JPH0697646A - 電子部品装着装置 - Google Patents

電子部品装着装置

Info

Publication number
JPH0697646A
JPH0697646A JP24096592A JP24096592A JPH0697646A JP H0697646 A JPH0697646 A JP H0697646A JP 24096592 A JP24096592 A JP 24096592A JP 24096592 A JP24096592 A JP 24096592A JP H0697646 A JPH0697646 A JP H0697646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
electronic components
electronic component
mounting
head
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24096592A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Hori
裕幸 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP24096592A priority Critical patent/JPH0697646A/ja
Publication of JPH0697646A publication Critical patent/JPH0697646A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】電子部品の種類に応じて分解能と装着速度とを
変更できるとともに、装着の信頼性の高い電子部品装着
装置を提供することにある。 【構成】端子50、54を有する電子部品49、52に
応じて異なった分解能を有する駆動源によって個別に駆
動され、電子部品49、52を保持してプリント基板3
8に装着する複数の装着ヘッド29、30と、プリント
基板38に装着された電子部品49、52を仮はんだ付
けする仮はんだ付けヘッド30と、電子部品49、50
の仮はんだ付けに先立って電子部品50の端子54を測
定用レ−ザ光を用いて計測する端子計測部39と、変形
した端子54に整形用レ−ザ光を照射して端子54を整
形する端子整形部40、40とを具備した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、QFP(Quad
Flat Package) 等の電子部品を基板に装着する電子部品
装着装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、電子部品を基板に装着する電子
部品装着装置(以下、装着装置と称する)が知られてお
り、この種の装着装置には、例えば図10(a)及び
(b)に示すようなX−Yロボット1が備えられてい
る。このX−Yロボット1には装着ヘッド2が設けられ
ており、装着ヘッド2には吸着ノズル3が下向に突設さ
れている。さらに、吸着ノズル3は自在に回動変位す
る。そして、装着ヘッド2は直交する二方向に移動し、
吸着ノズル3が任意の位置に位置決めされる。
【0003】多くの場合、一台の装着装置には一台のX
−Yロボット1が備えられており、例えば小型な電子部
品からIC等の大型な電子部品までが、一つの吸着ノズ
ル3によって吸着される。
【0004】また、図11に示すように、電子部品4の
位置決めは認識カメラ5を用いて行われ、認識カメラ5
は電子部品4の全体或いは一部の画像を取込む。そし
て、認識カメラ5の出力を基にして画像処理が行われ、
電子部品4が位置出しされる。この後、電子部品4は、
クリ−ムはんだが印刷されたプリント基板(図示しな
い)の所定位置に、所定の姿勢で装着される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な従来の装着装置には以下のような不具合があった。
【0006】すなわち、従来の装着装置においては、X
−Yロボットと装着ヘッドとがそれぞれ一台ずつ備えら
れており、一台の装着装置においては、取扱われる電子
部品の種類に関係なく、分解能と装着速度とが一定だっ
た。そして、分解能の向上と装着の高速化とは相反して
おり、分解能を高めれば装着速度が低下し、装着速度を
高めれば分解能が低下していた。したがって、分解能の
向上と装着の高速化とを両立することが困難だった。
【0007】また、電子部品はクリ−ムはんだを介して
プリント基板上に装着されるため、基板の搬送時の振動
により、電子部品が位置ずれすることがあった。そし
て、この位置ずれを原因として、回路不良が生じること
があった。
【0008】さらに、一般に電子部品の端子は、はんだ
めっきされるが、はんだめっき処理時に端子の隅部等に
はんだが過度に付着しやすい。このため、電子部品のは
んだ付け時に、はんだ付け不良が生じることがあった。
【0009】本発明の目的とするところは、電子部品の
種類に応じて分解能と装着速度とを変更できるととも
に、装着の信頼性の高い電子部品装着装置を提供するこ
とにある。
【0010】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために本発明は、端子を有する電子部品に応じて
異なった分解能を有する駆動源によって個別に駆動さ
れ、電子部品を保持して基板に装着する複数の装着ヘッ
ドと、基板に装着された電子部品を仮はんだ付けする仮
はんだ付けヘッドと、電子部品の仮はんだ付けに先立っ
て電子部品の端子を第1のレ−ザ光を用いて計測する端
子計測部と、変形した端子に第2のレ−ザ光を照射して
端子を整形する端子整形部とを具備したことにある。こ
うすることによって本発明は、電子部品の種類に応じて
分解能と装着速度とを変更できるとともに、装着の信頼
性を向上できるようにしたことにある。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例の要部を図1〜図9
に基づいて説明する。
【0012】図1〜図9は本発明の一実施例の要部を示
すもので、図1及び図2中の符号11は位置決めステ−
ジ、図3中の符号12は計測整形部である。これらのう
ち、図1及び図2中の位置決めステ−ジ11は、本体1
3上に第1〜第3の三つのX−Yステ−ジ(以下では、
それぞれを第1ステ−ジ、第2ステ−ジ、及び、第3ス
テ−ジと称する。)14、15、16を備えている。
【0013】第1〜第3ステ−ジ14〜16は本体13
に搭載されている。さらに、各ステ−ジ14〜16に
は、それぞれ駆動源としてのX軸モ−タ17〜19と同
じく駆動源としてのY軸モ−タ20〜22が備えられて
おり、各モ−タ17〜22は出力軸23〜28をそれぞ
れ独立に回転させる。そして、第3ステ−ジ16の各モ
−タ19、22の分解能は、第1ステ−ジ14の各モ−
タ17、20の分解能よりも高く設定されている。
【0014】また、第1ステ−ジ14には小型電子部品
対応の装着ヘッド(以下、小型部品用ヘッドと称する)
29が備えられており、第2ステ−ジ15には仮はんだ
付ヘッド30が備えられている。さらに、第3ステ−ジ
16には大型電子部品対応の装着ノズル(以下、大型部
品用ヘッドと称する)31が備えられている。
【0015】小型部品用ヘッド29は駆動源としてのθ
軸モ−タ32と吸着ノズル33とを有しており、吸着ノ
ズル33を下向きに突出させている。吸着ノズル33は
負圧源に接続されている。また、吸着ノズル33は、第
1ステ−ジ14の駆動に伴ってX軸方向及びY軸方向に
移動し、任意の位置に位置決めされる。さらに、吸着ノ
ズル33は、θ軸モ−タ32の駆動力を伝達されて回動
変位する。
【0016】仮はんだ付ヘッド30は下向きにレ−ザ光
を照射する。さらに、仮はんだ付ヘッド30は、第2ス
テ−ジ15の駆動に伴ってX軸方向及びY軸方向に移動
し、任意の位置に位置決めされる。
【0017】大型部品用ヘッド29は、小型部品用ヘッ
ド29と同様にθ軸モ−タ34と吸着ノズル35とを有
しており、吸着ノズル35を下向きに突出させている。
吸着ノズル35は負圧源に接続されている。また、吸着
ノズル35は、第3ステ−ジ16の駆動に伴ってX軸方
向及びY軸方向に移動し、任意の位置に位置決めされ
る。さらに、吸着ノズル35は、θ軸モ−タ34の駆動
力を伝達されて回動変位する。そして、大型部品用ヘッ
ド29の吸着ノズル35は小型部品用ヘッド29の吸着
ノズル33よりも太く設定されている。
【0018】また、位置決めステ−ジ11は図2に示す
ように基板搬送コンベア36及び電子部品供給部37と
組合わされており、基板搬送コンベア36及び電子部品
供給部37は位置決めステ−ジ11の下方に配置されて
いる。基板搬送コンベア36は位置決めステ−ジ11の
X軸方向に沿って配設されており、基板としてのプリン
ト基板38をX軸方向に沿って搬送する。また、基板電
子部品供給部37は基板搬送コンベア36の一端部に配
置されている。
【0019】前記測定整形部12には、端子測定部とし
てのリ−ド測定部39と、端子整形部としての二つのリ
−ド整形部40、40が備えられており、リ−ド測定部
39はリ−ド測定部39の間に配置されている。さら
に、これらリ−ド測定部39、及び、リ−ド整形部4
0、40はスライダ41の上に搭載されており、図中に
矢印Aで示すようにスライダ41と一体に且つ一方向に
スライドする。
【0020】リ−ド測定部39には二組のリ−ド測定器
42、42が備えられている。リ−ド測定器42は、図
4中に示すように第1のレ−ザ光としての測定用レ−ザ
光43を上向きに出力する測定用レ−ザ発振器44と、
測定用レ−ザ光43を受けるレ−ザ受光器45とからな
る。
【0021】一方、リ−ド整形部40、40には整形用
レ−ザ発振器46、46がそれぞれ備えられており、こ
のレ−ザ発振器46、46は第2のレ−ザ光としての整
形用レ−ザ光を上向きに出力する。ここで、整形用レ−
ザ光の図示は省略する。
【0022】また、測定整形部12にはガラスステ−ジ
47受光板48とが備えられている。ガラスステ−ジ4
7は例えば透明な材質からなり、受光板48は例えば不
透明な材質からなる。ガラスステ−ジ47はリ−ド測定
部39、及び、リ−ド整形部40、40の上方に位置し
ており、上記測定部39、及び、上記整形部40、40
のスライド方向に対して水平に向けられている。さら
に、受光板48はガラスステ−ジ47よりも上方に位置
しており、ガラスステ−ジ47に対して略平行に向けら
れている。つぎに、上述の位置決めステ−ジ11と計測
整形部12とを備えた部品装着装置の作用を説明する。
【0023】まず、図8中に示すように、チップ部品4
9等の小型部品がプリント基板38に装着される場合に
は、第1ステ−ジ14が駆動される。小型部品用装着ヘ
ッド29が所定の位置に移動し、吸着ノズル33がチッ
プ部品49を先端に吸着する。小型部品用装着ヘッド2
9はチップ部品49を、基板搬送コンベア36に載せら
れたプリント基板38の上に移動させる。チップ部品4
9は、第1ステ−ジ14によってXYθ軸方向に位置決
めされ、プリント基板38の所定位置に載置される。プ
リント基板38にはクリ−ムはんだが予め供給されてお
り、チップ部品49はクリ−ムはんだを介してプリント
基板38に載せられる。
【0024】第1ステ−ジ14が駆動される一方で、第
2ステ−ジ15も駆動される。第2ステ−ジ15は、基
板搬送コンベア36上に載せられたプリント基板38の
上に、仮はんだ付ヘッド30を移動させる。仮はんだ付
けヘッド30は、チップ部品49の端子50、50に対
して位置合せされ、仮はんだ付けヘッド30からチップ
部品49の端子50、50にレ−ザ光が照射される。そ
して、クリ−ムはんだが加熱されて溶融し、チップ部品
49が基板38に接合される。ここで、図8中の符号5
1ははんだ付け部を示している。
【0025】また、例えば図8中のQFP(Quad Flat P
ackage) 52のような大型電子部品が装着される場合に
は、第3ステ−ジ16が駆動される。そして、大型部品
用装着ヘッド31が所定の位置に移動し、吸着ノズル3
5がQFP52を先端に吸着する。大型部品用装着ヘッ
ド21はQFP52を、プリント基板38の上に移動さ
せる。
【0026】QFP52は、第3ステ−ジ16によって
XYθ軸方向に位置決めされる。QFP52の位置決め
は、チップ部品49の場合に比べて、高分解能で行われ
る。そして、QFP52は、プリント基板38の所定位
置にクリ−ムはんだを介して載置される。
【0027】QFP52のはんだ付けは、チップ部品4
9の場合と同様に第2ステ−ジ15の仮はんだ付けヘッ
ド30によって行われる。ここで、図8中の符号53は
はんだ付け部を示している。つぎに、計測整形部12に
ついて、大型電子部品(QFP52)を用いて説明す
る。
【0028】図3〜図5中に示すように、計測整形部1
2においては、QFP52がガラスステ−ジ47上に載
せられる。リ−ド測定部39及びリ−ド整形部40、4
0がスライダ41に沿って一体に移動し、リ−ド測定部
39がQFP52の下方に位置決めされる。リ−ド測定
器42が駆動され、図5中に示すように測定用レ−ザ発
振器44からQFP52のリ−ド54に向けて測定用レ
−ザ光43が出力される。
【0029】リ−ド54の下面で反射した測定用レ−ザ
光43は、レ−ザ受光器45に入射する。そして、レ−
ザ受光器45に入射した測定用レ−ザ光43を基にし
て、リ−ド54の高さが測定される。
【0030】レ−ザ受光器45は測定用レ−ザ光43を
光電変換する。そして、レ−ザ受光器45から出力され
る信号の波形は方形であり、この信号の電圧は図6に示
すようにリ−ド54の高さに応じて変化する。
【0031】つまり、レ−ザ受光器45の出力電圧は、
リ−ド54…の状態に応じて異なる。リ−ド54…が正
常に成形されている場合の信号の電圧、幅、及び、周期
をそれぞれH、L、Pとすると、リ−ド浮きが生じてい
る場合には、電圧HがH1 (<H)に変化する。また、
リ−ド曲りが生じている場合には、周期PがP1 (≠
P)に変化し、リ−ド54…がねじれている場合には、
波形が変形し、パルスの両端の値がH2 、H3 (H2
3 )になる。さらに、リ−ド54…の幅が異常な場合
には、パルス幅LがL1 に変化する。
【0032】また、リ−ド54…に当らなかった測定用
レ−ザ光43は、受光板48に達する。受光板48に
は、図7に示すようにQFP52の影が映し出され、Q
FP52の形状が表れる。そして、受光板48に映し出
された像を基にして、リ−ド54…の形状が計測され
る。
【0033】リ−ド整形部40、40の両方、或いはい
ずれか一方は、QFP52の下に案内され、整形用レ−
ザ光をQFP52のリ−ド54に向けて照射する。そし
て、リ−ド54のめっきのはみ出た部分が、整形用レ−
ザ光によって整形される。リ−ド54…の整形は、前述
のリ−ド54…の計測が行われている一方で行われる。
つまり、ガラスステ−ジ47上の複数のQFP52、5
2のリ−ド54…に対して計測、或いは整形が行われ
る。こののち、QFP52は、前述のように、プリント
基板38に装着される。
【0034】すなわち、上述のような位置決めステ−ジ
11と計測整形部12とを有する電子部品装着装置にお
いては、位置決めステ−ジ11に複数のヘッド29、3
0が備えられ、各ヘッド29、30が電子部品49、5
2の大きさに応じて異なった分解能を有している。さら
に、両ヘッド29、30は、第1ステ−ジ及び第3ステ
−ジによって個別に駆動される。したがって、電子部品
49、52の種類に応じて分解能と装着速度とを変更す
ることができる。そして、従来の装着装置と比較して分
解能と装着速度とを共に高めることができ、分解能の向
上と装着の高速化とを両立することが可能になる。
【0035】また、位置決めステ−ジ11に仮はんだ付
けヘッド30が設けられており、この仮はんだ付けヘッ
ド30が、電子部品49、52を装着の直後に仮はんだ
付けするので、プリント基板38の搬送中において、電
子部品49、52が従来よりも強固に固定されている。
したがって、プリント基板38の搬送中に、電子部品4
9、52が位置ずれしにくい。そして、位置ずれを原因
とした回路不良の発生を防止することができる。
【0036】さらに、計測整形部12にはリ−ド測定部
39とリ−ド整形部40、40とが備えられており、装
着に先立ってリ−ド測定部39により発見された不良の
リ−ド54が、リ−ド整形部40、40によって整形さ
れる。したがって、電子部品48、52のはんだ付け時
に、はんだ付け不良が生じることを防止できる。そし
て、電子部品49、52の装着の信頼性を向上すること
ができる。なお、本発明は、要旨を逸脱しない範囲で種
々に変形することが可能である。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、端子を有
する電子部品に応じて異なった分解能を有する駆動源に
よって個別に駆動され、電子部品を保持して基板に装着
する複数の装着ヘッドと、基板に装着された電子部品を
仮はんだ付けする仮はんだ付けヘッドと、電子部品の仮
はんだ付けに先立って電子部品の端子を第1のレ−ザ光
を用いて計測する端子計測部と、変形した端子に第2の
レ−ザ光を照射して端子を整形する端子整形部とを具備
したものである。したがって本発明は、電子部品の種類
に応じて分解能と装着速度とを変更できるとともに、装
着の信頼性を向上できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の電子部品装着装置の位置決
めステ−ジを示す平面図。
【図2】本発明の一実施例の電子部品装着装置の位置決
めステ−ジを示す側面図。
【図3】本発明の一実施例の電子部品装着装置の計測整
形部12を示す側面図。
【図4】計測整形部の作用を示す説明図。
【図5】計測整形部の作用を示す説明図。
【図6】リ−ド測定器の出力波形とリ−ドの形状との関
係を示すグラフ。
【図7】受光板に映し出されたQFPの影を示す説明
図。
【図8】電子部品が装着されたプリント基板を示す斜視
図。
【図9】第1〜第3ステ−ジの各駆動信号を示すタイミ
ングチャ−ト。
【図10】(a)は従来の位置決めステ−ジを示す平面
図、(b)は同じく従来の位置決めステ−ジを示す側面
図。
【図11】従来の電子部品認識方法を示す説明図。
【符号の説明】
29…小型部品用ヘッド(装着ヘッド)、30…仮はん
だ付けヘッド、31…大型部品用ヘッド(装着ヘッ
ド)、38…プリント基板(基板)、39…リ−ド計測
部(端子計測部)、40、40…リ−ド整形部(端子整
形部)、49、52…電子部品、50、54…端子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 端子を有する電子部品に応じて異なった
    分解能を有する駆動源によって個別に駆動され、上記電
    子部品を保持して基板に装着する複数の装着ヘッドと、
    上記基板に装着された上記電子部品を仮はんだ付けする
    仮はんだ付けヘッドと、上記電子部品の仮はんだ付けに
    先立って上記電子部品の端子を第1のレ−ザ光を用いて
    計測する端子計測部と、変形した上記端子に第2のレ−
    ザ光を照射して上記端子を整形する端子整形部とを具備
    した電子部品装着装置。
JP24096592A 1992-09-09 1992-09-09 電子部品装着装置 Pending JPH0697646A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24096592A JPH0697646A (ja) 1992-09-09 1992-09-09 電子部品装着装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24096592A JPH0697646A (ja) 1992-09-09 1992-09-09 電子部品装着装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0697646A true JPH0697646A (ja) 1994-04-08

Family

ID=17067293

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24096592A Pending JPH0697646A (ja) 1992-09-09 1992-09-09 電子部品装着装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0697646A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012015477A (ja) * 2010-05-31 2012-01-19 Tosei Electro Beam Kk レーザはんだ付け装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012015477A (ja) * 2010-05-31 2012-01-19 Tosei Electro Beam Kk レーザはんだ付け装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5086559A (en) Electrical component placing apparatus and method of placing electrical component
KR20190110026A (ko) 다이 본딩 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
US5247844A (en) Semiconductor pick-and-place machine calibration apparatus
TW202145393A (zh) 晶片封裝的檢測系統以及晶片封裝的檢測方法
US6138892A (en) Method for mounting an integrated circuit from a tape carrier package on a printed circuit board
JP4917071B2 (ja) ヘッド配置決定方法およびプログラム
CN111508861B (zh) 半导体元件贴合设备
JPH0697646A (ja) 電子部品装着装置
WO2008105744A2 (en) Method and apparatus for assembling surface mount devices
KR100225596B1 (ko) 솔더볼 범핑(Solder Ball Bumping)장비의 솔더볼 안착검사장치
JP2952049B2 (ja) プリント基板回路の組立方法及び装置
JPH06265324A (ja) 電子部品実装装置及び電子部品実装状態の検査方法
JP2002139453A (ja) 実装検査装置および実装検査方法
JP4203568B2 (ja) 半導体素子の位置決め装置
US4762267A (en) Wire bonding method
JPH0677620A (ja) 電子部品実装構造
JP2839686B2 (ja) フィルムキャリヤテープおよびこのフィルムキャリヤテープを用いた半導体装置
Lau et al. No clean mass reflow of large over molded plastic pad array carriers (OMPAC)
JP3781232B2 (ja) 部品搭載装置
JPH0854442A (ja) 検査装置
JPS6369293A (ja) 電子部品位置決め方法
JPH09219580A (ja) 半田供給装置および供給方法
JPH06216197A (ja) フリップチップボンディング装置
JPS6171694A (ja) 自動検査機能付きワイヤボンダ
JPH02214192A (ja) 半導体装置