JPH0685008A - テープ自動ボンディングのバンプ転写方法 - Google Patents

テープ自動ボンディングのバンプ転写方法

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JPH0685008A
JPH0685008A JP5184370A JP18437093A JPH0685008A JP H0685008 A JPH0685008 A JP H0685008A JP 5184370 A JP5184370 A JP 5184370A JP 18437093 A JP18437093 A JP 18437093A JP H0685008 A JPH0685008 A JP H0685008A
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JP
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bump
lead
groove
core
tape
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JP5184370A
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English (en)
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Sung-Ho An
昇晧 安
Ku-Song Kim
玖星 金
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Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/60Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 工程が簡単で、大規模な設備を必要とするこ
とがなく、かつ一括工程の採用が容易で、生産歩留りの
向上を図ることができるTAB型バンプ転写方法を提供
する。 【構成】 金属基板表面の所定位置に一以上の溝10を
形成する工程;前記各溝内に一つの金属コア11をそれ
ぞれ配置する工程;一以上のリード13を有するテープ
を、前記各リードが前記溝に配置した各金属コアと対向
するように、整列させる工程;および前記リードを前記
金属コアに熱圧着して、前記金属コア11を前記リード
13に転写させる工程で構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置のパッケー
ジング技術として好適に用いられるテープ自動ボンディ
ング(Tape Automated Bonding;以下‘TAB’とい
う)において、バンプリードを形成するためのTAB型
バンプ転写方法、及びバンプリードの製造方法の改良に
関する。
【0002】
【従来の技術】最近、電子機器の開発の趨勢は、高機能
化、大容量化、小型化および薄型化に向かう傾向が顕著
であり、特に、半導体素子については、多機能化、多ピ
ン化、高速化、高信頼性確保および表面実装型に進んで
いる。これに伴い、半導体素子の薄型化、基板面積減少
および実装密度の向上など総合的な実装技術の変化に対
応して優れた機能を発揮するTAB技術が注目されてい
る。
【0003】TABは、初期の時計、計算器、電卓など
のピン数の少ない、小型チップ適用分野から液晶ディス
プレイ駆動機、専用カスタムチップ(ASIC)、パソ
コン、メモリ素子などの多ピン、大型チップ適用分野に
までその応用範囲が拡大されている。
【0004】現在の技術領域からみると、TABは、絶
縁テープ上に形成された金属パターンに金属バンプを用
いてチップパッドをボンディングさせる表面実装型パッ
ケージ技術の一種であり、チップとリードフレームとを
直接ボンディングできるようにした進歩した相互連結技
術である。
【0005】バンプは、既存のワイヤボンディングと異
なり、チップのパッドとTABのリードフレームをワイ
ヤなしに接続できるようにした一種の金属突起であり、
ワイヤボンディングにおけるワイヤの役割を担当するも
のである。
【0006】そして、リードフレームの骨格を含むテー
プは、例えば、125μm厚さのポリイミドフィルムに
20μm厚さの接着剤を塗布し、35μm厚さの導電層
を結合した3層構造を有し、その幅が70mmのもので
あり、このテープのリード端子にチップのパッドを連結
するときは、ワイヤ接続ではなく、前記バンプとしての
金属突起を媒介させて行なう。以下このようなテープの
リードにバンプを転写する従来の一般的な工程につい
て、図面を参照して説明する。
【0007】チップ、テープおよびバンプをそれぞれ別
個の工程により作製した後、先ず、テープとバンプとを
相互ボンディングにより結合し、得られたバンプ付のテ
ープをさらにチップと第二次ボンディングしてパッケー
ジ化する。
【0008】図4(a),(b),(c)はバンプの形
成過程を示し、図4(a)は、例えば、ガラス材質の基
板1上に導電層2を形成することを示す断面図である。
導電層2上には図4(b)に示すように、フォトレジス
ト層3を、コーティングによってパターン形成する。フ
ォトレジスト層3には、ホール4を転写相手のテープ上
のリード位置に対応して形成する。このホール4部分に
バンプを形成する。
【0009】バンプ5は図4(c)に示すような形状に
形成するが、このバンプの形成作業では、まず、Auを
含んだメッキ浴中に図4(b)に示す積層体を浸漬し、
電気メッキ法によって前記ホール4を通じてAu材質の
バンプ5を導電層2上に析出形成する。導電層2はこの
電気メッキ法を行うために予め基板1上に形成してあ
る。すなわち、導電層2に電極を連結することにより、
ホールを通じてAuからなるバンプ5を析出形成する。
その後、バンプを形成した積層体をメッキ浴から取出
し、フォトレジスト層3を除去して、図4(c)に示す
ような形状のバンプ5を形成する。
【0010】その後、バンプを形成した基板を図4
(d)に示すようにテープ6と対向させて位置合わせす
る。テープ6は、前述したように、導電層としてのイン
ナーリード6Aとポリイミド層6Bとを有し、図におい
てポリイミド層6Bとインナーリード6Aとの間の接着
層は示していない。テープのインナーリード6Aとバン
プ5とは互いに対向するように位置付ける。
【0011】次に、バンプを転写する工程であるが、図
4(e)に示すようにボンディングツール7を用いてバ
ンプ5をインナーリード6Aに圧着することにより転写
させる。
【0012】最後に、バンプ5を有するテープ6と、図
示されていないチップとをボンディングしてリード端子
とチップパッドとを連結する。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のバンプ転写方法においては次のような問題があっ
た。すなわち、先ず、図4(b)及び図4(c)に示し
たように、バンプを形成するためには、写真エッチング
工程および電気メッキ工程が不可欠であるため、作業時
間が長く、工程が複雑となり、大規模な製造設備を必要
とし、製造費用および効率面において不利であるととも
に、設備装置の利用融通性に欠けるため一括工程(in
−line化)を採用することが困難であった。さら
に、反復生産により量産する場合、生産歩留りを向上さ
せることが困難であった。
【0014】本発明は、上述の問題に鑑みなされたもの
であり、工程が簡単で、大規模な設備を必要とすること
がなく、かつ一括工程の採用が容易で、生産歩留りの向
上を図ることができるTAB型バンプ転写方法を提供す
ることを目的とする。
【0015】さらに本発明は、バンプ材質として、Au
以外の安価な金属材料を用いることのできる経済的なバ
ンプ転写方法を提供することを他の目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によれば、金属基板表面の所定位置に、一以
上の溝を形成する工程;前記各溝内に一つの金属コアを
それぞれ配置する工程;一以上のリードを有するテープ
を、前記各リードが前記溝に配置した各金属コアと対向
するように、整列させる工程;および前記リードを前記
金属コアに熱圧着して、前記金属コアを前記リードに転
写させる工程を含むことを特徴とするテープ自動ボンデ
ィングのバンプ転写方法が提供される。
【0017】また、前記金属基板表面に形成される溝の
形状が、V字形、または底面が平坦なU字形であること
を特徴とするテープ自動ボンディングのバンプ転写方法
が提供される。
【0018】また、前記各溝の深さが、前記金属コアの
直径より小さいことを特徴とするテープ自動ボンディン
グのバンプ転写方法が提供される。
【0019】また、前記底面が平坦なU字形の溝が、先
ずV字形溝を形成した後、底面が平坦なパンチツールを
用いて形成されたものであることを特徴とするテープ自
動ボンディングのバンプ転写方法が提供される。
【0020】また、前記リードを前記金属コアに熱圧着
する前に、前記溝から前記金属コアを容易に離脱させる
ため、前記溝の内面にコーティング膜を形成する工程を
さらに含むことを特徴とするテープ自動ボンディングの
バンプ転写方法が提供される。
【0021】また、前記コーティング膜が、セラミッ
ク、SiCおよびSi34 よりなる群から選択される
一以上の材料からなることを特徴とするテープ自動ボン
ディングのバンプ転写方法が提供される。
【0022】また、前記金属コアを前記リードに転写さ
せた後に、前記金属コアが転写されたリードを、メッキ
物質でコーティングする工程をさらに含むことを特徴と
するテープ自動ボンディングのバンプ転写方法が提供さ
れる。
【0023】また、前記メッキ物質によるコーティング
が、電気メッキまたは無電解メッキによるものであるこ
とを特徴とするテープ自動ボンディングのバンプ転写方
法が提供される。
【0024】また、前記メッキ物質が、Au,Pt,P
d,Sn,Pb、半田、またはこれらの合金からなるこ
とを特徴とするテープ自動ボンディングのバンプ転写方
法が提供される。
【0025】また、前記メッキ物質によるコーティング
工程の前に、前記金属コアが転写されたリードを、前記
基板に形成された底面が平坦なU字形の溝に対向させた
後に圧着し、前記転写された金属コアの下部を平坦にす
る工程をさらに含むことを特徴とするテープ自動ボンデ
ィングのバンプ転写方法が提供される。
【0026】また、前記金属コアを各溝内に配置する工
程が、多数の金属コアを前記基板表面に位置させる工程
と、スクイズを用いて左右にスクリーニングする工程と
からなることを特徴とするテープ自動ボンディングのバ
ンプ転写方法が提供される。
【0027】また、前記金属コアが、ニッケル、Pd、
およびAgよりなる群から選択される一以上の金属の単
体又はその合金からなることを特徴とするテープ自動ボ
ンディングのバンプ転写方法が提供される。
【0028】また、前記金属コアが、エアブローイング
法により作製され、かつ、スクリーニングされたもので
あることを特徴とするテープ自動ボンディングのバンプ
転写方法が提供される。
【0029】また、前記リードが、Cu,Sn、または
AuをメッキしたCuからなることを特徴とするテープ
自動ボンディングのバンプ転写方法が提供される。
【0030】さらに、前記金属基板が、ステンレス鋼か
らなることを特徴とするテープ自動ボンディングのバン
プ転写方法が提供される。
【0031】また、表面に少なくとも一以上の溝を形成
した基板を用意する工程;ほぼ球形の多数の導電性コア
を用意する工程;前記基板の各溝内に前記導電性コアを
配置する工程;一以上のインナーリードを有するテープ
を各インナーリードが前記コアと対向するように整列さ
せる工程;前記インナーリードを前記コアに熱圧着し
て、前記金属コアを前記インナーリードに転写させる工
程;および前記コアが転写されたインナーリードを、メ
ッキ物質でコーティングする工程を含むことを特徴とす
るバンプリードの製造方法が提供される。
【0032】また、前記コーティング工程の前に、前記
球形状コアが転写されたリードを、平坦な基板に対向さ
せた後、平坦なツールで押えて、前記転写された球形状
コアの下部を平坦にする工程をさらに含むことを特徴と
するバンプリードの製造方法が提供される。
【0033】また、前記インナーリードを前記コアに熱
圧着する前に、前記リードに圧着された前記コアが前記
溝から容易に離脱できるように、前記基板の溝の表面に
コーティング膜をCVDまたはアーク放電により形成す
る工程をさらに含むことを特徴とするバンプリードの製
造方法が提供される。
【0034】また、前記導電性コアが、ニッケル、P
d、およびAgよりなる群から選択される一以上の金属
の単体またはその合金からなることを特徴とするバンプ
リードの製造方法が提供される。
【0035】また、前記基板がステンレス鋼からなるこ
とを特徴とするバンプリードの製造方法が提供される。
【0036】さらに、前記メッキ物質が、Au,Pt,
Pd,Sn,Pb、半田、またはこれらの合金からなる
ことを特徴とするバンプリードの製造方法が提供され
る。
【0037】
【実施例】以下、本発明を、好ましい実施例に基づき、
図1〜図3を参照しつつ、詳細に説明する。図1(a)
は、バンプの形成のための基板8を用意する工程を示す
ものであり、基板8は従来とは異なり金属材質からな
り、その材質は、ステンレス鋼が好ましく、例えば、S
US304を挙げることができる。
【0038】図1(b)は、前記基板8に溝10を形成
したことを示す。これはパンチツール9で所定位置にV
字形溝10を形成したことを示す。溝10の位置は、バ
ンプが転写されたテープのリード端子位置に対応し、こ
の溝10の位置および基板8は繰返し再生産の際継続的
に用いることができるのでパンチ作業は一度で済ますこ
とができる。
【0039】この実施例においては、溝10をV字形状
に形成しているがこれに限定されず、底面が平坦なU字
形等であってもよい。また溝10は、この溝10内に配
置される別個の金属コア等の物体が離脱しない程度の深
さを有する。
【0040】図1(c)は、前記溝10内にほぼ球形状
金属コア11を配置する工程を示す。金属コア11は、
その大きさが従来のバンプの大きさと同様にほぼ直径が
30μm程度である球形状金属バンプであり、基板表面
8Aからみて溝10内に位置するバンプは若干突出され
る。溝10は、球形の金属バンプの直径が30μm程度
であるため、この半分くらいの深さで図1(b)の工程
で形成される。
【0041】基板の材質としては、前述のようにステン
レス鋼が好ましく、例えばSUS304を挙げることが
でき、球形の金属バンプとしては、例えば、Ni、もし
くはその合金、またはPd、Agが好ましく、以後の工
程において金属基板と球形状バンプとの圧着により溝1
0からバンプの離脱が容易でない場合は図1(b)の段
階において前処理工程が必要であるが、バンプ転写に無
理がない場合には省略してもよい。
【0042】前処理工程としては、例えば、金属基板8
の溝10上にSi34 、SiC、または硬いセラミッ
クス物質をCVDやアーク放電法などでコーティングす
ることを挙げることができる。また、その先端がV字形
以外のほぼ丸形や平坦なパンチツールを連続的に使用し
て溝の形状を変え、金属コア11の離脱を容易にしても
よい。
【0043】金属基板8に対する正面は示していない
が、基板表面には整列した多数の溝10が形成されてい
る。別途に用意した金属コア11を各溝10内にそれぞ
れ配置するため、スクイズ12を用いたスクリーニング
方法を用いることが好ましい。
【0044】より詳しくは、金属基板8上に多数の金属
コア11を配置した後、スクイズ12を用いて、図1
(c)に示すように、基板表面に対し、左または右の一
定方向に押して、金属コア11を各溝10内に一つずつ
配置するようにする。このとき、残っている金属コア1
1は、スクイズ12により残有コア筒のようなボックス
に収集し、再使用することができる。
【0045】この実施例において、30μm直径の均一
な金属コアを予め用意するが、これは、例えば、エアブ
ローイング法によって作製し、かつ、スクリーニングを
施して得ることができる。
【0046】次の工程は、図4(d)以後の工程と類似
する。図1(d)は、基板表面8A上に突出したこれら
金属コア11とテープのインナーリード13とを対向さ
せて整列させる工程を示す。
【0047】図1(d)において、インナーリード13
の下側面13Aは突出した金属コア11と相互接続す
る。このインナーリード13はテープに含まれており、
リードと接着するチップパッドやパッケージ形態に応じ
て予め設計製作したものである。
【0048】本実施例において、インナーリード13と
しては、その材質として銅を用いている。従来のように
SnやAuメッキの銅を用いる必要はないが、SnやA
uメッキの銅を用いることが好ましい。
【0049】次いで、図1(e)に示すように、ボンデ
ィングツール15を用いて、例えば銅からなるインナー
リード13と、例えばNiからなる金属コア11とを結
合させるため圧着し、金属コア11をインナーリード1
3に転写させる。
【0050】圧着時、溝10から金属コア11の離脱を
容易にすることが好ましいので、前述した前処理工程を
用いてもよい。パンチの作業の際、基板に加わる力は圧
着時に必要な力より十分大きいので溝は転写圧力により
変形することはない。
【0051】転写工程以後も、金属コア11が離脱した
基板8は、依然として変形しない溝10を有し、継続繰
返して基板8を用いることができる。この場合、溝の形
成のためのパンチ作業が再度要求されることはない。し
かし、テープの金属パターンが異なるものを用いる場合
には、溝はこれに対応させて再び形成する必要がある。
【0052】前述のように、本発明によると、従来のよ
うに写真エッチング工程や電気メッキ工程を必要としな
いので工程が簡単になる。図2は、金属コア11がバン
プ転写されたインナーリード13をメッキ物質、例え
ば、Au、Pt、Pd、Sn、Pb、半田、またはこれ
らの合金を電気メッキまたは無電解メッキ方法でメッキ
した状態を示す。このメッキ処理により、結合した状態
を堅固にし、かつチップとのボンディングを容易にする
ことができる。
【0053】本実施例においては、V字形溝とこれに配
置し得る球形の金属コアを用いた場合を説明している
が、図3に示すように本発明の他の実施例として金属コ
ア11の一面がほぼ平坦なバンプを用いることもでき
る。
【0054】金属コア11を、図1(b)に示すような
溝に入れる場合、溝の形状が球形ではないので、先ず、
図1(b)の工程においてV字溝を形成し、次いで、こ
の溝に基づいて、その先端が平坦な他のパンチツールを
用いて再びU字形状の溝を形成してもよい。この溝の深
さは、転写のためV字形溝の場合と同程度とすることが
好ましい。しかし、溝の形態が底面が平坦なものであっ
てもこれに配置される金属コア11は依然として球形の
ものである。このようにU字形溝を用いる場合、球形の
金属コア11を図1(c)に示すように容易に配置した
後、図1(e)に示すようにボンディングツール15で
押えて球形の金属コア11を図3に示すように直方体状
に歪ませるとともに、インナーリード13に転写させて
もよい。
【0055】さらに他の方法としては、図1(e)に示
すように、バンプ転写されたインナーリード13を、図
3に示す底面が平坦な溝16を有する基板18に対向さ
せ、ボンディングツール15を用いてリード上部を押し
て圧力を加えることにより、転写された金属コア11の
下部を平坦とすることを挙げることができる。
【0056】その後、前記方法の場合、いずれも図2に
示すメッキ工程を経て安定化させることができる。
【0057】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
バンプが転写されたインナーリードの製作が簡単にな
り、工程が単純化して、大規模な設備を必要とすること
がなく、かつ、一括工程の採用が可能となり、また、使
用材料面においてもコスト低減を図ることができる。ま
た、バンプリード全体を導電性物質でメッキして結合自
体をより堅固にしチップパッドとのボンディング結合を
良好にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例におけるTAB工程のバンプ転
写方法を模式的に示す工程図である。
【図2】本発明の実施例における、金属コアがバンプ転
写されたインナーリードがメッキされた状態を模式的に
示す断面図である。
【図3】本発明の他の実施例を模式的に示す断面図であ
る。
【図4】従来技術におけるTAB工程のバンプ形成およ
び転写方法を模式的に示す工程図である。
【符号の説明】
8,18…基板 9…パンチツール 10,16…溝 11…金属コア 12…スクイズ 13…インナーリード 15…ボンディングツール

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属基板表面の所定位置に、一以上の溝
    を形成する工程;前記各溝内に一つの金属コアをそれぞ
    れ配置する工程;一以上のリードを有するテープを、前
    記各リードが前記溝に配置した各金属コアと対向するよ
    うに、整列させる工程;および前記リードを前記金属コ
    アに熱圧着して、前記金属コアを前記リードに転写させ
    る工程を含むことを特徴とするテープ自動ボンディング
    のバンプ転写方法。
  2. 【請求項2】 前記金属基板表面に形成される溝の形状
    が、V字形、または底面が平坦なU字形であることを特
    徴とする請求項1に記載のテープ自動ボンディングのバ
    ンプ転写方法。
  3. 【請求項3】 前記各溝の深さが、前記金属コアの直径
    より小さいことを特徴とする請求項1又は2に記載のテ
    ープ自動ボンディングのバンプ転写方法。
  4. 【請求項4】 前記底面が平坦なU字形の溝が、先ずV
    字形溝を形成した後、底面が平坦なパンチツールを用い
    て形成されたものであることを特徴とする請求項2又は
    3に記載のテープ自動ボンディングのバンプ転写方法。
  5. 【請求項5】 前記リードを前記金属コアに熱圧着する
    前に、前記溝から前記金属コアを容易に離脱させるた
    め、前記溝の内面にコーティング膜を形成する工程をさ
    らに含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項
    に記載のテープ自動ボンディングのバンプ転写方法。
  6. 【請求項6】 前記コーティング膜が、セラミック、S
    iCおよびSi34 よりなる群から選択される一以上
    の材料からなることを特徴とする請求項5に記載のテー
    プ自動ボンディングのバンプ転写方法。
  7. 【請求項7】 前記金属コアを前記リードに転写させた
    後に、前記金属コアが転写されたリードを、メッキ物質
    でコーティングする工程をさらに含むことを特徴とする
    請求項1〜6のいずれか1項に記載のテープ自動ボンデ
    ィングのバンプ転写方法。
  8. 【請求項8】 前記メッキ物質によるコーティングが、
    電気メッキまたは無電解メッキによるものであることを
    特徴とする請求項7に記載のテープ自動ボンディングの
    バンプ転写方法。
  9. 【請求項9】 前記メッキ物質が、Au,Pt,Pd,
    Sn,Pb、半田、またはこれらの合金からなることを
    特徴とする請求項7又は8に記載のテープ自動ボンディ
    ングのバンプ転写方法。
  10. 【請求項10】 前記メッキ物質によるコーティング工
    程の前に、前記金属コアが転写されたリードを、前記基
    板に形成された底面が平坦なU字形の溝に対向させた後
    に圧着し、前記転写された金属コアの下部を平坦にする
    工程をさらに含むことを特徴とする請求項7〜9のいず
    れか1項に記載のテープ自動ボンディングのバンプ転写
    方法。
  11. 【請求項11】 前記金属コアを各溝内に配置する工程
    が、多数の金属コアを前記基板表面に位置させる工程
    と、スクイズを用いて左右にスクリーニングする工程と
    からなることを特徴とする請求項1〜10のいずれか1
    項に記載のテープ自動ボンディングのバンプ転写方法。
  12. 【請求項12】 前記金属コアが、ニッケル、Pd、お
    よびAgよりなる群から選択される一以上の金属の単体
    又はその合金からなることを特徴とする請求項1〜11
    のいずれか1項に記載のテープ自動ボンディングのバン
    プ転写方法。
  13. 【請求項13】 前記金属コアが、エアブローイング法
    により作製され、かつ、スクリーニングされたものであ
    ることを特徴とする請求項12に記載のテープ自動ボン
    ディングのバンプ転写方法。
  14. 【請求項14】 前記リードが、Cu,Sn、またはA
    uをメッキしたCuからなることを特徴とする請求項1
    〜13のいずれか1項に記載のテープ自動ボンディング
    のバンプ転写方法。
  15. 【請求項15】 前記金属基板が、ステンレス鋼からな
    ることを特徴とする請求項1〜14のいずれか1項に記
    載のテープ自動ボンディングのバンプ転写方法。
  16. 【請求項16】 表面に少なくとも一以上の溝を形成し
    た基板を用意する工程;ほぼ球形の多数の導電性コアを
    用意する工程;前記基板の各溝内に前記導電性コアを配
    置する工程;一以上のインナーリードを有するテープを
    各インナーリードが前記コアと対向するように整列させ
    る工程;前記インナーリードを前記コアに熱圧着して、
    前記金属コアを前記インナーリードに転写させる工程;
    および前記コアが転写されたインナーリードを、メッキ
    物質でコーティングする工程を含むことを特徴とするバ
    ンプリードの製造方法。
  17. 【請求項17】 前記コーティング工程の前に、前記球
    形状コアが転写されたリードを、平坦な基板に対向させ
    た後、平坦なツールで押えて、前記転写された球形状コ
    アの下部を平坦にする工程をさらに含むことを特徴とす
    る請求項16に記載のバンプリードの製造方法。
  18. 【請求項18】 前記インナーリードを前記コアに熱圧
    着する前に、前記リードに圧着された前記コアが前記溝
    から容易に離脱できるように、前記基板の溝の表面にコ
    ーティング膜をCVDまたはアーク放電により形成する
    工程をさらに含むことを特徴とする請求項16または1
    7に記載のバンプリードの製造方法。
  19. 【請求項19】 前記導電性コアが、ニッケル、Pd、
    およびAgよりなる群から選択される一以上の金属の単
    体またはその合金からなることを特徴とする請求項16
    〜18のいずれか1項に記載のバンプリードの製造方
    法。
  20. 【請求項20】 前記基板がステンレス鋼からなること
    を特徴とする請求項16〜19のいずれか1項に記載の
    バンプリードの製造方法。
  21. 【請求項21】 前記メッキ物質が、Au,Pt,P
    d,Sn,Pb、半田、またはこれらの合金からなるこ
    とを特徴とする請求項16〜20のいずれか1項に記載
    のバンプリードの製造方法。
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JPH03174737A (ja) * 1989-09-11 1991-07-29 Nippon Steel Corp バンプ付きtabテープの製造方法

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