JPH07198566A - 固形試料の自動検査装置 - Google Patents

固形試料の自動検査装置

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JPH07198566A
JPH07198566A JP33476093A JP33476093A JPH07198566A JP H07198566 A JPH07198566 A JP H07198566A JP 33476093 A JP33476093 A JP 33476093A JP 33476093 A JP33476093 A JP 33476093A JP H07198566 A JPH07198566 A JP H07198566A
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JP
Japan
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thin
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JP33476093A
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English (en)
Inventor
Toshiro Higuchi
俊郎 樋口
Isamu Aoki
勇 青木
Kenichi Kudo
謙一 工藤
Masatomo Kobayashi
賢知 小林
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Kanagawa Academy of Science and Technology
Original Assignee
Kanagawa Academy of Science and Technology
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 試料の標本の作製と観察、分析の工程を連続
的な動作により行ない得るとともに、検査工程から人手
による部分を除き、一連の検査、分析の自動化を推進す
る固形試料の自動検査装置を提供する。 【構成】 固形試料Sをカットして薄片試料Saを順次
採取し固形試料Sの検査を行う固形試料の自動検査装置
において、固形試料Sをカットして薄片試料Saを粘着
テープ20へ自動的に採取する薄片試料作製装置と、こ
の粘着テープ20を所定ピッチで搬送する搬送装置と、
搬送された薄片試料Saを順次観察する撮像装置70
と、この撮像装置70から得られる観察情報に基づいて
固形試料Sを検査する装置とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロスライサを用
いて固形試料を切断し、その切断した薄片試料を観察
し、その観察結果に基づいて固形試料の分析を行う固形
試料の自動検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、理科学試料分析、食品分析、医療
分析、工業材料分析等を顕微鏡等により検査、分析を行
なう際には、試料から厚さの薄い試験片を作成して、そ
の試料を顕微鏡等により観察したり、試料を切断して被
測定断面を露出させ、その被測定断面を各種のセンサに
より測定していた。例えば、細胞組織の観察を行うため
に、細胞組織をミクロトームにより薄く切り、顕微鏡に
より観察することが行われている。
【0003】また、医用工学の分野において、計算機に
よる信号処理により、XCTスキャナや超音波を用いた
リアルタイムの断層撮影装置のように、試料の内部を切
断することなく非破壊的に検査することも行なわれてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、試料か
ら薄い試験片を作成して、その試料を顕微鏡等により観
察するには、その試料の標本の製作が必要であって、そ
の製作にはかなりの時間と技術を要していた。そのた
め、試料の標本の作製と観察の間、あるいは、試料の標
本の作製と近赤光法やphセンサ、その他のセンサによ
る分析との間には、かなりの時間的ずれがあり、これら
の試料の標本の作製と観察、分析の工程を連続的な動作
により行うことはできなかった。この時間的ずれは、変
質しやすい試料の分析においては問題であり、試料作製
時の観察が行い難い、あるいは、多数の試料を観察、分
析する場合には、試料間に差が生じるといった欠点があ
った。また、これらの工程は人手により行われており、
一連の検査、分析の自動化が求められていた。
【0005】本発明は、上記状況に鑑みて、試料の標本
の作製と観察、分析の工程を連続的な動作により行ない
得るとともに、検査工程から人手による部分を除き、一
連の検査、分析の自動化を推進する固形試料の自動検査
装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、固形試料をカットして薄片試料を順次採
取し固形試料の検査を行う固形試料の自動検査装置にお
いて、固形試料をカットして薄片試料を粘着テープへ自
動的に採取する薄片試料作製装置と、該粘着テープを所
定ピッチで搬送する搬送装置と、搬送された薄片試料を
順次観察する撮像装置と、該撮像装置から得られる観察
情報に基づいて固形試料を検査する装置とを設けるよう
にしたものである。
【0007】更に、前記撮像装置に関連して薄片試料を
分析するセンサを設ける。
【0008】
【作用】本発明によれば、上記のように、固形試料をカ
ットして薄片試料を順次採取し固形試料の検査を行う固
形試料の自動検査装置において、薄片試料作製装置によ
り、固形試料をカットして薄片試料を粘着テープへ自動
的に採取し、搬送装置により、その採取された薄片試料
を粘着テープとともに所定ピッチで搬送する。その搬送
された薄片試料を観察装置により順次観察し、前記順次
観察された情報に基づいて固形試料を検査する。
【0009】また、前記撮像装置に関連してセンサを設
け、薄片試料を分析する。このように、薄片試料作製装
置と関連させて、観察装置を設けることにより、画像デ
ータ及び分析データの処理装置が接続され、表示装置、
記憶装置に出力される。さらに、データ処理装置は、記
憶装置に記憶された各薄片ごとのデータから薄片間にわ
たるデータを形成し、試料の内部状態の全体像のデータ
を得ることができる。
【0010】分析装置に用いるセンサとしては、例えば
温度、圧力、色などを測定する物理センサや化学物質を
計測する化学センサや、イオン選択性電極、ガスセン
サ、バイオセンサ等を測定対象に応じて選択して用い
る。表示装置は、試料の画像データとともに、分析デー
タを同一画面上に重ね合わせて表示することができる。
【0011】また、試料の標本としての薄片試料を確実
に採取できるとともに、その搬送を精度よく行うことが
できる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施例を
示す固形試料の自動検査装置の全体構成図、図2はその
自動検査装置の薄片試料の作製方法を示す工程図であ
る。まず、薄片試料の作製方法について図2を参照しな
がら説明する。
【0013】(1)図2(a)に示すように、テーブル
1に形成される穴から固形試料2の先端部がそのテーブ
ル1の表面から突出するようにセットするとともに、そ
の固形試料2の上方には粘着テープ3を位置させる。更
に、固形試料2の上方には粘着テープ3を固形試料2の
先端面に押し付けるテープ押さえプランジャ4を配置す
る。なお、粘着テープ3は片面に接着層が形成されてお
り、その接着層が形成されている面を固形試料2側に配
置している。
【0014】(2)次に、図2(b)に示すように、テ
ープ押さえプランジャ4を駆動して下降させ、粘着テー
プ3の接着層に固形試料2の先端面を押し付ける。 (3)次に、図2(c)に示すように、粘着テープ3の
接着層で固形試料2が固定された状態で、切刃5でもっ
て固形試料2の先端部をカットし、粘着テープ3に薄片
試料2aを固着する。
【0015】そこで、粘着テープ3に固着された薄片試
料2aは、粘着テープ3とともに搬送され、自動検査装
置(図1参照)へと送られる。図3は本発明の第1の実
施例を示す薄片試料の作製装置の構成図、図4はその薄
片試料作製装置の一部破断平面図である。これらの図に
示すように、B1及びB2はベースであり、固形試料S
を薄く切るための切刃12を回転可能にする切刃取付テ
ーブル11と、該切刃取付テーブル11を回転駆動させ
るテーブル駆動装置50と、固形試料Sを微動させるた
めのステージ45を直進駆動させる固形試料送り装置4
0で構成されている。
【0016】この固形試料送り装置40の駆動により、
固形試料Sが切刃取付テーブル11の表面より突出する
と、固形試料Sの上方には粘着テープ20がセットさ
れ、更に、その粘着テープ20を固形試料Sの先端の上
面に押し付けることができるように、テープ押さえプラ
ンジャ31が設けられている。このテープ押さえプラン
ジャ31は、テープ押さえプランジャ駆動装置(電磁装
置,電動装置,流体的装置、機械的装置等)30の間欠
駆動により、テープ押さえプランジャ31を下降可能に
している。
【0017】また、テープ押さえプランジャ31はガイ
ド32により案内され、固形試料Sの先端面に的確に当
接するように構成されている。62,63は粘着テープ
20に当接するテンションローラである。そこで、テー
ブル駆動装置50は、テーブル駆動用モータ51と、テ
ーブル駆動用モータ51の回転を切刃取付テーブル11
の回転軸53に伝達するテーブル駆動ギヤ52により構
成され、切刃取付テーブル11を回転させ、切刃12に
より固形試料Sをスライスする。
【0018】一方、固形試料送り装置40は、ステージ
駆動用モータ41と、該ステージ駆動用モータ41の回
転駆動力を伝達する駆動ギヤ42と、該駆動ギヤ42の
駆動をステージ45をスライド可能に支持する支持軸4
4に伝達する減速ギヤ43と、固形試料Sを切刃取付テ
ーブル11の方向に押し出すステージ45と、支持軸4
4を支持するよう両端に設置された軸支持部46とから
成る。
【0019】支持軸44は、2本の軸から成り、固形試
料Sの両側に該試料Sを挟むよう互いに並行に軸支持部
46により支持され、減速ギヤ43により減速されて回
転する。支持軸44の回転により、ステージ45は微動
前進し、固形試料Sを切刃取付テーブル11の表面から
突出するように押し出すことができる。次に、固形試料
Sの先端面が切刃取付テーブル11の表面より押し出さ
れると、テープ押さえプランジャ駆動装置30が駆動さ
れて、テープ押さえプランジャ31が下降して、粘着テ
ープ20の粘着層が固形試料Sの先端面に当接して固着
される。
【0020】すると、テープ押さえプランジャ31は上
昇するが、固形試料Sの先端面は粘着テープ20に固着
された状態になる。この状態で、切刃取付テーブル11
が回転して、固形試料Sの先端が切刃12によりカット
され、粘着テープ20に固定された薄片試料Saが得ら
れる。次に、粘着テープ20が1ピッチ巻き取られて、
薄片試料Saとともに、搬送される。
【0021】このようにして得られた薄片試料は、図1
に示すように、自動検査装置で分析・検査することがで
きる。すなわち、上記したように、固形試料Sが切刃取
付テーブル11の表面より突出するように、固形試料送
り装置40により送り出され、その固形試料Sの先端面
に粘着テープ20の接着層がテープ押さえプランジャ3
1により押し付けられ、その状態で切刃12により、固
形試料Sの先端部がカットされて、粘着テープ20に固
着された薄片試料Saが得られる。
【0022】粘着テープ20は巻取り装置67によって
所定ピッチで巻き取られる。なお、60は供給されるべ
き粘着テープが巻回されるテープリール、61〜66は
テンションローラ、70は撮像装置、71〜73は各種
の薄片試料Saのデータを収集するセンサである。この
ようにして得られた薄片試料Saは、粘着テープ20と
ともに、順次所定ピッチで搬送され、撮像装置70の位
置に達すると、その撮像装置70により、撮像される。
更に、下流に配置されるセンサ71〜73で各種の薄片
試料Saのデータが収集され、薄片試料Saの検査が行
われる。
【0023】このようにして、順次、切り出されてくる
薄片試料Saの検査が行われて、固形試料Sの全体的な
検査を行うことができる。次に、本発明の固形試料の自
動検査装置の信号処理の概略を図1及び図5を参照しな
がら説明する。撮像装置70が薄片試料Saと対向する
と、薄片試料Saは走査制御装置116により走査され
て撮像装置70は画像信号を出力する。この撮像装置7
0の画像信号は、A/D変換回路117によりデジタル
信号に変換され、バッファメモリ120に記憶される。
このバッファメモリ120には、走査制御装置116の
アドレス信号が入力され、画像デジタル信号がアドレス
設定されて記憶される。このバッファメモリ120にお
けるアドレスをアドレス(L0,M,N)とする。アド
レス(M,N)は撮像装置70で画像をM×Nのマトリ
ックス画素により走査して得られる画像信号のアドレス
であり、アドレス(L0)は記憶されているデータが画
像データであることを示している。
【0024】また、センサ1(71)が薄片試料Saと
対向すると、走査制御装置116により薄片試料Saが
走査されてセンサ1(71)より画像信号を出力する。
このセンサ1(71)の検出信号は、A/D変換回路1
17によりデジタル信号に変換され、バッファメモリ1
22に記憶される。このバッファメモリ122には走査
制御装置116のアドレス信号が入力され、検出デジタ
ル信号がアドレス設定されて記憶される。このバッファ
メモリ122におけるアドレスをアドレス(L1,M,
N)とする。アドレス(M,N)は、センサ1(71)
で画像をM×Nのマトリックス画素により走査して得ら
れる画像信号のアドレスであり、アドレス(L1)は記
憶されているデータがセンサ1(71)の検出データで
あることを示している。
【0025】また、センサ1(71)と同様にしてセン
サK(73)の検出データがアドレス(LK,M,N)
によりバッファメモリ124に記憶される。更に、撮像
装置70、センサ1(71)、・・・センサK(73)
の走査を制御するそれぞれの走査制御装置116から
は、スライス面の走査が終了したことを知らせる信号が
出力され、論理回路118に入力される。論理回路11
8は、撮像装置70、センサ1(71)、・・・センサ
K(73)のすべての走査が完了したことを検知し、走
査完了信号を薄片試料作製装置の駆動制御装置150に
送る。
【0026】薄片試料作製装置の駆動制御装置150
は、走査完了信号を受け取ると、テーブル駆動用モータ
51およびステージ駆動用モータ41を駆動して固形試
料Sの新しい薄片試料Saを得て、その薄片試料Saの
画像データ及び検出データの抽出の準備を行なう。薄片
試料作製装置の駆動制御装置150は、テーブル駆動用
モータ51及びステージ駆動用モータ41に駆動信号を
送るとともに、入出力制御回路132に制御信号を送
る。
【0027】制御信号を受けた入出力制御回路132
は、更にバッファメモリ120,122,124に制御
信号を送り、バッファメモリ120,122,124に
記憶されている画像データ、検出データをデータメモリ
126に送る。薄片試料作製装置の駆動制御装置150
は、入出力制御回路132に制御信号を送る際、アドレ
ス(Si)で表されるアドレス信号を付与し、バッファ
メモリ120の画像データはアドレス(Si,L0,
M,N)のアドレスにより設定される。
【0028】また、バッファメモリ122の検出データ
はアドレス(Si,L1,M,N)のアドレスにより設
定される。同様に、バッファメモリ124の検出データ
は、(Si,LK,M,N)のアドレスにより設定され
る。ここでアドレス(Si)は、薄片試料作製装置によ
り薄切される試料Sのi番目の試料面Siを表してい
る。i番目の試料面Siの画像データおよび検出データ
の抽出が終了すると、それらの画像データ及び検出デー
タを前記のようにアドレスを指定してバッファメモリ1
20,122,124からデータメモリ126への伝送
が行なわれ、次に固形試料Sのi+1番目の薄片試料S
ai+1の画像データ及び検出データの抽出が行なわれ
る。
【0029】同様にして、順次、固形試料Sの薄片試料
Saの観察および分析が行なわれ、それらのデータはデ
ータメモリ126に記憶される。最後の固形試料Sの薄
片試料Saの観察及び分析が終了すると、データメモリ
126には固形試料Sの全体の画像データ、検出データ
が記憶されることになる。図6に上述の関係が示されて
いる。固形試料Sは、輪切りにされた薄片試料Saが順
に並べられたものとしてみることができ、薄片試料作製
装置による薄切りによりにその薄片試料Saが順に観察
および分析されることになる。
【0030】次いで、データメモリ126に記憶された
データは、データ処理装置130を介して信号処理され
た後、バッファメモリ128を介してディスプレイ14
0、記録装置160に出力される。データ処理装置13
0では、例えば画像データにおいては、境界線、辺、縁
の抽出や画像の領域分割、解析や線の追跡や線図形のコ
ード化、リスト表現や図形構造のシンタックス表現等の
画像の特徴抽出、あるいは、テクスチャーパラメータ計
測や面積、濃度、モーメント等幾何学的特徴量計測や線
図形の位相的性質の計測や色彩パラメータ計測や、各種
統計量の計算等の画像特徴量計測等のデータ処理が行な
われる。
【0031】また、検出データにおいては、温度、圧
力、色などを測定する物理センサや化学物質を計測する
化学センサ、イオン選択性電極、ガスセンサ、バイオセ
ンサ等のセンサの出力の分析が行なわれる。センサの種
類はこれに限られるわけではなく、必要に応じて任意の
ものを用いることができる。上記のデータ処理装置13
0の処理の内容は、モード選択装置134からの選択信
号により選択される。モード選択装置134からの選択
信号は、入出力制御回路132に入力され、処理の内容
に応じて必要とするデータをデータメモリ126から選
択し、データ処理装置130において処理が行なわれ
る。データメモリ126からのデータの選択及びモータ
処理の手順は、モード選択装置134内のメモリに予め
記憶されており、モード選択を行なうことによりメモリ
の読み出しが行なわれる。
【0032】また、バッファメモリ120を直接ディス
プレイ140に接続して、撮像装置70の画像データを
表示してもよい。これにより、センサ1(71)・・・
センサK(73)のデータ抽出に要する時間の間、ディ
スプレイ140に表示を行なうことができる。これは一
般に撮像装置70の画像データに要する時間は、センサ
1(71)・・・センサK(73)のデータ抽出に要す
る時間よりも短いからである。
【0033】固形試料の任意の断面の解析像の表示は、
モード選択装置134の選択信号を入出力制御回路13
2、データ処理装置130、及び表示制御装置136に
入力することにより行なわれる。モード選択装置134
の選択信号により解析したい断面を指定すると、それに
対応したデータが入出力制御回路132を介してデータ
メモリ126から取り出され、該データをデータ処理装
置130において処理し、表示制御装置136によりデ
ィスプレイ140に表示、あるいは記録装置160に出
力される。また、ディスプレイ140あるいは記録装置
160には解析断面の位置を同時に表示してデータの理
解を容易にさせることもできる。
【0034】上記したように、薄片試料作成装置の駆動
制御と、観察装置や分析装置のデータ処理装置とは関連
性を有して駆動される。固形試料Sは薄片試料作成装置
により、薄片試料Saとして得られ、薄片試料Saを形
成するごとに、接着テープ20により搬送されて観察装
置や分析装置により観察、分析が行なわれて、画像デー
タ及び分析データが得られる。
【0035】各薄片試料Saごとの観察装置からの画像
データや、分析装置からの分析データは、直接あるいは
画像処理、演算処理等のデータ処理が施された後、記憶
装置に記憶されたり、表示装置において表示される。分
析センサは、固形試料の測定特性に応じて選択され、カ
ッターにより薄片試料Saが作製されると、接着テープ
20とともに搬送されて、撮像装置70により観察さ
れ、更に、センサ71〜73によりデータが抽出され、
分析・検査が行なわれる。
【0036】画像データ及び分析データは、A/D変換
器117によりデジタル信号に変換された後、固形試料
Sの立体的なアドレスとともにデータメモリ126に記
憶される。データメモリ126に記憶されたデータは、
データの種類と、スライス面の位置と、画素の位置に関
するアドレスを指定することにより特定される。アドレ
スを指定することにより特定されたデータは、画像処理
や分析処理を行なうデータ処理装置130において信号
処理され、表示あるいは記憶される。
【0037】また、モード選択装置134により、観察
したい薄片試料Saを指定することにより、アドレスを
選択し、データメモリ126からのデータの読み出しを
行ない、固形試料Sの任意の薄片試料Saのデータ処理
及び各種のデータの表示を行うことができる。次に、本
発明の第2の実施例について図面を参照しながら詳細に
説明する。
【0038】図7は本発明の第2の実施例を示す薄片試
料作製装置の要部斜視図、図8は本発明の第2の実施例
を示す薄片試料の平面図である。これらの図に示すよう
に、271は固形試料送り装置であり、ここでは、圧電
素子で駆動されるインチワーム・アクチュエータを用い
ている。この固形試料送り装置271の上方には、固形
試料294(図9参照)の先端部がカットされた薄片試
料295が固着される粘着テープ300が配置される。
すなわち、掛けられた粘着テープ300の両側には歯2
82,292付きテンションローラ280,290が配
置されている。その歯282,292に係合するよう
に、粘着テープ300の両側には位置決め用孔302,
303が形成されている。なお、283及び293はテ
ンションローラ280及び290の回転軸である。
【0039】また、薄片試料295が固着された粘着テ
ープ300の上方にはテープ押さえプランジャ駆動装置
272で駆動されるテープ押さえプランジャ273が位
置している。そこで、図示しないが、テンションローラ
290の下方に位置する巻取り装置(第1実施例の巻取
り装置67と同様)の間欠駆動により、粘着テープ30
0の位置決め用孔302,303はテンションローラ2
80,290の歯282,292と係合しながら所定ピ
ッチだけ送られて、粘着テープ300の所定のコマ30
1に確実に薄片試料295を採取することができる。こ
れが順次繰り返されて、各コマ301には、固形試料2
94の薄片試料295が採取され、その採取された順番
にまず、撮像装置274で観察を行い、その下流に位置
するセンサ275〜277で薄片試料295の分析デー
タを収集する。
【0040】ここでは、粘着テープ300は必ずしも透
明である必要はない。したがって、粘着テープ300に
薄片試料295が採取されると、その薄片試料295が
採取された側に配置される撮像装置274及び又はセン
サ275〜277によって、薄片試料295の検査を行
うようにしている。このようにして、図8に示すよう
に、薄片試料295は粘着テープ300の各コマ301
毎に順次カットされた薄片試料295が採取されること
になる。
【0041】以下、本発明の第2の実施例を示す薄片試
料作製装置の各部の詳細な説明を行う。図9は本発明の
第2の実施例を示す薄片試料作製装置の固形試料の切断
部の一部破断斜視図、図10は本発明の第2の実施例を
示す薄片試料作製装置の固形試料送り装置(インチワー
ム・アクチュエータ)の断面図、図11は本発明の第2
の実施例を示す薄片試料作製装置の固形試料送り装置
(インチワーム・アクチュエータ)の作動説明図であ
る。
【0042】図9に示すように、この実施例では、薄片
試料作製装置の固形試料送り装置としては、圧電素子で
駆動するインチワーム・アクチュエータ310を使用し
ている。このインチワーム・アクチュエータ310は、
第1のプレート320に固定されており、その上部のテ
ーブル305に配置される固形試料294をテーブル3
05の表面から突出させるように上方へ送り出すように
なっている。
【0043】また、送り出されるインチワームの垂直位
置はセンサ319で検出するようになっている。また、
330は第2のプレート、331はACサーボモータ、
332は伝導ベルト、333はフライホイール、334
はエンコーダ、335は切刃スピンドル、336は切
刃、337はカウンタバランスアームである。そこで、
インチワーム・アクチュエータ310の駆動により、テ
ーブル305の表面から突出する固形試料294の先端
部は、テープ押さえプランジャ273の駆動により、粘
着テープ300で接着される。その状態で、切刃336
が回転して薄片試料95がカットされ、粘着テープ30
0とともに搬送される。
【0044】このインチワーム・アクチュエータ310
を詳述すると、図10に示すように、固定側チャック3
11、移動側チャック312、固定側圧電素子313、
移動側圧電素子314、伸展用圧電素子315、送りス
ピンドル316から構成されている。このようなインチ
ワーム・アクチュエータの動作を図11に基づいて説明
する。
【0045】まず、図11(a)に示すように、送り用
圧電素子422を収縮した状態で、スピンドル401は
固定側チャック410と移動側チャック430との両方
でクランプされた静止状態にある。次に、図11(b)
に示すように、クランプ用圧電素子423を駆動して、
その円筒の内径を広げて、移動側チャック430を開
く。
【0046】次に、図11(c)に示すように、送り用
圧電素子422を伸長させ、移動側チャック430を送
る。次に、図11(d)に示すように、クランプ用圧電
素子423を駆動して、その円筒の内径を収縮させて、
移動側チャック430を閉める。次に、図11(e)に
示すように、クランプ用圧電素子421を駆動して、そ
の円筒の内径を広げて、固定側チャック410を開く。
【0047】次に、図11(f)に示すように、送り用
圧電素子422を駆動して収縮させ、スピンドル401
を1ピッチ歩進させる。次に、図11(g)に示すよう
に、そのクランプ用圧電素子421を駆動して、その円
筒の内径を収縮させ、スピンドル401を固定側チャッ
ク410で閉めて、静止状態に戻る。
【0048】このように、固形試料送り装置として、イ
ンチワーム・アクチュエータを用いることにより、1ピ
ッチ17nm程度の変位を行わせることができる。この
ように微小な送りが可能となり、極めて薄い試料を得る
ことができる。実際に、切刃でカットすることにより、
0.1μm程度の薄片試料を得ている。
【0049】上記したように、固形試料が薄片に切断さ
れる場合、固形試料の先端は透明粘着テープに固着され
るため、固形試料のカットがスムーズであり、しかもカ
ット表面の形状精度の向上を図ることができる。また、
切断された薄片は丸まってしまうことはなくなり、確実
に薄片を透明粘着テープに固着することができる。
【0050】更に、薄片をスライドガラスに固定する際
に、人手が加わることはなくなり、不純物の付着を低減
し、作製される薄片試料そのものの信頼性の向上を図る
ことができる。なお、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能
であり、それらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
【0051】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、以下のような効果を奏することができる。 (1)試料の標本としての薄片試料の作製と観察、分析
の工程を連続的な動作により行うことができる。これに
より変質しやすい試料の分析もスムーズに行うことがで
きる。
【0052】(2)試料の標本としての薄片試料の作製
と観察、分析の工程から人手による部分を除き、一連の
検査、分析の自動化を図ることができる。 (3)試料の標本としての薄片試料を確実に採取できる
とともに、その搬送を精度よく行うことができる。 (4)更に、固形試料の任意の断面における長手方向を
含む全体像を表示し、観察することができる。表示面に
おいては、データに基づいた表示とともに、表示断面の
試料における位置を表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す固形試料の自動検
査装置の全体構成図である。
【図2】本発明の第1の実施例を示す固形試料の自動検
査装置の薄片試料の作製方法を示す工程図である。
【図3】本発明の第1の実施例を示す固形試料の自動検
査装置の薄片試料作製装置の構成図である。
【図4】本発明の第1の実施例を示す固形試料の自動検
査装置の薄片試料作製装置の一部破断平面図である。
【図5】本発明の第1の実施例を示す固形試料の自動検
査装置の信号処理装置のブロック図である。
【図6】本発明の第1の実施例を示す固形試料の自動検
査装置による固形試料と薄片試料との関係を示す概略図
である。
【図7】本発明の第2の実施例を示す薄片試料作製装置
の要部斜視図である。
【図8】本発明の第2の実施例を示す薄片試料の平面図
である。
【図9】本発明の第2の実施例を示す薄片試料作製装置
の固形試料の切断部の一部破断斜視図である。
【図10】本発明の第2の実施例を示す薄片試料作製装
置の固形試料送り装置(インチワーム・アクチュエー
タ)の断面図である。
【図11】本発明の第2の実施例を示す薄片試料作製装
置の固形試料送り装置(インチワーム・アクチュエー
タ)の作動説明図である。
【符号の説明】
1,305 テーブル 2,S,294 固形試料 2a,Sa,295 薄片試料 3,300 粘着テープ 4,31,273 テープ押さえプランジャ 5,12,336 切刃 B1,B2 ベース 11 切刃取付テーブル 20 粘着テープ 30,272 テープ押さえプランジャ駆動装置 32 ガイド 40,271 固形試料送り装置 41 ステージ駆動用モータ 42 駆動ギヤ 44 支持軸 43 減速ギヤ 45 ステージ 46 軸支持部 50 テーブル駆動装置 51 テーブル駆動用モータ 52 テーブル駆動ギヤ 53 回転軸 67 巻取り装置 60 テープリール 61〜66,280,290 テンションローラ 70,274 撮像装置 71,73,275〜277,319 センサ 116 走査制御装置 117 A/D変換回路 118 論理回路 120,122,124,128 バッファメモリ 126 データメモリ 130 データ処理装置 132 入出力制御回路 134 モード選択装置 136 表示制御装置 140 ディスプレイ 150 薄片試料作製装置の駆動制御装置 160 記録装置 282,292 歯 283,193 回転軸 301 コマ 302,303 位置決め用孔 310 インチワーム・アクチュエータ 311,410 固定側チャック 312,430 移動側チャック 313 固定側圧電素子 314 移動側圧電素子 315 伸展用圧電素子 316 送りスピンドル 320 第1のプレート 330 第2のプレート 331 ACサーボモータ 332 伝導ベルト 333 フライホイール 334 エンコーダ 335 切刃スピンドル 337 カウンタバランス 401 スピンドル 421,423 クランプ用圧電素子 422 送り用圧電素子

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固形試料をカットして薄片試料を順次採
    取し固形試料の検査を行う固形試料の自動検査装置にお
    いて、(a)固形試料をカットして薄片試料を粘着テー
    プへ自動的に採取する薄片試料作製装置と、(b)該粘
    着テープを所定ピッチで搬送する搬送装置と、(c)搬
    送された薄片試料を順次観察する撮像装置と、(d)該
    撮像装置から得られる観察情報に基づいて固形試料を検
    査する装置とを具備することを特徴とする固形試料の自
    動検査装置。
  2. 【請求項2】 前記撮像装置に関連して薄片試料を分析
    するセンサを具備することを特徴とする請求項1記載の
    固形試料の自動検査装置。
  3. 【請求項3】 前記搬送装置は、粘着テープには幅方向
    の両側に位置決め用孔を有し、該位置決め用孔に係合す
    る歯が形成されるテンションローラを駆動してなる請求
    項1記載の固形試料の自動検査装置。
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