっ
て、キャビティ内のエアが外部に排出されるエアベント
に、封止樹脂との接着力がリードフレームと封止樹脂と
の接着力よりも弱い非付着性部材が埋設されているもの
である。
【0011】この場合において、前記した非付着性部材
は、フッ素系樹脂、ニッケル、サファイア、または耐熱
ガラスで作ることができる。
【0012】
【作用】金型のゲートから注入された封止樹脂は、エア
をエアベントから押し出しつつキャビティ内に充填さ
れ、最後にこのエアベントにも流入する。
【0013】ここで、上記のような構成の樹脂封止用金
型によれば、封止樹脂との接着力が、リードフレームと
封止樹脂との接着力よりも弱い非付着性部材がエアベン
トに埋設されているので、エアベントに流入した封止樹
脂は金型側ではなくリードフレーム側へ付着することと
なる。
【0014】したがって、残留した封止樹脂によって金
型のエアベントが塞がれることがないので、樹脂充填時
においてエアは常に外部へ排出され、モールド不足やバ
ルクボイドが発生することがない。
【0015】また、非付着性部材を埋設しているので、
コーティング処理に比べて容易に磨耗することがなく、
安定して樹脂非付着機能を発揮することができる。
【0016】さらに、埋設された非付着性部材を取り替
えるだけで従前の機能が回復できるので、メンテナンス
も安価、且つ容易になる。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいてさら
に詳細に説明する。
【0018】(実施例1)図1は本発明の一実施例であ
る樹脂封止用金型を示す要部断面図、図2はその樹脂封
止用金型の内部平面図、図3はその樹脂封止用金型によ
るモールド状態を示す断面図である。
【0019】本実施例の樹脂封止用金型1は、図3に示
すように、塵埃や湿度などの外的雰囲気や機械的衝撃か
ら半導体チップ2やボンディングワイヤ3を保護し、取
り扱いを容易にするために、リードフレーム4上にマウ
ンティングされ、ボンディングされた半導体チップ2を
封止樹脂5で成形封止するためのものである。
【0020】図1に示すように、樹脂封止用金型1は上
型1aと下型1bの一対より構成された、たとえばQF
P(Quad Flat Package)等のような
4辺リードタイプに用いられるものである。また、図2
に示すように、その内部は、ゲート6、キャビティ7、
および3箇所のエアベント8から形成されている。
【0021】ゲート6は軟化した封止樹脂5が圧力をか
けられて注入される箇所であり、このゲート6から注入
された封止樹脂5がキャビティ7内に充填されることで
半導体チップ2が封止されるものである。
【0022】また、エアベント8は、充填される封止樹
脂5によって押圧されるキャビティ7内のエアを外部に
排出するものであり、このエアベント8には封止樹脂5
との接着力がリードフレーム4と封止樹脂5との接着力
よりも弱いフッ素系樹脂(非付着性部材)9が埋設され
ている。したがって、樹脂封止用金型1を上下に開いた
ときに、エアベント8に流入した封止樹脂5はリードフ
レーム4側に付着するようになっている。
【0023】本実施例の樹脂封止用金型1によれば、半
導体チップ2の組立が終わったリードフレーム4がセッ
トされ、軟化した封止樹脂5がゲート6からキャビティ
7内に注入され、この注入と同時にエアベント8からキ
ャビティ7内のエアが封止樹脂5に押圧されて外部に排
出される。この封止樹脂5の充填完了状態を示すのが図
3であり、封止樹脂5は最終的にエアベント8に流入し
て充填が完了することになる。
【0024】充填が完了すると次に封止樹脂5が熱硬化
し、その後、樹脂封止用金型1が上下に開いてモールド
されたリードフレーム4が取り出され樹脂封止が終了す
る。
【0025】ここにおいて、前記のようにエアベント8
には、封止樹脂5との接着力がリードフレーム4と封止
樹脂5との接着力よりも弱いフッ素系樹脂9が埋設され
ているので、樹脂封止用金型1を上下に開いたときに、
エアベント8に流入した封止樹脂5はリードフレーム4
側に付着して、エアベント8には残留していないことに
なる。
【0026】樹脂封止されたリードフレーム4が離脱し
た樹脂封止用金型1には、さらに次のリードフレーム4
がセットされて封止樹脂5がキャビティ7内に注入され
る。このとき、エアベント8には封止樹脂5が残留して
いないので、上型1aと下型1bとが密着してもエアベ
ント8から外部へのエアの排出機能は確保されている。
【0027】したがって、連続成形してもキャビティ7
内のエアは常に封止樹脂5の注入と同時に外部に排出さ
れることになる。
【0028】このように、本実施例の樹脂封止用金型1
によれば、エアベント8に流入した封止樹脂5はリード
フレーム4側に付着することになるので、残留した封止
樹脂5によって樹脂封止用金型1のエアベント8が塞が
れることがなく、充填時においてエアは常に外部へ排出
されてモールド不足やバルクボイドの発生が防止され
る。
【0029】(実施例2)図4は本発明の他の実施例で
ある樹脂封止用金型を示す内部平面図である。
【0030】本実施例の樹脂封止用金型11は、たとえ
ばDIP(Dual in−Iine Packag
e)等のような2辺リードタイプに用いられるもので、
図示するようにエアベント18は1箇所に形成されたも
のである。
【0031】そして、封止樹脂との接着力がリードフレ
ームと封止樹脂との接着力よりも弱いニッケル(非付着
性部材)19がこのエアベント18に埋設されている。
なお、符号16は封止樹脂が注入されるゲートを示して
いる。
【0032】本実施例の樹脂封止用金型11によって
も、キャビティ17からエアベント18に流入した封止
樹脂はリードフレーム側に付着することになるので、残
留した封止樹脂によって金型1のエアベント18が塞が
れることがなく、エアは常に外部へ排出されてモールド
不足やバルクボイドの発生が防止される。
【0033】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることは言うまでもない。
【0034】たとえば、本実施例においては、非付着性
部材としてフッ素系樹脂9、およびニッケル19が用い
られているが、その他にも、耐熱ガラスやサファイアな
どのように、封止樹脂5との接着力がリードフレーム4
と封止樹脂5との接着力よりも弱い部材であれば、種々
のものを用いることができる。
【0035】また、前記実施例においては、樹脂封止用
金型1,11によって製造される半導体パッケージはQ
FPおよびDIPであるが、本発明はこれらに限定され
るものではなく、どの様な形状の半導体パッケージを製
造する樹脂封止用金型にも適用することができる。
【0036】さらに、樹脂封止用金型1,11のエアベ
ント8,18が複数箇所ある場合においては、全ての箇
所にフッ素系樹脂9やニッケル19のような非付着性部
材を埋設しなくてもよい。
【0037】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以
下の通りである。
【0038】(1).すなわち、本発明の樹脂封止用金型に
よれば、封止樹脂との接着力が、リードフレームと封止
樹脂との接着力よりも弱い非付着性部材がエアベントに
埋設されているので、エアベントに流入した封止樹脂は
金型側ではなくリードフレーム側へ付着することとな
る。
【0039】(2).したがって、残留した封止樹脂によっ
て金型のエアベントが塞がれることがないので、樹脂充
填時においてエアは常に外部へ排出され、モールド不足
やバルクボイドの発生が未然に防止され、歩留まりの向
上を図ることができる。
【0040】(3).また、フッ素系樹脂などの非付着性部
材を、コーティング処理ではなく埋設しているので、容
易に磨耗することがなく、安定してエアベントにおける
樹脂非付着機能を発揮、維持することが可能になる。
【0041】(4).さらに、連続成形によって非付着性部
材が磨耗した場合でも、この埋設された非付着性部材を
取り替えるだけで従前の機能が回復できるので、コーテ
ィング処理に比較してメンテナンスが容易であり、且つ
低コストで実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1による樹脂封止用金型を示す
要部断面図である。
【図2】その樹脂封止用金型の内部平面図である。
【図3】その樹脂封止用金型によるモールド状態を示す
断面図である。
【図4】本発明の実施例2による樹脂封止用金型を示す
内部平面図である。
【符号の説明】
1 樹脂封止用金型 1a 上型 1b 下型 2 半導体チップ 3 ボンディングワイヤ 4 リードフレーム 5 封止樹脂 6 ゲート 7 キャビティ 8 エアベント 9 フッ素系樹脂(非付着性部材) 11 樹脂封止用金型 16 ゲート 17 キャビティ 18 エアベント 19 ニッケル(非付着性部材)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リードフレーム上にマウンティングさ
    れ、ボンディングされた半導体チップを封止樹脂で成形
    封止する樹脂封止用金型であって、キャビティ内のエア
    が外部に排出されるエアベントに、前記封止樹脂との接
    着力が前記リードフレームと前記封止樹脂との接着力よ
    りも弱い非付着性部材が埋設されていることを特徴とす
    る樹脂封止用金型。
  2. 【請求項2】 前記非付着性部材は、フッ素系樹脂、ニ
    ッケル、サファイア、または耐熱ガラスよりなることを
    特徴とする請求項1記載の樹脂封止用金型。
JP384494A 1994-01-19 1994-01-19 樹脂封止用金型 Pending JPH07211740A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP384494A JPH07211740A (ja) 1994-01-19 1994-01-19 樹脂封止用金型

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP384494A JPH07211740A (ja) 1994-01-19 1994-01-19 樹脂封止用金型

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07211740A true JPH07211740A (ja) 1995-08-11

Family

ID=11568501

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP384494A Pending JPH07211740A (ja) 1994-01-19 1994-01-19 樹脂封止用金型

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07211740A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5920768A (en) * 1996-12-19 1999-07-06 Denso Corporation Manufacturing method for a resin sealed semiconductor device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5920768A (en) * 1996-12-19 1999-07-06 Denso Corporation Manufacturing method for a resin sealed semiconductor device

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