JPH08212598A

JPH08212598A - 光ディスク及び光ディスク再生装置

Info

Publication number: JPH08212598A
Application number: JP7015431A
Authority: JP
Inventors: Takayuki Nomoto; 貴之野本
Original assignee: Pioneer Electronic Corp
Current assignee: Pioneer Corp
Priority date: 1995-02-01
Filing date: 1995-02-01
Publication date: 1996-08-20
Also published as: US5717682A

Abstract

(57)【要約】【目的】高密度記録が可能な光ディスク、この光ディ
スクを再生するためのディスク再生方法及び装置を提供
する。【構成】レーザ光を情報が記録された情報担持面に照
射し、その反射光により情報を読取可能な光ディスク２
である。記録すべき情報は、情報担持面上に表面変形部
として記録されている。表面変形部（ピット）は、記録
されるべき情報に対応して光ディスク２の円周方向の長
さ又はディスク半径方向の長さが相違する複数種類（例
えば、図１（Ａ））が存在する。各表面変形部の深さは
レーザ光の波長λに対し略（１＋２ｎ）λ／４（ｎは整
数）となる位相深さに成形されている。このため、反射
光量の差が最も大きくなる。光ディスク再生装置は、こ
の表面変形部からの第１次回折光を含む光強度により複
数ビットの情報を読み取る。従来の３割以上の高密度記
録が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ピット当たりの情報量
を多く記録した光ディスクより情報を読出す光ディスク
及び光ディスク再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ディスク再生装置は、図８に示
すような光ディスクから情報を再生するものであった。
当該光ディスク９２は、音楽情報や映像情報を、情報記
録面９５上における情報ピット９１のピット長さに対応
させて記録している。

【０００３】再生時、従来の光ディスク再生装置は、光
ディスク上の情報ピット９１にレーザ光による光スポッ
トＬＳが所定の直径となるように照射する。光ディスク
の情報記録面９５で反射された反射光は、フォトダイオ
ード等からなる光検出器で検出され電気信号に変換され
る。再生装置は、変換された電気信号中から音楽情報や
映像情報を復号して出力する。なお、図８において、符
号９３は保護層を示し、符号９４は基板を示す。

【０００４】これら従来の光ディスク再生装置の例とし
ては、コンパクトディスク（ＣＤ）や光学式ビデオディ
スクが知られている。上記従来の光ディスクの情報記録
密度は、図９に示すように、情報ピット９１の円周方向
への並びであるトラックが隣接するトラックとなす間
隔、すなわち、トラックピッチＰ₁によって定まる。

【０００５】光ディスクに高密度記録を試みる場合、第
１の方法として、トラックピッチの値を小さな値にする
ことにより、光ディスクに対しさらに高密度に情報を記
録する方法が挙げられる。

【０００６】しかし、単純にトラックピッチを小さくす
ることにより高密度化を図る場合、と問題が生ずるおそ
れがある。例えば、図８又は図９に示すような情報ピッ
トの配列では、読出すべきトラックの光スポットが隣接
トラックにかからない。これに対し、図１０に示すよう
な情報ピットの配列（トラックピッチＰ₂＝Ｐ₁／２）
では、光スポットの一部が隣接するトラックにかかる。
従って、この従来の光ディスクを用いて再生された読出
光は、クロストーク成分を多く含むことになる。そのた
め、高密度記録を推進する上でクロストークの発生が大
きな障害となる。

【０００７】また、光ディスクに対する高密度記録の第
２の方法として、レーザ光の光スポットを小さくする、
という方法が挙げられる。一般に、光スポットＬＳの半
径Ｗは、Ｗ＝α×（λ／ＮＡ）、という式で表せる。こ
こで、ＮＡは対物レンズＯＬの開口数と呼ばれる量であ
り、λはレーザ光の波長を示す。前式より、光スポット
の直径Ｗを小さくするには、レーザ光の波長λを小さく
すること、又は、開口数ＮＡを大きくすること、が考え
られる。ところが、波長λは従来の１／２程度までしか
小さくできない。また、開口率ＮＡも１割程度増えるの
みであるため、光スポットＬＳの直径を小さくするには
限界がある。

【０００８】そのため、さらに第３の方法として、トラ
ックピッチや光スポットの直径を変化させず、１つのピ
ットに複数の情報（３以上）を持たせることにより、高
密度記録をするという方法が提案されている（特願平０
３−１８７７４６号、特願平０４−００７８４０号）。
この方法は、光の回折現象を用いて、ピットの形状をパ
ターン認識するものであった。

【０００９】また、上記と同様に１つのピットに複数の
情報を持たせる第４の方法として、特開平２−１２３５
２３号公報に記載された発明がある。この発明によれ
ば、縦長形状の情報ピットを相異なる方向に向けた光デ
ィスクに対し、略直交する直線偏光成分を有するレーザ
光を照射する。そして、再生装置は、情報ピットの向き
により異なる反射光の振幅値を基準となるしきい値と比
べることにより、複数の情報を得ていた。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記第
３の方法によれば、隣接する情報ピットにより読出すべ
きトラックに混入するクロストークの影響及び光スポッ
トの照射位置の相対的なずれによる影響が大きく、十分
に記録密度を向上させることができなかった。

【００１１】また、上記第４の方法によれば、再生装置
は２つの直線偏光を用いなければならず、光学系の複雑
化、高価格化を招いていた。上記問題を達成するため
に、本願出願人は、特願平０５−１６６７０３号にて、
反射光の偏光状態の相違により１つの情報ピットから複
数の情報を読出すことのできる光ディスクを提案した。

【００１２】さらに本願出願人は、当該光ディスクをさ
らに改良し、ピットの深さを調節することにより、偏光
を用いずに４分割検出器による強度検出という比較的簡
単な方法で検出できるようにする。そして、この光ディ
スクに対し、レーザ光の反射光量を検出することにより
情報の判別を行う再生装置を開発する。

【００１３】すなわち、本発明の目的は、高密度記録が
可能な光ディスク、この光ディスクを再生するための光
ディスク再生装置を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光ディ
スクは、レーザ光を情報が記録された情報担持面に照射
し、情報担持面からの反射光により情報を読取可能な光
ディスクである。

【００１５】情報は、情報担持面上に表面変形部（いわ
ゆるピット）として記録されている。表面変形部は、記
録されるべき情報に対応して光ディスクの円周方向の長
さ又はディスク半径方向の長さが相違する複数種類が存
在する。例えば、縦長形状、横長形状、正方形状が該当
する他、無形状（積極的に変形させない状態）であって
もよい。無形状の場合、再生装置は無形状部分の反射光
の強度に対応して一の情報を割り当て、当該無形状部分
を情報記録部として使用する。

【００１６】各表面変形部の深さは、レーザ光の波長λ
に対し略（２ｎ＋１）λ／４（ｎは整数）となる位相深
さに成形されている。例えば、ｎ＝０であれば、位相深
さλ／４の最も浅くて反射光量の多い凹状の表面変形部
となる。ｎ＝−１であれば、位相高さλ／４の凸状の表
面変形部となる。

【００１７】記録される情報は、映像情報、音楽情報を
問わず、デジタル情報であればよい。なお、表面変形部
は、表面が変形することが必須ではなく、レーザ光に回
折を与え第１次回折光を発生させる構造を備えるもので
あればよい。例えば、相変化型のディスク、光磁気ディ
スク等であっても、当該光ディスクとして使用する余地
がある。

【００１８】請求項２に記載の光ディスク再生装置は、
請求項１に記載の光ディスクから情報を再生するための
ものである。当該光ディスク再生装置は、以下の構成を
有する。

【００１９】（ａ）光ディスクの情報担持面にレーザ
光を照射する光ビーム照射手段。なお、発生する光は、
レーザ光に限らず回折光を生ずるものであればよい。

【００２０】（ｂ）情報担持面からの反射光のうち、
光ディスクの円周方向に回折する第１次回折光を含む反
射光成分の光強度を検出する第１検出手段。（ｃ）第１検出手段からの検出信号を第１のしきい値
と比較する第１比較手段。

【００２１】（ｄ）情報担持面からの反射光のうち、
光ディスクの半径方向に回折する第１次回折光を含む反
射光成分の光強度を検出する第２検出手段。（ｅ）第２検出手段からの検出信号を第２のしきい値
と比較する第２比較手段。

【００２２】（ｆ）第１比較手段の出力及び第２比較
手段の出力に基づいて、情報担持面上の情報を特定する
演算手段。光ビーム照射手段は、半導体レーザ等、表面変形部によ
る回折光が得られる光源であればよい。第１検出手段及
び第２検出手段は、フォトトランジスタ等の光の量に対
応する電気信号（電圧値）を出力できる光受光素子であ
ればよい。第１比較手段及び第２比較手段は、しきい値
を任意に設定可能な比較手段であればよく、例えば、マ
イクロコンピュータで制御し得るコンパレータが挙げら
れる。演算手段は、高速演算が可能なプロセッサ等のデ
バイスであればよい。

【００２３】

【作用】請求項１に記載の光ディスクによれば、情報担
持面に設けられた表面変形部に照射されたレーザ光は、
回折光を伴って反射される。表面変形部は、記録される
べき情報に対応して、光ディスクの円周方向に何段階か
長さのステップを備える。また、光ディスクの半径方向
にも何段階かの長さのステップを備える。このため、長
さのステップに応じて、レーザ光の反射光のうち第１回
折光の強度が変化する。これを利用すれば、再生装置
は、反射光の光の強度に対応して一の長さを特定でき
る。表面変形部の双方向の長さを特定できれば、表面変
形部の形状が定まり、当該表面変形部に割り当てられた
情報を特定できる。

【００２４】また、表面変形部の深さは、深さはレーザ
光の波長λに対し略（２ｎ＋１）λ／４（ｎは整数）と
なる位相深さに成形されている。このため、反射光の光
量は最も大きくなる。

【００２５】請求項２に記載の光ディスク再生装置によ
れば、請求項１に記載の光ディスクの一の表面変形部か
ら複数種類の情報を特定できる。光ビーム照射手段は、
光ディスクの情報担持面にレーザ光を照射する。

【００２６】反射光スポットの直径のうち、光ディスク
の円周方向に平行な直径の両端付近の領域には、光ビー
ムの干渉により生ずる第１次回折光のうち、光ディスク
の円周方向の成分が直接光とともに照射される。

【００２７】また、前記直径のうち、光ディスクの半径
方向に平行な直径の両端付近の領域には、前記第１次回
折光のうち、光ディスクの半径方向の成分が直接光とと
もに照射される。

【００２８】第１検出手段は、光ディスクの円周方向に
平行な直径の両端付近の領域における光強度を検出す
る。第１比較手段は、第１検出手段からの検出信号を第
１のしきい値と比較する。

【００２９】第２検出手段は、光ディスクの半径方向に
平行な直径の両端付近の領域における光強度を検出す
る。第２比較手段は、第２検出手段からの検出信号を第
２のしきい値と比較する。

【００３０】そして、演算手段は、第１比較手段の出力
及び第２比較手段の出力に基づいて、情報担持面上の情
報を特定する。さらに、演算手段は、第１比較手段から
の出力により光ディスクの半径方向の長さを特定する。
また、第２比較手段からの出力により光ディスクの円周
方向の長さを特定する。

【００３１】最後に、演算手段は、両者の出力を組合せ
て情報担持面の表面変形部の形状を特定し、特定された
形状に対応して割当たられたデジタル情報（複数ビッ
ト）に変換する。つまり、一の形状変形部より複数ビッ
トのデジタル情報を得られる。

【００３２】

【実施例】本発明の装置に係る好適な実施例を図面を参
照して説明する。（Ｉ）構成の説明図１に実施例に用いる光ディスクを示す。（Ａ）は記録
情報に対応して生成される４種類の情報ピットの形状を
示し、（Ｂ）は光ディスク上のピットの配列の様子を示
す。

【００３３】図１（Ａ）に示すように、実施例の光ディ
スク２には記録情報に対応して、ピットなし、正方形ピ
ット、縦長ピット、横長ピットの４種類の情報ピットが
生成される。各ピットは、請求項の表面変形部に相当す
る。ピットは、「ピットなし」に対しても情報が割り当
てられ、‘無形状’のピットとして存在する。

【００３４】これら４種類のピットは、（Ｂ）に示すよ
うに、光ディスク２の情報記録面に一定のピッチｐを保
って順次生成される。実施例では、半径方向の情報ピッ
ト間のピッチ（トラック間のピッチ）、円周方向の情報
ピット間のピッチともｐであると仮定する。各ピットの
深さは、反射光量の強弱を得るのに適する深さ、例え
ば、レーザ光の波長λの１／４波長に相当する位相深さ
に成形する。

【００３５】図５は実施例の光ディスク再生装置１００
である。図５に示すように、半導体レーザ４から照射さ
れたレーザ光は、コリメータレンズ６で平行ビームにさ
れる。さらに、レーザ光は１／４波長板８で円偏光にさ
れ、ビームスプリッタ１０のハーフミラー面１０ａを透
過する。透過後のレーザ光は反射ミラー１２で反射さ
れ、対物レンズ１４により光ディスク２の情報記録面上
に集光される。

【００３６】さて、情報記録面に照射されたレーザ光
は、情報ピットの形状に応じた光量で反射される。そし
て、再び対物レンズ１４を通り、反射ミラー１２で反射
される。ビームスプリッタ１０に入射した反射光は、今
度は、ハーフミラー面１０ａで直角方向に反射される。

【００３７】ハーフミラー面１０ａで反射された反射光
は、シリンドリカルレンズ１６を経て集光され、検出器
１８に投射される。図６に、検出器１８と検出器周辺の
回路図を示す。

【００３８】図６に示すように、検出器１８は４分割さ
れた光検出器である。各検出器は、受けた光を電気信号
である検出信号に変換する。ここで、光ディスクの円周
方向の回折光の次数をｘ、光ディスクの半径方向の回折
光の次数をｙとし、各検出器で検出される回折光を
（ｘ，ｙ）で表すものとする。検出器Ｄ₁は、情報ピッ
トの半径方向の一端によりレーザ光を回折させて生ずる
（０，１）次回折光を検出する。検出器Ｄ₂は、情報ピ
ットの円周方向の一端により生ずる（１，０）次回折光
を検出する。検出器Ｄ₃は、情報ピットの半径方向の他
端により生ずる（０，−１）次光を検出する。検出器Ｄ
₄は、情報ピットの円周方向の他端により生ずる（−
１，０）次回折光を検出する。

【００３９】検出器Ｄ₁による検出信号は加算増幅器２
０の加算入力のいずれか一方に入力され、検出器Ｄ₃に
よる検出信号は加算増幅器２０の他方に入力される。検
出器Ｄ₂による検出信号は加算増幅器２２の加算入力の
いずれか一方に入力され、検出器Ｄ₄による検出信号は
加算増幅器２２の他方に入力される。

【００４０】加算増幅器２０及び２２は、それぞれ入力
された二つの検出信号を加算して和信号を出力する。比
較器２４は、加算増幅器２０の出力する和信号を所定の
しきい値ＴＬ₁と比較する。比較器２６は、加算増幅器
２２の出力する和信号を所定のしきい値ＴＬ₂と比較す
る。なお、しきい値はおおむね、ＴＬ₁＝ＴＬ₂であ
る。両比較器で判定された判定信号（「１」又は
「０」）の判定信号は、プロセッサ２８に入力され、対
応する情報として処理される。（ＩＩ）原理の説明次に、本実施例の情報読出の原理について説明する。

【００４１】光ディスクの情報記録面からの反射光は、
直接反射される光（０次光）と回折光とが混在する。例
えば、１次の回折光は、図２に示すように、直接光（０
次光）と重なる。

【００４２】ここで、スカラー回折理論（「Diffractio
n theory of laser read-out systems for optical vid
eo discs」,H.H.Hopkins JOSA vol.69 No,1 1979）を用
いて、反射光の有する光強度について考える。

【００４３】当該理論によれば、光の射出点から光の反
射面（この場合、情報記録面）に照射され、反射されて
再び射出点に戻る光の強度分布は、式（１）で表され
る。

【００４４】

【数１】式（１）中で、光の照射点から光の照射面（この場合情
報記録面）におろした垂線の交点からの位置のズレを
ｘ，ｙで表してある。Ｒ（ｍ，ｎ）は、ｘ方向に１次、
ｙ方向にｎ次の回折光の反射係数であり、Ｒ^*（ｍ，
ｎ）は複素反射係数である。また、ｆ（ｘ，ｙ）は、当
該射出点を中心とする瞳状の球面に関する振幅分布を示
す瞳関数であり、ｆ^*（ｘ，ｙ）は複素瞳関数である。

【００４５】解析を簡単にするために、瞳関数を以下の
ように表す。ｆ（ｘ，ｙ）＝１（ｘ²＋ｙ²≦１）＝０（ｘ²＋ｙ²＞１）これにより、図２に示す５つの領域〜のそれぞれの
光強度は、式（２）にように表される。

【００４６】

【数２】式（２）において、反射係数Ｒ（ｍ，ｎ）はピット形状
に依存する。図３に示すピットのモデルに基づいて、反
射係数を求めると、式（３）となる。

【００４７】

【数３】従って、０次光、１次回折光のそれぞれは、式（４）の
ように示される。

【００４８】

【数４】これにより、光検出器の各領域〜における光強度
は、式（５）のようになる。

【００４９】

【数５】式（５）から判るように、ピットの形状がどのようなも
のであっても（γ及びβの数値によらず）、式（５）中
のととは強度が等しく、ととの強度も等しい。
また、ピットの形状が異なれば及びと及びの光
強度は異なる値となる。

【００５０】ここで、図１（Ａ）に示すように、４種類
のピット形状を用意した場合を考える。このとき、式
（５）におけるとのいずれか一方の光強度、と
のいずれか一方の光強度は、それぞれ４種類の値を示
す。

【００５１】従って、再生装置は、適当なしきい値（例
えば、４種類の値の平均値）を設定し、図４のようなピ
ット判定を行うことにより、ピット形状が４種類のいず
れであるかを特定する。言い換えれば、１つのピットに
４つの情報を担わせることができるのである。

【００５２】図４では、式（５）におけるとにより
情報を判定している。なお、本実施例では、検出強度や
微妙なトラックずれが生じた場合に対応できるように、
との和信号を加算増幅器４０で、との和信号を
加算増幅器４２で生成している。

【００５３】次に、光ディスクに設けるピットの深さに
ついて考察する。式（５）より、より検出を確実なもの
にするには、ピット形状に対応して得られる２種類の値
の差が大きいことが望ましい。そのため、αα^*が最大
になるようなピットの深さを求める。

【００５４】 αα^*＝２［１−ｃｏｓ（４πｒｄ／λ）］…（６）より、ｒｄ＝λ／４・（２ｎ＋１）（ｎは整数） …（７）のとき式（６）が最大となる。屈折率ｒは光ディスクで
は大部分がｒ＝１．５程度である。

【００５５】また、ピット間距離は、±１次回折光が検
出器に入射しなければ読出し不能となる。このため、ｐ
＞λ／（２ＮＡ）という条件を満たさなければならな
い。ここで、ＮＡはレーザ光の開口率を示す。実際に、
検出信号強度を分離よく検出するためには、ｐ＝λ／（√２ＮＡ）…（８）程度のピッチを備えた光ディスクであることが望まし
い。（III ）動作の説明本実施例の光ディスク２は、図１のような４種類のピッ
ト形状をレーザ光の波長の１／４の深さで設けることと
する。また、ピッチも式（８）の条件に従って成形され
ているものとする。

【００５６】さて、光ディスク２から情報の再生を始め
る前に、光ディスク再生装置１００は、ピット情報を再
生するためにしきい値ＴＬを決定する。ここで、前述の
図４におけるしきい値ＴＬは、ピット形状によって得ら
れる２値の中間値が望ましい。そのため、光ディスク再
生装置は、具体的には、以下の方法でしきい値を決定す
る。

【００５７】（ａ）再生前に予めディスクを何周か回
転させ、そのとき検出器より得られた直流レベルをしき
い値ＴＬとする。（ｂ）光ディスクの所定位置にしきい値ＴＬを検出で
きるようなしきい値決定用ピットを成形する。

【００５８】（ａ）の方法を用いる場合は、光ディスク
２は、図１（Ａ）に示す４つのビット形状を有するこ
と、深さが式（７）の条件を満たすこと、が必要であ
る。（ｂ）の方法を採用する場合は、さらに上記条件の
他に、しきい値決定用ピットを設ける必要がある。しき
い値決定用ピットは、当該ピットを再生したときに得ら
れる電圧値が前記２種類の値の平均値に等しくなるよう
な長さと幅を備える必要がある。

【００５９】なお、しきい値ＴＬは半径方向と円周方向
で同じ値を用いていたが、異なる値になってもよい。円
周方向のピット間のピッチとトラックのピッチとが異な
る場合には、しきい値も異なることがある。その場合
は、異なるしきい値を比較器４４と比較器２６とにそれ
ぞれ設定する。

【００６０】比較器２４及び２６は、上記（ａ）、
（ｂ）の方法により得られた値を比較用のしきい値ＴＬ
として保持する。情報再生時、検出器１８は、反射光の
光強度に対応する検出信号を出力する検出器Ｄ₁及びＤ
₃の半径方向に得られる１次回折光は互いに加算され、
比較器２４で設定したしきい値ＴＬと比較される。検出
器Ｄ₂及びＤ₄の円周方向（時間軸方向）に得られる１
次回折光は互いに加算され、比較器２６でしきい値ＴＬ
と比較される。光ディスク再生装置は、両比較器の出力
に応じて、図４の表に基づいてピット形状を判定する。

【００６１】ここで、比較器２４で判定される値をｕ、
比較器２６で判定される値をｖとする。プロセッサ２８
は、図４に示すように、（ｕ，ｖ）＝（０，０）のとき
正方形ピット、（１，０）のとき横長ピット、（０，
１）のとき縦長ピット、（１，１）のときピットなしと
判定する。

【００６２】本実施例の光ディスク再生装置は、波長λ
＝７８０〔nm〕、開口率ＮＡ＝０．４５のとき、記録密
度は以下のようになる。１ピット当たり４情報、２ビッ
トの値を持つので、記録密度＝２ビット×（√２ＮＡ／
λ）²＝１．３３〔メガビット／平方ミリメートル〕と
なる。これに対し、市販のコンパクトディスクの記録密
度が１〔メガビット／平方ミリメートル〕である。

【００６３】したがって、本実施例の光ディスク及び光
ディスク再生装置は同一ピッチで光ディスクを制作した
従来型の光ディスクに比べて、３割以上の高密度化に成
功している。（ＩＶ）効果の説明上記のように本実施例によれば、従来型の３割以上の高
密度記録が可能である。また、従来の再生装置について
も、従来の４分割型の光検出器がそのまま適用できる。
光学系は、従来よりむしろ偏光板、ビームスプリッタを
省略できる。このため、ビット当たりの製造単価を大幅
に減少させることができる。（Ｖ）その他の変形例本発明の上記実施例に限らず種々の変形が可能である。

【００６４】上記実施例では、ピットは４種類にした
が、さらにピットの種類を増やしてもよい。例えば、光
ディスクに、情報に応じて図７（Ａ）のような９種類の
ピットを成形する。この変形例によれば、再生装置は９
種類のピット検出しなければならないので、比較器１個
当たり２つのしきい値が必要である。また、この２つの
しきい値ＴＬ₁、ＴＬ₂を用いて図７（Ｂ）のようなピ
ット判定を行うことにより、９種類のピット形状が判定
できる。

【００６５】この方法によれば、ピット１つ当りの情報
量が３ビット以上になるので、記録密度も増加する。し
たがって、ピット形成と３種類以上のしきい値の判別を
確実に行えば、ピット形状の種類、つまりピット１つ当
りの情報量を増加できる。

【００６６】

【発明の効果】請求項１に記載の光ディスクによれば、
一の表面変形部に対して複数（２ビット以上）の情報を
担わせることが可能となる。そのため、従来の光ディス
クに比べ、３割以上の高密度記録が可能となる。また、
当該光ディスクは、表面変形部の深さの調整により、反
射光の強度が最も強くなるため、誤検出を抑えることが
できる。

【００６７】請求項２に記載の光ディスク再生装置によ
れば、請求項１に記載の光ディスクより情報を読取り、
一つの表面変形部に対して複数（２ビット以上）の情報
を復号することができる。また、当該再生装置は、従来
の偏光状態を利用した光ディスクより光学系を省略する
ことが簡単となるため、一情報当たりのコストが大幅に
減少する。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例に用いる光ディスクの説明図であり、
（Ａ）は光ディスクの４種類のピット、（Ｂ）は光ディ
スク上のピットの配列の様子である。

【図２】ピットによる回折光分布の様子を示す説明図で
ある。

【図３】ピットのモデルを示す説明図である。

【図４】ピット判定の説明図である。

【図５】実施例の光ディスク再生装置であり、（Ａ）は
光学系、（Ｂ）は光学系の概要である。

【図６】検出器周辺の回路図である。

【図７】変形例における光ディスクのピット例である。

【図８】従来の光ディスクの斜視図である。

【図９】従来の光ディスクのトラックピッチを示す図で
ある。

【図１０】従来の光ディスクにおいて、単にトラックピ
ッチを１／２にした場合を示す説明図である。

【符号の説明】

Ｄ₁〜Ｄ₄…検出器２…光ディスク４…半導体レーザ６…コリメータレンズ８…１／４波長板１０…ビームスプリッタ１２…反射ミラー１４…対物レンズ１６…シリンドリカルレンズ１８…検出器２０、２２…加算増幅器２４、２６…比較器９１…情報ピット９２…従来の光ディスク９３…保護層９４…基板９５…情報記録面１００…光ディスク再生装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザ光を情報が記録された情報担持面
に照射し、当該情報担持面からの反射光により情報を読
取可能な光ディスクであって、前記情報は、情報担持面上に表面変形部として記録され
ており、前記表面変形部は、記録されるべき情報に対応
して当該光ディスクの円周方向の長さ又はディスク半径
方向の長さが相違する複数種類が存在し、各表面変形部
の深さは、前記レーザ光の波長λに対し略（２ｎ＋１）
λ／４（ｎは整数）となる位相深さに成形されているこ
とを特徴とする光ディスク。
【請求項２】請求項１に記載の光ディスクから情報を
再生する光ディスク再生装置であって、光ディスクの情報担持面にレーザ光を照射する光ビーム
照射手段と、前記情報担持面からの反射光のうち、当該光ディスクの
円周方向に回折する第１次回折光を含む反射光成分の光
強度を検出する第１検出手段と、前記第１検出手段からの検出信号を第１のしきい値と比
較する第１比較手段と、前記情報担持面からの反射光のうち、当該光ディスクの
半径方向に回折する第１次回折光を含む反射光成分の光
強度を検出する第２検出手段と、前記第２検出手段からの検出信号を第２のしきい値と比
較する第２比較手段と、前記第１比較手段の出力及び前記第２比較手段の出力に
基づいて、前記情報担持面上の情報を特定する演算手段
と、を備えたことを特徴とする光ディスク再生装置。