JP2528685Y2 - 磁気センサ回路 - Google Patents
磁気センサ回路Info
- Publication number
- JP2528685Y2 JP2528685Y2 JP1986115194U JP11519486U JP2528685Y2 JP 2528685 Y2 JP2528685 Y2 JP 2528685Y2 JP 1986115194 U JP1986115194 U JP 1986115194U JP 11519486 U JP11519486 U JP 11519486U JP 2528685 Y2 JP2528685 Y2 JP 2528685Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- output signal
- output
- magnetic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本考案は，磁気記録媒体のピンホール，キズ等の欠陥
を検出する磁気センサの回路に関する。
を検出する磁気センサの回路に関する。
＜従来の技術＞ 従来、磁気記録媒体のピンホール，傷等の欠陥を検出
するための磁気センサ回路では、磁気ヘッドを磁気記録
媒体の磁性層上に近接設置し、その出力信号に基づいて
欠陥検出を行っている。第３図は従来の磁気センサ回路
の構成例を示したものである。この磁気センサ回路で
は、磁気記録媒体１に近接設置した磁気ヘッド２の出力
を作動増幅回路３で増幅して出力信号５とし、電圧比較
回路４でこの出力信号５を比較電圧（Vref）６と比較し
た結果により、欠陥検出信号７が得られるようになって
いる。
するための磁気センサ回路では、磁気ヘッドを磁気記録
媒体の磁性層上に近接設置し、その出力信号に基づいて
欠陥検出を行っている。第３図は従来の磁気センサ回路
の構成例を示したものである。この磁気センサ回路で
は、磁気記録媒体１に近接設置した磁気ヘッド２の出力
を作動増幅回路３で増幅して出力信号５とし、電圧比較
回路４でこの出力信号５を比較電圧（Vref）６と比較し
た結果により、欠陥検出信号７が得られるようになって
いる。
第４図はこの磁気センサ回路における電圧比較回路４
の入出力応答の様子をタイミングチャートにより示した
もので、同図（ａ）は入力側の応答を示し、同図（ｂ）
は出力側の応答を示したものである。作動増幅回路３か
らの出力信号５には欠陥のある場所で発生する欠陥部分
信号8a,8bと摺動ノイズ，電気ノイズ等によるノイズ成
分信号9a,9bとが混在している。電圧比較回路４では第
４図（ａ）に示すように、出力信号５を規定レベルの比
較電圧（Vref）６と比較し、ノイズ成分信号9a,9bを除
去した上で第４図（ｂ）に示すようなパルス状の欠陥部
分信号8a,8bを含む欠陥検出信号７を出力する。
の入出力応答の様子をタイミングチャートにより示した
もので、同図（ａ）は入力側の応答を示し、同図（ｂ）
は出力側の応答を示したものである。作動増幅回路３か
らの出力信号５には欠陥のある場所で発生する欠陥部分
信号8a,8bと摺動ノイズ，電気ノイズ等によるノイズ成
分信号9a,9bとが混在している。電圧比較回路４では第
４図（ａ）に示すように、出力信号５を規定レベルの比
較電圧（Vref）６と比較し、ノイズ成分信号9a,9bを除
去した上で第４図（ｂ）に示すようなパルス状の欠陥部
分信号8a,8bを含む欠陥検出信号７を出力する。
＜本考案が解決しようとする問題点＞ しかし従来の磁気センサ回路においてはノイズ成分信
号9a,9b及び欠陥部分信号8a,8bが磁気ヘッドの取り付け
状態，温度変動などにより変動し，誤動作する欠点があ
った。
号9a,9b及び欠陥部分信号8a,8bが磁気ヘッドの取り付け
状態，温度変動などにより変動し，誤動作する欠点があ
った。
＜問題点を解決するための手段＞ 本考案によれば、磁気記録媒体の磁性層から磁性パタ
ーンを読み取る磁気ヘッドからの読み取り出力を増幅し
て出力信号を得る増幅回路と、出力信号を整流・積分し
て比較信号を出力する整流・積分回路と、出力信号を所
定値減衰して減衰出力信号を出力する可変減衰回路と、
比較信号及び減衰出力信号の電圧を比較して欠陥検出信
号を出力する電圧比較回路とを含む磁気センサ回路が得
られる。
ーンを読み取る磁気ヘッドからの読み取り出力を増幅し
て出力信号を得る増幅回路と、出力信号を整流・積分し
て比較信号を出力する整流・積分回路と、出力信号を所
定値減衰して減衰出力信号を出力する可変減衰回路と、
比較信号及び減衰出力信号の電圧を比較して欠陥検出信
号を出力する電圧比較回路とを含む磁気センサ回路が得
られる。
＜実施例＞ 以下に実施例を挙げ、本考案の磁気センサ回路につい
て、図面を参照して詳細に説明する。
て、図面を参照して詳細に説明する。
第１図は、本考案の一実施例に係る磁気センサ回路の
基本構成を回路ブロック図により示したものである。
基本構成を回路ブロック図により示したものである。
この磁気センサ回路は、磁気記録媒体１の磁性層から
磁性パターンを読み取る磁気ヘッド２と、磁気ヘッド２
からの読み取り出力を増幅して出力信号５を得る増幅回
路３と、出力信号５を整流して整流信号を出力する整流
回路10と、整流信号を積分して比較信号14として生成出
力する積分回路11と、出力信号５を所定値減衰して減衰
出力信号13を出力する可変減衰回路12と、比較信号14及
び減衰出力信号13の電圧を比較して欠陥検出信号15を出
力する電圧比較回路４とから成っている。尚、増幅回路
３には小信号を扱う場合、ノイズ防止のためにアースに
対して差動増幅を行うタイプのものを用いることが望ま
しい。
磁性パターンを読み取る磁気ヘッド２と、磁気ヘッド２
からの読み取り出力を増幅して出力信号５を得る増幅回
路３と、出力信号５を整流して整流信号を出力する整流
回路10と、整流信号を積分して比較信号14として生成出
力する積分回路11と、出力信号５を所定値減衰して減衰
出力信号13を出力する可変減衰回路12と、比較信号14及
び減衰出力信号13の電圧を比較して欠陥検出信号15を出
力する電圧比較回路４とから成っている。尚、増幅回路
３には小信号を扱う場合、ノイズ防止のためにアースに
対して差動増幅を行うタイプのものを用いることが望ま
しい。
即ち、この磁気センサ回路では磁気記録媒体１上を摺
動する磁気ヘッド２から発生する出力信号５から整流，
積分を経て生成した比較信号14と、出力信号５から所定
の割合の減衰により生成した減衰出力信号13との電圧を
電圧比較回路４において比較することによって、欠陥検
出信号15が得られるようになっている。
動する磁気ヘッド２から発生する出力信号５から整流，
積分を経て生成した比較信号14と、出力信号５から所定
の割合の減衰により生成した減衰出力信号13との電圧を
電圧比較回路４において比較することによって、欠陥検
出信号15が得られるようになっている。
第２図はこの磁気センサ回路における電圧比較回路４
の入出力応答の様子をタイミングチャートにより示した
もので、同図（ａ）は入力側の応答を示し、同図（ｂ）
は出力側の応答を示したものである。
の入出力応答の様子をタイミングチャートにより示した
もので、同図（ａ）は入力側の応答を示し、同図（ｂ）
は出力側の応答を示したものである。
ここで、領域16は磁気記録媒体１が存在しない場合
か、或いは静止している場合の状態に関するもので、電
圧比較回路４へ入力される比較信号14と減衰出力信号13
との電位差は可変減衰回路12で設定した固定電位差（V
OFF）であり、このときの電圧比較回路４から出力され
る欠陥検出信号15は出力レベルが零となっている。
か、或いは静止している場合の状態に関するもので、電
圧比較回路４へ入力される比較信号14と減衰出力信号13
との電位差は可変減衰回路12で設定した固定電位差（V
OFF）であり、このときの電圧比較回路４から出力され
る欠陥検出信号15は出力レベルが零となっている。
一方、領域17は可変減衰回路12により減衰出力信号13
の信号レベルが比較的小さく設定された場合の状態を示
している。ここでは固定電位差（VOFF）に平均値化され
た出力信号５が積分されることにより、比較信号14の信
号レベルが若干増加されている。従って、こうした場
合、電圧比較回路４では若干増加されたレベルの比較信
号14と若干低めにレベル設定された減衰出力信号13との
電圧を比較し、減衰出力信号13に含まれるノイズ成分信
号9a′及び欠陥部分信号8a′のうちからノイズ成分信号
9a′を除去して欠陥部分信号8a′を示す欠陥検出信号15
を出力する。
の信号レベルが比較的小さく設定された場合の状態を示
している。ここでは固定電位差（VOFF）に平均値化され
た出力信号５が積分されることにより、比較信号14の信
号レベルが若干増加されている。従って、こうした場
合、電圧比較回路４では若干増加されたレベルの比較信
号14と若干低めにレベル設定された減衰出力信号13との
電圧を比較し、減衰出力信号13に含まれるノイズ成分信
号9a′及び欠陥部分信号8a′のうちからノイズ成分信号
9a′を除去して欠陥部分信号8a′を示す欠陥検出信号15
を出力する。
又、領域18のように可変減衰回路12により減衰出力信
号13の信号レベルが比較的大きく設定されると、比較信
号14の信号レベルも一層増加される。従って、こうした
場合、電圧比較回路４では比較的大きめに増加されたレ
ベルの比較信号14と比較的大きめにレベル設定された減
衰出力信号13との電圧を比較し、減衰出力信号13に含ま
れるノイズ成分信号9b′及び欠陥部分信号8b′のうちか
らノイズ成分信号9b′を除去して欠陥部分信号8b′を示
す欠陥検出信号15を出力する。
号13の信号レベルが比較的大きく設定されると、比較信
号14の信号レベルも一層増加される。従って、こうした
場合、電圧比較回路４では比較的大きめに増加されたレ
ベルの比較信号14と比較的大きめにレベル設定された減
衰出力信号13との電圧を比較し、減衰出力信号13に含ま
れるノイズ成分信号9b′及び欠陥部分信号8b′のうちか
らノイズ成分信号9b′を除去して欠陥部分信号8b′を示
す欠陥検出信号15を出力する。
このように、本実施例の磁気センサ回路では、磁気ヘ
ッド２の取り付け位置の調整に応じて可変減衰回路12に
おいて減衰出力信号13の信号レベルを調整することによ
り、比較信号14の信号レベルを減衰出力信号13に含まれ
るノイズ成分信号9a′,9b′の信号レベルよりも幾分高
めに設定することができる。この結果、減衰出力信号13
からノイズ成分信号9a′,9b′を除去して欠陥部分信号8
a′,8b′のみを示す欠陥検出信号15を安定して得ること
ができるようになるため、出力信号５のレベル変動によ
る影響を被ることなく確実に欠陥検出を行うことができ
る。
ッド２の取り付け位置の調整に応じて可変減衰回路12に
おいて減衰出力信号13の信号レベルを調整することによ
り、比較信号14の信号レベルを減衰出力信号13に含まれ
るノイズ成分信号9a′,9b′の信号レベルよりも幾分高
めに設定することができる。この結果、減衰出力信号13
からノイズ成分信号9a′,9b′を除去して欠陥部分信号8
a′,8b′のみを示す欠陥検出信号15を安定して得ること
ができるようになるため、出力信号５のレベル変動によ
る影響を被ることなく確実に欠陥検出を行うことができ
る。
＜考案の効果＞ 以上に述べた通り、本考案の磁気センサ回路によれ
ば、磁気ヘッドの取り付け位置の調整に応じて回路の調
整を行った後、通常の使用状態において比較信号（閾
値）のレベルを出力信号に含まれるノイズ成分信号のレ
ベルより幾分高めに設定できるようにしているので、磁
気ヘッドの取り付け状態や温度変化等による影響を被ら
ずに出力信号からノイズ成分が除去された状態の欠陥部
分信号を示す欠陥検出信号を安定して精度良く得られる
ようになる。
ば、磁気ヘッドの取り付け位置の調整に応じて回路の調
整を行った後、通常の使用状態において比較信号（閾
値）のレベルを出力信号に含まれるノイズ成分信号のレ
ベルより幾分高めに設定できるようにしているので、磁
気ヘッドの取り付け状態や温度変化等による影響を被ら
ずに出力信号からノイズ成分が除去された状態の欠陥部
分信号を示す欠陥検出信号を安定して精度良く得られる
ようになる。
第１図は本考案の一実施例に係る磁気センサ回路の基本
構成を示した回路ブロック図、第２図は第１図に示す磁
気センサ回路に備えられる電圧比較回路の入出力応答の
様子を示したタイムチャートであって，（ａ）は入力側
の応答図，（ｂ）は出力側の応答図であり、第３図は従
来の磁気センサ回路の基本構成を示した回路ブロック
図、第４図は第３図に示す磁気センサ回路に備えられる
電圧比較回路の入出力応答の様子を示したタイムチャー
トであって，（ａ）は入力側の応答図，（ｂ）は出力側
の応答図である。 １…磁気記録媒体、２…磁気ヘッド、３…増幅回路、４
…電圧比較回路、５…出力信号、６…比較回路、7,15…
欠陥検出信号、8a,8b,8a′,8b′…欠陥部分信号、9a,9
b,9a′、9b′…ノイズ成分信号、10…整流回路、11…積
分回路、12…可変減衰回路、13…減衰出力信号、14…比
較信号。
構成を示した回路ブロック図、第２図は第１図に示す磁
気センサ回路に備えられる電圧比較回路の入出力応答の
様子を示したタイムチャートであって，（ａ）は入力側
の応答図，（ｂ）は出力側の応答図であり、第３図は従
来の磁気センサ回路の基本構成を示した回路ブロック
図、第４図は第３図に示す磁気センサ回路に備えられる
電圧比較回路の入出力応答の様子を示したタイムチャー
トであって，（ａ）は入力側の応答図，（ｂ）は出力側
の応答図である。 １…磁気記録媒体、２…磁気ヘッド、３…増幅回路、４
…電圧比較回路、５…出力信号、６…比較回路、7,15…
欠陥検出信号、8a,8b,8a′,8b′…欠陥部分信号、9a,9
b,9a′、9b′…ノイズ成分信号、10…整流回路、11…積
分回路、12…可変減衰回路、13…減衰出力信号、14…比
較信号。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 石黒 銀矢 横須賀市武１丁目2356番地 日本電信電 話株式会社複合通信研究所内 (56)参考文献 特開 昭59−52775（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】磁気記録媒体の磁性層から磁性パターンを
読み取る磁気ヘッドからの読み取り出力を増幅して出力
信号を得る増幅回路と、前記出力信号を整流・積分して
比較信号を出力する整流・積分回路と、前記出力信号を
所定値減衰して減衰出力信号を出力する可変減衰回路
と、前記比較信号及び前記減衰出力信号の電圧を比較し
て欠陥検出信号を出力する電圧比較回路とを含むことを
特徴とする磁気センサ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986115194U JP2528685Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | 磁気センサ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986115194U JP2528685Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | 磁気センサ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6324701U JPS6324701U (ja) | 1988-02-18 |
| JP2528685Y2 true JP2528685Y2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=30998616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986115194U Expired - Lifetime JP2528685Y2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | 磁気センサ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2528685Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5952775A (ja) * | 1982-09-20 | 1984-03-27 | Nec Corp | 磁気デイスク欠陥検査装置 |
-
1986
- 1986-07-29 JP JP1986115194U patent/JP2528685Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6324701U (ja) | 1988-02-18 |
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