JP2001202666A - 再生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置 - Google Patents
再生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置Info
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- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
- G11B7/00736—Auxiliary data, e.g. lead-in, lead-out, Power Calibration Area [PCA], Burst Cutting Area [BCA], control information
Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁壁移動型光磁気媒体を用いた場合、再生パ
ワーはジッター特性に大きく影響し、光学系の収差等に
よらず情報を正確に再生するには再生パワーを正確に設
定する必要がある。 【解決手段】 磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生
パワーＰｒdwd 、及び磁壁が移動する最大再生パワーＰ
ｒmax を検出し、得られた磁壁移動開始再生パワーＰｒ
dwd 、及び最大再生パワーＰｒmax に基づいて最適再生
パワーＰｒを設定する。
ワーはジッター特性に大きく影響し、光学系の収差等に
よらず情報を正確に再生するには再生パワーを正確に設
定する必要がある。 【解決手段】 磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生
パワーＰｒdwd 、及び磁壁が移動する最大再生パワーＰ
ｒmax を検出し、得られた磁壁移動開始再生パワーＰｒ
dwd 、及び最大再生パワーＰｒmax に基づいて最適再生
パワーＰｒを設定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気記録媒体の
記録情報を記録磁区の磁壁を移動させることによって情
報を再生する場合の最適再生パワーを設定するための再
生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置に関するも
のである。
記録情報を記録磁区の磁壁を移動させることによって情
報を再生する場合の最適再生パワーを設定するための再
生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、光ディスクの線記録密度は、再生
光学系のレーザ波長や対物レンズの開口数に大きく依存
し、再生光学系のレーザ波長λと対物レンズの開口数Ｎ
Ａが決まるとビームウェストの径が決まるため、信号再
生時の空間周波数は２ＮＡ／λ程度が検出可能な限界で
ある。従って、従来の光ディスクで高密度化を実現する
ためには、再生光学系のレーザ波長を短くし、対物レン
ズの開口数ＮＡを大きくする必要があるが、レーザ波長
やＮＡの改善にも限度がある。このため、記録媒体の構
成や読み取り方法を工夫することによって、記録密度を
改善する技術が開発されている。
光学系のレーザ波長や対物レンズの開口数に大きく依存
し、再生光学系のレーザ波長λと対物レンズの開口数Ｎ
Ａが決まるとビームウェストの径が決まるため、信号再
生時の空間周波数は２ＮＡ／λ程度が検出可能な限界で
ある。従って、従来の光ディスクで高密度化を実現する
ためには、再生光学系のレーザ波長を短くし、対物レン
ズの開口数ＮＡを大きくする必要があるが、レーザ波長
やＮＡの改善にも限度がある。このため、記録媒体の構
成や読み取り方法を工夫することによって、記録密度を
改善する技術が開発されている。
【０００３】例えば、本願出願人においても光の回折限
界以下のピット長で記録された信号を再生することが可
能な情報再生方法を特開平６−２９０４９６号公報で提
案している。同公報の情報再生方法を図６を参照して簡
単に説明する。なお、ここでは、記録媒体が第１の磁性
層（再生層）、第２の磁性層（中間層）、第３の磁性層
（記録層）の３層構造の場合を例として説明する。ま
た、再生用光スポット自身によって形成される温度勾配
により情報を再生する場合の再生原理について説明す
る。まず、図６（ａ）は記録媒体の断面図である。この
媒体の磁性層は、第１の磁性層６０１、第２の磁性層６
０２、第３の磁性層６０３が順次積層された３層構造で
ある。各層中の矢印６０４は原子スピンの向きを表し、
スピン向きが相互に逆向きの領域の境界部には磁壁６０
５が形成されている。図６（ｂ）はこの記録層の記録信
号を示している。
界以下のピット長で記録された信号を再生することが可
能な情報再生方法を特開平６−２９０４９６号公報で提
案している。同公報の情報再生方法を図６を参照して簡
単に説明する。なお、ここでは、記録媒体が第１の磁性
層（再生層）、第２の磁性層（中間層）、第３の磁性層
（記録層）の３層構造の場合を例として説明する。ま
た、再生用光スポット自身によって形成される温度勾配
により情報を再生する場合の再生原理について説明す
る。まず、図６（ａ）は記録媒体の断面図である。この
媒体の磁性層は、第１の磁性層６０１、第２の磁性層６
０２、第３の磁性層６０３が順次積層された３層構造で
ある。各層中の矢印６０４は原子スピンの向きを表し、
スピン向きが相互に逆向きの領域の境界部には磁壁６０
５が形成されている。図６（ｂ）はこの記録層の記録信
号を示している。
【０００４】図６（ｃ）は記録媒体に形成される温度分
布を示すグラフである。この温度分布は、再生用光ビー
ム自身によって媒体上に誘起されるものである。ここ
で、位置ｘs1においては、媒体温度が第２の磁性層のキ
ュリー温度近傍の温度Ｔs になっている。この場合、ｘ
方向に磁壁エネルギー密度の勾配があると、磁壁エネル
ギーの低い方に磁壁を移動させるような力が働く。第１
の磁性層６０１は磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大き
いので、単独でこの力によって容易に磁壁が移動する。
布を示すグラフである。この温度分布は、再生用光ビー
ム自身によって媒体上に誘起されるものである。ここ
で、位置ｘs1においては、媒体温度が第２の磁性層のキ
ュリー温度近傍の温度Ｔs になっている。この場合、ｘ
方向に磁壁エネルギー密度の勾配があると、磁壁エネル
ギーの低い方に磁壁を移動させるような力が働く。第１
の磁性層６０１は磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大き
いので、単独でこの力によって容易に磁壁が移動する。
【０００５】しかし、位置ｘs1より手前の領域では、ま
だ媒体温度がＴs より低く、磁壁抗磁力の大きな第３の
磁性層６０３と交換結合しているために、第３の磁性層
６０３中の磁壁の位置に対応した位置に第１の磁性層６
０１中の磁壁も固定されている。この時、図６（ａ）に
示すように磁壁６０６が媒体の位置ｘs1にあると、媒体
温度が第２の磁性層６０２のキュリー温度近傍の温度Ｔ
s まで上昇し、第１の磁性層６０１と第３の磁性層６０
３との間の交換結合が切断される。図６（ａ）の斜線の
部分がこれに相当する。
だ媒体温度がＴs より低く、磁壁抗磁力の大きな第３の
磁性層６０３と交換結合しているために、第３の磁性層
６０３中の磁壁の位置に対応した位置に第１の磁性層６
０１中の磁壁も固定されている。この時、図６（ａ）に
示すように磁壁６０６が媒体の位置ｘs1にあると、媒体
温度が第２の磁性層６０２のキュリー温度近傍の温度Ｔ
s まで上昇し、第１の磁性層６０１と第３の磁性層６０
３との間の交換結合が切断される。図６（ａ）の斜線の
部分がこれに相当する。
【０００６】この結果、第１の磁性層６０１中の磁壁６
０６は、矢印６０７で示すようにより温度が高く磁壁エ
ネルギー密度の小さな領域、即ち、媒体温度のピークの
ある位置へと“瞬間的”に移動する。これにより、再生
用光スポットが照射される部分の第１の磁性層６０１上
の磁区の大きさは第３の磁性層６０３中の磁区の大きさ
に比べて拡大され、光学的な回折限界の影響により通常
の再生方式では再生不可能な大きさの微小記録ピットで
あっても磁性層上では再生可能な磁区長となるため、通
常の再生方式で再生可能な記録ピットを再生した場合と
ほぼ同等の再生振幅と、より急峻な立ち上がり／立ち下
がり特性を持った再生信号が得られ、光の回折限界以下
のピット長で記録された信号を再生することができる。
なお、以下、このように記録磁区の磁壁を移動させて情
報を再生する媒体を磁壁移動型光磁気媒体という。
０６は、矢印６０７で示すようにより温度が高く磁壁エ
ネルギー密度の小さな領域、即ち、媒体温度のピークの
ある位置へと“瞬間的”に移動する。これにより、再生
用光スポットが照射される部分の第１の磁性層６０１上
の磁区の大きさは第３の磁性層６０３中の磁区の大きさ
に比べて拡大され、光学的な回折限界の影響により通常
の再生方式では再生不可能な大きさの微小記録ピットで
あっても磁性層上では再生可能な磁区長となるため、通
常の再生方式で再生可能な記録ピットを再生した場合と
ほぼ同等の再生振幅と、より急峻な立ち上がり／立ち下
がり特性を持った再生信号が得られ、光の回折限界以下
のピット長で記録された信号を再生することができる。
なお、以下、このように記録磁区の磁壁を移動させて情
報を再生する媒体を磁壁移動型光磁気媒体という。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな磁壁の移動は第２の磁性層のキュリー温度近傍の温
度Ｔs の等温線と記録磁区の位置関係によって起こるた
め、磁壁の移動するタイミングは基板上の温度によって
左右される。また、ディスク基板上の磁性層の温度は、
ディスクに照射されるレーザパワーに依存し、レーザパ
ワーの設定が正確であっても、光学ヘッドのレンズの収
差、光ビームの傾き、サーボ精度等によって実際のディ
スク上の温度分布はドライブ毎、ディスク毎、あるいは
温度等の環境条件により異なったものとなる。
うな磁壁の移動は第２の磁性層のキュリー温度近傍の温
度Ｔs の等温線と記録磁区の位置関係によって起こるた
め、磁壁の移動するタイミングは基板上の温度によって
左右される。また、ディスク基板上の磁性層の温度は、
ディスクに照射されるレーザパワーに依存し、レーザパ
ワーの設定が正確であっても、光学ヘッドのレンズの収
差、光ビームの傾き、サーボ精度等によって実際のディ
スク上の温度分布はドライブ毎、ディスク毎、あるいは
温度等の環境条件により異なったものとなる。
【０００８】更に、前述のように原理的に再生条件がデ
ィスク上の温度分布に依存するため通常の光磁気方式の
記録再生装置と比較してジッター特性は再生パワーに大
きく依存する。図７は再生パワーとジッター量の関係を
示している。再生信号のジッターは再生パワーにより大
きく変化しているのがわかる。このように磁壁移動再生
を行う場合、光学系収差、各部の精度、更にはパワーの
制御誤差等を許容した上で高い記録密度を実現する為に
は、再生時のレーザパワーを正確に設定する必要性があ
った。
ィスク上の温度分布に依存するため通常の光磁気方式の
記録再生装置と比較してジッター特性は再生パワーに大
きく依存する。図７は再生パワーとジッター量の関係を
示している。再生信号のジッターは再生パワーにより大
きく変化しているのがわかる。このように磁壁移動再生
を行う場合、光学系収差、各部の精度、更にはパワーの
制御誤差等を許容した上で高い記録密度を実現する為に
は、再生時のレーザパワーを正確に設定する必要性があ
った。
【０００９】本発明は、上記従来の問題点に鑑み、光学
系の収差、各部の精度、更にはパワーの制御誤差等によ
らず、正確に最適再生パワーを設定することが可能な再
生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置を提供する
ことを目的とする。
系の収差、各部の精度、更にはパワーの制御誤差等によ
らず、正確に最適再生パワーを設定することが可能な再
生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置を提供する
ことを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、少なく
とも、第１、第２及び第３の磁性層が積層された磁壁移
動型光磁気媒体に再生用光ビームを照射し、前記第１の
磁性層の記録磁区の磁壁を移動させて、再生用光ビーム
の反射光の偏光面の変化を検出することにより記録情報
を再生するに当たり、再生用光ビームの最適パワーを設
定するための再生パワーテスト方法であって、磁壁が移
動を開始する磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd 及び磁壁
が移動する最大再生パワーＰｒmax を検出し、得られた
磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd 及び最大再生パワーＰ
ｒmax に基づいて最適再生パワーＰｒを設定することを
特徴とする再生パワーテスト方法によって達成される。
とも、第１、第２及び第３の磁性層が積層された磁壁移
動型光磁気媒体に再生用光ビームを照射し、前記第１の
磁性層の記録磁区の磁壁を移動させて、再生用光ビーム
の反射光の偏光面の変化を検出することにより記録情報
を再生するに当たり、再生用光ビームの最適パワーを設
定するための再生パワーテスト方法であって、磁壁が移
動を開始する磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd 及び磁壁
が移動する最大再生パワーＰｒmax を検出し、得られた
磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd 及び最大再生パワーＰ
ｒmax に基づいて最適再生パワーＰｒを設定することを
特徴とする再生パワーテスト方法によって達成される。
【００１１】また、本発明の目的は、少なくとも、第
１、第２及び第３の磁性層が積層された磁壁移動型光磁
気媒体に再生用光ビームを照射し、前記第１の磁性層の
記録磁区の磁壁を移動させて、再生用光ビームの偏光面
の変化を検出することにより記録情報を再生する光学的
情報再生装置において、磁壁が移動を開始する磁壁移動
開始再生パワーＰｒdwd を検出する手段と、磁壁が移動
する最大再生パワーＰｒ max を検出する手段と、得られ
た磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd と最大再生パワーＰ
ｒmax に基づいて最適再生パワーＰｒを設定する手段と
を備えたことを特徴とする光学的情報再生装置によって
達成される。
１、第２及び第３の磁性層が積層された磁壁移動型光磁
気媒体に再生用光ビームを照射し、前記第１の磁性層の
記録磁区の磁壁を移動させて、再生用光ビームの偏光面
の変化を検出することにより記録情報を再生する光学的
情報再生装置において、磁壁が移動を開始する磁壁移動
開始再生パワーＰｒdwd を検出する手段と、磁壁が移動
する最大再生パワーＰｒ max を検出する手段と、得られ
た磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd と最大再生パワーＰ
ｒmax に基づいて最適再生パワーＰｒを設定する手段と
を備えたことを特徴とする光学的情報再生装置によって
達成される。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の一実
施形態の構成を示すブロック図である。図１において、
１０１は磁壁移動型光磁気媒体であるところの光磁気デ
ィスク（以下、単にディスクという）である。ディスク
１０１の記録領域は、半径方向に複数のゾーンに分割さ
れている。また、ディスク１０１はスピンドルモータ１
０２により各ゾーンで線速度一定となるように駆動され
る。スピンドルモータ１０２はＣＰＵ１２７及びサーボ
制御回路１２６によりディスク１０１のゾーン毎に回転
速度が制御される。ディスク１０１の構造については詳
しく後述する。
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の一実
施形態の構成を示すブロック図である。図１において、
１０１は磁壁移動型光磁気媒体であるところの光磁気デ
ィスク（以下、単にディスクという）である。ディスク
１０１の記録領域は、半径方向に複数のゾーンに分割さ
れている。また、ディスク１０１はスピンドルモータ１
０２により各ゾーンで線速度一定となるように駆動され
る。スピンドルモータ１０２はＣＰＵ１２７及びサーボ
制御回路１２６によりディスク１０１のゾーン毎に回転
速度が制御される。ディスク１０１の構造については詳
しく後述する。
【００１３】ディスク１０１の上面にはディスク面に近
接して磁気ヘッド１０３が配置されている。磁気ヘッド
１０３は情報記録時に磁気ヘッドドライバー１３２の駆
動により記録信号に応じて変調された磁界を発生し、デ
ィスク１０１に印加する。磁気ヘッドドライバー１３２
はタイミング制御ロジック回路からの信号に応じて磁気
ヘッド１０３に駆動電流を供給する。また、ディスク１
０１の下面には、磁気ヘッド１０３と対向して光学ヘッ
ド１４０が配置されている。光学ヘッド１４０内には、
半導体レーザ１０５が設けられている。
接して磁気ヘッド１０３が配置されている。磁気ヘッド
１０３は情報記録時に磁気ヘッドドライバー１３２の駆
動により記録信号に応じて変調された磁界を発生し、デ
ィスク１０１に印加する。磁気ヘッドドライバー１３２
はタイミング制御ロジック回路からの信号に応じて磁気
ヘッド１０３に駆動電流を供給する。また、ディスク１
０１の下面には、磁気ヘッド１０３と対向して光学ヘッ
ド１４０が配置されている。光学ヘッド１４０内には、
半導体レーザ１０５が設けられている。
【００１４】半導体レーザ１０５は、記録、再生、サー
ボ制御に用いられ、波長は６８０ｎｍである。半導体レ
ーザ１０５はＬＤ（Laser Diod）制御回路１３３の制御
に基づいてＬＤドライバー１０４によって駆動される。
半導体レーザ１０５から発したレーザ光は集光レンズ１
０６で平行光束にされ、ビームスプリッタ１０７でビー
ム整形された後、対物レンズ１０８に入射する。対物レ
ンズ１０８はアパチャー１０９で開口が制限されてい
る。入射光束は対物レンズ１０８で絞られ、微小光スポ
ットとしてディスク１０１に照射される。
ボ制御に用いられ、波長は６８０ｎｍである。半導体レ
ーザ１０５はＬＤ（Laser Diod）制御回路１３３の制御
に基づいてＬＤドライバー１０４によって駆動される。
半導体レーザ１０５から発したレーザ光は集光レンズ１
０６で平行光束にされ、ビームスプリッタ１０７でビー
ム整形された後、対物レンズ１０８に入射する。対物レ
ンズ１０８はアパチャー１０９で開口が制限されてい
る。入射光束は対物レンズ１０８で絞られ、微小光スポ
ットとしてディスク１０１に照射される。
【００１５】このようにしてディスク１０１に照射され
たレーザ光の一部はディスク面で反射され、対物レンズ
１０８を通ってビームスプリッタ１０７に入射する。こ
の入射光束はビームスプリッタ１０７で反射され、更に
ビームスプリッタ１１１でサーボ検出光学系と信号検出
光学系に分けられる。サーボ検出光学系は集光レンズ１
１２、フォーカス制御用のシリンドリカルレンズ１１
３、サーボ検出用センサ１１４から成っていて、サーボ
検出用センサ１１４の出力信号はサーボ制御回路１２６
に送られる。サーボ制御回路１２６はサーボ検出用セン
サ１１４の出力信号をもとにフォーカスエラー信号及び
トラッキングエラー信号を検出する回路を備え、得られ
たフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に
基づいてＡＴ／ＡＦドライバー１２０を制御する。
たレーザ光の一部はディスク面で反射され、対物レンズ
１０８を通ってビームスプリッタ１０７に入射する。こ
の入射光束はビームスプリッタ１０７で反射され、更に
ビームスプリッタ１１１でサーボ検出光学系と信号検出
光学系に分けられる。サーボ検出光学系は集光レンズ１
１２、フォーカス制御用のシリンドリカルレンズ１１
３、サーボ検出用センサ１１４から成っていて、サーボ
検出用センサ１１４の出力信号はサーボ制御回路１２６
に送られる。サーボ制御回路１２６はサーボ検出用セン
サ１１４の出力信号をもとにフォーカスエラー信号及び
トラッキングエラー信号を検出する回路を備え、得られ
たフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に
基づいてＡＴ／ＡＦドライバー１２０を制御する。
【００１６】光学ヘッド１４０内には、対物レンズ１０
８をフォーカス方向とトラッキング方向に駆動するため
のフォーカスアクチュエータとトラッキングアクチュエ
ータ（図示せず）が設けられ、駆動コイル１１０はこれ
らのアクチュエータの駆動コイルである。ＡＴ／ＡＦド
ライバー１２０はフォーカスエラー信号及びトラッキン
グエラー信号に応じて駆動コイル１１０を駆動し、対物
レンズ１０８をフォーカス方向、トラッキング方向に駆
動することにより回転しているディスク１０１に半導体
レーザ１０５による光スポットが合焦するように、ま
た、回転しているディスク１０１のトラックに光スポッ
トが追従するようにフォーカス制御とトラッキング制御
を行う。更に、サーボ制御回路１２６はＣＰＵ１２７の
制御に基づいて光スポットのトラックジャンプやヘッド
送り機構１２８を制御して光学ヘッド１４０のシーク制
御を行う。
８をフォーカス方向とトラッキング方向に駆動するため
のフォーカスアクチュエータとトラッキングアクチュエ
ータ（図示せず）が設けられ、駆動コイル１１０はこれ
らのアクチュエータの駆動コイルである。ＡＴ／ＡＦド
ライバー１２０はフォーカスエラー信号及びトラッキン
グエラー信号に応じて駆動コイル１１０を駆動し、対物
レンズ１０８をフォーカス方向、トラッキング方向に駆
動することにより回転しているディスク１０１に半導体
レーザ１０５による光スポットが合焦するように、ま
た、回転しているディスク１０１のトラックに光スポッ
トが追従するようにフォーカス制御とトラッキング制御
を行う。更に、サーボ制御回路１２６はＣＰＵ１２７の
制御に基づいて光スポットのトラックジャンプやヘッド
送り機構１２８を制御して光学ヘッド１４０のシーク制
御を行う。
【００１７】一方、信号検出光学系は１／２波長板１１
６、集光レンズ１１７、偏光ビームスプリッタ１１８、
信号検出用センサ１１９から成っていて、ビームスプリ
ッタ１１１からの反射光は１／２波長板１１６で偏光方
向が４５度回転させられた後集光レンズ１１７を通って
偏光ビームスプリッタ１１８に導かれる。偏光ビームス
プリッタ１１８は入射光束を偏光方向が互いに直交する
２つの成分に分割し、この分割された成分は２つのセン
サ１１９，１１９で検出される。センサ１１９と１１９
の出力信号は電流電圧変換回路１２１，１２３で各々電
圧信号に変換された後、再生信号を処理するＲＦ信号処
理回路１２５に供給される。
６、集光レンズ１１７、偏光ビームスプリッタ１１８、
信号検出用センサ１１９から成っていて、ビームスプリ
ッタ１１１からの反射光は１／２波長板１１６で偏光方
向が４５度回転させられた後集光レンズ１１７を通って
偏光ビームスプリッタ１１８に導かれる。偏光ビームス
プリッタ１１８は入射光束を偏光方向が互いに直交する
２つの成分に分割し、この分割された成分は２つのセン
サ１１９，１１９で検出される。センサ１１９と１１９
の出力信号は電流電圧変換回路１２１，１２３で各々電
圧信号に変換された後、再生信号を処理するＲＦ信号処
理回路１２５に供給される。
【００１８】ＲＦ信号処理回路１２５は、ＡＧＣ（Auto
matic Gain Control）回路、波形成形回路、ＰＬＬ(Pha
se Locked Loop）回路、タイムベース回路、サンプルホ
ールド回路、Ａ／Ｄ変換回路等からなっていて、主に再
生信号のアナログ的な処理を行う。得られた再生信号は
デジタル化され（信号１３６，１３７）、ディスクコン
トローラ１２９へ送られる。ＲＦ信号処理回路１２５の
構成については詳しく後述する。
matic Gain Control）回路、波形成形回路、ＰＬＬ(Pha
se Locked Loop）回路、タイムベース回路、サンプルホ
ールド回路、Ａ／Ｄ変換回路等からなっていて、主に再
生信号のアナログ的な処理を行う。得られた再生信号は
デジタル化され（信号１３６，１３７）、ディスクコン
トローラ１２９へ送られる。ＲＦ信号処理回路１２５の
構成については詳しく後述する。
【００１９】ディスクコントローラ１２９は、外部との
インターフェース回路を持ち、外部のホストコンピュー
タ（図示せず）からの制御によりＣＰＵ１２７と協動
し、ディスク１０１の制御を行う。即ち、ディスクコン
トローラ１２９は外部インターフェース回路、ＥＣＣ
（誤り訂正回路）、メモリ及びメモリコントローラ、変
調回路、復調回路等から成り、ディスク１０１からの再
生信号に基づいてディスク上のアドレスの認識、ディス
クに対するデータの記録／再生に伴う符号化、復号化、
誤り訂正、外部のホストコンピュータとのインターフェ
ース制御等を行う。タイミング制御回路１３０は前述の
ようにディスクコントローラ１２９からの信号に基づい
てディスク１０１に記録する記録信号１３１を磁気ヘッ
ドドライバー１３２へ供給し、更に、ＲＦ信号処理回路
１２５が必要とする各種タイミング信号１３４を供給す
る。
インターフェース回路を持ち、外部のホストコンピュー
タ（図示せず）からの制御によりＣＰＵ１２７と協動
し、ディスク１０１の制御を行う。即ち、ディスクコン
トローラ１２９は外部インターフェース回路、ＥＣＣ
（誤り訂正回路）、メモリ及びメモリコントローラ、変
調回路、復調回路等から成り、ディスク１０１からの再
生信号に基づいてディスク上のアドレスの認識、ディス
クに対するデータの記録／再生に伴う符号化、復号化、
誤り訂正、外部のホストコンピュータとのインターフェ
ース制御等を行う。タイミング制御回路１３０は前述の
ようにディスクコントローラ１２９からの信号に基づい
てディスク１０１に記録する記録信号１３１を磁気ヘッ
ドドライバー１３２へ供給し、更に、ＲＦ信号処理回路
１２５が必要とする各種タイミング信号１３４を供給す
る。
【００２０】ＣＰＵ１２７は図１の装置の主制御回路
で、ディスクコントローラ１２９、ＲＦ信号処理回路１
２５、サーボ制御回路１２６、ＬＤ制御回路１３３等の
各部を制御し、ホストコンピュータからの指令に基づい
てディスク１０１に情報の記録や再生を行う。また、Ｃ
ＰＵ１２７は再生パワーテスト時には、各部のシーケン
ス制御を行い、ディスク１０１のテスト領域にテスト用
パターンの記録や再生を行い、更にＲＦ信号処理回路１
２５から再生信号振幅を取り込み、それを用いて所定の
処理を行うことで、最適再生パワーの設定を行う。再生
パワーテスト方法については詳しく後述する。
で、ディスクコントローラ１２９、ＲＦ信号処理回路１
２５、サーボ制御回路１２６、ＬＤ制御回路１３３等の
各部を制御し、ホストコンピュータからの指令に基づい
てディスク１０１に情報の記録や再生を行う。また、Ｃ
ＰＵ１２７は再生パワーテスト時には、各部のシーケン
ス制御を行い、ディスク１０１のテスト領域にテスト用
パターンの記録や再生を行い、更にＲＦ信号処理回路１
２５から再生信号振幅を取り込み、それを用いて所定の
処理を行うことで、最適再生パワーの設定を行う。再生
パワーテスト方法については詳しく後述する。
【００２１】図２はＲＦ信号処理回路１２５を詳細に示
すブロック図である。図１の電流電圧変換回路１２１，
１２３の出力信号１２２，１２４は差動回路２０１、加
算回路２０２で光磁気信号成分と和信号成分に分けられ
る。光磁気信号成分はＡＧＣ回路（自動利得制御回路）
２０３に、和信号成分はＡＧＣ回路２０４に出力され、
それぞれ所定の振幅値の信号に調整される。ここで、再
生パワーテスト時においてＡＧＣ回路２０３からの光磁
気信号はエンベロープ検波回路２０５でエンベロープが
検出され、光磁気信号の振幅が検出される。光磁気信号
の信号振幅はＡ／Ｄコンバータ２０６でＣＰＵ１２７に
取り込まれ、最適再生パワーの設定に用いられる。光磁
気信号の信号振幅の検出はタイミング制御ロジック回路
１３０からのタイミング制御信号により制御される。
すブロック図である。図１の電流電圧変換回路１２１，
１２３の出力信号１２２，１２４は差動回路２０１、加
算回路２０２で光磁気信号成分と和信号成分に分けられ
る。光磁気信号成分はＡＧＣ回路（自動利得制御回路）
２０３に、和信号成分はＡＧＣ回路２０４に出力され、
それぞれ所定の振幅値の信号に調整される。ここで、再
生パワーテスト時においてＡＧＣ回路２０３からの光磁
気信号はエンベロープ検波回路２０５でエンベロープが
検出され、光磁気信号の振幅が検出される。光磁気信号
の信号振幅はＡ／Ｄコンバータ２０６でＣＰＵ１２７に
取り込まれ、最適再生パワーの設定に用いられる。光磁
気信号の信号振幅の検出はタイミング制御ロジック回路
１３０からのタイミング制御信号により制御される。
【００２２】また、ＡＧＣ回路２０３，２０４の各出力
信号はエッジ検出回路２０７に供給される。エッジ検出
回路２０７ではタイミング制御ロジック回路１３０から
のタイミング制御信号により光磁気信号と和信号を選択
し、それぞれの再生信号のエッジの検出を行う。ディス
ク１０１上にはデータがマークエッジ記録方式で記録さ
れており、エッジ検出回路２０７では光磁気信号と和信
号の各再生信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジ
を検出し、立ち上がりエッジ信号２０８をＰＬＬ／デー
タセパレータ回路２１０に、立ち下がりエッジ信号２０
９をＰＬＬ／データセパレータ回路２１１にそれぞれ出
力する。
信号はエッジ検出回路２０７に供給される。エッジ検出
回路２０７ではタイミング制御ロジック回路１３０から
のタイミング制御信号により光磁気信号と和信号を選択
し、それぞれの再生信号のエッジの検出を行う。ディス
ク１０１上にはデータがマークエッジ記録方式で記録さ
れており、エッジ検出回路２０７では光磁気信号と和信
号の各再生信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジ
を検出し、立ち上がりエッジ信号２０８をＰＬＬ／デー
タセパレータ回路２１０に、立ち下がりエッジ信号２０
９をＰＬＬ／データセパレータ回路２１１にそれぞれ出
力する。
【００２３】ＰＬＬ／データセパレータ回路２１０，２
１１では、それぞれのエッジ信号に対してＰＬＬ(Phase
Locked Loop）をかけて、入力エッジ信号に同期したデ
ータクロック２１２，２１３及びこのデータクロックに
ビット同期したエッジ信号２１４，２１５を生成する。
再生信号合成回路２１６では、これらの信号を用いてマ
ークエッジ信号に戻す処理を行い、再生データ２３６及
び再生クロック１３７を生成する。再生データ及び再生
クロックはディスクコントローラ１２９へ供給される。
１１では、それぞれのエッジ信号に対してＰＬＬ(Phase
Locked Loop）をかけて、入力エッジ信号に同期したデ
ータクロック２１２，２１３及びこのデータクロックに
ビット同期したエッジ信号２１４，２１５を生成する。
再生信号合成回路２１６では、これらの信号を用いてマ
ークエッジ信号に戻す処理を行い、再生データ２３６及
び再生クロック１３７を生成する。再生データ及び再生
クロックはディスクコントローラ１２９へ供給される。
【００２４】図３は本実施形態で用いるディスク１０１
の層構成を示す断面図である。なおディスク１０１とし
ては、特開平６−２９０４９６号公報に記載されている
媒体のうち３層構造の場合を例としている。具体的に
は、透明基板３０１上に干渉層である透電体層３０２、
第１の磁性層（磁壁移動層）３０３、第２の磁性層（ス
イッチング層）３０４、第３の磁性層（メモリ層）３０
５、保護層として誘電体層３０６を順次積層した構成と
なっている。第１の磁性層３０３は周囲温度近傍におい
て第３の磁性層３０５に比べて相対的に磁壁抗磁力が小
さく、磁壁移動度の大きな磁性層から成り、第２の磁性
層３０４は第１の磁性層３０３及び第３の磁性層３０５
よりもキュリー温度の低い磁性層から成っている。第３
の磁性層３０５は磁区の保存安定性に優れた通常の磁気
記録層から成っている。
の層構成を示す断面図である。なおディスク１０１とし
ては、特開平６−２９０４９６号公報に記載されている
媒体のうち３層構造の場合を例としている。具体的に
は、透明基板３０１上に干渉層である透電体層３０２、
第１の磁性層（磁壁移動層）３０３、第２の磁性層（ス
イッチング層）３０４、第３の磁性層（メモリ層）３０
５、保護層として誘電体層３０６を順次積層した構成と
なっている。第１の磁性層３０３は周囲温度近傍におい
て第３の磁性層３０５に比べて相対的に磁壁抗磁力が小
さく、磁壁移動度の大きな磁性層から成り、第２の磁性
層３０４は第１の磁性層３０３及び第３の磁性層３０５
よりもキュリー温度の低い磁性層から成っている。第３
の磁性層３０５は磁区の保存安定性に優れた通常の磁気
記録層から成っている。
【００２５】透明基板２０１としては、例えばポリカー
ボネートを用い、その上に誘電体層３０２としてＳｉＮ
層を８０ｎｍ形成している。また、第１の磁性層３０３
としてＧｄＦｅＣｏ層を３０ｎｍ、第２の磁性層３０４
としてＤｙＦｅ層を１０ｎｍ、第３の磁性層３０５とし
てＴｂＦｅＣｏ層を４０ｎｍ順次スパッタリングで形成
している。最後に、誘電体層３０６としてＳｉＮ層を８
０ｎｍ形成している。なお、第１〜第３の磁性層３０３
〜３０５はトラッキング用案内溝（図示せず）の段差構
造あるいは熱的に磁気的特性を消失させることにより各
情報トラック間で互いに磁気的に分断されている。ま
た、第１〜第３の磁性層３０３〜３０５は図６の第１〜
第３の磁性層６０１〜６０３にそれぞれ対応している。
ボネートを用い、その上に誘電体層３０２としてＳｉＮ
層を８０ｎｍ形成している。また、第１の磁性層３０３
としてＧｄＦｅＣｏ層を３０ｎｍ、第２の磁性層３０４
としてＤｙＦｅ層を１０ｎｍ、第３の磁性層３０５とし
てＴｂＦｅＣｏ層を４０ｎｍ順次スパッタリングで形成
している。最後に、誘電体層３０６としてＳｉＮ層を８
０ｎｍ形成している。なお、第１〜第３の磁性層３０３
〜３０５はトラッキング用案内溝（図示せず）の段差構
造あるいは熱的に磁気的特性を消失させることにより各
情報トラック間で互いに磁気的に分断されている。ま
た、第１〜第３の磁性層３０３〜３０５は図６の第１〜
第３の磁性層６０１〜６０３にそれぞれ対応している。
【００２６】ここで、本実施形態による再生パワーテス
ト方法で最適再生パワーを設定する場合の原理について
説明する。図４は再生パワーに対する再生信号（光磁気
信号）の振幅及びジッターの測定結果を示している。な
お、図４はディスク上の半径位置２４．６ｍｍにおいて
線速度１．５ｍ／ｓでマーク長０．１５μｍの繰り返し
パターンをレーザ波長６８０ｎｍの再生用光ビームで再
生した場合の結果を示している。まず、再生パワーＰ１
からＰ３までは媒体温度が第２の磁性層のキュリー温度
よりも高い温度に達しないため、第１の磁性層３０３は
磁壁抗磁力の大きな第３の磁性層３０５と交換結合して
おり、磁壁の移動による磁区の拡大は起こらず、波長６
８０ｎｍの再生用光ビームによる再生ではピット長０．
１５μｍの連続信号の再生信号は得られない。
ト方法で最適再生パワーを設定する場合の原理について
説明する。図４は再生パワーに対する再生信号（光磁気
信号）の振幅及びジッターの測定結果を示している。な
お、図４はディスク上の半径位置２４．６ｍｍにおいて
線速度１．５ｍ／ｓでマーク長０．１５μｍの繰り返し
パターンをレーザ波長６８０ｎｍの再生用光ビームで再
生した場合の結果を示している。まず、再生パワーＰ１
からＰ３までは媒体温度が第２の磁性層のキュリー温度
よりも高い温度に達しないため、第１の磁性層３０３は
磁壁抗磁力の大きな第３の磁性層３０５と交換結合して
おり、磁壁の移動による磁区の拡大は起こらず、波長６
８０ｎｍの再生用光ビームによる再生ではピット長０．
１５μｍの連続信号の再生信号は得られない。
【００２７】再生パワーがＰ４のレベル（Ｐ３とＰ５の
間）では、媒体温度が第２の磁性層のキュリー温度に達
する部分が生じるため、磁壁移動による磁区の拡大が起
き始めるが、まだ第２の磁性層のキュリー温度以上にな
る領域がビームサイズに対して十分大きくないため、再
生パワーの上昇とともに第２の磁性層のキュリー温度に
達する領域が拡大し、再生信号振幅が増大している。更
に、再生パワーが増大すると、第２の磁性層のキュリー
温度に達する領域は再生ビームにより照射される領域に
近くなると共に再生パワーの増大に伴う第２の磁性層の
キュリー温度に達する領域の拡大する度合いは少なくな
るため、再生信号振幅はＰ５からＰ９の領域においては
再生パワーの変化に対して緩やかな変化を示している。
このＰ５は磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パワ
ー、Ｐ９は磁壁が移動する最大の再生パワーである。
間）では、媒体温度が第２の磁性層のキュリー温度に達
する部分が生じるため、磁壁移動による磁区の拡大が起
き始めるが、まだ第２の磁性層のキュリー温度以上にな
る領域がビームサイズに対して十分大きくないため、再
生パワーの上昇とともに第２の磁性層のキュリー温度に
達する領域が拡大し、再生信号振幅が増大している。更
に、再生パワーが増大すると、第２の磁性層のキュリー
温度に達する領域は再生ビームにより照射される領域に
近くなると共に再生パワーの増大に伴う第２の磁性層の
キュリー温度に達する領域の拡大する度合いは少なくな
るため、再生信号振幅はＰ５からＰ９の領域においては
再生パワーの変化に対して緩やかな変化を示している。
このＰ５は磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パワ
ー、Ｐ９は磁壁が移動する最大の再生パワーである。
【００２８】また、Ｐ７以上では媒体の温度上昇により
カー回転角が減少するため、再生パワーの増大と共に再
生信号振幅が徐々に減少している。Ｐ９以上の再生パワ
ーにおいては、媒体温度は第３の磁性層のキュリー温度
以上となり、第３の磁性層に記録されている磁区は消去
し始めるため、信号振幅は急激に低下している。このた
め、再生パワーはこのＰ５からＰ９の間で設定する必要
がある。また、ジッターの値は再生パワーＰ８において
最低値を示し、それ以下の再生パワーでは急激な上昇、
それ以上の再生パワーでは再生パワーの増加につれて上
昇している。以上のデータは、特定の媒体に対する測定
値であるが、絶対的な最適パワーの値に関しては媒体の
処方等により異なったものになるが、全体的な傾向は同
様なものとなる。
カー回転角が減少するため、再生パワーの増大と共に再
生信号振幅が徐々に減少している。Ｐ９以上の再生パワ
ーにおいては、媒体温度は第３の磁性層のキュリー温度
以上となり、第３の磁性層に記録されている磁区は消去
し始めるため、信号振幅は急激に低下している。このた
め、再生パワーはこのＰ５からＰ９の間で設定する必要
がある。また、ジッターの値は再生パワーＰ８において
最低値を示し、それ以下の再生パワーでは急激な上昇、
それ以上の再生パワーでは再生パワーの増加につれて上
昇している。以上のデータは、特定の媒体に対する測定
値であるが、絶対的な最適パワーの値に関しては媒体の
処方等により異なったものになるが、全体的な傾向は同
様なものとなる。
【００２９】そのため、図４の磁壁が移動を開始するＰ
５のパワーを磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd 、磁壁が
移動する最大再生パワーＰ９をＰｒmax とすると、磁壁
移動開始再生パワーＰｒdwd と最大再生パワーＰｒmax
を検出することにより、再生パワーの最適値を求めるこ
とができる。即ち、最適の再生パワーＰｒは、（Ｐｒ
dwd ＋Ｐｒmax ）／２とＰｒmax の中間値となり、 Ｐｒ＝（Ｐｒdwd ＋３Ｐｒmax ）／４ …（１） で得ることができる。
５のパワーを磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd 、磁壁が
移動する最大再生パワーＰ９をＰｒmax とすると、磁壁
移動開始再生パワーＰｒdwd と最大再生パワーＰｒmax
を検出することにより、再生パワーの最適値を求めるこ
とができる。即ち、最適の再生パワーＰｒは、（Ｐｒ
dwd ＋Ｐｒmax ）／２とＰｒmax の中間値となり、 Ｐｒ＝（Ｐｒdwd ＋３Ｐｒmax ）／４ …（１） で得ることができる。
【００３０】本実施形態では、このような考え方に基づ
いて磁壁移動型光磁気媒体を再生する場合の最適再生パ
ワーを設定しようというものである。そこで、本実施形
態による再生パワーテストの具体的な方法を図５のフロ
ーチャートを参照して詳細に説明する。なお、ディスク
１０１は半径方向に複数のゾーンに分割され、再生パワ
ーテストはゾーン毎に行うものとする。ディスク１０１
の各ゾーンには再生パワーテストのためのテスト領域が
設けられている。図５において、まず、ＣＰＵ１２７は
再生パワーテストを実行する場合、再生パワーの初期値
の設定、再生信号振幅を検出する場合の再生回数ｎの設
定、振幅情報Ａ-1、Ａ-2の設定、フラグの設定を行う
（Ｓ１０１）。再生パワーの初期値は０．５ｍＷ、ｎ＝
０、Ａ-1＝Ａ-2＝−∞ｄＢに設定するものとする。ま
た、フラグは図１の磁壁移動開始再生パワーを検出した
かどうかを示すもので初期値は０である。
いて磁壁移動型光磁気媒体を再生する場合の最適再生パ
ワーを設定しようというものである。そこで、本実施形
態による再生パワーテストの具体的な方法を図５のフロ
ーチャートを参照して詳細に説明する。なお、ディスク
１０１は半径方向に複数のゾーンに分割され、再生パワ
ーテストはゾーン毎に行うものとする。ディスク１０１
の各ゾーンには再生パワーテストのためのテスト領域が
設けられている。図５において、まず、ＣＰＵ１２７は
再生パワーテストを実行する場合、再生パワーの初期値
の設定、再生信号振幅を検出する場合の再生回数ｎの設
定、振幅情報Ａ-1、Ａ-2の設定、フラグの設定を行う
（Ｓ１０１）。再生パワーの初期値は０．５ｍＷ、ｎ＝
０、Ａ-1＝Ａ-2＝−∞ｄＢに設定するものとする。ま
た、フラグは図１の磁壁移動開始再生パワーを検出した
かどうかを示すもので初期値は０である。
【００３１】次いで、サーボ制御回路１２６を介してヘ
ッド送り機構１２８を制御し、光学ヘッド１４０を目的
のゾーンのテスト領域にシークさせる（Ｓ１０２）。磁
気ヘッド１０３は光学ヘッド１４０と連動してテスト領
域に移動する。シークを完了すると、テスト領域の予め
決められた複数のセクタに通常の再生では再生不可能な
マーク長の繰り返しパターンのテスト用パターンの記録
を行う（Ｓ１０３）。本実施形態では、例えば、０．１
５μｍマーク長の繰り返しパターン（デューティー５０
％）を記録するものとする。
ッド送り機構１２８を制御し、光学ヘッド１４０を目的
のゾーンのテスト領域にシークさせる（Ｓ１０２）。磁
気ヘッド１０３は光学ヘッド１４０と連動してテスト領
域に移動する。シークを完了すると、テスト領域の予め
決められた複数のセクタに通常の再生では再生不可能な
マーク長の繰り返しパターンのテスト用パターンの記録
を行う（Ｓ１０３）。本実施形態では、例えば、０．１
５μｍマーク長の繰り返しパターン（デューティー５０
％）を記録するものとする。
【００３２】また、このテスト用パターンを記録する場
合は、ＬＤ制御回路１３３を制御して半導体レーザ１０
５の光出力を記録パワーとし、記録用光ビームをテスト
領域に照射しながら、０．１５μｍの繰り返しパターン
を記録する信号を磁気ヘッドドライバー１３２に送り、
磁気ヘッド１０３から記録用光ビームの照射位置に記録
磁界を印加することにより記録を行う。記録を終了する
と、半導体レーザ１０５の光出力を再生パワーの初期値
に設定してテスト領域に記録したテスト用パターンの再
生を行い、再生信号振幅Ａn の取り込みを行う（Ｓ１０
４）。この場合、図２で説明したようにエンベロープ検
波回路２０５で再生信号（光磁気信号）の信号振幅が検
出され、Ａ／Ｄコンバータ２０６で信号振幅がデジタル
化されてＣＰＵ１２７に取り込まれる。振幅情報はＣＰ
Ｕ１２７の内部メモリに格納される（Ｓ１０５）。
合は、ＬＤ制御回路１３３を制御して半導体レーザ１０
５の光出力を記録パワーとし、記録用光ビームをテスト
領域に照射しながら、０．１５μｍの繰り返しパターン
を記録する信号を磁気ヘッドドライバー１３２に送り、
磁気ヘッド１０３から記録用光ビームの照射位置に記録
磁界を印加することにより記録を行う。記録を終了する
と、半導体レーザ１０５の光出力を再生パワーの初期値
に設定してテスト領域に記録したテスト用パターンの再
生を行い、再生信号振幅Ａn の取り込みを行う（Ｓ１０
４）。この場合、図２で説明したようにエンベロープ検
波回路２０５で再生信号（光磁気信号）の信号振幅が検
出され、Ａ／Ｄコンバータ２０６で信号振幅がデジタル
化されてＣＰＵ１２７に取り込まれる。振幅情報はＣＰ
Ｕ１２７の内部メモリに格納される（Ｓ１０５）。
【００３３】次に、再生回数ｎがｎ≦所定値であるかを
判定し（Ｓ１０６）、この時はｎ＝０であるため、Ｓ１
０７に進み、再生パワーＰｒ＝Ｐｒ＋ΔＰｒ、ｎ＝ｎ＋
１とする。本実施形態では、ΔＰｒ＝０．１ｍＷとし、
再度Ｓ１０４からの処理を行う。即ち、再生パワーをΔ
Ｐｒ増加して再度テスト用パターンを再生し、再生信号
振幅の取り込み、メモリへの格納を行う。このようにし
てＳ１０４〜Ｓ１０７の処理を繰り返し行い、ｎ＞所定
値になるまで同様の処理を行う。この場合の所定値とし
ては、再生パワーを初期値（０．５ｍＷ）から０．１ｍ
Ｗづつ増加して再生しており、図４に示すように再生パ
ワーが磁壁移動開始再生パワー以上になるまでその回数
を設定するものとする。
判定し（Ｓ１０６）、この時はｎ＝０であるため、Ｓ１
０７に進み、再生パワーＰｒ＝Ｐｒ＋ΔＰｒ、ｎ＝ｎ＋
１とする。本実施形態では、ΔＰｒ＝０．１ｍＷとし、
再度Ｓ１０４からの処理を行う。即ち、再生パワーをΔ
Ｐｒ増加して再度テスト用パターンを再生し、再生信号
振幅の取り込み、メモリへの格納を行う。このようにし
てＳ１０４〜Ｓ１０７の処理を繰り返し行い、ｎ＞所定
値になるまで同様の処理を行う。この場合の所定値とし
ては、再生パワーを初期値（０．５ｍＷ）から０．１ｍ
Ｗづつ増加して再生しており、図４に示すように再生パ
ワーが磁壁移動開始再生パワー以上になるまでその回数
を設定するものとする。
【００３４】ｎが所定値以上になると、Ｓ１０８に進
み、フラグの判定を行う。このフラグは図４で説明した
磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd を既に検出したかどう
かを判定するためのフラグで、前述のように初期値は０
である。この時はフラグは０であるため、Ｓ１０９に進
み、磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パワーＰｒ
dwd の検出を行う。即ち、再生パワーを磁壁の移動が起
こらない再生パワーから徐々に増加させて再生パワーの
微小変化（本実施形態の場合０．１ｍＷ）に対して再生
信号振幅の変化の割合が減少するパワーを検出する。つ
まり、第２の磁性層のキュリー温度に達する領域が再生
用光ビームにより照射される領域に近くなり、再生パワ
ーの増加に伴う第２の磁性層のキュリー温度に達する領
域の拡大する度合が少なくなり、再生信号振幅の変化が
再生パワーの変化に対して緩やかな変化をし始めるパワ
ーを検出し、これを磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd と
して検出する。
み、フラグの判定を行う。このフラグは図４で説明した
磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd を既に検出したかどう
かを判定するためのフラグで、前述のように初期値は０
である。この時はフラグは０であるため、Ｓ１０９に進
み、磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パワーＰｒ
dwd の検出を行う。即ち、再生パワーを磁壁の移動が起
こらない再生パワーから徐々に増加させて再生パワーの
微小変化（本実施形態の場合０．１ｍＷ）に対して再生
信号振幅の変化の割合が減少するパワーを検出する。つ
まり、第２の磁性層のキュリー温度に達する領域が再生
用光ビームにより照射される領域に近くなり、再生パワ
ーの増加に伴う第２の磁性層のキュリー温度に達する領
域の拡大する度合が少なくなり、再生信号振幅の変化が
再生パワーの変化に対して緩やかな変化をし始めるパワ
ーを検出し、これを磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd と
して検出する。
【００３５】具体的な検出方法としては、まず、Ｓ１０
４〜Ｓ１０７で再生パワーを変化させて再生信号振幅を
複数回検出しているが、そのうち今回の信号振幅を
Ａn 、前回の信号振幅をＡn-1 、前々回の信号振幅をＡ
n-2 とする。そして、再生パワーの小さい方から今回の
信号振幅Ａn と前回の信号振幅Ａn-1 の差（Ａn −Ａ
n-1）と、前回の信号振幅Ａn-1 と前々回の信号振幅Ａ
n-2 の差（Ａn-1 −Ａn-2 ）を順次比較していく。この
ようにして順次前回と今回の信号振幅の変化量ΔＡの比
較を行い、図４に示すように最初に今回の（Ａn −Ａ
n-1 ）の変化量ΔＡが前回の（Ａn-1 −Ａn-2 ）の変化
量ΔＡよりも小さくなる再生パワーＰ５を検出する。次
いで、Ｓ１１０でこの再生パワーを磁壁が移動を開始す
る磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd とし（Ｐｒ＝Ｐｒ
dwd ）、フラグ＝１とする。
４〜Ｓ１０７で再生パワーを変化させて再生信号振幅を
複数回検出しているが、そのうち今回の信号振幅を
Ａn 、前回の信号振幅をＡn-1 、前々回の信号振幅をＡ
n-2 とする。そして、再生パワーの小さい方から今回の
信号振幅Ａn と前回の信号振幅Ａn-1 の差（Ａn −Ａ
n-1）と、前回の信号振幅Ａn-1 と前々回の信号振幅Ａ
n-2 の差（Ａn-1 −Ａn-2 ）を順次比較していく。この
ようにして順次前回と今回の信号振幅の変化量ΔＡの比
較を行い、図４に示すように最初に今回の（Ａn −Ａ
n-1 ）の変化量ΔＡが前回の（Ａn-1 −Ａn-2 ）の変化
量ΔＡよりも小さくなる再生パワーＰ５を検出する。次
いで、Ｓ１１０でこの再生パワーを磁壁が移動を開始す
る磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd とし（Ｐｒ＝Ｐｒ
dwd ）、フラグ＝１とする。
【００３６】磁壁移動開始再生パワーを検出すると、Ｓ
１１１に進んで、磁壁が移動する最大再生パワーの検出
を行う。即ち、Ｓ１１１で今回の再生信号振幅Ａn と前
回の信号振幅Ａn-1 の差（Ａn −Ａn-1 ）、即ち、前回
の信号振幅に対し今回の信号振幅Ａn-1 が６ｄＢ以上低
下する再生パワーを検出する。これは、図４の再生パワ
ーＰ５以上において順次今回と前回の信号振幅の差が６
ｄＢ以上低下するかを判定する。本実施形態では、前回
と今回の再生信号振幅の変化量が急激に大きくなる再生
パワーを磁壁が移動する最大再生パワーとして検出して
おり、この変化量を−６ｄＢとしている。図４では再生
パワーＰ９からＰ１０にかけて急激に低下しているの
で、再生パワーＰ９が最大再生パワーとなる。ここで、
前回の信号振幅に対し今回の信号振幅が低下してもその
量が６ｄＢ未満である時は信号振幅の変化量が小さく、
最大再生パワーに達していない時である。
１１１に進んで、磁壁が移動する最大再生パワーの検出
を行う。即ち、Ｓ１１１で今回の再生信号振幅Ａn と前
回の信号振幅Ａn-1 の差（Ａn −Ａn-1 ）、即ち、前回
の信号振幅に対し今回の信号振幅Ａn-1 が６ｄＢ以上低
下する再生パワーを検出する。これは、図４の再生パワ
ーＰ５以上において順次今回と前回の信号振幅の差が６
ｄＢ以上低下するかを判定する。本実施形態では、前回
と今回の再生信号振幅の変化量が急激に大きくなる再生
パワーを磁壁が移動する最大再生パワーとして検出して
おり、この変化量を−６ｄＢとしている。図４では再生
パワーＰ９からＰ１０にかけて急激に低下しているの
で、再生パワーＰ９が最大再生パワーとなる。ここで、
前回の信号振幅に対し今回の信号振幅が低下してもその
量が６ｄＢ未満である時は信号振幅の変化量が小さく、
最大再生パワーに達していない時である。
【００３７】この場合は、Ｓ１１２に進み、再度前回の
信号振幅Ａn に対し今回の信号振幅Ａn-1 が３ｄＢ低下
するかどうかを判定する。もし、前回と今回の信号振幅
の変化量が３ｄＢよりも小さい時は信号振幅の変化量が
小さく、最大再生パワーを検出するには再生パワーがそ
れまで達していない時であるため、Ｓ１１３でＳ１０３
のテスト用パターンと同一トラックに０．１５μｍマー
クの繰り返しパターンを記録する。次いで、Ｓ１０７に
進んで再生パワーＰｒを更にΔＰｒ増加する。また、Ｓ
１１２で前回と今回の信号振幅の変化量が３ｄＢよりも
大きい時はそのままＳ１０７に進んで再生パワーをΔＰ
ｒ増加する。
信号振幅Ａn に対し今回の信号振幅Ａn-1 が３ｄＢ低下
するかどうかを判定する。もし、前回と今回の信号振幅
の変化量が３ｄＢよりも小さい時は信号振幅の変化量が
小さく、最大再生パワーを検出するには再生パワーがそ
れまで達していない時であるため、Ｓ１１３でＳ１０３
のテスト用パターンと同一トラックに０．１５μｍマー
クの繰り返しパターンを記録する。次いで、Ｓ１０７に
進んで再生パワーＰｒを更にΔＰｒ増加する。また、Ｓ
１１２で前回と今回の信号振幅の変化量が３ｄＢよりも
大きい時はそのままＳ１０７に進んで再生パワーをΔＰ
ｒ増加する。
【００３８】その後、Ｓ１０４、Ｓ１０５、Ｓ１０６、
Ｓ１０８、Ｓ１１１、Ｓ１１２、（Ｓ１１３）、Ｓ１０
７の処理を繰り返し行い、再生パワーを更にΔＰｒづつ
増加させて、再生信号振幅の検出を行い、順次前回と今
回の信号振幅が６ｄＢ以上低下するかどうかの判定を行
う。ここで、Ｓ１１１において前回の信号振幅Ａn に対
し今回の信号振幅Ａn-1 が６ｄＢ以上低下すると、図４
に示すように再生パワーがＰ９からＰ１０に急激に変化
した時であり、この場合の前回の再生パワーＰ９を磁壁
が移動する最大再生パワーＰｒmax として検出する（Ｓ
１１４）。次いで、Ｓ１１５で図４で説明したように得
られた磁壁移動開始再生パワーＰｒdwdと最大再生パワ
ーＰｒmax に基づいて最適再生パワーＰｒを（１）式に
より算出し、メモリに格納する。
Ｓ１０８、Ｓ１１１、Ｓ１１２、（Ｓ１１３）、Ｓ１０
７の処理を繰り返し行い、再生パワーを更にΔＰｒづつ
増加させて、再生信号振幅の検出を行い、順次前回と今
回の信号振幅が６ｄＢ以上低下するかどうかの判定を行
う。ここで、Ｓ１１１において前回の信号振幅Ａn に対
し今回の信号振幅Ａn-1 が６ｄＢ以上低下すると、図４
に示すように再生パワーがＰ９からＰ１０に急激に変化
した時であり、この場合の前回の再生パワーＰ９を磁壁
が移動する最大再生パワーＰｒmax として検出する（Ｓ
１１４）。次いで、Ｓ１１５で図４で説明したように得
られた磁壁移動開始再生パワーＰｒdwdと最大再生パワ
ーＰｒmax に基づいて最適再生パワーＰｒを（１）式に
より算出し、メモリに格納する。
【００３９】以上で再生用光ビームの最適再生パワーを
設定する処理を終了し、以下、ディスク１０１のゾーン
毎に同様の最適再生パワーを設定する処理を行い、それ
ぞれメモリに格納する。以降ディスク１０１の記録情報
を再生する時はゾーン毎にメモリから対応する最適再生
パワーを読み出し、それに応じてＬＤ制御回路１３３を
制御し、半導体レーザ１０５の再生パワーを最適再生パ
ワーに設定することで記録情報の再生を行う。なお、図
５の再生パワーテストはディスク１０１が装置に装着さ
れた時、ディスク１０１が装着されてから一定時間毎、
装置内の温度変化が一定値以上になった時等に行う。
設定する処理を終了し、以下、ディスク１０１のゾーン
毎に同様の最適再生パワーを設定する処理を行い、それ
ぞれメモリに格納する。以降ディスク１０１の記録情報
を再生する時はゾーン毎にメモリから対応する最適再生
パワーを読み出し、それに応じてＬＤ制御回路１３３を
制御し、半導体レーザ１０５の再生パワーを最適再生パ
ワーに設定することで記録情報の再生を行う。なお、図
５の再生パワーテストはディスク１０１が装置に装着さ
れた時、ディスク１０１が装着されてから一定時間毎、
装置内の温度変化が一定値以上になった時等に行う。
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、磁
壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パワーＰｒ
dwd と、磁壁が移動する最大再生パワーＰｒmax に基づ
いて再生用光ビームの最適再生パワーを設定しているの
で、光学系の収差、各部の精度、媒体間あるいは媒体上
の位置、更には再生パワーの制御誤差等によらず、磁壁
移動再生を行う際の再生パワーを正確に最適値に設定で
き、磁壁移動による情報の再生を高い精度で行うことが
できる。
壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パワーＰｒ
dwd と、磁壁が移動する最大再生パワーＰｒmax に基づ
いて再生用光ビームの最適再生パワーを設定しているの
で、光学系の収差、各部の精度、媒体間あるいは媒体上
の位置、更には再生パワーの制御誤差等によらず、磁壁
移動再生を行う際の再生パワーを正確に最適値に設定で
き、磁壁移動による情報の再生を高い精度で行うことが
できる。
【図１】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図２】図１のＲＦ信号処理回路を示すブロック図であ
る。
る。
【図３】図１の実施形態に用いる光磁気ディスクの構成
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図４】本発明の再生パワーテストの根拠となる再生パ
ワーと再生信号のジッター及び再生信号振幅の関係を示
す図である。
ワーと再生信号のジッター及び再生信号振幅の関係を示
す図である。
【図５】本発明の再生パワーテスト方法の一実施形態を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図６】磁壁移動再生の原理を説明するための図であ
る。
る。
【図７】再生パワーと再生信号のジッターの関係を示す
図である。
図である。
１０１ 光磁気ディスク １０３ 磁気ヘッド １０４ ＬＤドライバー １０５ 半導体レーザ １０８ 対物レンズ １１４ サーボ信号検出用センサ １１９ 信号検出用センサ １２１，１２３ 電流電圧変換回路 １２５ ＲＦ信号処理回路 １２６ サーボ制御回路 １２７ ＣＰＵ １２９ ディスクコントローラ １３０ タイミング制御ロジック回路 １３２ 磁気ヘッドドライバー １４０ 光学ヘッド ３０１ 透明基板 ３０３ 第１の磁性層 ３０４ 第２の磁性層 ３０５ 第３の磁性層
Claims (4)
- 【請求項１】 少なくとも、第１、第２及び第３の磁性
層が積層された磁壁移動型光磁気媒体に再生用光ビーム
を照射し、前記第１の磁性層の記録磁区の磁壁を移動さ
せて、再生用光ビームの反射光の偏光面の変化を検出す
ることにより記録情報を再生するに当たり、再生用光ビ
ームの最適パワーを設定するための再生パワーテスト方
法であって、磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パ
ワーＰｒdwd 及び磁壁が移動する最大再生パワーＰｒ
max を検出し、得られた磁壁移動開始再生パワーＰｒ
dwd 及び最大再生パワーＰｒmax に基づいて最適再生パ
ワーＰｒを設定することを特徴とする再生パワーテスト
方法。 - 【請求項２】 最適再生パワーＰｒは、磁壁移動開始再
生パワーＰｒdwd と最大再生パワーＰｒmax から、 Ｐｒ＝（Ｐｒdwd ＋３×Ｐｒmax ）／４ で算出されることを特徴とする請求項１に記載の再生パ
ワーテスト方法。 - 【請求項３】 少なくとも、第１、第２及び第３の磁性
層が積層された磁壁移動型光磁気媒体に再生用光ビーム
を照射し、前記第１の磁性層の記録磁区の磁壁を移動さ
せて、再生用光ビームの偏光面の変化を検出することに
より記録情報を再生する光学的情報再生装置において、
磁壁が移動を開始する磁壁移動開始再生パワーＰｒdwd
を検出する手段と、磁壁が移動する最大再生パワーＰｒ
max を検出する手段と、得られた磁壁移動開始再生パワ
ーＰｒdwd 及び最大再生パワーＰｒmax に基づいて最適
再生パワーＰｒを設定する手段とを備えたことを特徴と
する光学的情報再生装置。 - 【請求項４】 前記最適再生パワー設定手段は、磁壁移
動開始再生パワーＰｒdwd と最大再生パワーＰｒmax か
ら、 Ｐｒ＝（Ｐｒdwd ＋３×Ｐｒmax ）／４ の演算を行うことにより最適再生パワーＰｒを算出する
ことを特徴とする請求項３に記載の光学的情報再生装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000009095A JP2001202666A (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 再生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置 |
| US09/760,648 US6519212B2 (en) | 2000-01-18 | 2001-01-17 | Method for setting optimal reproduction power level in domain wall displacement magneto-optical recording device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000009095A JP2001202666A (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 再生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001202666A true JP2001202666A (ja) | 2001-07-27 |
Family
ID=18537287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000009095A Pending JP2001202666A (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 再生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6519212B2 (ja) |
| JP (1) | JP2001202666A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1168742B1 (en) * | 2000-06-28 | 2008-03-19 | Sony Deutschland GmbH | Modulation identification device |
| JP2002184055A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-28 | Sony Corp | 位相エラー検出装置及び方法、レーザパワー制御装置及び方法、並びに光磁気記録再生装置 |
| JP3895933B2 (ja) * | 2001-01-30 | 2007-03-22 | 三洋電機株式会社 | ディスク記録再生装置 |
| JP2002230779A (ja) * | 2001-01-30 | 2002-08-16 | Sanyo Electric Co Ltd | ディスク再生装置 |
| JP3787316B2 (ja) * | 2002-04-26 | 2006-06-21 | キヤノン株式会社 | 光磁気記録再生装置 |
| JP2004063011A (ja) * | 2002-07-30 | 2004-02-26 | Sanyo Electric Co Ltd | ディスク再生装置 |
| US20070055471A1 (en) * | 2003-05-09 | 2007-03-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Copy window setpoint control for domain expansion reading |
| US7924664B2 (en) * | 2003-06-26 | 2011-04-12 | Hitachi-Lg Data Storage, Inc. | Optical disk apparatus, optical head, and detection signal processing method thereof |
| TW200540854A (en) * | 2004-06-11 | 2005-12-16 | Benq Corp | Initial setting of power of radiation beam for reproducing data recorded on optical information recording medium |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5517471A (en) | 1992-01-06 | 1996-05-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for verifying recording data and for determining recording error using a detected light amount |
| EP1426944A3 (en) | 1993-04-02 | 2008-01-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing a magneto-optical recording medium |
| JP3332458B2 (ja) | 1993-04-02 | 2002-10-07 | キヤノン株式会社 | 光磁気記録媒体 |
| JP3492800B2 (ja) * | 1995-02-17 | 2004-02-03 | 富士通株式会社 | 光記録装置及び再生レーザパワー設定方法 |
| JPH1092047A (ja) | 1996-09-19 | 1998-04-10 | Canon Inc | 光学的情報記録再生方法と光学的情報記録再生装置 |
| JP3703315B2 (ja) * | 1997-10-01 | 2005-10-05 | キヤノン株式会社 | 光磁気記録再生方法及びその再生装置 |
-
2000
- 2000-01-18 JP JP2000009095A patent/JP2001202666A/ja active Pending
-
2001
- 2001-01-17 US US09/760,648 patent/US6519212B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20010028607A1 (en) | 2001-10-11 |
| US6519212B2 (en) | 2003-02-11 |
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