JPH07141690A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

光ピックアップ装置

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JPH07141690A
JPH07141690A JP5308637A JP30863793A JPH07141690A JP H07141690 A JPH07141690 A JP H07141690A JP 5308637 A JP5308637 A JP 5308637A JP 30863793 A JP30863793 A JP 30863793A JP H07141690 A JPH07141690 A JP H07141690A
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JP
Japan
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conversion element
photoelectric conversion
lens
objective lens
optical
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Pending
Application number
JP5308637A
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English (en)
Inventor
Minoru Yamada
稔 山田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスク上のレーザ光が複数のトラックに
かかってしまってもピットの検出精度を高めることがで
きこれによって再生情報の信頼性向上を図った光ピック
アップ装置を提供すること。 【構成】 半導体レーザ2のレーザ光を平行光に変換す
るコリメータレンズ3と、この変換された平行光を光デ
ィスク55上のピットの部分で焦点を結ぶための対物レ
ンズ4と、この対物レンズ4を介して光ディスク55か
ら反射されたレーザ光を検出するビームスプリッタ6
と、このビームスプリッタ6で屈折したレーザ光を光電
変換素子7上で焦点を結ぶための集光レンズ10とを備
えている。光電変換素子7の受光面7Aは、複数の信号
変換素子部7aに分割され、且つ当該分割された複数の
信号変換素子部7aごとに再生情報が出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ピックアップ装置に
係り、とくに光ディスクの記録情報を再生する光ピック
アップ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3に、再生用光ピックアップ装置の従
来例を示す。この図3において、符号51は光ピックア
ップ装置全体を示す。ここで、サーボ信号検出光学系は
省略してある。また、符号52は半導体レーザを示す。
この半導体レーザ52から放出されたレーザ光は、コリ
メータレンズ53により平行光に変換される。対物レン
ズ54はレーザ光を光ディスク55の信号記録面に集光
する機能を備えている。符号56はビームスプリッタを
示す。このビームスプリッタ56は、光ディスク55か
ら反射されたレーザ光を方向変換する機能を備えてい
る。光電変換素子57は、ビームスプリッタ56からの
レーザ光の強度を検出し電気信号として出力する。
【0003】そして、半導体レーザ52より放出された
レーザ光はコリメータレンズ53により平行光に変換さ
れビームスプリッタ56を通過し、対物レンズ54によ
り光ディスク55の記録信号面に集光される。光ディス
ク55上で回折された反射光は再び対物レンズ54を通
って平行光になりビームスプリッタ56により方向変換
される。このレーザ光の強度は光電変換素子57により
電気信号に変換されて外部出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例にあっては、前述した光ディスク55上の光スポッ
ト全体を一括してその強弱を検出するようになっている
ことから、高密度化等で光ディスク55上のレーザ光が
複数のトラックにかかってしまったり、同一トラック上
の複数のピットを含んでしまうと、ピットの検出を精度
良く行うことができないという不都合があった。
【0005】
【発明の目的】本発明は、かかる従来例の有する不都合
を改善し、とくに、光ディスク上のレーザ光が複数のト
ラックにかかってしまっても、ピットの検出精度を高め
ることを可能とし、これによって再生情報の信頼性向上
を図った光ピックアップ装置を提供することを、その目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明では、半導体レー
ザのレーザ光を平行光に変換するコリメータレンズと、
この変換された平行光を光ディスクに記録されているピ
ットの部分で焦点を結ぶための対物レンズと、この対物
レンズを介して前記光ディスクから反射されたレーザ光
を屈折または透過して検出するビームスプリッタと、こ
のビームスプリッタから屈折したレーザ光を光電変換素
子上で焦点を結ぶための集光レンズとを有し、光ディス
クに記録された微小なピット情報を光電変換素子で再生
するようにした光ピックアップ装置において、光電変換
素子の受光面が、複数の信号変換素子部に分割され、且
つ当該分割された複数の信号変換素子部ごとに再生情報
を出力する、という構成を採っている。これによって前
述した目的を達成しようとするものである。
【0007】
【作 用】半導体レーザ2より放出されたレーザ光はコ
リメートレンズ3により平行光に変換されビームスプリ
ッタ6を通過し、対物レンズ4により光ディスク55の
記録信号面にスポット状に集光される。光ディスク55
から反射された信号(ピット)情報を含むレーザ光は再
び対物レンズ4を通過して平行光に変換され、次にビー
ムスプリッタ6により90°方向を変換される。ビーム
スプリッタ6で方向変換された反射レーザ光は、集光レ
ンズ10を通過し光電変換素子7上へスポット状に集光
される。この場合、光電変換素子7の受光面7Aは、複
数の信号変換素子部7aに分割され且つ当該分割された
複数の信号変換素子部7aごとに再生情報を出力する。
このため、光ディスク55上のレーザ光が複数のトラッ
クにかかってしまっても、各ピットの検出精度を高める
ことができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図2に基
づいて説明する。
【0009】この図1において、符号1は光ピックアッ
プ装置全体を示す。この光ピックアップ装置全体1は、
半導体レーザ2と、この半導体レーザ2のレーザ光を平
行光に変換するコリメータレンズ3と、この変換された
平行光を光ディスク55に記録されているピットの部分
で焦点を結ぶための対物レンズ4と、この対物レンズ4
を介して光ディスク55から反射されたレーザ光を屈折
または透過して検出するビームスプリッタ6と、このビ
ームスプリッタ6から取り出されたレーザ光を光電変換
素子7上にて焦点を結ぶための集光レンズ10とを備え
ている。
【0010】光電変換素子7の受光面7Aは、図2に示
すように複数の信号変換素子部7aに分割され、且つ当
該分割された複数の信号変換素子部7aごとに再生情報
を出力するように形成されている。
【0011】光電変換素子7上に焦点を結ぶための集光
レンズ10は、そのレンズ開口数(NA)が前述した対
物レンズ4より小さく設定されている。
【0012】また、光電変換素子7の複数の信号変換素
子部7aの各々の大きさは、光ディスク55に記録され
ている最も小さいピットの大きさに対し、対物レンズ4
のレンズ開口数に対する光電変換素子7への集光レンズ
10のレンズ開口数の逆数を掛けた大きさより小さい値
に設定されている。
【0013】光電変換素子7は、前述したように、トラ
ックの記録情報が読み取れるよう複数(本実施例では9
個)の信号変換素子部7aにより構成されている。図2
はこれを示すもので、各信号変換素子部7aの各々は、
記号A1,A2,A3,B1,B2,B3,C1,C
2,C3で表わされている。ここで、符号10Aは再結
像された光スポットを示し、符号55aは結像されたピ
ット情報を示す。
【0014】次に、図1乃至図2の動作について説明す
る。
【0015】半導体レーザ2より放出されたレーザ光
は、コリメートレンズ3により平行光に変換されビーム
スプリッタ6を通過し、対物レンズ4により光ディスク
55の記録信号面にスポット状に集光される。光ディス
ク55から反射された信号(ピット)情報を含むレーザ
光は、再び対物レンズ4を通過して平行光に変換され、
次に、ビームスプリッタ6により90°方向を変換され
る。
【0016】ビームスプリッタ6で方向変換された反射
レーザ光は、集光レンズ10を通過し光電変換素子7上
へスポット状に集光される。集光レンズ10は、光ディ
スク55の記録信号面に集光して得られたピット情報を
含む光スポットを光電変換素子7上で再現するために使
用する。再現された状態を図2に示す。
【0017】光電変換素子7を構成する複数の光電変換
素子部7aは、最小ピット情報を検出できる大きさに構
成されている。この光電変換素子部7aは、図2では、
A2,B2,C2で1トラック分を結像している。この
場合、隣のトラック情報が結像されるとすれば、A1,
B1,C1、或いはA3,B3,C3に結像される。
【0018】本実施例では光電変換素子部15aの内の
A2,B2,C2のいずれか1個を読むことによりRF
が再生できる。このピット単位のディテクタ数は、数が
多いほどピットを読み込む精度が上がるため、ピットの
大きさに合わせて配置する。
【0019】また、ディテクタは小型化には限界がある
ため、集光レンズ14の開口数(NA)をなるべく小さ
くして光電変換素子7上の光スポット10Aはサイズを
大きくするのが望ましい。
【0020】このように、本実施例においては、光ディ
スク55からの反射光を集光レンズ10を通して再度集
光し、焦点位置に複数に分割された光電変換素子部7a
を配置することにより、光ディスク55におけるディス
ク面上の光スポットを再現している。
【0021】また、複数に分割された光電変換素子部7
aを配置しやすいように、光電変換素子7への集光レン
ズは10できるだけ低NAのものを使用して、光電変換
素子7上でのレーザ光のスポット径を大きくしている。
分割された光電変換素子部7aの各々は、光ディスク5
5に記録されている最も小さいピットの大きさに,対物
レンズのNAに対するディテクタへの集光レンズのNA
比の逆数を掛けた大きさ,より小さく設定されている。
【0022】このため、複数のピットが光スポット上に
存在しても、分割された光電変換素子部7aにより、各
ビットは、個別に検出することができる。また、低NA
により集光レンズ10の焦点距離が長くなるが、集光レ
ンズ10と光電変換素子7との間にミラー等を配置して
距離を短く設定すると、光ピックアップ装置の小型化を
可能とすることができる。
【0023】
【発明の効果】本発明は以上のように構成され機能する
ので、これによると、光電変換素子の受光面を複数の信
号変換素子部に分割し且つ当該分割された複数の信号変
換素子部ごとに再生情報を出力するように構成したの
で、光ディスク上のレーザ光が複数のトラックにかかっ
てしまってもピットの検出を高精度に高めることが可能
となり、このため再生情報の信頼性を高めることができ
るという従来にない優れた光ピックアップ装置を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図2】図1における信号変換素子部分の機能を示す説
明図である。
【図3】従来例を示す構成図である。
【符号の説明】
1 光ピックアップ装置 2 半導体レーザ 3 コリメータレンズ 4 対物レンズ 6 ビームスプリッタ 7 信号変換素子 7a 信号変換素子部 10 集光レンズ 55 光ディスク

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザと、この半導体レーザのレ
    ーザ光を平行光に変換するコリメータレンズと、この変
    換された平行光を光ディスクに記録されているピットの
    部分で焦点を結ぶための対物レンズと、この対物レンズ
    を介して前記光ディスクから反射されたレーザ光を屈折
    または透過して検出するビームスプリッタと、このビー
    ムスプリッタから屈折したレーザ光を光電変換素子上で
    焦点を結ぶための集光レンズとを有し、前記光ディスク
    に記録された微小なピット情報を前記光電変換素子で再
    生するようにした光ピックアップ装置において、 前記光電変換素子は、その受光面が、複数の信号変換素
    子部に分割され且つ当該分割された複数の信号変換素子
    部ごとに再生情報を出力するように構成されていること
    を特徴とした光ピックアップ装置。
  2. 【請求項2】 前記光電変換素子上に焦点を結ぶための
    集光レンズは、そのレンズ開口数が、対物レンズより小
    さく設定されていることを特徴とした請求項1記載の光
    ピックアップ装置。
  3. 【請求項3】 前記光電変換素子の複数の信号変換素子
    部の各々のおおきさは、前記光ディスクに記録されてい
    る最も小さいピットの大きさに対し、前記対物レンズの
    レンズ開口数に対する光電変換素子への集光レンズのレ
    ンズ開口数の逆数を掛けた大きさより小さいことを特徴
    とした請求項1記載の光ピックアップ装置。
JP5308637A 1993-11-15 1993-11-15 光ピックアップ装置 Pending JPH07141690A (ja)

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JP5308637A JPH07141690A (ja) 1993-11-15 1993-11-15 光ピックアップ装置

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JP5308637A JPH07141690A (ja) 1993-11-15 1993-11-15 光ピックアップ装置

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JPH07141690A true JPH07141690A (ja) 1995-06-02

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JP5308637A Pending JPH07141690A (ja) 1993-11-15 1993-11-15 光ピックアップ装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05258338A (ja) * 1992-03-11 1993-10-08 Hitachi Ltd 光検出系

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05258338A (ja) * 1992-03-11 1993-10-08 Hitachi Ltd 光検出系

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19970624