JP2708658B2

JP2708658B2 - 位置決め装置

Info

Publication number: JP2708658B2
Application number: JP4268392A
Authority: JP
Inventors: 功正木
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1992-02-28
Filing date: 1992-02-28
Publication date: 1998-02-04
Anticipated expiration: 2013-02-04
Also published as: JPH05242616A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】（目次）産業上の利用分野従来の技術発明が解決しようとする課題課題を解決するための手段（図１）作用実施例 (a) 一実施例構成の説明（図２乃至図３） (b) 一実施例処理の説明（図４乃至図９） (c) 他の実施例の説明発明の効果

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は、ポジショナーの絶対位
置を検出して、ポジショナーを目標位置に位置決め制御
する位置決め装置に関する。

【０００３】磁気ディスク装置、光ディスク装置（光磁
気ディスク装置を含む）等では、ディスクの半径方向に
ヘッドをシーク動作するため、ポジショナーが用いられ
る。例えば、光ディスク装置では、レーザーダイオード
の光を、回転するディスク状記録担体上に照射すること
により、情報を記録したり、その反射光の性質（光量、
偏光面等）の変化を検出することにより、情報を再生し
たりする。

【０００４】内周から外周にわたる光ディスク全周に対
し、情報を記録・再生するためには、ヘッドを光ディス
クの半径方向に移動させる必要があり、この可動部分を
ポジショナーと称している。

【０００５】このようなポジショナーでは、構成の簡易
さから、絶対位置検出機構を用いて、目標位置に位置決
めしており、正確な位置決め動作が要求されている。

【０００６】

【従来の技術】光ディスク装置において、光学ヘッドの
移動経路に、半導体位置検出素子を設け、光学ヘッドの
絶対位置を半導体検出素子によって検出し、目標位置の
駆動信号との差により、光学ヘッドの駆動部を制御する
ものが提案されている（例えば、特開昭６３−２８１２
３１号公報等）。

【０００７】このようなものでは、目標位置の駆動信号
と半導体検出素子の検出出力との差により駆動するた
め、駆動信号は目標絶対位置に対応している必要があ
り、絶対位置と検出出力、駆動信号との関係がわかって
いなければならない。

【０００８】この関係は、設計値から計算により、求め
ることができ、従来は設計値により、決定していた。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、次の問題があった。装置間に、回路の特性、素子の固定位置等の機構のバ
ラツキがあり、設計値では、正確な関係が得られなくな
り、正確な位置決め動作が実現できない。

【００１０】特に、光ディスク等のように、ミクロン
オーダーの位置決めを行うには、若干のこれらのバラツ
キでも、位置決めを正確にできなくなる。従って、本発
明は、回路、機構のバラツキがあっても、正確な位置決
めを行うことができる位置決め装置を提供することを目
的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図で
ある。本発明の請求項１は、位置決め動作するポジショ
ナー１２と、該ポジショナー１２の絶対位置を検出する
位置検出部１８と、該位置検出部の検出出力と目標位置
の駆動出力との差により、該ポジショナー１２を駆動制
御する制御部４６とを有する位置決め装置において、該
制御部４６は、該駆動出力を制御して、基準の２点の位
置に位置決めして、該２点の位置と駆動出力とから、位
置と駆動出力との関係を計測して、格納部４７に格納し
ておき、該ポジショナー１２の駆動制御時に、該格納し
た計測値から目標位置に対応する駆動出力を算出するこ
とを特徴とする。

【００１２】本発明の請求項２は、請求項１において、
前記制御部４６は、所定の２点の位置に位置決めして、
前記駆動出力と前記検出出力を測定して、前記駆動出力
と前記検出出力との関係を計測した後、前記基準の２点
の位置に位置決めして、前記検出出力と位置との関係と
を計測することを特徴とする。

【００１３】本発明の請求項３は、請求項２において、
前記制御部４６は、前記駆動出力により、前記ポジショ
ナー１２の限界位置まで駆動した後、前記所定の２点の
位置に位置決めすることを特徴とする。

【００１４】本発明の請求項４は、請求項１又は２又は
３において、前記ポジショナー１２は、情報記憶ディス
ク２０の内容を少なくとも読み取るヘッド１０を含み、
前記情報記憶ディスク２０の内周と外周の基準の２点位
置に、該ヘッド１０の出力を用いて、位置決めすること
を特徴とする。

【００１５】本発明の請求項５は、請求項４において、
前記情報記憶ディスク２０が、光ディスクであり、前記
基準の２点位置が、前記光ディスクのグルーブと鏡面と
の境界と、ＰＥＰゾーンであることを特徴とする。

【００１６】本発明の請求項６は、請求項３又は４又は
５において、前記制御部４６は、前記限界位置の検出出
力を前記格納部４７に格納することを特徴とする。

【００１７】

【作用】本発明の請求項１では、制御部４６は、該駆動
出力を制御して、基準の２点の位置に位置決めして、該
２点の位置と駆動出力とから、位置と駆動出力との関係
を計測して、個々の装置の特性を測定し、これを格納部
４７に格納しておき、該ポジショナー１２の駆動制御時
に、該格納した計測値から目標位置に対応する駆動出力
を算出することにより、回路、機構にバラツキがあって
も、個々の装置にあった正確な位置決め制御が可能とな
る。

【００１８】本発明の請求項２では、制御部４６は、所
定の２点の位置に位置決めして、前記駆動出力と前記検
出出力を測定して、前記駆動出力と前記検出出力との関
係を計測した後、前記基準の２点の位置に位置決めし
て、前記検出出力と位置との関係とを計測するため、位
置と検出出力、駆動出力との関係を容易に測定でき、回
路、機構のバラツキがあっても、個々の装置にあった正
確な位置決めが可能となる。

【００１９】本発明の請求項３では、制御部４６は、前
記駆動出力により、前記ポジショナー１２の限界位置ま
で駆動した後、前記所定の２点の位置に位置決めするの
で、駆動出力と位置の関係がわからなくても、限界位置
を基準に所定位置に位置決めして、特性を測定できる。

【００２０】本発明の請求項４では、ポジショナー１２
は、情報記憶ディスク２０の内容を少なくとも読み取る
ヘッド１０を含み、前記情報記憶ディスク２０の内周と
外周の基準の２点位置に、該ヘッド１０の出力を用い
て、位置決めするため、情報記憶ディスクに対しても、
容易に基準位置に位置決めして、特性を測定できる。

【００２１】本発明の請求項５では、情報記憶ディスク
２０が、光ディスクであり、前記基準の２点位置が、前
記光ディスクのグルーブと鏡面との境界と、ＰＥＰゾー
ンであるので、正確に基準位置に位置決めして、特性を
測定できる。

【００２２】本発明の請求項６では、制御部４６は、前
記限界位置の検出出力を前記格納部４７に格納するの
で、限界位置も測定でき、駆動出力のエラー検出等に利
用でき、暴走を防止できる。

【００２３】

【実施例】

(a) 一実施例の構成の説明図２は本発明の一実施例構成図、図３は本発明の一実施
例ブロック図であり、光磁気ディスク装置を示してい
る。

【００２４】図２（Ａ）中、１は光磁気ディスク装置で
あり、１０は光学ヘッドであり、光ディスク２０に書き
込み、読み出しを行うもの、１１はＶＣＭ（ボイスコイ
ルモータ）コイルであり、光学ヘッド１０を光ディスク
２０の半径方向に駆動するもの、１２はポジショナー
（可動部分）であり、光学ヘッド１０とＶＣＭコイル１
１を備えるものである。

【００２５】１３はポジショナー１２の内周ストッパで
あり、１４はポジショナーの外周ストッパであり、１５
はスピンドルモータであり、光ディスク２０を回転する
もの、１６は外部磁石であり、光ディスク２０に磁界を
与え、書き込み可能とするものである。

【００２６】２は光ディスクカートリッジであり、光デ
ィスク２０を備え、光磁気ディスク装置１に着脱される
ものである。図２（Ｂ）において、１７は発光部であ
り、ＬＥＤ（発光ダイオード）で構成され、ポジショナ
ー１２に設けられ、半導体位置検出素子１８に光を発光
するもの、１８は半導体位置検出素子（ＰＳＤ）であ
り、ポジショナー１２の移動経路に並行に設けられ、発
光部１７の光を受光面１８ａで検出して、ポジショナー
１２の位置（絶対位置）に対応する電流出力を発生する
ものである。

【００２７】図３において、３０、３１は各々電流／電
圧変換部であり、各々半導体位置検出素子１８の両端の
電流出力Ｉ₁、Ｉ₂を電圧Ｖ₁、Ｖ₂に変換するもの、
３２は差回路であり、電圧Ｖ₁から電圧Ｖ₂を差引き、
位置信号を発生するもの、３３はＡＤ（アナログ・デジ
タル）コンバータであり、アナログ位置信号をデジタル
信号に変換して、制御部４６に入力するものである。

【００２８】３４は微分回路であり、位置信号を微分し
て、速度信号を得るもの、３５はＡＤ（アナログ・デジ
タル）コンバータであり、アナログ速度信号をデジタル
信号に変換して、制御部４６に入力するものであり、３
６はＤＡ（デジタル・アナログ）コンバータであり、制
御部４６のデジタル駆動信号をアナログ駆動信号に変換
するもの、３７は差回路であり、位置信号から駆動信号
を差引き、位置誤差信号を発生するものである。

【００２９】３８は位相補償回路であり、位置誤差信号
の高域成分を進ませ、位相補償するもの、３９は第１の
スイッチであり、制御部４６の制御により、位相補償回
路３８を和回路４２に接続するためのもの、４０は第２
のスイッチであり、微分回路３４を和回路４２に接続す
るためのもの、４１はＤＡ（デジタル・アナログ）コン
バータであり、制御部４６のデジタル駆動信号をアナロ
グ駆動信号に変換するものである。

【００３０】４２は和回路であり、第１、第２のスイッ
チ３９、４０の位置誤差信号、速度信号、ＤＡコンバー
タ４１の駆動信号の和をとるもの、４３はＶＣＭ駆動ア
ンプであり、和回路４２の出力により、ポジショナー１
２のＶＣＭコイル１１を電流駆動するものである。

【００３１】４４はトラックサーボ制御部であり、光学
ヘッド１０の反射光からトラックエラー信号ＴＥＳを検
出して、光学ヘッド１０のトラックアクチュエータをサ
ーボ制御するもの、４５はフォーカスサーボ制御部であ
り、光学ヘッド１０の反射光からフォーカスエラー信号
ＦＥＳを検出して、光学ヘッド１０のフォーカスアクチ
ュエータをサーボ制御するものある。

【００３２】４６は制御部であり、マイクロプロセッサ
（ＭＰＵ）で構成され、シーク制御等をプログラムの実
行により行うもの、４７は不揮発性メモリであり、ＥＥ
ＰＲＯＭ（電気的消去可能なプログラマブル・リード・
オンリー・メモリ）で構成され、測定した特性値等を格
納するものである。

【００３３】この実施例では、制御部４６の駆動信号と
位置信号との差である位置誤差信号と、速度信号と、制
御部４６の駆動信号とにより、ＶＣＭコイル１１を駆動
できる。

【００３４】(b) 一実施例の処理の説明図４、図５、図６は本発明の一実施例計測処理フロー図
（その１）、（その２）、（その３）、図７は本発明の
一実施例計測動作説明図、図８は本発明の一実施例光デ
ィスク媒体レイアウト説明図である。

【００３５】図８に示すように、ＩＳＯ準拠５インチ光
ディスク媒体のレイアウトは、内周から鏡面部と、媒体
の種類（１トラックのセクタ数、１セクタ中のバイト
数、光磁気かライトワンスか、記録膜の反射率、ランド
又はグルーブ記録か等）を記録したＰＥＰ（Phase-Enco
ded Part）ゾーンと、遷移（ＰＥＰからＳＦＰへ）ゾー
ンと、詳細情報（装置毎のライトパワー、パルス幅等）
を記録した内周側ＳＦＰゾーンと、内周製造者ゾーン
（ガードバンド、製造者テストゾーン、ガードバンド）
と、ユーザーゾーンと、外周製造者ゾーンと、外周ＳＦ
Ｐゾーンと、リードアウトゾーンと、外周鏡面部とから
なる。

【００３６】このような光ディスクのレイアウトを利用
して、図４以下のようにして、特性計測を行う。計測処理は、工場での調整時に行い、制御部（以下プ
ロセッサと言う）４６は、計測処理の起動により、第
１、第２のスイッチ３９、４０をオフし、ＤＡコンバー
タ４１に、８０Ｈ（中心値であり、インナー、アウター
のいずれにも動かない）＋８Ｈを出力し、和回路４２、
ＶＣＭ駆動アンプ４３よりＶＣＭコイル１１を駆動し
て、アウター側にポジショナー１２を移動する。

【００３７】これにより、半導体位置検出素子１８から
の出力により、差回路３２から位置信号が発生し、微分
回路３４から速度信号が得られる。この駆動は、オープ
ンループのため、図７に示すように、ポジショナー１２
は、アウター側の外周ストッパ１４に突き当たり、機械
的に停止するから、プロセッサ４６は、ＡＤコンバータ
３５の速度出力を監視し、速度がゼロかを判定し、速度
がゼロなら、ポジショナー１２は、外周ストッパ１４に
突き当たり停止したと判定する。

【００３８】この位置は、外周側の移動限界ｅのため、
プロセッサ４６は、ＡＤコンバータ３３の位置信号を読
み、最アウター位置Ｙ０として、セーブする。次に、プロセッサ４６は、ＤＡコンバータ４１に、８
０Ｈ（中心値であり、インナー、アウターのいずれにも
動かない）を出力し、和回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４
３よりＶＣＭコイル１１を駆動して、移動をロックす
る。

【００３９】プロセッサ４６は、回路定数から最アウタ
ー位置Ｙ０に、ポジショナー１２を位置ロックするため
のＤＡコンバータ３６の出力値（駆動信号）Ｘ０を計算
し、ＤＡコンバータ３６に出力し、第１のスイッチ３９
をオンし、和回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４３よりＶＣ
Ｍコイル１１を駆動して、最アウター位置で位置ロック
する。

【００４０】次に、図７のｄ点にシークするため、プ
ロセッサ４６は、ＤＡコンバータ３６に、Ｘｄ（＝Ｘ０
−１０Ｈ）を出力し、和回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４
３よりＶＣＭコイル１１を駆動して、ｄ点に位置決め
し、ＡＤコンバータ３３の位置信号を読み、ｄ点位置Ｙ
ｄとして、セーブし、第１のスイッチ３９をオフし、位
置ロックを解除する。

【００４１】次に、プロセッサ４６は、ＤＡコンバー
タ４１に、８０Ｈ（中心値）−８Ｈを出力し、和回路４
２、ＶＣＭ駆動アンプ４３よりＶＣＭコイル１１を駆動
して、インナー側にポジショナー１２を移動する。

【００４２】これにより、半導体位置検出素子１８から
の出力により、差回路３２から位置信号が発生し、微分
回路３４から速度信号が得られる。この駆動は、オープ
ンループのため、図７に示すように、ポジショナー１２
は、インナー側の内周ストッパ１３に突き当たり、機械
的に停止するから、プロセッサ４６は、ＡＤコンバータ
３５の速度出力を監視し、速度がゼロかを判定し、速度
がゼロなら、ポジショナー１２は、内周ストッパ１３に
突き当たり停止したと判定する。

【００４３】この位置は、内周側の移動限界ｆのため、
プロセッサ４６は、ＡＤコンバータ３３の位置信号を読
み、最インナー位置Ｙｉとして、セーブする。図５に移り、プロセッサ４６は、ＤＡコンバータ４１
に、８０Ｈ（中心値）を出力し、和回路４２、ＶＣＭ駆
動アンプ４３よりＶＣＭコイル１１を駆動して、移動を
ロックする。

【００４４】プロセッサ４６は、回路定数から最インナ
ー位置Ｙｉに、ポジショナー１２を位置ロックするため
のＤＡコンバータ３６の出力値（駆動信号）Ｘｉを計算
し、ＤＡコンバータ３６に出力し、第１のスイッチ３９
をオンし、和回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４３よりＶＣ
Ｍコイル１１を駆動して、最インナー位置で位置ロック
する。

【００４５】次に、図７のａ点にシークするため、プ
ロセッサ４６は、ＤＡコンバータ３６に、Ｘａ（＝Ｘｉ
−１０Ｈ）を出力し、和回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４
３よりＶＣＭコイル１１を駆動して、ａ点に位置決め
し、ＡＤコンバータ３３の位置信号を読み、ａ点位置Ｙ
ａとして、セーブする。

【００４６】これにより、外周限界と内周限界から一定
距離の２点ａ、ｄのＤＡコンバータ３６の値（駆動信
号）と、ＡＤコンバータ３３の値（位置検出出力）が測
定できたので、プロセッサ４６は、ＤＡコンバータ３６
の駆動信号ＸとＡＤコンバータ３３の位置検出出力Ｙと
の関係式である下記（１）式の係数を算出する。

【００４７】Ｘ＝Ａ１・Ｙ＋Ｂ１（１）この係数は、次の式により算出する。Ａ１＝（Ｘｄ−Ｘａ）／（Ｙｄ−Ｙａ）Ｂ１＝Ｘａ−〔（Ｘｄ−Ｘａ）／（Ｙｄ−Ｙａ）〕・Ｙａそして、プロセッサ４６は、この係数Ａ１、Ｂ１と外
周、内周限界値Ｙ０、Ｙｉを不揮発性メモリ４７にセー
ブしておく。

【００４８】次に、ＰＥＰゾーンｂ点に移動するた
め、プロセッサ４６は、ＤＡコンバータ３６の出力値
（駆動信号）に＋１して、ＤＡコンバータ３６に出力
し、和回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４３よりＶＣＭコイ
ル１１を１ステップづつ駆動して、媒体からの反射光量
をモニターし、ＰＥＰゾーン特有の信号が発生するかを
調べる。

【００４９】図８に示したように、ＰＥＰゾーンは、内
周から鏡面部の次のため、鏡面部では、媒体からの反射
光量はほぼ一定で変化せずＰＥＰゾーンに入ると、ＰＥ
Ｐゾーン特有の信号が発生するため、ＰＥＰゾーン特有
の信号が発生すると、ＰＥＰゾーンに移動したと判定で
きる。

【００５０】プロセッサ４６は、ＰＥＰゾーンｂ点に移
動したと判定すると、ＡＤコンバータ３３の位置信号Ｙ
ｂを読み、セーブする。この時、このＰＥＰゾーンのｂ
点の絶対位置ｒｂは、図８の半径位置に示したように、
判っており、ＤＡコンバータ３６の駆動信号値Ｘｂも判
っている。

【００５１】同様に、外周のグルーブ／鏡面境界ｃ点
に移動するため、プロセッサ４６は、ＤＡコンバータ３
６の出力値（駆動信号）に＋１して、ＤＡコンバータ３
６に出力し、和回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４３よりＶ
ＣＭコイル１１を１ステップづつ駆動して、トラックサ
ーボ制御部４４からのトラックエラー信号ＴＥＳが発生
しなくなるかを調べる。

【００５２】図８に示したように、外周の鏡面部は、リ
ードアウトゾーンの次のため、リードアウトゾーンで
は、トラックエラー信号ＴＥＳが発生し、鏡面部に入る
と、トラックエラー信号ＴＥＳが発生しなくなるため、
トラックエラー信号ＴＥＳが発生しなくなると、グルー
ブ／鏡面部の境界ｃ点に移動したと判定できる。

【００５３】プロセッサ４６は、境界ｃ点に移動したと
判定すると、ＡＤコンバータ３３の位置信号Ｙｃを読
み、セーブする。この時、この境界のｃ点の絶対位置ｒ
ｃは、図８の半径位置に示したように、判っており、Ｄ
Ａコンバータ３６の駆動信号値Ｘｃも判っている。

【００５４】このようにして、絶対位置の判っている
標準の２点に位置決めし、絶対位置ｒとＡＤコンバータ
３３の位置信号Ｙを測定すると、プロセッサ４６は、絶
対位置ｒとＡＤコンバータ３３の位置検出出力Ｙとの関
係式である下記（２）式の係数を算出する。

【００５５】Ｙ＝Ａ２・ｒ＋Ｂ２（１）この係数は、次の式により算出する。Ａ２＝（Ｙｃ−Ｙｂ）／（ｒｃ−ｒｂ）Ｂ２＝Ｙｂ−〔（Ｙｃ─Ｙｂ）／（ｒｃ−ｒｂ）〕・ｒｂそして、プロセッサ４６は、この係数Ａ２、Ｂ２と標準
２点のＡＤコンバータ３３の値Ｙｂ、Ｙｃを不揮発性メ
モリ４７にセーブして、スイッチ３９をオフして、終了
する。

【００５６】このようにして、ＤＡコンバータ３６の駆
動信号ＸとＡＤコンバータ３３の位置検出信号Ｙとの関
係、絶対位置ｒとＡＤコンバータ３３の位置検出信号と
の関係が測定でき、装置の回路、機構特性にあった絶対
位置ｒに対するＤＡコンバータ３６の駆動信号Ｘへの換
算が可能となる。

【００５７】次に、この測定値による関係を用いたシー
ク動作を説明する。図９は本発明の一実施例シーク処理
説明図である。電源オン時に、プロセッサ４６は、不揮発性メモリ４
７から係数Ａ１、Ｂ１、Ａ２、Ｂ２をロードする。

【００５８】次に、シークに先立ち、プロセッサ４６
は、第１、第２のスイッチ３９、４０をオフし、上位か
ら与えられた目標位置ｒに対する出力値Ｘを算出するた
め、前記（２）式により、係数Ａ２、Ｂ２と目標位置ｒ
とからＡＤコンバータ３３の値Ｙを算出した後、前記
（１）式により、係数Ａ１、Ｂ１と、算出したＡＤコン
バータ３３の値ＹよりＤＡコンバータ３６の駆動信号Ｘ
を算出する。

【００５９】プロセッサ４６は、ＤＡコンバータ３６
に駆動信号Ｘを出力し、第１のスイッチ３９をオンする
と、差回路３７から発生する半導体位置検出素子１８の
位置信号とＤＡコンバータ３６の駆動信号Ｘとの位置誤
差信号が、位相補償回路３８、第１のスイッチ３９、和
回路４２、ＶＣＭ駆動アンプ４３を介しＶＣＭコイル１
１に与えられ、シークする。

【００６０】位置誤差信号がゼロとなると、目標位置
（トラック）に位置決めされたことになり、速度はゼロ
となる。プロセッサ４６は、ＡＤコンバータ３５の速度
信号を監視し、速度信号がゼロとなると、シーク完了と
判定し、シーク動作を終了する。

【００６１】尚、このシーク動作は、内周ストッパ１３
へのＧＯＨＯＭＥシーク、光学ヘッド１０のレーザー
ダイオード発光調整時の媒体鏡面部にシークする時、Ｐ
ＥＰゾーンのデータリードの際のＰＥＰゾーンへのシー
クに用い、通常のユーザーゾーンのトラックへのシーク
は、トラックエラー信号ＴＥＳの計数により、位置を検
出して、ＤＡコンバータ４１より速度制御信号を出力し
て、シークする。

【００６２】このようにして、回路、機構のバラツキに
よる駆動特性を測定し、関係係数を格納しておき、シー
ク時に目標位置に対する駆動信号の算出に利用して、正
確なシークを可能とする。

【００６３】又、外周、内周に機械的に位置決めし、そ
こから基準点にシークするので、基準点を早期に見つけ
ることができ、しかも限界位置も測定できる。 (c) 他の実施例の説明上述の実施例の他に、本発明は次の変形が可能である。

【００６４】標準点を探索するため、外周限界、内周
限界に位置付けているが、直接標準点を検索して、絶対
位置とＤＡコンバータの駆動信号との関係を求めてもよ
い。光磁気ディスク装置で説明したが、光ディスク装置、
磁気ディスク装置等に適用することもできる。

【００６５】通常のシークに位置誤差信号を用いても
良い。以上、本発明の実施例により説明したが、本発明の主旨
の範囲内で種々の変形が可能であり、これらを本発明の
範囲から排除するものではない。

【００６６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次の効果を奏する。制御部が、駆動出力を制御して、基準の２点の位置に
位置決めして、２点の位置と駆動出力とから、位置と駆
動出力との関係を計測して、個々の装置の特性を測定
し、これを格納部４７に格納しておき、ポジショナー１
２の駆動制御時に、格納した計測値から目標位置に対応
する駆動出力を算出することにより、回路、機構にバラ
ツキがあっても、個々の装置にあった正確な位置決め制
御が可能となる。

【００６７】計測するので、正確に駆動特性を得るこ
とができ、容易に正確な位置決め動作が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図である。

【図２】本発明の一実施例構成図である。

【図３】本発明の一実施例ブロック図である。

【図４】本発明の一実施例計測処理フロー図（その１）
である。

【図５】本発明の一実施例計測処理フロー図（その２）
である。

【図６】本発明の一実施例計測処理フロー図（その３）
である。

【図７】本発明の一実施例計測動作説明図である。

【図８】本発明の一実施例光ディスク媒体レイアウト説
明図である。

【図９】本発明の一実施例シーク処理フロー図である。

【符号の説明】

１光磁気ディスク装置２光ディスクカートリッジ１０光学ヘッド１１ＶＣＭコイル１２ポジショナー１３内周ストッパ１４外周ストッパ１７発光部１８半導体位置検出素子４６制御部４７不揮発性メモリ

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】位置決め動作するポジショナー（１２）
と、該ポジショナー（１２）の絶対位置を検出する位置
検出部（１８）と、該位置検出部の検出出力と目標位置
の駆動出力との差により、該ポジショナー（１２）を駆
動制御する制御部（４６）とを有する位置決め装置にお
いて、該制御部（４６）は、該駆動出力を制御して、基準の２
点の位置に位置決めして、該２点の位置と駆動出力とか
ら、位置と駆動出力との関係を計測して、格納部（４
７）に格納しておき、該ポジショナー（１２）の駆動制御時に、該格納した計
測値から目標位置に対応する駆動出力を算出することを
特徴とする位置決め装置。
【請求項２】前記制御部（４６）は、所定の２点の位
置に位置決めして、前記駆動出力と前記検出出力を測定
して、前記駆動出力と前記検出出力との関係を計測した
後、前記基準の２点の位置に位置決めして、前記検出出
力と位置との関係とを計測することを特徴とする請求項
１の位置決め装置。
【請求項３】前記制御部（４６）は、前記駆動出力に
より、前記ポジショナー（１２）の限界位置まで駆動し
た後、前記所定の２点の位置に位置決めすることを特徴
とする請求項２の位置決め装置。
【請求項４】前記ポジショナー（１２）は、情報記憶
ディスク（２０）の内容を少なくとも読み取るヘッド
（１０）を含み、前記情報記憶ディスク（２０）の内周
と外周の基準の２点位置に、該ヘッド（１０）の出力を
用いて、位置決めすることを特徴とする請求項１又は２
又は３の位置決め装置。
【請求項５】前記情報記憶ディスク（２０）が、光デ
ィスクであり、前記基準の２点位置が、前記光ディスク
のグルーブと鏡面との境界と、ＰＥＰゾーンであること
を特徴とする請求項４の位置決め装置。
【請求項６】前記制御部（４６）は、前記限界位置の
検出出力を前記格納部（４７）に格納することを特徴と
する請求項３又は４又は５の位置決め装置。