JPH0692634B2 - ミラー - Google Patents

ミラー

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JPH0692634B2
JPH0692634B2 JP62043957A JP4395787A JPH0692634B2 JP H0692634 B2 JPH0692634 B2 JP H0692634B2 JP 62043957 A JP62043957 A JP 62043957A JP 4395787 A JP4395787 A JP 4395787A JP H0692634 B2 JPH0692634 B2 JP H0692634B2
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JP
Japan
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sic
mirror
coating
present
ray diffraction
Prior art date
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JP62043957A
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JPS63210276A (ja
Inventor
誠 江端
正海 安藤
美治 茅根
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Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はCVDによるβ‐SiC被膜を形成したミラーに関す
る。
[従来の技術] 近年、高温高強度材料として、窒化珪素、炭化珪素、サ
イアロン等の非酸化物セラミックス、あるいは酸化アル
ミニウム、酸化ジルコニウム等、いわゆるニューセラミ
ックスが急速にクローズアップされ、多くの研究や開発
がなされている。
これらセラミックスのうち、炭化珪素(以下「SiC」と
略記する。)は、 軽い材料である。
常温から高温まで機械的強度が高く安定している。
熱膨張が小さく熱伝導性が良いため耐スポーリング性
に優れる。
耐食性が極めて大きい。
硬度が高く、耐摩耗性に優れる。
導電性があり電気素子としても使用できる。
などの特徴を有し、極めて重要な工業材料として注目さ
れている。
とりわけ、CVD法等の気相法によって製造されるSiCは、
緻密で高純度であることから、これらの特性が著しく高
いため、気相法SiC膜で被覆することにより、各種部材
の特性を改良する方法が従来より提案されている。そし
て、例えば特開昭59-99401にはCVDによりβ‐SiC被膜を
形成したミラーが記載されている。
[発明が解決しようとする問題点] CVDによるSiC被膜を有するミラーにおいては、基材表面
に形成されたSiC被膜を研磨仕上げしなければならない
のであるが、SiCは極めて硬度が高いので、従来のSiC被
膜を有するミラーでは、良好な反射率、散乱比を得るの
が極めて困難であった。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、理論反射率が高く、光学的特性に優れたCVD-
SiC被膜を有するミラーを提供するものであって、 基材上にCVDにより形成したβ‐SiC被膜を研磨してなる
ミラーであって、該β‐SiC被膜のCuKαによる(111)
面のX線回折線積分強度I(111)とその他の任意の格子面
のX線回折線積分強度IXとの比I(111)/Ixが30以上であ
り、研磨面の反射率が95%以上で、散乱の信号と雑音の
強度比が10000以上であることを特徴とするミラー、を
要旨とするものである。
[作用] 本発明のミラーのSiC被膜は、結晶成長方向が(111)方
向にそろっているところから、高い屈折率が得られる。
このため理論反射率が高く、光学的特性に優れたミラー
が提供される。
[実施例] 以下に図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明す
る。
第1図は本発明の実施例に係るSiC被膜を有するミラー
の部分断面図である。図示の如く、本発明のSiC被膜を
有するミラーは、基材1上にSiC被膜2が形成されたミ
ラーであって、該SiCのCuKαによる(111)面のX線回
折線積分文強度I(111)とその他の任意の格子面のX線回
折線積分強度IXとの比I(111)/IXが30以上であるもので
ある。
このように結晶方位がそろっていると屈折率が高く、高
い理論反射率が得られる。しかも、結晶成長方向がそろ
っているため、極めて研磨が容易であり、最終的な仕上
りが良くなり、良好な反射率、散乱比が得られる。
本発明において、基材1としては金属、セラミック、合
成樹脂等各種のものが採用できる。
また、この基材1上に(111)方向に結晶成長方向が配
向したSiC被膜は、CVD法によって形成される。
このCVD法の基本反応は良く知られてるところであり、
例えばSiCl4等のハロゲン化珪素とC3H8等の炭化水素と
をH2をキャリアガスとして流し、SiCを析出させるもの
である。
なお、本発明では珪素原料ガス及び炭素原料ガスとし
て、上記以外の各種のものを用い得る。
このSiC被膜を研磨する方法は特に限定されるものでは
なく、ホーニング、超仕上げ、研磨布加工、ラッピン
グ、ポリシング、バレル加工、超音波加工、EEM(エラ
スティックエミッションマシニング)、メカノケミカル
ポリシング、フロートポリシングなど各種の方法が採用
できる。
以下、具体例について説明する。
本発明例として、反応焼結SiC製基材に、温度:1500℃、
原料ガス:SiCl4、及び、C3H8、キャリアガス:H2、ガ
ス流量:0.7l/minなる条件の下でβ‐SiC被膜を形成し
た。
この被膜のCuKαによるX線回折チャートは第2図の通
りであり、(111)面の反射強度とその他の反射強度と
の比は第1表の通りである。
比較例として、I(111)/IXが30未満のCVD被膜を基材上に
形成した。この被膜のX線回折チャートを第3図に示
す。この比較例の被膜の(111)面の反射強度とその他
の反射強度との比は第1表の通りいずれも30未満であ
る。
各々の部材について、反射特性を調べたところ、本発明
に係る被膜は、屈折率が高く、理論反射率が著しく高い
ため、ミラーとして極めて優れた特性を有することが判
明した。
しかして、本発明例の被膜を回転研磨法で研磨したとこ
ろ、反射率95%以上、散乱の信号と雑音の強度比が1000
0以上のミラーが得られた。
また、比較例の被膜を前記と同様に研磨したところ、反
射率は90%以下であり、散乱の信号と雑音の強度比は10
00以下となった。
このように本発明に係る被膜は、極めて研磨し易い被膜
であることが認められた。
[発明の効果] 以上詳述した通り、本発明のミラーのSiC被膜は、結晶
方位が揃っているため屈折率が高く、理論反射率が著し
く高い。しかも、極めて研磨し易く、良好な反射率、散
乱比のミラーとすることができる。また、表面はSiC層
であるため、SiCの優れた耐食性、耐摩耗性を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のSiC被膜を有するミラーの部分断面
図、第2図は本発明に係るSiC被膜のX線回折チャー
ト、第3図は従来のSiC被膜のX線回折チャートであ
る。 1……基材、2……被膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基材上にCVDにより形成したβ‐SiC被膜を
    研磨してなるミラーであって、該β‐SiC被膜のCuKαに
    よる(111)面のX線回折線積分強度I(111)とその他の
    任意の格子面のX線回折線積分強度IXとの比I(111)/Ix
    が30以上であり、研磨面の反射率が95%以上で、散乱の
    信号と雑音の強度比が10000以上であることを特徴とす
    るミラー。
JP62043957A 1987-02-26 1987-02-26 ミラー Expired - Lifetime JPH0692634B2 (ja)

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