JPH07161629A - 基板表面処理装置 - Google Patents

基板表面処理装置

Info

Publication number
JPH07161629A
JPH07161629A JP33930793A JP33930793A JPH07161629A JP H07161629 A JPH07161629 A JP H07161629A JP 33930793 A JP33930793 A JP 33930793A JP 33930793 A JP33930793 A JP 33930793A JP H07161629 A JPH07161629 A JP H07161629A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
drainage
substrate
liquid
collecting box
processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33930793A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiji Okuno
英治 奥野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP33930793A priority Critical patent/JPH07161629A/ja
Publication of JPH07161629A publication Critical patent/JPH07161629A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板処理空間に配置された基板の表面に複数
種類の処理液を順次供給して前記基板表面の所定の表面
処理を行う基板表面処理装置において、装置の大型化を
招くことなく、簡単な構成で、複数の処理液を分離回収
する。 【構成】 チャック1を取り囲むように、カップ3が配
置されて、基板処理空間4が形成される。カップ3は集
合ボックス6に連結され、カップ3に補集された排液が
集合ボックス6に集められる。集合ボックス6の低側面
に排液部7が、また上方側面に排気圧調整部8がそれぞ
れ接続される。排液部7では、複数の排液経路が設けら
れ、処理液の種類に応じてバルブa,bの開閉動作を制
御することで排液を選択された経路で排出することがで
きるようになっている。排気圧調整部8では、ダンパー
15が開閉制御され、排気圧を調整し、集合ボックス6
内の圧力を制御するようになっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエハや液晶用
ガラス角型基板などの基板に複数種類の処理液(現像
液、エッチング液、剥離液やリンス液など)を順次供給
して基板表面に対し現像処理、エッチング処理、剥離処
理あるいはリンス処理などの所定の表面処理を行う基板
表面処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の基板処理装置では、例えば角型
のガラス基板表面に塗布されたレジスト膜を所定のパタ
ーンに露光した後、現像液(第1の処理液)により現像
し、当該現像液を回収した後、リンス液(第2の処理
液)により残存する現像液を洗い流すようにしている。
この際、回収した現像液(排液)を再使用するために
は、現像液のみを洗浄液と分離して単独で回収する必要
がある。また、当該現像液(排液)を廃棄処分する場合
であっても化学処理する必要があり、やはり現像液のみ
を分別回収する方が当該化学処理のコストを低減するこ
とができるという利点がある。
【0003】そこで、従来より、複数の種類の処理液の
排液を分離回収すべく、種々の基板表面処理装置が提案
されている。例えば、実公平4−34902号公報によ
れば、レジスト膜が形成された基板をチャックにより支
持するとともに、そのチャックを囲むように多重構造の
カップが配置されている。そして、基板表面に供給する
処理液の種類に応じて、チャックあるいはカップ全体を
上下方向に移動させることにより、チャックに対するカ
ップの相対高さ位置が切り換えられる。したがって、チ
ャックを回転させることにより基板表面から遠心力によ
って振り切られた処理液(排液)は対応するカップに回
収され、その結果、処理液の排液がその種類に応じて分
離回収される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では、処理液の種類だけカップを用意し、多重構造
にする必要があり、装置が大型化する傾向にある。ま
た、チャックあるいはカップ全体を上下移動させるため
に、上下機構を設ける必要があり、装置の全体構成が複
雑化するという問題がある。
【0005】本発明の目的は、基板処理空間に配置され
た基板の表面に複数種類の処理液を順次供給して前記基
板表面に対し所定の表面処理を行う基板表面処理装置に
おいて、装置の大型化を招くことなく、しかも簡単な構
成で、複数の処理液の排液を分離回収することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明は、基板処理空
間に配置された基板の表面に複数種類の処理液を順次供
給して前記基板表面に所定の表面処理を行う基板表面処
理装置であって、上記目的を達成するため、前記基板を
取り囲むように配置されて前記基板処理空間を形成する
カップと、前記カップと連結され、前記基板処理空間の
排気および排液を集める集合ボックスと、前記集合ボッ
クスから排液を排出する排液経路を複数有し、処理液の
種類に応じて前記排液経路を選択し、その選択された排
液経路に沿って前記排液を外部に排出する排液手段と、
前記集合ボックスに接続され、排気圧を調整することに
より前記集合ボックス内の圧力を制御し、前記集合ボッ
クス内の排液を選択された前記排液経路に沿って外部に
排出するのを促進する排気圧調整手段と、を備えてい
る。
【0007】
【作用】この発明では、1つのカップが基板を取り囲む
ように配置され、どの処理液を基板に供給する場合でも
基板からの排液は当該カップを介して集合ボックスに集
められる。そして、排液手段で処理液の種類に応じて排
液経路が選択され、当該選択された排液経路に沿って前
記集合ボックス内の排液が外部に排出される。
【0008】また、排気圧調整手段により、集合ボック
ス内の圧力が制御され、排液の排出が促進され、前記集
合ボックス内の排液が完全に排出されるので、前記集合
ボックス内での複数種類の排液の混合が防止される。
【0009】
【実施例】図1は、この発明にかかる基板表面処理装置
の一実施例を示す図である。この基板表面処理装置で
は、モータMにチャック1が連結されており、チャック
1上に基板2を保持した状態でモータMを作動させるこ
とにより、チャック1と基板2とが一体的に回転するよ
うになっている。
【0010】このチャック1を取り囲むように、カップ
3が配置されており、このカップ3に囲まれた領域4が
基板処理空間となっている。このため、例えば現像液を
チャック1に保持された基板2の表面に供給した後、モ
ータMを作動させてチャック1と一体的に基板2を回転
させると、その遠心力により余剰の現像液などが排液と
して基板表面から振り切られ、カップ3に補集される。
【0011】このカップ3は、同図に示すように、パイ
プ5により集合ボックス6に連結されており、上記のよ
うにしてカップ3に補集された排液および基板処理空間
4に飛散したミストや臭気などがパイプ5を介して集合
ボックス6に導かれるようになっている。また、この集
合ボックス6の底側面に排液部7が、また上方側面に排
気圧調整部8がそれぞれ接続されている。
【0012】この排液部7は、2つのバルブa,bと、
集合ボックス6から水平もしくは下方方向に伸びてバル
ブaの入り口側に接続されたパイプ9と、パイプ9から
枝分かれしてバルブbの入り口側に接続されたパイプ1
0と、バルブa,bの出口側から外部にそれぞれ伸びた
パイプ11,12とで構成されている。なお、パイプ1
1,12はそれぞれ集合ボックス6よりも低い位置に設
けられた回収ボックス(図示省略)に接続されている。
また、バルブa,bは制御ユニット13と電気的に接続
されており、制御ユニット13からの電気信号に応じて
開閉動作するようになっている。このため、制御ユニッ
ト13からの電気信号により、バルブa,bがそれぞれ
「開」,「閉」状態となっているとき、パイプ9−バル
ブa−パイプ11という排液経路(以下、この経路を
「処理液A用経路」という)で排液を処理液Aの排液を
回収する専用の回収ボックスに排出できる一方、バルブ
a,bがそれぞれ「閉」,「開」状態となっていると
き、パイプ9−パイプ10−バルブb−パイプ12とい
う経路(以下、この経路を「処理液B用経路」という)
で排液を処理液Bの排液を回収する専用の回収ボックス
に排出できるようになっている。つまり、この排液部7
では、複数の排液経路が設けられ、処理液の種類に応じ
て、バルブa,bの開閉動作を制御することで排液を選
択された経路で回収ボックスに排出することができるよ
うになっている。
【0013】また、排気圧調整部8では、排気管14が
図示を省略する排気源(排気ポンプ等)と接続されてお
り、集合ボックス6内に負圧を付加することができるよ
うになっている。また、排気管14の中間部にダンパー
15が設けられており、制御ユニット13からの電気信
号に応じて、連続的に開閉して排気圧を調整することが
できるようになっている。このため、排液部7では一定
圧力、例えば大気圧となっているが、ダンパー15を制
御することで集合ボックス6内の圧力を変化させること
ができる。すなわち、ダンパー15を「全開」状態とし
た場合には、排気圧が高くなり、集合ボックス6内にか
かる負圧も大きくなる。逆に、ダンパー15を「半開」
状態あるいは「全閉」状態にすると、排気圧が低くな
り、集合ボックス6内の負圧も小さくなる。
【0014】次に、上記のように構成された基板表面処
理装置の動作について図2および図3を参照しつつ説明
する。ここでは、説明の便宜から、基板2に2種類の処
理液A,Bをこの順序で供給して基板表面に対し所定の
表面処理を行う場合について説明する。
【0015】表1は処理経過にしたがってバルブa,b
およびダンパー15がどのように切換るかを示すもので
ある。
【0016】
【表1】
【0017】処理液Aを基板2の表面に供給する場合に
は、バルブa,bはそれぞれ「開」,「閉」状態となっ
ており、処理液A用経路が選択されている。また、ダン
パー15は「全開」状態となっており、排気圧が高く、
その結果、集合ボックス6内に比較的強い負圧がかかっ
ている。
【0018】この状態で、基板2の上方位置に配置され
たノズル(図示省略)から処理液Aを基板表面に供給し
た後、モータMを作動させることにより、基板表面から
処理液Aを排液としてカップ3に振り切る。このとき、
上記のように排気圧調整部8により集合ボックス6内に
負圧が付加されているため、カップ3に補集された処理
液Aの排液がパイプ5を介して集合ボックス6内に集め
られるとともに、カップ3内、つまり基板処理空間4が
排気され、処理液Aのミストや臭気などがパイプ5を介
して集合ボックス6内に引き込まれる。そして、この集
合ボックス6内で気液分離し、ミストなどの気体成分を
排気管14およびダンパー15を介して回収する一方、
集合ボックス6内の液体成分、つまり処理液Aの排液を
選択された経路(パイプ9−バルブa−パイプ11)で
排出する。
【0019】しかしながら、パイプ11側は大気圧程度
の一定圧力を有しているのに対し、集合ボックス6内で
は負圧がかかっているので、その圧力差により選択され
た処理液A用経路で排液(処理液A)をスムーズに排出
することができず、例えば図2に示すように、集合ボッ
クス6内で処理液Aの排液が溜まってしまう。そのた
め、この状態のままで処理液Bによる基板表面処理を行
うと、処理液Aと同様にして、処理液Bが集合ボックス
6に流れ込み、処理液Aと混ざり合ってしまい、処理液
A,Bの分離回収ができなくなってしまう。
【0020】そこで、この実施例では、処理液Aによる
表面処理が完了し、さらに処理液Aの回収が行われた
後、処理液Aのドレン処理を行う。すなわち、表1に示
すように、バルブa,bはそのままの状態(処理液A用
経路を選択したままの状態)でダンパー15を「全閉」
あるいは「半開」状態にして、排気圧を弱め、集合ボッ
クス6内にかかる負圧を小さくする。これによって、集
合ボックス6とパイプ11との間での圧力差がほとんど
なくなり、図3の実線矢印R1 に示すように、集合ボッ
クス6内に残った処理液Aの排液のすべてが集合ボック
ス6よりも下方位置に配置された処理液Aの排液を回収
するための回収ボックスに回収され、集合ボックス6が
空状態となる。こうして、処理液Aの排液を完全に回収
することができる。
【0021】上記のようにして、処理液Aの排液回収が
完了すると、次にバルブa,bをそれぞれ「閉」,
「開」状態に切り換えて、処理液B用経路を選択する。
また、ダンパー15を「全開」状態にして、次に基板表
面に与えられる処理液Bの排液およびミストなどの排気
を行うことができるようにする。なお、処理液Bが揮発
性を有さない処理液、例えば純水などの場合には、排気
処理の必要性が少ないため、ダンパー15をそのままの
状態(「全閉」あるいは「半開」状態)に維持しておい
てもよく、要は処理内容に応じてダンパー15を任意の
状態に制御すればよい。
【0022】次に、この状態で、ノズルから処理液Bを
基板表面に供給した後、モータMを作動させることによ
り、基板表面から処理液Bを排液としてカップ3に振り
切る。こうしてカップ3に補集された排液およびミスト
などを、上記処理液Aの場合と同様に、集合ボックス6
に集める。そして、集合ボックス6内で気液分離し、ミ
ストなどの気体成分を排気管14およびダンパー15を
介して排気する一方、集合ボックス6内の液体成分、つ
まり処理液Bの排液を選択された経路(パイプ9−パイ
プ10−バルブb−パイプ12)で排出する。しかしな
がら、上記処理液Aの場合と同様に、集合ボックス6内
に比較的大きな負圧が付加されて、集合ボックス6とパ
イプ12との間で大きな圧力差が生じているため、図2
に示すように、処理液Bによる基板表面処理が完了して
も集合ボックス6内に処理液Bの排液が溜まってしま
う。
【0023】そこで、基板表面処理後の適当なタイミン
グでダンパー15を「全閉」あるいは「半開」状態にし
て、排気圧を弱め、集合ボックス6内にかかる負圧を小
さくする。これにより、集合ボックス6とパイプ12の
間での圧力差がほとんどなくなり、集合ボックス6内に
残った処理液Bの排液のすべてが、図3の1点鎖線R2
に示すように、処理液B用経路(パイプ9−パイプ10
−バルブb−パイプ12)を介して集合ボックス6より
も下方位置に配置された処理液Bの排液を回収するため
の回収ボックスに回収され、集合ボックス6が空状態と
なる。こうして、処理液Bの排液を完全に回収すること
ができる。
【0024】さらに、連続して基板の表面処理を行う場
合には、上記動作を繰り返して行う。
【0025】このように、この実施例によれば、処理液
の種類にかかわらず、1つのカップ3により基板表面か
らの排液を集合ボックス6に集め、排液部7により処理
液の種類に応じて選択された排液経路に沿って排液を回
収するようにしているので、複数のカップを用いること
なく、しかもチャック1を上下移動させることなく、複
数種類の処理液を分離回収することができる。すなわ
ち、装置の大型化を招くことなく、簡単な構成で、複数
の処理液を分離回収することができる。
【0026】また、排気圧調整部8のダンパー15によ
り、集合ボックス6内の圧力を制御して、集合ボックス
6内の排液を完全に排出するようにしているので、集合
ボックス6内での複数種類の排液が混合するのを防止す
ることができる。
【0027】なお、上記実施例では、2つのバルブa,
bを用いて処理液の排液経路を切換え、選択している
が、バルブa,bの代わりに、他の切換え機構、例えば
3方弁を用いてもよい。
【0028】また、上記実施例では、ダンパー15の開
閉動作により排気圧を調整しているが、ダンパー15を
設ける代わりに、排気源たる排気ポンプ(図示省略)を
制御して排気圧を調整するようにしてもよい。
【0029】さらに、上記実施例では、2種類の処理液
A,Bを用いて基板表面処理を行う場合について説明し
たが、3種類以上の処理液を用いて基板表面処理する場
合にも、本発明を適用することができ、上記と同様の効
果が得られる。
【0030】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、基板
を取り囲むようにカップを配置するとともに、そのカッ
プと集合ボックスを連結し、基板表面からの排液を前記
カップを介して前記集合ボックスに集め、さらに処理液
の種類に応じて前記排液経路を選択し、その選択された
排液経路に沿って前記集合ボックス内の排液を外部に排
出するようにしているので、複数のカップを用いること
なく、しかもチャックを上下移動させることなく、複数
種類の処理液を分離回収することができる。つまり、装
置の大型化を招くことなく、簡単な構成で、複数の処理
液を分離回収することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかる基板表面処理装置の一実施例
を示す図である。
【図2】図1の基板表面処理装置の動作を示す図であ
る。
【図3】図1の基板表面処理装置の動作を示す図であ
る。
【符号の説明】
2 基板 3 カップ 4 基板処理空間 6 集合ボックス 7 排液部 8 排気圧調整部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板処理空間に配置された基板の表面に
    複数種類の処理液を順次供給して前記基板表面に対し所
    定の表面処理を行う基板表面処理装置において、 前記基板を取り囲むように配置されて前記基板処理空間
    を形成するカップと、 前記カップと連結され、前記基板処理空間の排気および
    排液を集める集合ボックスと、 前記集合ボックスから排液を排出する排液経路を複数有
    し、処理液の種類に応じて前記排液経路を選択し、その
    選択された排液経路に沿って前記排液を外部に排出する
    排液手段と、 前記集合ボックスに接続され、排気圧を調整することに
    より前記集合ボックス内の圧力を制御し、前記集合ボッ
    クス内の排液を選択された前記排液経路に沿って外部に
    排出するのを促進する排気圧調整手段と、 を備えたことを特徴とする基板表面処理装置。
JP33930793A 1993-12-02 1993-12-02 基板表面処理装置 Pending JPH07161629A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33930793A JPH07161629A (ja) 1993-12-02 1993-12-02 基板表面処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33930793A JPH07161629A (ja) 1993-12-02 1993-12-02 基板表面処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07161629A true JPH07161629A (ja) 1995-06-23

Family

ID=18326220

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33930793A Pending JPH07161629A (ja) 1993-12-02 1993-12-02 基板表面処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07161629A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002270493A (ja) * 2001-03-12 2002-09-20 Oki Electric Ind Co Ltd 被処理体の加熱処理装置及びその排気方法
JP2015144182A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002270493A (ja) * 2001-03-12 2002-09-20 Oki Electric Ind Co Ltd 被処理体の加熱処理装置及びその排気方法
JP2015144182A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR19980087401A (ko) 세정건조처리장치 및 세정건조처리방법
JP4106017B2 (ja) 現像装置及び現像方法
JPH11168078A (ja) 基板処理装置
JPH0434902Y2 (ja)
US5842491A (en) Semiconductor wafer cleaning apparatus
JPH1041269A (ja) 基板処理装置
JPH07161629A (ja) 基板表面処理装置
JPH09181039A (ja) 半導体ウエーハの洗浄装置
JP3556583B2 (ja) 半導体基板洗浄・乾燥装置
KR100864947B1 (ko) 약액과 가스의 분리가 가능한 기판 처리 장치
JP2000021841A (ja) 基板処理方法及び基板処理装置
JP2998259B2 (ja) ディスク保持装置及びそれを用いたディスク処理方法
JPS62279640A (ja) ウエハ洗浄装置
JP2002305173A (ja) 基板処理装置
JPH01228129A (ja) 液処理方法
JPH11181584A (ja) 基板処理装置
JPH08262741A (ja) 現像装置
JP2002270592A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JPH06124934A (ja) ウエット洗浄装置
JP3489947B2 (ja) 枚葉化学処理装置と基板の処理方法
JP2001035828A (ja) 液処理装置
JPH07307275A (ja) 現像カップ装置
JPH0271273A (ja) フォトレジスト現像装置
JPS61259525A (ja) 半導体基板の現像装置
JPH0724396A (ja) 基板処理装置