JPH0676334A - 光ディスク装置の清掃管理方法 - Google Patents

光ディスク装置の清掃管理方法

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JPH0676334A
JPH0676334A JP4228506A JP22850692A JPH0676334A JP H0676334 A JPH0676334 A JP H0676334A JP 4228506 A JP4228506 A JP 4228506A JP 22850692 A JP22850692 A JP 22850692A JP H0676334 A JPH0676334 A JP H0676334A
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JP
Japan
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cleaning
optical disk
spindle motor
disk device
optical head
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JP4228506A
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Isao Masaki
功 正木
Shigetomo Yanagi
茂知 柳
Manabu Yamamoto
学 山本
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Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/121Protecting the head, e.g. against dust or impact with the record carrier
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B23/00Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
    • G11B23/02Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means
    • G11B23/021Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means comprising means for reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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  • Optics & Photonics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスク装置の光学ヘッド等を清掃するた
めの光ディスク装置の清掃管理方法に関し、清掃の必要
時点を適切に通知することを目的とする。 【構成】 スピンドルモータ15により回転される光デ
ィスク20に光を照射して、少なくとも情報を読み取る
ための光学ヘッド10と、該光学ヘッド10を制御する
制御部44とを有する光ディスク装置において、該制御
部44は、該スピンドルモータ15の回転時間を計測
し、該計測した回転時間により、光学ヘッドの清掃要求
を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】(目次) 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(図1) 作用 実施例 (a) 第1の実施例の説明(図2乃至図5) (b) 第2の実施例の説明(図6) (c) 他の実施例の説明 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置の光学
ヘッド等を清掃するための光ディスク装置の清掃管理方
法に関する。
【0003】光ディスク装置(光磁気ディスク装置を含
む)では、レーザー光源を利用して、情報の読み出し、
書き込みを行っている。このような光ディスク装置で
は、レーザー光を対物レンズで集光して照射し、回転す
る光ディスクの記録膜上で焦点を結び、リード/ライト
のため、長時間清掃せずに使用し続けると、塵埃によっ
て対物レンズ等が汚れて、リード/ライトエラーとな
る。
【0004】即ち、ライト時には、塵埃によって出射パ
ワーが減少して、光ディスクへの書き込みが不充分とな
り、ベリファイエラーを発生し、リード時には、塵埃に
よって出射、戻りの両方の光量が減少し、再生信号振幅
が足りずにリードエラーとなる。
【0005】このため、光ディスク装置の光学ヘッドの
清掃を管理することが求められる。
【0006】
【従来の技術】従来は、光ディスク装置の光学ヘッド、
光学部品等の清掃は、清掃器具又は清掃用光ディスクカ
ートリッジを用いて、定期的に行うよう定めており、ユ
ーザー又は保守員等が実行していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、次の問題があった。 定期的に行う方法では、使用状況により、光学部の汚
れの程度が異なり、使用が頻繁であると、定期清掃前
に、塵埃によりリード/ライトエラーが発生してしま
う。
【0008】ユーザーが定期清掃を忘れると、原因が
判らず、リード/ライトエラーが発生し、保守員が呼び
出し点検する必要があり、時間とコストがかかる。従っ
て、本発明は、清掃の必要時点を適切に通知することが
できる光ディスク装置の清掃管理方法を提供することを
目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図で
ある。本発明の請求項1は、スピンドルモータ15によ
り回転される光ディスク20に光を照射して、少なくと
も情報を読み取るための光学ヘッド10と、該光学ヘッ
ド10を制御する制御部44とを有する光ディスク装置
において、該制御部44は、該スピンドルモータ15の
回転時間を計測し、該計測した回転時間により、光学ヘ
ッドの清掃要求を出力することを特徴とする。
【0010】本発明の請求項2は、請求項1において、
前記制御部44は、前記清掃要求を不揮発性メモリ45
に格納しておき、清掃の実施を認識して、前記不揮発性
メモリ45の前記清掃要求をクリアすることを特徴とす
る。
【0011】本発明の請求項3は、請求項1又は2にお
いて、前記制御部44は、前記スピンドルモータ15の
回転時間を清掃カウンタ46により計数し、清掃カウン
タ46が所定値となる毎に、不揮発性メモリ45の計測
値を更新し、前記不揮発性メモリ45の計測値が所定値
となったことに応じて清掃要求を出力することを特徴と
する。
【0012】本発明の請求項4は、請求項1又は2にお
いて、前記制御部44は、前記スピンドルモータ15の
回転時間を清掃カウンタ46により計数するとともに、
光ディスク20のイジェクト回数を計数し、イジェクト
回数が所定回数となった時に、該清掃カウンタ46の値
で不揮発性メモリ45の計測値を更新し、前記不揮発性
メモリ45の計測値が所定値となったことに応じて清掃
要求を出力することを特徴とする。
【0013】
【作用】本発明の請求項1では、光ディスク装置では、
スピンドルモータ15の回転により、塵埃が外部から吸
入され、光学ヘッド10に付着することから、スピンド
ルモータ15の回転時間を計測して、清掃要求を出力す
るようにした。
【0014】この時、装置の稼働時間(電源オン時間)
を計測することも考えられるが、このようにすると、ス
ピンドルモータ15が回転していないで、塵埃の発生の
可能性の少ない時間も計測するため、汚れの状況を的確
に把握できず、適切に清掃要求を認識できない。
【0015】本発明の請求項2では、清掃要求を不揮発
性メモリ45に格納しておくので、電源オフされても、
清掃要求を保存でき、清掃要求が電源オフにより消失す
ることがなく、清掃の実施を認識して、不揮発性メモリ
45の清掃要求をクリアするので、清掃の完了により保
存した清掃要求をクリアできる。
【0016】本発明の請求項3では、スピンドルモータ
15の回転時間を清掃カウンタ46により計数し、清掃
カウンタ46が所定値となる毎に、不揮発性メモリ45
の計測値を更新し、不揮発性メモリ45の計測値が所定
値となったことに応じて清掃要求を出力するので、不揮
発性メモリ45により、計測時間が電源オフにより消失
することがなく、又清掃カウンタ46により計数値が所
定値となると、不揮発性メモリ45を更新するので、不
揮発性メモリ45の必要なビット数を削減でき、アクセ
ス回数も削減できる。
【0017】本発明の請求項4では、スピンドルモータ
15の回転時間を清掃カウンタ46により計数するとと
もに、光ディスク20のイジェクト回数を計数し、イジ
ェクト回数が所定回数となった時に、清掃カウンタ46
の値で不揮発性メモリ45の計測値を更新し、不揮発性
メモリ45の計測値が所定値となったことに応じて清掃
要求を出力するので、不揮発性メモリ45により、計測
時間が電源オフにより消失することがなく、又イジェク
ト回数が所定回数毎に不揮発性メモリ45を更新するの
で、時間のかかる不揮発性メモリ45に対するアクセス
回数を削減でき、制御部44の他の制御に影響を与えな
い。
【0018】
【実施例】 (a) 第1の実施例の説明 図2は本発明の一実施例構成図、図3は本発明の一実施
例裏面図であり、光磁気ディスク装置を示している。
【0019】図2(A)中、1は光磁気ディスク装置で
あり、10は可動光学ヘッドであり、光ディスク20に
光を照射して、書き込み、読み出しを行うもの、10a
は固定光学ヘッドであり、発光部(レーザーダイオー
ド)102、光学系、受光部等の固定部分を収納するも
の、11はVCM(ボイスコイルモータ)コイルであ
り、光学ヘッド10を光ディスク20の半径方向に駆動
するものである。
【0020】12はポジショナー(可動部分)であり、
光学ヘッド10とVCMコイル11を備えるものであ
り、13はポジショナー12の内周ストッパであり、1
4はポジショナー12の外周ストッパであり、15はス
ピンドルモータであり、光ディスク20を回転するも
の、16は外部磁石であり、光ディスク20に磁界を与
え、書き込み可能とするものである。
【0021】2は光ディスクカートリッジであり、光デ
ィスク20を備え、光磁気ディスク装置1に着脱される
ものである。図2(B)において、17は発光部であ
り、LED(発光ダイオード)で構成され、ポジショナ
ー12に設けられ、半導体位置検出素子18に光を発光
するもの、18は半導体位置検出素子(PSD)であ
り、ポジショナー12の移動経路に並行に設けられ、発
光部17の光を受光面18aで検出して、ポジショナー
12の位置(絶対位置)に対応する電流出力を発生する
ものである。
【0022】図2(B)、図3において、11aはVC
M磁石であり、VCMコイル11とともに、VCM(直
進モータ)を構成するもの、12aは空間部であり、ス
ピンドルモータ15が邪魔にならずポジショナー12を
移動可能とするためのもの、12bは連結部であり、V
CMコイル11と光学ヘッド10とを連結し、空間部1
2aを形成するものである。
【0023】100は固定ヘッド10aの入出射窓であ
り、可動ヘッド10に光を入出射するもの、101は可
動ヘッド10の入出射窓であり、固定ヘッド10aに光
を入出射するものである。
【0024】ここで、清掃の対象は、固定ヘッド10a
の入出射窓100、可動ヘッド10の対物レンズ、入出
射窓101である。図3の裏面図に示すように、光学ヘ
ッド10の光照射方向と反対の裏面側に、半導体位置検
出素子18が固定され、発光部17がポジショナー12
の光学ヘッド10の近傍に設けられている。
【0025】このように、発光部17を独立に設けてい
るので、光学ヘッド10が発光していない時でも、位置
検出ができ、シーク動作が可能となり、発光量も十分と
れ、正確な位置検出によるシーク動作が可能となる。
【0026】しかも、裏面側に設けたので、光学ヘッド
10の発光時に、迷い光により、位置を誤検出するおそ
れがない。又、光学ヘッド10は対物レンズ、トラック
/フォーカスアクチュエータ等の可動部のみを搭載し、
発光部、受光部、光学系は固定光学ヘッド10aに設け
られ、固定光学ヘッド10aと可動光学ヘッド10とは
光結合しており、これにより、可動光学ヘッド10を軽
くでき、高速駆動が可能となる。
【0027】更に、スピンドルモータ15を横から跨ぐ
ように、ポジショナー12を構成しているので、高速の
VCMを用いて、装置を小型化できる。図4は本発明の
一実施例ブロック図である。
【0028】図中、図2、図3で示したものと同一のも
のは同一の記号で示してあり、30、31は各々電流・
電圧変換回路であり、半導体位置検出素子18の両端の
電流出力I1 、I2 を電圧V1 、V2 に変換するもの、
32は差回路であり、電圧V 1 から電圧V2 を差引き、
位置信号を発生するもの、33はA/D(アナログ/デ
ジタル)コンバータであり、アナログ位置信号をデジタ
ル信号に変換して、制御部44に入力するものである。
【0029】34はD/A(デジタル/アナログ)コン
バータであり、制御部44のデジタル駆動信号をアナロ
グ駆動信号に変換するもの、35は差回路であり、位置
信号から駆動信号を差引き、位置誤差信号を発生するも
の、36は位相補償回路であり、位置誤差信号の高域成
分を進ませ、位相補償するもの、37はVCM駆動アン
プであり、位相補償回路36の出力により、ポジショナ
ー12のVCMコイル11を電流駆動するものである。
【0030】38はトラックサーボ制御部であり、可動
光学ヘッド10の反射光から固定光学ヘッド10aが発
生したトラックエラー信号TESにより、光学ヘッド1
0のトラックアクチュエータをサーボ制御するもの、3
9はフォーカスサーボ制御部であり、光学ヘッド10の
反射光から固定光学ヘッド10aが発生したフォーカス
エラー信号FESにより、光学ヘッド10のフォーカス
アクチュエータをサーボ制御するものである。
【0031】40はリード回路であり、固定ヘッド10
aの光検出出力から再生信号を生成し、制御部44に出
力するもの、41はライト回路であり、制御部44の制
御により、固定ヘッド10aのレーザーダイオード10
0をライト制御するもの、42はモータ駆動回路であ
り、制御部44の指示により、スピンドルモータ15を
回転駆動するものである。
【0032】44は制御部であり、マイクロプロセッサ
(MPU)で構成され、上位からの指示により、シーク
制御、リード/ライト制御等をプログラムの実行により
行うもの、45は不揮発性メモリであり、EEPROM
(電気的消去可能なプログラマブル・リード・オンリー
・メモリ)で構成され、パラメータ等を格納するととも
に、清掃カウンタ、清掃フラグが設けられるもの、46
はRAM(ランダム・アクセス・メモリ)であり、清掃
カウンタ等を格納するものである。
【0033】この実施例では、制御部44の駆動信号と
位置信号との差である位置誤差信号により、VCMコイ
ル11を駆動できる。即ち、制御部(以下、プロセッサ
という)44は、上位から与えられた目標位置rに対す
る出力値Xを算出し、DAコンバータ34に駆動信号X
を出力し、差回路35から発生する半導体位置検出素子
18の位置信号とDAコンバータ34の駆動信号Xとの
位置誤差信号が、位相補償回路36、VCM駆動アンプ
37を介しVCMコイル11に与えられ、シーク移動す
る。
【0034】プロセッサ44は、ADコンバータ33か
らの位置信号が目標位置となると、目標位置(トラッ
ク)に位置決めされたことになり、シーク完了と判定
し、シーク動作を終了する。
【0035】その後、プロセッサ44は、トラックサー
ボ制御部38、フォーカスサーボ制御部39をサーボオ
ンして、光学ヘッド10によりリード/ライトを行う。
又、制御部44は、光磁気ディスクカートリッジ2のロ
ードに応じて、スピンドルモータ15をモータ駆動回路
42を介して回転し、スピンドルモータ15のエンコー
ダ(図示せず)からの1回転パルスを受けて、回転を認
識する。
【0036】図5は本発明の第1の実施例処理フロー図
である。 プロセッサ44は、スピンドルモータ15が回転中か
を判定し、回転中でないなら、再度回転中か判定する。
【0037】プロセッサ44は、スピンドルモータ1
5が回転中と判定すると、上位からのコマンドに対する
動作(シーク動作、リード/ライト動作)を実行中かを
判定し、実行中なら、ステップに戻る。
【0038】このように、コマンド動作実行中にスピン
ドルモータ15が回転していても、計測処理しないの
は、かかる処理により、シーク動作、リード/ライト動
作が遅くなるおそれがあるからである。
【0039】プロセッサ44は、上位からのコマンド
に対する動作が実行中でないと判定すると、スピンドル
モータ15の1回転パルス(回転信号)を調べ、回転パ
ルスを検出していないと、ステップに戻り、回転パル
スを検出すると、RAM46のレンズ清掃カウンタの値
に「1」加算し、レンズ清掃カウンタの計数値がカウン
トオーバー(所定値以上)かを調べ、カウントオーバー
でなければ、ステップに戻る。
【0040】プロセッサ44は、レンズ清掃カウンタ
の計数値がカウントオーバーなら、RAM46のレンズ
清掃カウンタをクリアし、EEPROM45の清掃カウ
ンタの計測値に「1」加算し、清掃カウンタの計測値が
所定値になったかを判定し、所定値に達してなければ、
ステップに戻る。
【0041】プロセッサ44は、清掃カウンタの計測
値が所定値になったと判定すると、EEPROM45の
清掃カウンタをクリアして、パーソナルコンピュータ等
の上位に対し、清掃要求を発行し、EEPROM45の
清掃要求フラグを立てる。
【0042】上位は、かかる清掃要求に応じて、処理を
中断し、表示部等に清掃要求メッセージを表示する。 プロセッサ44は、清掃が行われたかを判定する。
【0043】清掃が行われたことを認識する方法とし
て、オペレータが清掃して、光磁気ディスク装置1に設
けられたクリアスイッチの押下を検出する方法や、上位
からのクリアフラグコマンドを受ける方法、保守員が光
磁気ディスク装置に接続したターミナルからフラグをク
リアする方法、清掃カートリッジのロードを認識し、清
掃カートリッジによる清掃終了による方法がある。
【0044】そして、プロセッサ44は、清掃が終了し
たことを認識すると、EEPROM45の清掃フラグを
クリアし、ステップに戻る。このようにして、スピン
ドルモータ15の回転時間を計測して、スピンドルモー
タ15の回転による光学ヘッド10への塵埃の程度を測
定し、清掃要求を出力するため、適切な時点で清掃要求
を出力できる。
【0045】又、EEPROMという不揮発性メモリ4
5に計測値を格納するので、電源がオフとなっても、計
測値を消失することがなく、又清掃フラグも保存するの
で、清掃要求を消失することもない。
【0046】更に、RAM46のレンズ清掃カウンタで
時間計数の上、不揮発性メモリ45を更新するので、不
揮発性メモリ45のアクセス回数が減り、清掃カウンタ
のビット数も少なくて済む。
【0047】(b) 第2の実施例の説明 図6は本発明の第2の実施例処理フロー図である。この
実施例の構成は、図2乃至図4と同一である。
【0048】プロセッサ44は、スピンドルモータ1
5が回転中かを判定し、回転中でないなら、再度回転中
か判定する。 プロセッサ44は、スピンドルモータ15が回転中と
判定すると、上位からのコマンドに対する動作(シーク
動作、リード/ライト動作)を実行中かを判定し、実行
中なら、ステップに戻る。
【0049】プロセッサ44は、上位からのコマンド
に対する動作が実行中でないと判定すると、スピンドル
モータ15の1回転パルス(回転信号)を調べ、回転パ
ルスを検出していないと、ステップに戻り、回転パル
スを検出すると、RAM46のレンズ清掃カウンタの値
に「1」加算する。
【0050】プロセッサ44は、光ディスクカートリ
ッジ2がイジェクト(排出)されたかを調べ、排出され
てないと、ステップに戻り、排出されると、RAM4
6に設けたイジェクト回数カウンタのイジェクト値に
「1」加算し、イジェクト回数カウンタのイジェクト回
数が所定回数となったかを調べ、所定回数になっていな
いと、ステップに戻る。
【0051】プロセッサ44は、イジェクト回数カウ
ンタのイジェクト回数が所定回数以上なら、RAM46
のイジェクト回数カウンタをクリアし、EEPROM4
5の清掃カウンタの計測値に、RAM46の清掃カウン
タの計数値を加算し、RAM46の清掃カウンタの計数
値をクリアする。
【0052】そして、プロセッサ44は、EEPROM
45の清掃カウンタの計測値が所定値になったかを判定
し、所定値に達してなければ、ステップに戻る。 プロセッサ44は、清掃カウンタの計測値が所定値に
なったと判定すると、EEPROM45の清掃カウンタ
をクリアして、パーソナルコンピュータ等の上位に対
し、清掃要求を発行し、EEPROM45の清掃要求フ
ラグを立てる。
【0053】上位は、かかる清掃要求に応じて、処理を
中断し、表示部等に清掃要求メッセージを表示する。 プロセッサ44は、清掃が行われたかを判定する。
【0054】そして、プロセッサ44は、清掃が終了し
たことを認識すると、EEPROM45の清掃フラグを
クリアし、ステップに戻る。このようにして、スピン
ドルモータ15の回転時間を計測して、スピンドルモー
タ15の回転による光学ヘッド10への塵埃の程度を測
定し、清掃要求を出力するため、適切な時点で清掃要求
を出力できる。
【0055】又、EEPROMという不揮発性メモリ4
5に計測値を格納するので、電源がオフとなっても、計
測値を消失することがなく、又清掃フラグも保存するの
で、清掃要求を消失することもない。
【0056】更に、RAM46のレンズ清掃カウンタで
時間計数の上、イジェクト回数が所定回数となると、不
揮発性メモリ45を更新するので、時間のかかる不揮発
性メモリ45のアクセス回数が大幅に減り、清掃カウン
タのビット数も少なくて済む。
【0057】この例は、電源をオンしたまま使用する光
ディスクライブラリー装置に適用すると、好適である。 (c) 他の実施例の説明 上述の実施例の他に、本発明は次の変形が可能である。
【0058】光磁気ディスク装置で説明したが、光デ
ィスク装置、光カード装置等の他の装置に適用すること
もできる。 プロセッサ44に余裕があれば、上位からのコマンド
動作中にも、スピンドルモータ15の回転時間を計数し
ても良い。
【0059】不揮発性メモリをEEPROMで説明し
たが、他の不揮発性メモリを用いても良い。 以上、本発明を実施例により説明したが、本発明の主旨
の範囲内で種々の変形が可能であり、これらを本発明の
範囲から排除するものではない。
【0060】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次の効果を奏する。 光ディスク装置の光学ヘッドに塵埃を招くスピンドル
モータの回転時間を計測して、清掃要求を出力するの
で、光ディスク装置に最適な時点で清掃の必要性を通知
できる。
【0061】自動計測するので、清掃忘れ等を防止で
き、リード/ライトエラーが発生することを未然に防止
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理図である。
【図2】本発明の一実施例構成図である。
【図3】本発明の一実施例裏面図である。
【図4】本発明の一実施例ブロック図である。
【図5】本発明の第1の実施例処理フロー図である。
【図6】本発明の第2の実施例処理フロー図である。
【符号の説明】
1 光磁気ディスク装置 2 光ディスクカートリッジ 10 光学ヘッド 11 VCM 12 ポジショナー 15 スピンドルモータ 20 光ディスク 44 制御部 45 不揮発性メモリ 46 メモリ
フロントページの続き (72)発明者 山本 学 東京都千代田区内幸町1丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 スピンドルモータ(15)により回転さ
    れる光ディスク(20)に光を照射して、少なくとも情
    報を読み取るための光学ヘッド(10)と、該光学ヘッ
    ド(10)を制御する制御部(44)とを有する光ディ
    スク装置において、 該制御部(44)は、該スピンドルモータ(15)の回
    転時間を計測し、該計測した回転時間により、光学ヘッ
    ドの清掃要求を出力することを特徴とする光ディスク装
    置の清掃管理方法。
  2. 【請求項2】 前記制御部(44)は、前記清掃要求を
    不揮発性メモリ(45)に格納しておき、 清掃の実施を認識して、前記不揮発性メモリ(45)の
    前記清掃要求をクリアすることを特徴とする請求項1の
    光ディスク装置の清掃管理方法。
  3. 【請求項3】 前記制御部(44)は、前記スピンドル
    モータ(15)の回転時間を清掃カウンタ(46)によ
    り計数し、清掃カウンタ(46)が所定値となる毎に、
    不揮発性メモリ(45)の計測値を更新し、前記不揮発
    性メモリ(45)の計測値が所定値となったことに応じ
    て清掃要求を出力することを特徴とする請求項1又は2
    の光ディスク装置の清掃管理方法。
  4. 【請求項4】 前記制御部(44)は、前記スピンドル
    モータ(15)の回転時間を清掃カウンタ(46)によ
    り計数するとともに、光ディスク(20)のイジェクト
    回数を計数し、イジェクト回数が所定回数となった時
    に、該清掃カウンタ(46)の値で不揮発性メモリ(4
    5)の計測値を更新し、前記不揮発性メモリ(45)の
    計測値が所定値となったことに応じて清掃要求を出力す
    ることを特徴とする請求項1又は2の光ディスク装置の
    清掃管理方法。
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