JPH0694749A - コンタクトプローブ - Google Patents
コンタクトプローブInfo
- Publication number
- JPH0694749A JPH0694749A JP3031486A JP3148691A JPH0694749A JP H0694749 A JPH0694749 A JP H0694749A JP 3031486 A JP3031486 A JP 3031486A JP 3148691 A JP3148691 A JP 3148691A JP H0694749 A JPH0694749 A JP H0694749A
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- Japan
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- coil spring
- spring
- contact probe
- conductor
- interposed
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、高容量、高電流コンデンサ等の
デバイス及び同デバイス等を具備したプリント配線基板
の電気回路の断線、ショート等を点検するコンパクト化
したコンタクトプローブに関するものである。 【構成】この発明に於いては、中心導体を摺動自在に支
持するコイルスプリングの両端部にフランジ状の絶縁体
を介在させたことを特徴とする。
デバイス及び同デバイス等を具備したプリント配線基板
の電気回路の断線、ショート等を点検するコンパクト化
したコンタクトプローブに関するものである。 【構成】この発明に於いては、中心導体を摺動自在に支
持するコイルスプリングの両端部にフランジ状の絶縁体
を介在させたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、高容量、高電流コン
デンサ等のデバイス及び同デバイス等を具備したプリン
ト配線基板の電気回路の断線、ショート等を点検するコ
ンパクト化したコンタクトプローブに関するものであ
る。
デンサ等のデバイス及び同デバイス等を具備したプリン
ト配線基板の電気回路の断線、ショート等を点検するコ
ンパクト化したコンタクトプローブに関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】プリント配線基板の電気回路の断線、シ
ョート等を点検するため従来からコンタクトプローブが
使用されている。このコンタクトプローブは、プリント
基板検査機の取付板に固定的に装着されるソケツトに嵌
合される胴部外部導体と、この胴部外部導体にコイルス
プリングを介して装着される中心導体（プランジャーコ
ンタクト）とからなり、該中心導体の先端部がプリント
基板の被測定面に押し当てられたときに、中心導体が胴
部外部導体に対して相対移動可能に構成されている。
ョート等を点検するため従来からコンタクトプローブが
使用されている。このコンタクトプローブは、プリント
基板検査機の取付板に固定的に装着されるソケツトに嵌
合される胴部外部導体と、この胴部外部導体にコイルス
プリングを介して装着される中心導体（プランジャーコ
ンタクト）とからなり、該中心導体の先端部がプリント
基板の被測定面に押し当てられたときに、中心導体が胴
部外部導体に対して相対移動可能に構成されている。
【０００３】しかして、高容量、高電流コンデンサ等の
デバイスの検査をする場合には、このコンタクトプロー
ブはその容量に比例して十分対応することのできる大き
さに製作されていたが、近年新素材の開発に伴い、高容
量コンデンサ等のデバイスがチップに近い小型形状の製
品が開発されてきたことから、小型高容量コンデンサ等
デバイスに対応できるコンパクトなコンタクトプローブ
が要求されている。しかしながら、従来のコンタクトプ
ローブを小型化した場合には、高容量コンデンサの検査
をする場合、コンタクトプローブのコイルスプリングに
高電流が流れ、そのためコイルスプリングが発熱溶融す
る問題があった。
デバイスの検査をする場合には、このコンタクトプロー
ブはその容量に比例して十分対応することのできる大き
さに製作されていたが、近年新素材の開発に伴い、高容
量コンデンサ等のデバイスがチップに近い小型形状の製
品が開発されてきたことから、小型高容量コンデンサ等
デバイスに対応できるコンパクトなコンタクトプローブ
が要求されている。しかしながら、従来のコンタクトプ
ローブを小型化した場合には、高容量コンデンサの検査
をする場合、コンタクトプローブのコイルスプリングに
高電流が流れ、そのためコイルスプリングが発熱溶融す
る問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、このよう
な問題を解消しようとするものであり、高容量コンデン
サの検査をすることができるコンパクトに小型化したコ
ンタクトプローブを提供することを目的とする。
な問題を解消しようとするものであり、高容量コンデン
サの検査をすることができるコンパクトに小型化したコ
ンタクトプローブを提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的に沿う本発明の
構成は、筒状の外部導体にコイルスプリングを介して中
心導体を摺動自在に装着してなるコンタクトプローブに
於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ状の
絶縁体を介在させたことを特徴とする。また本発明は、
プリント基板の被測定面に押し当てられるチップ部とソ
ケット内を摺動する摺動部とを具備してなる中心導体
と、前記チップ部と前記ソケットとの間に介装されるコ
イルスプリングとを具備してなるコンタクトプローブに
於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ状の
絶縁体を介在させると共に前記コイルスプリングと前記
中心導体の摺動部との当接面に絶縁体を介在させたこと
を特徴とする
構成は、筒状の外部導体にコイルスプリングを介して中
心導体を摺動自在に装着してなるコンタクトプローブに
於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ状の
絶縁体を介在させたことを特徴とする。また本発明は、
プリント基板の被測定面に押し当てられるチップ部とソ
ケット内を摺動する摺動部とを具備してなる中心導体
と、前記チップ部と前記ソケットとの間に介装されるコ
イルスプリングとを具備してなるコンタクトプローブに
於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ状の
絶縁体を介在させると共に前記コイルスプリングと前記
中心導体の摺動部との当接面に絶縁体を介在させたこと
を特徴とする
【０００６】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は、本発明の実施例を示す断面図であり、筒
状の外部導体１と、該外部導体１にコイルスプリング４
を介して摺動自在に装着される中心導体２と、前記コイ
ルスプリングの両端部に装着したフランジ状の絶縁体
３、３′とから構成された例を示す。本発明の機能を更
に十分発揮させるため、コイルスプリング４は、図２及
び図３に示すように、スプリング素材５の外周面に絶縁
性のコーテイング膜６が形成されている。絶縁体３、
３′は、円板の中央に突起が立設した形状をしており、
この円板部が外部導体１に嵌合し、突起部がコイルスプ
リング４内に嵌入している。絶縁体３、３′の材質は、
特に限定されないが、テフロンで形成するのが特に好ま
しい。スプリング素材としては、ピアノ線、バネ性ステ
ンレス、ベリリウム合金等を使用することができるが、
外部導体には、瞬間的に高電流が流れるので、耐久性の
点からタングステン線材を使用するのが特に好ましい。
絶縁性のコーテイング膜としては、伸縮性と耐熱性とを
兼備した材質、例えばテフロンが特に好ましく、膜圧も
ある程度厚く形成するのが良い。図４は、他の本発明の
実施例を示すものであり、中心導体２′は、被測定面に
押し当てられるチップ部７とソケット８内を摺動するピ
ストン状の摺動部９とからなり、前記チップ部７と前記
ソケット８との間には、フランジ状の絶縁体３ａ、３
ａ′を介してコイルスプリング４′が介装、コイルスプ
リング４′に当接する中心導体の摺動部９には、絶縁性
の材質好ましくはテフロンから形成された筒状絶縁体１
０が密嵌されている。コイルスプリング４′は、図１に
示す実施例と同様に、スプリング素材５′の外周面に絶
縁性のコーテイング膜６′が形成されている。
する。図１は、本発明の実施例を示す断面図であり、筒
状の外部導体１と、該外部導体１にコイルスプリング４
を介して摺動自在に装着される中心導体２と、前記コイ
ルスプリングの両端部に装着したフランジ状の絶縁体
３、３′とから構成された例を示す。本発明の機能を更
に十分発揮させるため、コイルスプリング４は、図２及
び図３に示すように、スプリング素材５の外周面に絶縁
性のコーテイング膜６が形成されている。絶縁体３、
３′は、円板の中央に突起が立設した形状をしており、
この円板部が外部導体１に嵌合し、突起部がコイルスプ
リング４内に嵌入している。絶縁体３、３′の材質は、
特に限定されないが、テフロンで形成するのが特に好ま
しい。スプリング素材としては、ピアノ線、バネ性ステ
ンレス、ベリリウム合金等を使用することができるが、
外部導体には、瞬間的に高電流が流れるので、耐久性の
点からタングステン線材を使用するのが特に好ましい。
絶縁性のコーテイング膜としては、伸縮性と耐熱性とを
兼備した材質、例えばテフロンが特に好ましく、膜圧も
ある程度厚く形成するのが良い。図４は、他の本発明の
実施例を示すものであり、中心導体２′は、被測定面に
押し当てられるチップ部７とソケット８内を摺動するピ
ストン状の摺動部９とからなり、前記チップ部７と前記
ソケット８との間には、フランジ状の絶縁体３ａ、３
ａ′を介してコイルスプリング４′が介装、コイルスプ
リング４′に当接する中心導体の摺動部９には、絶縁性
の材質好ましくはテフロンから形成された筒状絶縁体１
０が密嵌されている。コイルスプリング４′は、図１に
示す実施例と同様に、スプリング素材５′の外周面に絶
縁性のコーテイング膜６′が形成されている。
【０００７】
【効果】以上述べたごとく、本発明によれば、コイルス
プリング両端に介在させた絶縁体によって、コイルスプ
リングが絶縁されるので、大容量、高電流コンデンサ等
の検査に使用した場合にも、コイルスプリングに電流が
流れないから、コイルスプリングに高電流が流れること
による発熱溶融を防止することができる。また、コイル
スプリングを絶縁性の膜をコーテイングした構造とすれ
ば、仮にコイルスプリングにある程度の電流が流れて
も、或は外部導体の発熱によってコイルスプリングが加
熱されても、コイルスプリングの発熱溶融を完全に防止
することができる。
プリング両端に介在させた絶縁体によって、コイルスプ
リングが絶縁されるので、大容量、高電流コンデンサ等
の検査に使用した場合にも、コイルスプリングに電流が
流れないから、コイルスプリングに高電流が流れること
による発熱溶融を防止することができる。また、コイル
スプリングを絶縁性の膜をコーテイングした構造とすれ
ば、仮にコイルスプリングにある程度の電流が流れて
も、或は外部導体の発熱によってコイルスプリングが加
熱されても、コイルスプリングの発熱溶融を完全に防止
することができる。
【０００８】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を示す断面図である。
【図２】本発明に使用するコイルスプリングの縦断面図
である。
である。
【図３】本発明に使用するコイルスプリングの縦断面図
である。
である。
【図４】他の本発明の実施例を示す断面図である。
１ 外部導体 ２，２′ 中心導体 ３，３′，３ａ，３ａ′ 絶縁体 ４，４′ コイルスプリング ５，５′ コイルスプリング素材 ６，６′ 絶縁性コーテイング膜 ９ ピストン状の摺動部 １０ 筒状絶縁体
Claims (5)
- 【請求項１】筒状の外部導体にコイルスプリングを介し
て中心導体を摺動自在に装着してなるコンタクトプロー
ブに於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ
状の絶縁体を介在させたことを特徴とするコンタクトプ
ローブ。 - 【請求項２】前記コイルスプリングが、コイルスプリン
グの外周面に絶縁性のコーテイング膜を形成してなる請
求項１に記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項３】前記コイルスプリングが、タングステン線
材から形成されてなる請求項２に記載のコンタクトプロ
ーブ。 - 【請求項４】プリント基板の被測定面に押し当てられる
チップ部とソケット内を摺動する摺動部とを具備してな
る中心導体と、前記チップ部と前記ソケットとの間に介
装されるコイルスプリングとを具備してなるコンタクト
プローブに於いて、前記コイルスプリングの両端部にフ
ランジ状の絶縁体を介在させると共に前記コイルスプリ
ングと前記中心導体の摺動部との当接面に絶縁体を介在
させたことを特徴とするコンタクトプローブ。 - 【請求項５】前記コイルスプリングが、コイルスプリン
グの外周面に絶縁性のコーテイング膜を形成してなる請
求項４に記載のコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3031486A JP2548046B2 (ja) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3031486A JP2548046B2 (ja) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | コンタクトプローブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0694749A true JPH0694749A (ja) | 1994-04-08 |
| JP2548046B2 JP2548046B2 (ja) | 1996-10-30 |
Family
ID=12332602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3031486A Expired - Lifetime JP2548046B2 (ja) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2548046B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005331500A (ja) * | 2004-05-17 | 2005-12-02 | Leeno Ind Inc | 大電流用プローブ |
| JP2012163527A (ja) * | 2011-02-09 | 2012-08-30 | Kiyota Seisakusho:Kk | パワーデバイス用コンタクトプローブ |
| JP2015141199A (ja) * | 2014-01-28 | 2015-08-03 | 旺▲夕▼科技股▲分▼有限公司 | スプリングプローブ |
| WO2017188595A1 (ko) * | 2016-04-27 | 2017-11-02 | 주식회사 아이에스시 | 양분형 탐침 장치 |
| EP3164722A4 (en) * | 2014-09-23 | 2018-03-28 | Leeno Industrial Inc. | A contact probe for a test device |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007316023A (ja) * | 2006-05-29 | 2007-12-06 | Morihiro Shimano | コンタクトプローブ |
-
1991
- 1991-02-02 JP JP3031486A patent/JP2548046B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005331500A (ja) * | 2004-05-17 | 2005-12-02 | Leeno Ind Inc | 大電流用プローブ |
| JP2012163527A (ja) * | 2011-02-09 | 2012-08-30 | Kiyota Seisakusho:Kk | パワーデバイス用コンタクトプローブ |
| JP2015141199A (ja) * | 2014-01-28 | 2015-08-03 | 旺▲夕▼科技股▲分▼有限公司 | スプリングプローブ |
| US9535092B2 (en) | 2014-01-28 | 2017-01-03 | Mpi Corporation | Spring probe |
| EP3164722A4 (en) * | 2014-09-23 | 2018-03-28 | Leeno Industrial Inc. | A contact probe for a test device |
| WO2017188595A1 (ko) * | 2016-04-27 | 2017-11-02 | 주식회사 아이에스시 | 양분형 탐침 장치 |
| TWI641838B (zh) * | 2016-04-27 | 2018-11-21 | Isc股份有限公司 | 兩分型探針裝置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2548046B2 (ja) | 1996-10-30 |
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Legal Events
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