JPH07121983A - エンベロープ検出回路 - Google Patents
エンベロープ検出回路Info
- Publication number
- JPH07121983A JPH07121983A JP5264668A JP26466893A JPH07121983A JP H07121983 A JPH07121983 A JP H07121983A JP 5264668 A JP5264668 A JP 5264668A JP 26466893 A JP26466893 A JP 26466893A JP H07121983 A JPH07121983 A JP H07121983A
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- JP
- Japan
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- output
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- input signal
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 テープレコーダ等で使用されるエンベロープ
検出回路において、入力信号レベルに応じて自動的にし
きい値を設定することで、正確に検出を行う。 【構成】 ピーク検出回路８は入力信号のピーク値を検
出する。リーク回路９はピーク検出回路８の出力を所定
の時定数で減少させながら保持する。しきい値設定回路
１０はリーク回路９の出力を基にしてしきい値を設定す
る。比較器１１は入力信号としきい値を比較してエンベ
ロープ検出出力を得る。これにより、入力信号のピーク
値から信号のレベルに合わせたしきい値を設定すること
ができ、さらにリーク回路９により信号レベルのゆっく
りとした変動に追従して正確なしきい値を設定すること
ができる。
検出回路において、入力信号レベルに応じて自動的にし
きい値を設定することで、正確に検出を行う。 【構成】 ピーク検出回路８は入力信号のピーク値を検
出する。リーク回路９はピーク検出回路８の出力を所定
の時定数で減少させながら保持する。しきい値設定回路
１０はリーク回路９の出力を基にしてしきい値を設定す
る。比較器１１は入力信号としきい値を比較してエンベ
ロープ検出出力を得る。これにより、入力信号のピーク
値から信号のレベルに合わせたしきい値を設定すること
ができ、さらにリーク回路９により信号レベルのゆっく
りとした変動に追従して正確なしきい値を設定すること
ができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テープレコーダ等で使
用されるエンベロープ検出回路に関する。
用されるエンベロープ検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】エンベロープ検出回路は、入力信号の信
号振幅を検出して、記録状態の有無を判定するために使
用される。
号振幅を検出して、記録状態の有無を判定するために使
用される。
【０００３】図５に、従来のエンベロープ検出回路のブ
ロック図を示す。図５において、１は再生信号が入力さ
れる入力端子、２は入力された信号を所定のレベルに増
幅するヘッドアンプ、３は整流回路、４は平滑回路、５
は電圧比較器、６はエンベロープ検出結果を出力する出
力端子、７はしきい値を設定するしきい値調整回路であ
る。
ロック図を示す。図５において、１は再生信号が入力さ
れる入力端子、２は入力された信号を所定のレベルに増
幅するヘッドアンプ、３は整流回路、４は平滑回路、５
は電圧比較器、６はエンベロープ検出結果を出力する出
力端子、７はしきい値を設定するしきい値調整回路であ
る。
【０００４】図６は図５を説明するための波形図であ
り、図６において、１００は入力信号波形、１０１は整
流後の信号波形、１０２は平滑後の信号波形、１０３は
しきい値、１０４はエンベロープ検出出力の信号波形で
ある。なお、信号波形１００および１０１に斜線で示し
た部分は、振幅の変動よりも高い周波数の成分が含まれ
ていることを示している。以下、図５および図６を参照
しながら、従来のエンベロープ検出回路について説明す
る。
り、図６において、１００は入力信号波形、１０１は整
流後の信号波形、１０２は平滑後の信号波形、１０３は
しきい値、１０４はエンベロープ検出出力の信号波形で
ある。なお、信号波形１００および１０１に斜線で示し
た部分は、振幅の変動よりも高い周波数の成分が含まれ
ていることを示している。以下、図５および図６を参照
しながら、従来のエンベロープ検出回路について説明す
る。
【０００５】入力端子１から図６の（ａ）に示すような
入力信号波形１００が入力される。入力信号波形１００
には比較的高い周波数の信号成分と、低い周波数の成分
が含まれている。エンベロープ検出回路ではこの低い周
波数成分の信号振幅変動を検出する。入力端子１から入
力された入力信号波形１００はヘッドアンプ２で所定の
信号レベルまで増幅されて、整流回路３へ出力される。
整流回路３では、入力信号を正側の信号だけに変換し
て、図６の（ｂ）に示すような整流波形１０１を平滑回
路４へ出力する。平滑回路４では、整流波形１０１から
高周波数の成分を取り除き、図６の（ｃ）に示すような
平滑波形１０２を電圧比較器５に出力する。電圧比較器
５では、しきい値調整回路７で設定されるしきい値１０
３と平滑波形１０２を比較して、図６の（ｄ）に示すよ
うなエンベロープ検出出力１０４を出力端子８へ出力す
る。こうして、入力信号波形１００の振幅があるしきい
値を越えた場合とそうでない場合を判定して、エンベロ
ープ検出が行われる。
入力信号波形１００が入力される。入力信号波形１００
には比較的高い周波数の信号成分と、低い周波数の成分
が含まれている。エンベロープ検出回路ではこの低い周
波数成分の信号振幅変動を検出する。入力端子１から入
力された入力信号波形１００はヘッドアンプ２で所定の
信号レベルまで増幅されて、整流回路３へ出力される。
整流回路３では、入力信号を正側の信号だけに変換し
て、図６の（ｂ）に示すような整流波形１０１を平滑回
路４へ出力する。平滑回路４では、整流波形１０１から
高周波数の成分を取り除き、図６の（ｃ）に示すような
平滑波形１０２を電圧比較器５に出力する。電圧比較器
５では、しきい値調整回路７で設定されるしきい値１０
３と平滑波形１０２を比較して、図６の（ｄ）に示すよ
うなエンベロープ検出出力１０４を出力端子８へ出力す
る。こうして、入力信号波形１００の振幅があるしきい
値を越えた場合とそうでない場合を判定して、エンベロ
ープ検出が行われる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の構成では、ヘッドアンプの温度バラツキ等に
より、全体的な入力信号レベルが変動すると、しきい値
と入力信号との比率が崩れて、本来検出したい信号とは
異なったエンベロープ検出結果が得られる場合がある、
といった課題があった。
うな従来の構成では、ヘッドアンプの温度バラツキ等に
より、全体的な入力信号レベルが変動すると、しきい値
と入力信号との比率が崩れて、本来検出したい信号とは
異なったエンベロープ検出結果が得られる場合がある、
といった課題があった。
【０００７】本発明は上記課題に鑑みて、入力信号レベ
ルに応じて自動的にしきい値を設定可能なエンベロープ
検出回路を提供することを目的とする。
ルに応じて自動的にしきい値を設定可能なエンベロープ
検出回路を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のエンベロープ検
出回路は、上記課題を解決するために、入力信号のピー
ク値を検出するピーク検出回路と、前記ピーク検出回路
の出力を所定の時定数で減少させながら保持するリーク
回路と、前記リーク回路の出力を基にしてしきい値を設
定する設定回路と、前記入力信号と前記しきい値を比較
して出力を得る比較器とを備えたものである。
出回路は、上記課題を解決するために、入力信号のピー
ク値を検出するピーク検出回路と、前記ピーク検出回路
の出力を所定の時定数で減少させながら保持するリーク
回路と、前記リーク回路の出力を基にしてしきい値を設
定する設定回路と、前記入力信号と前記しきい値を比較
して出力を得る比較器とを備えたものである。
【０００９】
【作用】本発明は上記の構成により、入力信号のピーク
値から信号のレベルに合わせたしきい値を設定すること
ができ、さらにリーク回路により信号レベルのゆっくり
とした変動に追従して正確なしきい値を設定することが
できる。
値から信号のレベルに合わせたしきい値を設定すること
ができ、さらにリーク回路により信号レベルのゆっくり
とした変動に追従して正確なしきい値を設定することが
できる。
【００１０】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例におけるエンベ
ロープ検出回路を示すブロック図である。図１におい
て、８はピーク検出回路、９はリーク回路、１０はしき
い値設定回路であり、他は図５と同様であるので、その
説明は省略する。
ロープ検出回路を示すブロック図である。図１におい
て、８はピーク検出回路、９はリーク回路、１０はしき
い値設定回路であり、他は図５と同様であるので、その
説明は省略する。
【００１１】図２は図１の動作を説明するための波形図
で、図２において、２００は入力信号波形、２０１は整
流後の信号波形、２０２は平滑後の信号波形、２０３は
平滑波形２０２のピークを検出しその値をリークさせた
ピーク検出値、２０４はリークさせたピーク検出値２０
３から求めたしきい値、２０５はエンベロープ検出出力
の信号波形である。なお、信号波形２００および２０１
に斜線で示した部分は、振幅の変動よりも高い周波数の
成分が含まれていることを示している。
で、図２において、２００は入力信号波形、２０１は整
流後の信号波形、２０２は平滑後の信号波形、２０３は
平滑波形２０２のピークを検出しその値をリークさせた
ピーク検出値、２０４はリークさせたピーク検出値２０
３から求めたしきい値、２０５はエンベロープ検出出力
の信号波形である。なお、信号波形２００および２０１
に斜線で示した部分は、振幅の変動よりも高い周波数の
成分が含まれていることを示している。
【００１２】以下、図１および図２を参照しながら、本
発明のエンベロープ検出回路について説明する。
発明のエンベロープ検出回路について説明する。
【００１３】入力端子１から図２の（ａ）に示すような
入力信号が入力されると、図６の場合と同様に、整流回
路３の出力には図２の（ｂ）に示すような整流波形２０
１が得られ、平滑回路４の出力には図２の（ｃ）に示す
ような平滑波形２０２が得られる。ピーク検出回路８で
は、この平滑回路４の出力を受けて、そのピーク値を出
力する（図示していない）。ピーク検出回路８の出力は
リーク回路９に入力され、平滑信号レベル２０２が大き
い場合にはその信号レベルに追従し、平滑信号レベル２
０２が小さい場合には予め定めておいたリーク時定数で
ゆっくり減少する、図２の（ｃ）に示すようなピーク検
出値２０３を出力する。こうして検出されたピーク検出
値２０３を基にして、しきい値設定回路１０では、この
場合にはピーク検出値の１／２を計算し、この値を図２
の（ｃ）に示すしきい値２０４として比較器１１へ出力
する。比較器１１では、このしきい値２０４と平滑波形
２０２の大きさを比較して、図２の（ｄ）に示すような
エンベロープ検出出力２０５を出力端子６に出力する。
このように、しきい値２０４のレベルが入力信号レベル
に応じて変化するので、入力信号波形２００にレベル変
動があっても、正確なエンベロープ検出出力２０５を得
ることができる。
入力信号が入力されると、図６の場合と同様に、整流回
路３の出力には図２の（ｂ）に示すような整流波形２０
１が得られ、平滑回路４の出力には図２の（ｃ）に示す
ような平滑波形２０２が得られる。ピーク検出回路８で
は、この平滑回路４の出力を受けて、そのピーク値を出
力する（図示していない）。ピーク検出回路８の出力は
リーク回路９に入力され、平滑信号レベル２０２が大き
い場合にはその信号レベルに追従し、平滑信号レベル２
０２が小さい場合には予め定めておいたリーク時定数で
ゆっくり減少する、図２の（ｃ）に示すようなピーク検
出値２０３を出力する。こうして検出されたピーク検出
値２０３を基にして、しきい値設定回路１０では、この
場合にはピーク検出値の１／２を計算し、この値を図２
の（ｃ）に示すしきい値２０４として比較器１１へ出力
する。比較器１１では、このしきい値２０４と平滑波形
２０２の大きさを比較して、図２の（ｄ）に示すような
エンベロープ検出出力２０５を出力端子６に出力する。
このように、しきい値２０４のレベルが入力信号レベル
に応じて変化するので、入力信号波形２００にレベル変
動があっても、正確なエンベロープ検出出力２０５を得
ることができる。
【００１４】次に、図３は本発明の第２の実施例におけ
るエンベロープ検出回路の波形図である。図３におい
て、３０２は平滑波形、３０３はピーク検出値、３０４
は設定されるしきい値、３０５はエンベロープ検出出
力、３０６は最小設定値である。以下、図１および図３
を参照しながらその動作について説明する。
るエンベロープ検出回路の波形図である。図３におい
て、３０２は平滑波形、３０３はピーク検出値、３０４
は設定されるしきい値、３０５はエンベロープ検出出
力、３０６は最小設定値である。以下、図１および図３
を参照しながらその動作について説明する。
【００１５】図３の（ａ）に示す平滑波形３０２は入力
信号が終了して、最後のエンベロープが検出される場合
をあらわしている。平滑波形３０２に低いレベルが連続
すると、リーク後のピーク検出値３０３は所定のリーク
時定数によって少しづつ減少していく。これに伴ってし
きい値３０４も減少していく。ここで、このしきい値が
平滑波形３０２以下になると、入力信号は無信号なのに
しきい値が入力信号のノイズレベル以下に設定されて、
エンベロープ検出出力がＨ（ハイ）になる場合が考えら
れる。そこで、このしきい値の変化をしきい値設定回路
１０で監視して、所定の最小設定値３０６以下の場合に
はしきい値を最小設定値に設定する。これにより、入力
信号が存在しない場合に誤ったエンベロープ検出出力を
発生するのを防止することができ、正しいエンベロープ
検出出力３０５を得ることができる。
信号が終了して、最後のエンベロープが検出される場合
をあらわしている。平滑波形３０２に低いレベルが連続
すると、リーク後のピーク検出値３０３は所定のリーク
時定数によって少しづつ減少していく。これに伴ってし
きい値３０４も減少していく。ここで、このしきい値が
平滑波形３０２以下になると、入力信号は無信号なのに
しきい値が入力信号のノイズレベル以下に設定されて、
エンベロープ検出出力がＨ（ハイ）になる場合が考えら
れる。そこで、このしきい値の変化をしきい値設定回路
１０で監視して、所定の最小設定値３０６以下の場合に
はしきい値を最小設定値に設定する。これにより、入力
信号が存在しない場合に誤ったエンベロープ検出出力を
発生するのを防止することができ、正しいエンベロープ
検出出力３０５を得ることができる。
【００１６】次に、図４は本発明の第３の実施例におけ
るエンベロープ検出回路のブロック図である。図４にお
いて、４００は速度設定回路、４０１は設定入力、４０
４は速度設定に対応した平滑回路、４０９は速度設定に
対応したリーク回路であり、他は図１と同様であるの
で、その説明は省略する。
るエンベロープ検出回路のブロック図である。図４にお
いて、４００は速度設定回路、４０１は設定入力、４０
４は速度設定に対応した平滑回路、４０９は速度設定に
対応したリーク回路であり、他は図１と同様であるの
で、その説明は省略する。
【００１７】テープが高速で走行する場合には再生され
る信号の周波数もテープの走行速度に比例して変化す
る。このため、エンベロープ再生に最適なフィルタ特性
やノイズに対する保護特性が変化する。この特性変化に
対応するために、速度設定回路４００を設けている。速
度設定回路４００へは設定入力端子４０１を通してテー
プの走行速度に対応したデータを入力し、速度設定回路
４００から平滑回路４０４、リーク回路４０９へ速度設
定信号を送出する。平滑回路４０４では、エンベロープ
信号と高周波信号を区別するためのフィルタ特性を走行
速度に比例して変化させる。例えば速度設定信号が２０
倍を示す場合には、フィルタのカットオフ周波数を２０
倍に上げる。リーク回路４０９では、速度設定信号に合
わせてリークの時定数を変化させる。例えば速度設定信
号が２０倍を示す場合には、リークの時定数を２０分の
１に短くする。
る信号の周波数もテープの走行速度に比例して変化す
る。このため、エンベロープ再生に最適なフィルタ特性
やノイズに対する保護特性が変化する。この特性変化に
対応するために、速度設定回路４００を設けている。速
度設定回路４００へは設定入力端子４０１を通してテー
プの走行速度に対応したデータを入力し、速度設定回路
４００から平滑回路４０４、リーク回路４０９へ速度設
定信号を送出する。平滑回路４０４では、エンベロープ
信号と高周波信号を区別するためのフィルタ特性を走行
速度に比例して変化させる。例えば速度設定信号が２０
倍を示す場合には、フィルタのカットオフ周波数を２０
倍に上げる。リーク回路４０９では、速度設定信号に合
わせてリークの時定数を変化させる。例えば速度設定信
号が２０倍を示す場合には、リークの時定数を２０分の
１に短くする。
【００１８】これらの操作は、ディジタルフィルタ回路
を用いれば容易に実現することができ、この操作によ
り、エンベロープ検出回路の動作は、高速再生状態で
も、相対的には通常状態と同等の特性となるので、安定
に高速のエンベロープ検出を実現することができる。
を用いれば容易に実現することができ、この操作によ
り、エンベロープ検出回路の動作は、高速再生状態で
も、相対的には通常状態と同等の特性となるので、安定
に高速のエンベロープ検出を実現することができる。
【００１９】
【発明の効果】以上述べてきたように、本発明によれ
ば、小型でノイズに影響されにくい、高性能のエンベロ
ープ検出回路を実現でき、実用的にきわめて有用であ
る。
ば、小型でノイズに影響されにくい、高性能のエンベロ
ープ検出回路を実現でき、実用的にきわめて有用であ
る。
【図１】本発明の第１の実施例におけるエンベロープ検
出回路の構成を示すブロック図
出回路の構成を示すブロック図
【図２】図１の動作を説明するための波形図
【図３】本発明の第２の実施例の動作を説明するための
波形図
波形図
【図４】本発明の第３の実施例におけるエンベロープ検
出回路の構成を示すブロック図
出回路の構成を示すブロック図
【図５】従来のエンベロープ検出回路の構成を示すブロ
ック図
ック図
【図６】図５の動作を説明するための波形図
１ 入力端子 ２ ヘッドアンプ ３ 整流回路 ４，４０４ 平滑回路 ６ 出力端子 ８ ピーク検出回路 ９，４０９ リーク回路 １０ しきい値設定回路 １１ 比較器 ４０１ 速度設定回路
Claims (3)
- 【請求項１】 入力信号のピーク値を検出するピーク検
出回路と、 前記ピーク検出回路の出力を所定の時定数で減少させな
がら保持するリーク回路と、 前記リーク回路の出力を基にしてしきい値を設定する設
定回路と、 前記入力信号と前記しきい値を比較して出力を得る比較
器と、を備えたエンベロープ検出回路。 - 【請求項２】 リーク回路の出力がある値以下の場合に
は、しきい値として予め定めておいた値を使用すること
を特徴とする請求項１記載のエンベロープ検出回路。 - 【請求項３】 入力信号から高周波成分を取り除く平滑
回路と、 前記平滑回路の出力のピーク値を検出するピーク検出回
路と、 前記ピーク検出回路の出力を所定の時定数で減少させな
がら保持するリーク回路と、 前記リーク回路の出力を基にしてしきい値を設定する設
定回路と、 前記平滑回路の出力と前記しきい値を比較して出力を得
る比較器と、 テープの走行速度に対応した速度設定信号を出力し、そ
の速度設定信号に応じて前記リーク回路のリーク時定
数、前記平滑回路のフィルタ時定数を変更する速度設定
回路と、を備えたエンベロープ検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5264668A JPH07121983A (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | エンベロープ検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5264668A JPH07121983A (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | エンベロープ検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07121983A true JPH07121983A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17406552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5264668A Pending JPH07121983A (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | エンベロープ検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07121983A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1091292C (zh) * | 1996-01-30 | 2002-09-18 | 三星电子株式会社 | 盒式磁带录像机的包络检测装置 |
-
1993
- 1993-10-22 JP JP5264668A patent/JPH07121983A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1091292C (zh) * | 1996-01-30 | 2002-09-18 | 三星电子株式会社 | 盒式磁带录像机的包络检测装置 |
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