JP2952049B2 - プリント基板回路の組立方法及び装置 - Google Patents

プリント基板回路の組立方法及び装置

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JP2952049B2
JP2952049B2 JP2415427A JP41542790A JP2952049B2 JP 2952049 B2 JP2952049 B2 JP 2952049B2 JP 2415427 A JP2415427 A JP 2415427A JP 41542790 A JP41542790 A JP 41542790A JP 2952049 B2 JP2952049 B2 JP 2952049B2
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10W74/00Encapsulations, e.g. protective coatings

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  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板にベアチ
ップ(パッケージや樹脂コートの無いIC、トランジス
タ、抵抗、コンデンサ等の裸チップ)やチップ部品(パ
ッケージや樹脂コート有り)等を搭載したプリント基板
回路(例えばハイブリッドIC)を連続的に組み立てる
ためのプリント基板回路の組立方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
プリント基板回路の組立においては、プリント基板に電
子部品を装着後、はんだ処理工程やパッケージング工程
は一括して電子部品装着工程とは切り離された工程とし
て実施するのが一般であり、また、プリント基板回路の
組立後に検査を行わなければならないが、検査工程も別
個に独立して実施するのが一般的であった。このため、
工程の連続化が難しく各工程が分断されていた。この結
果、プリント基板の一時保管や次工程への移送等の付帯
作業が多くなる嫌いがあり、工程管理も面倒であった。
【0003】本発明は、上記の点に鑑み、プリント基板
へのベアチップやチップ部品の搭載、はんだ付け、検
査、パッケージングに至る各工程を各プリント基板につ
いて連続的に実施することにより、無駄な付帯作業を削
減して生産性の向上及び省力化を図ることができ、かつ
高密度、高精度実装に適したプリント基板回路の組立方
法及び装置を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のプリント基板回路の組立方法は、大形基板
から所定形状で所定パターンを持つプリント基板に分割
して該プリント基板にベアチップを搭載するベアチップ
搭載工程と、チップ部品を搭載するチップ部品搭載工程
と、前記ベアチップ及びチップ部品搭載後のプリント基
板回路にパッケージを設けるパッケージング工程と、
記ベアチップ及びチップ部品搭載後のプリント基板回路
を検査する検査工程とを各プリント基板について順次連
続的に実行するとともに、前記ベアチップ搭載工程では
前記プリント基板を分割した際の分割精度、当該プリン
ト基板のパターン精度、前記ベアチップ装着の位置精度
を画像処理で検査し、前記チップ部品搭載工程では前記
チップ部品の装着位置を画像処理で検査することを特徴
とするものである。前記プリント基板回路の組立方法に
おいて、前記パッケージング工程を実行する前に前記検
査工程にて前記ベアチップ及びチップ部品搭載後のプリ
ント基板回路を検査するとよい。 前記プリント基板回路
の組立方法において、前記ベアチップ搭載工程が、前記
プリント基板に装着されたベアチップとプリント基板側
パターンとの接続を行うワイヤーボンド工程と、前記ベ
アチップの表面に樹脂コートを設けるポッティング工程
とを含むものであるとよい。
【0005】また、本発明のプリント基板回路の組立装
置は、大形基板から所定形状で所定パターンを持つプリ
ント基板に分割するとともに前記プリント基板を分割し
た際の分割精度、当該プリント基板のパターン精度を画
像処理で検査する基板分割供給機と、前記プリント基板
にベアチップを装着するとともに前記ベアチップ装着の
位置精度を画像処理で検査するベアチップ装着機と、
プリント基板側パターンと前記ベアチップとを接続す
るとともにボンディング不良及び位置精度を画像処理で
検査するワイヤーボンダーと、前記ベアチップ表面に樹
脂コートを施すポッティング装置部と、前記樹脂コート
を硬化させる樹脂キュアー装置部と、前記プリント基板
にクリームはんだを塗布するはんだ塗布機と、当該プリ
ント基板のクリームはんだ塗布位置に対応させてチップ
部品を装着するとともに当該チップ部品の位置精度を画
像処理で検査するチップ部品装着機と、前記プリント基
板にリードフレームを装着するとともにリードフレーム
位置精度及び曲がりを画像処理で検査するリードフレー
ム装着機と、クリームはんだを溶融させて前記チップ部
品をプリント基板にはんだ付けするはんだリフロー炉
と、前記チップ部品を搭載、接続したプリント基板回路
の検査を行う検査装置部と、前記プリント基板回路にパ
ッケージを設けるパッケージモールド装置部と、前記リ
ードフレームの不要部分を除去して残ったリードを折り
曲げるカットフォーミング装置部とを備え、プリント基
板を連続的に処理可能な如くライン配置とした構成であ
る。前記プリント基板回路の組立装置において、前記プ
リント基板に異形部品を装着するとともに当該異形部品
の位置精度を画像処理で検査する異形部品装着機をさら
に備える構成としてもよい。
【0006】
【作用】本発明においては、基板分割工程、ベアチップ
やチップ部品を搭載する工程からパッケージング工程、
検査工程に至るまで各プリント基板につき順次連続的に
実行可能であり、各工程が分断されている場合のように
プリント基板を保管したり、移送したりする手間が不要
となり、工程管理が容易となって、省力化を図ることが
でき、ひいては生産性の向上を図り得る。また、プリン
ト基板として多層基板を用い、パッケージを持たないベ
アチップを搭載することによって隣接部品ピッチを必要
最小限とし、かつ各ベアチップの狭ピッチ、多ピン化等
を図ることにより、高密度、高精度実装にも十分対応す
ることができる。さらに、部品装着や検査に関しては、
プリント基板設計時のCAD(computer-aided desig
n)情報、製造に際しての技術情報であるCAM(compu
ter-aided manufacture)、CAT(computer-aided te
chnology)情報を利用することにより、各部品の装着と
並行して各種検査を実施するので、次工程に不良品を
流さない、トラブルの情報をリアルタイムにフィード
バックし自己復帰する自己診断機能を持つ、自己完結型
の知的生産システムを構成できる。
【0007】
【実施例】以下、本発明に係るプリント基板回路の組立
方法及び装置の実施例を図面に従って説明する。
【0008】図1は本発明の第1実施例の工程図、図2
は図1の工程を実施する装置を示す。図1の各工程は大
別してベアチップ(裸チップ)をプリント基板に装着し
所要の接続配線や樹脂コートを施すベアチップ搭載工程
1、チップ部品をプリント基板に装着してはんだ接続す
るチップ部品搭載工程2及び部品搭載後のプリント基板
回路にパッケージを設けるパッケージング工程3に分け
ることができる。ここで、ベアチップ搭載工程1は基板
ストック工程#1乃至UVキュア工程#6からなってお
り、チップ部品搭載工程2ははんだ塗布工程#7乃至タ
イバーカット工程#12からなっており、パッケージン
グ工程3はパッケージモールド工程#13乃至包装工程
#17からなっている。
【0009】図2の装置について説明する。左端から2
0は大形基板から所定形状で所定パターンを持つプリン
ト基板に分割して供給する基板分割供給機、21はプリ
ント基板上にベアチップを装着するベアチップ装着機、
22はベアチップとプリント基板上パターンとの間の接
続を行うワイヤーボンダー、23はプリント基板上に搭
載されたベアチップに紫外線硬化型樹脂(以下UV樹脂
という)を塗布するためのポッティング装置部、24は
UV樹脂に紫外線を照射して硬化させるUV照射装置部
である。また、25はプリント基板の必要箇所にクリー
ムはんだを塗布するはんだ塗布機、26はクリームはん
だ塗布位置に対応させてチップ部品を装着するチップ部
品装着機、27は異形部品(寸法、形状が通常部品と異
なっている部品)を搭載する異形部品装着機、28は各
部品を搭載したプリント基板にリードフレームを装着す
るリードフレーム装着機、29は熱風によりクリームは
んだを溶融して各部品のはんだ付けを行うリフロー炉で
ある。また、30は各部品の搭載接続後のプリント基板
回路について特性検査等の諸検査を実行する検査装置
部、31は検査終了後の部品を搭載したプリント基板回
路にパッケージを樹脂モールドで一体化するパッケージ
モールド装置部、32はパッケージ付きプリント基板回
路から不要なリードフレーム部分を切断除去し、残った
リードを折り曲げて、最終製品とするカットフォーミン
グ装置部である。これら基板分割供給機20乃至カット
フォーミング装置部32は、各プリント基板を連続処理
可能な如くライン配置され、プリント基板を1枚毎(又
は複数枚毎)順次処理、移送して行くものである(ワン
バイワン/タクト生産方式)。
【0010】次ぎに、各工程を順を追って説明する。基
板分割工程#2を実施する基板分割供給機20では、基
板ストック工程#1にて多段重ねで保管されていた図3
(A)の如き大形基板40を分割して同図(B)の所定
形状で所定パターンのプリント基板41を作成し、プリ
ント基板41を一個毎ベアチップ装着機21に供給す
る。ここで、基板分割供給機20は基板分割工程#2を
実施するのと並行して大形基板40を分割して所定形状
のプリント基板41を作成した際の分割精度及びプリン
ト基板のパターン精度を検査する。これらの検査は撮像
装置でプリント基板の画像を画像処理装置に取り込み、
プリント基板の基準寸法及び基準パターンと比較するこ
とにより実施できる。ベアチップ装着工程#3を実行す
るベアチップ装着機21は、図4に示す如くパッケージ
の無い(外装の無い)ベアチップ42を保持する装着ヘ
ッド50とこれと一体化された撮像装置51をステーシ
ョン52に対して移動自在に設けた構造を有し、ベアチ
ップ42を装着ヘッド50で保持して基板設計時のCA
D情報に基づきプリント基板41の指定位置に図3
(C)の如く装着する。ベアチップ装着機21はベアチ
ップ装着工程#3を実行するのと並行してプリント基板
上のベアチップ装着に関する位置精度を検査する。この
検査は撮像装置51でプリント基板41の画像を画像処
理装置に取り込み、実際のベアチップ装着位置を認識
し、前記CAD情報と対比することにより実行できる。
ワイヤーボンド工程#4を実行するワイヤーボンダー2
2はベアチップ装着後のプリント基板を受け取り図3
(C)に図示のようにベアチップ42とプリント基板上
のパターンとをワイヤーボンディングにより接続する。
ワイヤーボンダー22はワイヤーボンド工程#4を実行
するのと並行してボンディング不良及び位置精度につい
て検査する。これらの検査は撮像装置でプリント基板上
のベアチップ周辺の画像を画像処理装置に取り込み、ワ
イヤーボンディング状況を認識することにより実施でき
る。ワイヤーボンディング終了後、プリント基板41は
ポッティング工程#5を実行するポッティング装置部2
3に送られ、図3(D)のようにベアチップ上にUV樹
脂43を塗布する。ポッティング装置部23はポッティ
ング工程#5を実行するのと並行してワイヤーボンディ
ングによる配線についての断線不良を検査する。UV樹
脂43が塗布されたプリント基板41はUV照射装置部
24に送られ、UVキュア工程#6が実行される。これ
によりベアチップの部分が、硬化したUV樹脂の被膜
(樹脂コート)により保護される。このようにしてベア
チップ搭載工程1が終了する。
【0011】その後、プリント基板は、はんだ塗布工程
#7を実行するはんだ塗布機25に送られ、プリント基
板の所定箇所にはんだ塗布機25が備えるディスペンサ
によってクリームはんだが適量塗布される。チップ部品
装着工程#8を実行するチップ部品装着機26は、クリ
ームはんだ塗布済みプリント基板を受け入れ、基板設計
時のCAD情報を利用して図3(E)のようにチップ部
品44をプリント基板41のクリームはんだ塗布位置に
装着する。同様に異形部品装着工程#9を実行する異形
部品装着機27により異形部品の装着が行なわれる。チ
ップ部品装着機26及び異形部品装着機27は、それぞ
れチップ部品装着工程#8、異形部品装着工程#9を実
行するのと並行して位置精度、欠品、姿勢不良を検査す
る。これらの検査は、第4図の場合と同様にチップ部品
及び異形部品を装着するための装着ヘッドに撮像装置を
一体化し、チップ部品及び異形部品の周辺の画像を撮像
装置で撮像して画像処理装置に取り込み、実際のチップ
部品及び異形部品の装着位置及び装着状況を認識し、前
記CAD情報と対比することにより実施できる。チップ
部品及び異形部品の装着が終了したプリント基板はリー
ドフレーム挿入工程#10を実施するリードフレーム挿
入機28に送られ、ここで図3(F)のようにリードフ
レーム45がプリント基板41側縁の電極部に対し装着
される。リードフレーム挿入機28はリードフレーム挿
入工程#10を実行するのと並行してリードフレーム位
置精度及びリードフレーム曲がりを検査する。これらの
検査は撮像装置でプリント基板側縁に挿入されたリード
フレーム45の画像を画像処理装置に取り込み、リード
フレーム位置及び姿勢を認識することにより実施でき
る。リードフレーム装着後のプリント基板は、はんだリ
フロー工程#11を実施するはんだリフロー炉29に通
炉され、ここでクリームはんだを熱風で溶融することに
よりはんだ付けが行なわれる。前記リフロー炉29は、
窒素ガスを内部に導入したチャンバー構造であって、炉
内の酸素濃度を低減してはんだの酸化防止を図り、微細
なはんだ付けパターンに対応できるようにしたものであ
る。このリフローによるはんだ付けでプリント基板上の
パターンとチップ部品及び異形部品の電極やリードフレ
ームのリード端部とがそれぞれ接続されて、所定の電気
回路が構成されたプリント基板回路が形成される。はん
だ付け終了後のプリント基板回路は検査装置部30に送
られる。検査装置部30では、タイバーカット工程#1
2を実行して検査に都合の良いようにリードフレーム4
5から一部(又は大部分)のリードを切り離し、その後
でプリント基板検査、リード曲がり検査、はんだ付け検
査及び特性検査が行なわれる。これらの検査のうち外観
に関するものは画像処理で、電気特性に関するものは電
気測定器で実施する。このようにしてチップ部品搭載工
程2が終了する。
【0012】検査装置部30を通過後のプリント基板回
路は、パッケージモールド装置部31に送出され、パッ
ケージモールド装置部31によりパッケージモールド工
程#13及びランナーカット工程#14が実施される。
まず、パッケージモールド工程13では図3(G)のよ
うにプリント基板回路の外装ケースとなるパッケージ4
6が樹脂モールド(例えば射出成形)で作成されること
になる。その後、ランナーカット工程#14で樹脂モー
ルドの際のランナーを切断する。パッケージモールド装
置部31は、パッケージモールド工程#13及びランナ
ーカット工程#14を実行するのと並行して画像処理に
よりリード曲がり及びモールド不良を検査する。パッケ
ージモールド装置部31を出たパッケージ付きプリント
基板回路は、カットフォーミング工程#15を実行する
カットフォーミング装置部32に送出され、ここで図3
(H)のごとくリードフレームのうち必要な各リード4
7の部分以外は切り落とされ、かつ残ったリード47が
折り曲げられた最終製品の形状となる。そして捺印工程
#16及び包装工程#17により捺印、包装されたプリ
ント基板回路が作成されることになる。捺印工程#16
では同時に捺印不良及び特性検査が実施され、パッケー
ジング工程が終了する。
【0013】上記第1実施例の場合、プリント基板とし
て多層基板を採用したり、ベアチップをプリント基板に
搭載するようにして高密度回路を実現でき、例えば部品
隣接ピッチ0.2mm、ピン間0.3mmの高密度、高精度実
装ができる。また、各工程の実行と並行して必要な検査
を行うようにして、自己完結型(自律多機能)小型生産
システムを構成できる。また、プリント基板を1枚毎
(又は複数枚毎)処理し、次工程に移送して行くワンバ
イワン/タクト生産方式であり、各工程毎の基板の保管
を無くし、各工程間の基板の移送を自動化することがで
き、生産工程の省力化を図り得る。また、付帯作業もア
ウトラインロボットによって自動化することが可能であ
る。
【0014】上記第1実施例は1枚のプリント基板に各
種部品を搭載し、樹脂モールドによりパッケージを形成
したが、複数枚のプリント基板を立体的に組み立てた構
造(CMT:Cubic mount technology)とすることも可
能である。この場合を第2実施例として図5に示す。こ
の第2実施例においては、第1図のはんだリフロー工程
#11に続き基板組み込み工程#20において図6の如
く基板を多段状態となるように立体的に支える支持体6
0にモールド前のプリント基板回路61を複数枚組み込
み、その後インサートモールド工程#21において多段
重ねとなったプリント基板回路をインサートモールドし
て図6の仮想線で示すパッケージ62を作成し、それか
ら捺印工程#22で捺印し、特性検査工程#23にて検
査し、包装工程#24にて包装する。
【0015】また、図1の第1実施例で得られたパッケ
ージ付きプリント基板回路をさらに別の大きな基板に搭
載する場合(PCB工程)を図7に第3実施例として示
す。この第3実施例では、基板供給工程#30で供給さ
れた別の基板に対しはんだ印刷工程#31にてクリーム
はんだを印刷し、部品搭載工程#32において第1実施
例で得られたパッケージ付きプリント基板回路を装着
し、さらに必要に応じてその他の部品を搭載し、はんだ
リフロー工程#33にてはんだ付けを行い、特性検査工
程#34にて特性検査する。
【0016】なお、パッケージング工程は、その場でイ
ンサート成形(射出成形)を行なっても良いが、プリン
ト基板回路の状況に対応させて予め成形されたケースを
装着するようにしても良い。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
大形基板から所定形状で所定パターンを持つプリント基
板に分割する工程や、プリント基板へのベアチップやチ
ップ部品の装着、はんだ付け、検査、パッケージングに
至る各工程を各プリント基板について連続的に実施する
ことにより、無駄な付帯作業を削減して生産性の向上及
び省力化を図ることができる。また、基板分割、各部品
の装着と並行して画像処理による各種検査を実行するの
で、次工程に不良品を流さないようにできる。さらに、
ベアチップをプリント基板に装着し、ワイヤーボンディ
ング等で接続することや多層プリント基板を採用するこ
と等によって高密度、高精度実装にも対応できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す工程図である。
【図2】図1に示した各工程を実行するための装置を示
す斜視図である。
【図3】図1の各工程の説明図である。
【図4】ベアチップ装着機を示す正面図である。
【図5】本発明の第2実施例を示す工程図である。
【図6】図5の主要工程の説明図である。
【図7】本発明の第3実施例を示す工程図である。
【符号の説明】
1 ベアチップ搭載工程 2 チップ部品搭載工程 3 パッケージング工程 20 基板分割供給機 21 ベアチップ装着機 22 ワイヤーボンダー 23 ポッティング装置部 24 UV照射装置部 25 はんだ塗布機 26 チップ部品装着機 27 異形部品装着機 28 リードフレーム挿入機 29 リフロー炉 30 検査装置部 31 パッケージモールド装置部 32 カットフォーミング装置部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒谷 真一 東京都中央区日本橋一丁目13番1号テイ ーディーケイ株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−266538(JP,A) 特開 昭57−39543(JP,A) 実開 平2−45676(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H05K 13/00 H01L 21/50

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 大形基板から所定形状で所定パターンを
    持つプリント基板に分割して該プリント基板にベアチッ
    プを搭載するベアチップ搭載工程と、チップ部品を搭載
    するチップ部品搭載工程と、前記ベアチップ及びチップ
    部品搭載後のプリント基板回路にパッケージを設けるパ
    ッケージング工程と、前記ベアチップ及びチップ部品搭
    載後のプリント基板回路を検査する検査工程とを各プリ
    ント基板について順次連続的に実行するとともに、前記ベアチップ搭載工程では前記プリント基板を分割し
    た際の分割精度、当該プリント基板のパターン精度、前
    記ベアチップ装着の位置精度を画像処理で検査し、前記
    チップ部品搭載工程では前記チップ部品の装着位置を画
    像処理で検査すること を特徴とするプリント基板回路の
    組立方法。
  2. 【請求項2】 前記パッケージング工程を実行する前に
    前記検査工程にて前記ベアチップ及びチップ部品搭載後
    プリント基板回路を検査する請求項1記載のプリント
    基板回路の組立方法。
  3. 【請求項3】 前記ベアチップ搭載工程が、前記プリン
    ト基板に装着されたベアチップとプリント基板側パター
    ンとの接続を行うワイヤーボンド工程と、前記ベアチッ
    プの表面に樹脂コートを設けるポッティング工程とを含
    むものである請求項1記載のプリント基板回路の組立方
    法。
  4. 【請求項4】 大形基板から所定形状で所定パターンを
    持つプリント基板に分割するとともに前記プリント基板
    を分割した際の分割精度、当該プリント基板のパターン
    精度を画像処理で検査する基板分割供給機と、 前記プリント基板にベアチップを装着するとともに前記
    ベアチップ装着の位置精度を画像処理で検査するベアチ
    ップ装着機と、前記 プリント基板側パターンと前記ベアチップとを接続
    するとともにボンディング不良及び位置精度を画像処理
    で検査するワイヤーボンダーと、前記 ベアチップ表面に樹脂コートを施すポッティング装
    置部と、前記 樹脂コートを硬化させる樹脂キュアー装置部と、前記 プリント基板にクリームはんだを塗布するはんだ塗
    布機と、当該 プリント基板のクリームはんだ塗布位置に対応させ
    てチップ部品を装着するとともに当該チップ部品の位置
    精度を画像処理で検査するチップ部品装着機と、前記 プリント基板にリードフレームを装着するとともに
    リードフレーム位置精度及び曲がりを画像処理で検査す
    リードフレーム装着機と、 クリームはんだを溶融させて前記チップ部品をプリント
    基板にはんだ付けするはんだリフロー炉と、 前記チップ部品を搭載、接続したプリント基板回路の検
    査を行う検査装置部と、 前記プリント基板回路にパッケージを設けるパッケージ
    モールド装置部と、 前記リードフレームの不要部分を除去して残ったリード
    を折り曲げるカットフォーミング装置部とを備え、 プリント基板を連続的に処理可能な如くライン配置とし
    たことを特徴とするプリント基板回路の組立装置。
  5. 【請求項5】 大形基板から所定形状で所定パターンを
    持つプリント基板に分割するとともに前記プリント基板
    を分割した際の分割精度、当該プリント基板のパターン
    精度を画像処理で検査する基板分割供給機と、 前記プリント基板にベアチップを装着するとともに前記
    ベアチップ装着の位置精度を画像処理で検査するベアチ
    ップ装着機と、前記 プリント基板側パターンと前記ベアチップとを接続
    するとともにボンディング不良及び位置精度を画像処理
    で検査するワイヤーボンダーと、前記 ベアチップ表面に樹脂コートを施すポッティング装
    置部と、前記 樹脂コートを硬化させる樹脂キュアー装置部と、前記 プリント基板にクリームはんだを塗布するはんだ塗
    布機と、当該 プリント基板のクリームはんだ塗布位置に対応させ
    てチップ部品を装着するとともに当該チップ部品の位置
    精度を画像処理で検査するチップ部品装着機と、前記 プリント基板に異形部品を装着するとともに当該異
    形部品の位置精度を画像処理で検査する異形部品装着機
    と、前記 プリント基板にリードフレームを装着するとともに
    リードフレーム位置精 度及び曲がりを画像処理で検査す
    リードフレーム装着機と、 クリームはんだを溶融させて前記チップ部品及び異形部
    品を前記プリント基板にはんだ付けするはんだリフロー
    炉と、前記チップ部品及び異形部品を 搭載、接続したプリント
    基板回路の検査を行う検査装置部と、 前記プリント基板回路にパッケージを設けるパッケージ
    モールド装置部と、 前記リードフレームの不要部分を除去して残ったリード
    を折り曲げるカットフォーミング装置部とを備え、 プリント基板を連続的に処理可能な如くライン配置とし
    たことを特徴とするプリント基板回路の組立装置。
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