JPH0668488A - シ−ク制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 レ−ザ光束が光ディスク上のピット（又は欠
陥）を通過する際の速度検出信号の乱れを防止すること
により、正確な移動制御を実現すること。 【構成】 基準速度発生器12の出力と速度検出ブロック
15の出力との差動増幅器13出力が０となるように光ピッ
クアップ1 からのレ−ザ光束を速度制御する駆動アンプ
14；レ−ザ光束のトラック通過信号の微分器7 出力と、
光ピックアップの駆動機構3 の駆動電流の積分信号と
を、スイッチSW1 〜SW4 の切り換えにより交互に相補的
に検出速度信号として出力する速度検出ブロック15；レ
−ザ光束の照射位置のピット（又は欠陥）の有無を検出
するピット検出器5(又は欠陥検出器)；ピット（又は欠
陥）が検出されている間は前記検出速度信号として前記
積分信号が出力されるようにスイッチSW1 〜SW4 を切り
換えるスイッチコントロ−ラ6；を備えたシ−ク制御装
置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置に搭載
されるシ−ク制御装置に関し、詳しくは、レ−ザ光束の
移動制御に必要とされる現実の移動速度の検出を、正確
に行い得るようにした装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクの半径方向へレ−ザ光束を移
動させて目標位置に位置決めするためのシ−ク制御方式
として、レ−ザ光束の移動速度を、その現在位置に応じ
て設定される基準速度に追従させる制御方式が行われて
いる。基準速度は、例えば、ＲＯＭに格納されている基
準速度プロファィルから読み出されて設定されるもので
あり、目標位置に於いて“０”となるように設定され
る。

【０００３】上記制御方式に於いて、移動及び位置決め
を正確に行うためには、レ−ザ光束の現実の移動速度を
正確に検出することが必要となる。このため、例えば、
ＭＲ８６−３４のＰ２１〜２２に開示されている検出方
式が行われている。

【０００４】上記の検出方式を、図３に即して説明す
る。まず、光ピックアップから出射されるレ−ザ光束が
光ディスクのトラックを横切ることで、トラック通過信
号(1) が生成される。即ち、上記レ−ザ光束の反射光
を、例えば２分割センサで受光して処理することで、
(1) のような正弦波状の信号が得られる。このトラック
通過信号(1) は、レ−ザ光束の移動速度に比例する周波
数を有するため、直線で近似できる部分（区間ａ）につ
いては、その傾きによってレ−ザ光束の移動速度を近似
できる。即ち、微分信号(2) によって移動速度を検出で
きる。同様に、区間ｃについても、上記の微分信号(2)
を反転させた信号(3) によって移動速度を検出できる。

【０００５】しかし、区間ｂ，ｄでは、上記の方法でレ
−ザ光束の移動速度を検出することはできない。このた
め、そのままでは検出速度信号は、(4) のように不連続
となる。故に、区間ｂ，ｄでは、レ−ザ光束の移動用の
駆動回路（光ピックアップのトラッキングアクチュエ−
タと、必要に応じて光ピックアップ全体を移動させるた
めのモ−タとを駆動する回路）に供給される駆動電流
が、レ−ザ光束の加速度に比例することに着目して、そ
の積分値(5) によって、レ−ザ光束の移動速度が近似さ
れる。但し、上記の積分値(5) には機械的な摩擦等によ
る誤差が累積されるため、長期間に渡って正確な速度情
報を得ることはできない。

【０００６】このように、ＭＲ８６−３４等に記載の方
式では、上記の微分信号(2)(3)と上記の積分信号(5) と
を、上記の如く区間に応じて交互に相補的に用いること
により、(6) の如き検出速度信号を生成して、これに基
づき、光ピックアップから出射されるレ−ザ光束を、目
標位置へ移動制御している。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ＭＲ８６−３４等に記
載の上記の方式では、区間ａ，ｃでは、トラック通過信
号(1) を微分して得られる信号(2)(3)によりレ−ザ光束
の移動速度を近似し、これに基づいて、移動制御用の検
出速度信号を生成している。このため、トラック通過信
号(1) の品質が、移動制御の正確さに大きく影響する。

【０００８】ところで、図４のように、光ディスク2 上
には、前記トラック以外に、アドレス情報として刻まれ
ているピット、或いは、後に書き込まれたデ−タピット
（追記型ディスクの場合）が存在する。このため、レ−
ザ光束がこれらのピットを通過する際には、散乱等によ
りその反射光量が減少して、(10)又は(11)の区間ｅの如
く、トラック通過信号の波形が乱れる。なお、(10)はト
ラック通過信号を処理する回路の帯域が広い場合であ
り、この場合、ディスク2 の回転によるピット通過のた
めに、信号には高域成分が現れて、その振幅が高速で変
動する。一方、(11)は回路の帯域が狭い場合であり、通
常は、この回路が用いられる。

【０００９】また、上記の如く区間ｅでトラック通過信
号の波形が乱れる結果、トラック通過信号(11)を微分し
て得られる信号(12)の波形も区間ｅで乱れ、さらに、こ
れに基づいて生成される検出速度信号(16)の波形も区間
ｅで乱れる。したがって、ＭＲ８６−３４等に記載の方
式では、上記区間ｅに於ける検出速度信号(16)の乱れに
起因して、レ−ザ光束の移動制御が不正確となり、アク
セスエラ−が発生し易いという問題がある。

【００１０】同様の問題は、光ディスク上に欠陥が存在
する場合にも発生する。本発明は、上記の事情に鑑みた
ものであり、レ−ザ光束がピット又は欠陥を通過する際
に於ける検出速度信号(16)の上記区間ｅの如き乱れを防
止して、正確な移動制御を実現することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、光ディスクの半径方向へレ−ザ光束を移動させて目
標位置に位置決めするためのシ−ク制御装置であって；
現在位置に応じて設定される基準速度に現実の移動速度
を追従させるべく、基準速度信号と検出速度信号の差に
相当する速度制御信号が０となるように、レ−ザ光束の
移動を制御する駆動手段と；レ−ザ光束が光ディスクの
トラックを横切ることで生成されるトラック通過信号を
微分して得られる微分信号と、レ−ザ光束の移動用に供
給される駆動電流を積分して得られる積分信号とを、交
互に相補的に用いて、前記検出速度信号を生成する速度
検出手段と；光ディスクからのレ−ザ光束の反射光に基
づいて、該光ディスクのピットを検出するピット検出手
段と；ピットが検出されている間は、前記検出速度信号
を前記積分信号に基づいて生成するように、前記速度検
出手段に対して強制する補正手段と；を有するシ−ク制
御装置である。

【００１２】また、請求項２に記載の発明は、請求項１
に於いて；前記ピット検出手段に代えて、光ディスクか
らのレ−ザ光束の反射光に基づいて、該光ディスクの欠
陥を検出する欠陥検出手段を具備せしめ；前記補正手段
は、上記欠陥が検出されている間に於いて、前記速度検
出手段に対する前記強制を行うようにしたシ−ク制御装
置である。

【００１３】また、請求項３に記載の発明は、請求項２
に於いて；前記欠陥検出手段により検出された欠陥の光
ディスク上での位置を記憶する記憶手段を具備せしめ；
前記補正手段は、前記欠陥検出手段により前記欠陥が検
出されている間と、レ−ザ光束が上記記憶手段から読み
出される欠陥の位置にある間とに於いて、前記速度検出
手段に対する前記強制を行うようにしたシ−ク制御装置
である。

【００１４】また、請求項４に記載の発明は、請求項２
に於いて；光ディスクの特定領域からのレ−ザ光束の反
射光に基づいて、該光ディスクに固有の情報に基づいて
再生中のディスクを識別する識別手段と；前記欠陥検出
手段により検出された欠陥の光ディスク上での位置を、
上記識別手段により検出されたディスク識別情報に対応
付けて記憶する記憶手段とを具備せしめ；前記補正手段
は、前記欠陥検出手段により前記欠陥が検出されている
間と、レ−ザ光束が上記記憶手段から読み出される識別
情報で特定される光ディスクの欠陥の位置にある間とに
於いて、前記速度検出手段に対する前記強制を行うよう
にしたシ−ク制御装置である。

【００１５】上記に於いて、基準速度信号は、例えば、
ＲＯＭに格納されている基準速度プロファィルから読み
出されて設定される。また、『微分信号と積分信号とを
交互に相補的に用いる』とは、前記ＭＲ８６−３４等に
記載の方式のように用いることをいう。また、ピット
は、例えば、トラック通過信号の高域成分を検出して処
理することで検出できる。なお、アドレス情報のピット
であれば、ピットエリアの周期性を利用して検出するこ
ともできる。また、欠陥は、例えば、特開平3-272023号
公報に開示されているように、トラック通過信号の高域
成分を処理する公知の方法で検出できる。

【００１６】

【作用】請求項１の発明では、光ピックアップから出射
されるレ−ザ光束が、光ディスクのピットを通過してい
ることがピット検出手段により検出されると、補正手段
が、速度検出手段に対して、トラック通過信号の微分信
号ではなく駆動電流の積分信号に基づいて検出速度信号
を生成するように、強制する。

【００１７】請求項２の発明では、請求項１のピット検
出手段による光ディスク上のピットの検出に代えて、欠
陥検出手段により光ディスク上の欠陥が検出されると、
補正手段により同様の処理が行われる。請求項３の発明
では、請求項２のように検出された欠陥の位置が記憶さ
れ、レ−ザ光束が上記位置を照射する際に、補正手段に
より同様の処理が行われる。請求項４の発明では、請求
項２のように検出された欠陥の位置が当該光ディスクに
対応付けて記憶され、レ−ザ光束が、当該光ディスクの
上記位置を照射する際に、補正手段により同様の処理が
行われる。

【００１８】

【実施例】以下、本発明の実施例１〜３を説明する。

【００１９】実施例１ 図１は実施例１の装置の制御回路の構成を示すブロック
図、図２は図１の装置における検出速度信号の生成過程
を示す波形図、図５は図１のピット検出器の回路構成
図、図６は図５のピット検出器の動作を示す図である。

【００２０】実施例１の装置は、基準速度発生器12の出
力信号（基準速度信号）と速度検出ブロック15の出力信
号（検出速度信号）を差動増幅器13で差動増幅して、そ
の出力信号（速度制御信号）が０となるように、光ピッ
クアップ1 の駆動機構3 を駆動アンプ14により制御する
装置である。これにより、光ピックアップ1 から出射さ
れるレ−ザ光束は、その現在位置に対応して設定される
基準速度に現実の移動速度が追従するように、光ディス
ク2 の半径方向へ移動制御される。なお、上記の駆動機
構3 は、光ピックアップ1 のトラッキングアクチュエ−
タと、必要に応じて光ピックアップ1 全体を移動させる
ためのモ−タ（粗動モ−タ）とから構成されるものとす
る。

【００２１】また、上記に於いて、レ−ザ光束の現在位
置は、レ−ザ光束が光ディスク2 のトラックを横切るこ
とで検出されるトラック通過信号(51)を信号検出器4 で
検出し、これを、位置算出カウンタ11で計数することに
よって求められる。また、現在位置に対応する基準速度
信号は、位置算出カウンタ11での計数値に対応する基準
速度を、基準速度発生器12中のＲＯＭに格納されている
基準速度プロファイルから読み出すことによって発生さ
れる。

【００２２】一方、上記の検出速度信号（速度検出ブロ
ック15の出力信号(56)）は、図２の区間Ａ〜Ｅに各々対
応してスイッチSW1 〜SW4 を切り換えることにより、下
記のように生成される。

【００２３】＊区間Ａ（微分信号での近似） レ−ザ光束が光ディスク2 のトラックを通過することで
生成されるトラック通過信号(51)のうち、直線で近似で
きる部分（区間Ａ）については、前述の図３の場合と同
様に、トラック通過信号(51)の微分信号（微分器7 の出
力信号(52)）によって、レ−ザ光束の移動速度が近似さ
れる。このために、区間Ａでは、スイッチコントロ−ラ
6 からの指令によって、スイッチSW1,SW4 がオンされ、
且つ、他のスイッチSW2,SW3 がオフされる。

【００２４】これにより、微分器7 の出力信号(52)は、
略そのまま差動増幅器13の反転入力端子へ検出速度信号
(56)として入力されて、前記基準速度信号との差動増幅
信号が、速度制御信号として駆動アンプ14へ出力され
る。なお、オペアンプ10は、抵抗ＲＡ，ＲＢとコンデン
サＣとによって積分回路を構成されているが、図示のよ
うに、ＲＢ≫ＲＡであり、スイッチSW4 のオンで積分回
路の時定数が短くされているため、上記の微分信号(52)
は、略そのまま、差動増幅器13の反転入力端子へ入力さ
れるのである。

【００２５】＊区間Ｃ（反転微分信号での近似） 区間Ｃでは、上記のトラック通過信号(51)は、上記の区
間Ａの場合と同様に微分器7 により微分された後、反転
回路8 により極性を反転されて(53)、差動増幅器13の反
転入力端子へ検出速度信号(56)として入力される。この
ために、区間Ｃでは、スイッチコントロ−ラ6 からの指
令によって、スイッチSW2,SW4 がオンされるとともに、
他のスイッチSW1,SW3 がオフされる。

【００２６】＊区間Ｂ，Ｄ（積分信号での近似） 区間Ｂ，Ｄでは、前述の図３の場合と同様に、駆動機構
3 に供給される駆動電流の積分値(55)によって、レ−ザ
光束の移動速度が近似される。このために、区間Ｂ，Ｄ
では、スイッチコントロ−ラ6 からの指令によって、ス
イッチSW3 のみがオンされ、他のスイッチSW1,SW2,SW4
はオフされる。これにより、電流検出器9 で検出された
駆動電流は、抵抗ＲＢとコンデンサＣとで定まる比較的
長い時定数の積分回路（オペアンプ10等で構成される回
路）によって積分され(55)、差動増幅器13の反転入力端
子へ検出速度信号(56)として入力される。

【００２７】＊区間Ｅ（積分信号での近似） レ−ザ光束が光ディスク2 上のピットを通過する区間Ｅ
では、前述の図４で説明したように、トラック通過信号
(51)の波形が乱れる。本装置では、ピットの通過がピッ
ト検出器5 により検出され、その検出信号(60)がピット
検出器5 からスイッチコントロ−ラ6 に送られると、ス
イッチコントロ−ラ6 は、スイッチSW3をオンさせると
ともに、スイッチSW1,SW2,SW4 をオフさせる。これによ
り、区間Ｅでは、上記区間Ｂ，Ｄと同様に、積分信号で
の近似が行われる。

【００２８】上記のピット検出器5 は、例えば図５のよ
うに構成され、図６のような処理を行う。即ち、広帯域
のトラック通過信号(10)は、まず、コンデンサC51 と抵
抗R51 とから成るハイパスフィルタにより区間Ｅの高域
成分(71)を抽出される。この高域成分(71)がコンパレ−
タ52により２値化され、さらに、２値化信号(72)がリト
リガラブル単安定マルチバイブレ−タ53に入力されるこ
とで、前記ピット検出信号(60)が生成されるのである。
なお、上記ハイパスフィルタのカットオフ周波数は、例
えば、情報再生信号の帯域（数１００ＫＨｚ〜数ＭＨ
ｚ）が通過するように設定されているものとする。

【００２９】このように、実施例１の装置では、トラッ
ク通過信号(51)の波形の乱れるピット通過区間Ｅでは、
検出速度信号(56)が、レ−ザ光束のピットの通過に影響
されない駆動電流の積分信号(55)に基づいて生成される
ため、常に正確な検出速度信号(56)の生成が可能とな
る。

【００３０】実施例２ 図７は実施例２の装置の制御回路の構成を示すブロック
図、図８は該装置のアドレス計算方式を示す図である。
実施例２の装置は、略実施例１の装置と同様であるた
め、実施例１の装置と同一のブロックについては同一の
符号で示し、以下、異なる点を説明する。

【００３１】実施例２の装置では、欠陥検出器16によっ
て光ディスク2 の欠陥が検出された時に、スイッチコン
トロ−ラ6aからの指令により、スイッチSW3 をオンさせ
るとともにスイッチSW1,SW2,SW4 をオフさせることで、
検出速度信号(56)を、駆動電流の積分値(55)に基づいて
生成しており、これにより、光ディスク2 の欠陥に起因
するトラック通過信号(51)の波形の乱れに対処してい
る。なお、欠陥検出器16は、広帯域のトラック通過信号
(10)の高域成分を抽出して処理することで、光ディスク
の欠陥を検出するものである。

【００３２】また、実施例２の装置では、上記欠陥の位
置を欠陥箇所記憶回路18に記憶しておき、シ−ク時に、
欠陥箇所記憶回路18から読み出されるデ−タにより、レ
−ザ光束が上記欠陥の位置を通過しているとされた場合
には、欠陥箇所記憶回路18からスイッチコントロ−ラ6a
に対して信号を出力して、上記と同様に、検出速度信号
(56)を駆動電流の積分値(55)に基づいて生成している。

【００３３】なお、欠陥の位置の記憶は、次のように行
われる。即ち、欠陥が検出されると、欠陥検出器16は欠
陥箇所記憶回路18に対して、その旨の信号を送る。これ
に対応して欠陥箇所記憶回路18は、アドレス検出器（Ｃ
Ｄプレ−ヤ等に用いられるアドレスデコ−ダ）17から現
在のアドレス情報を受け取って、欠陥箇所記憶回路18内
のメモリに書き込む。こうして、欠陥の位置が記憶され
る。

【００３４】また、欠陥箇所記憶回路18に記憶されてい
る欠陥の位置を、現在、レ−ザ光束が通過中であるか否
かは、トラック計数カウンタ11のカウント値と、ロ−タ
リ−エンコ−ダ20のディスク回転同期信号とに基づい
て、現在レ−ザ光束が通過中のアドレスを算出し、これ
を、欠陥箇所記憶回路18のメモリに記憶されている欠陥
のアドレスと比較することで、判定される。

【００３５】即ち、まず、シ−ク開始時に於いて、欠陥
箇所記憶回路18は、その時のアドレス情報をアドレス検
出器17から読み込むとともに、トラック計数カウンタ11
のプリセット値（目標トラックまでのトラック数，カウ
ント値はレ−ザ光束のトラック通過毎に減算される）を
読み込む。また、ロ−タリ−エンコ−ダ20からのパルス
を計数するためのカウンタ（欠陥箇所記憶回路18内の例
えば16進カウンタ；ロ−タリ−エンコ−ダ20は、スピン
ドルモ−タ19の回転に同期して、例えば1 回転当たり16
個のパルスを発生するものとし、また、光ディスクのト
ラック1 周上には16個のアドレスが与えられているもの
とする）をリセットする。

【００３６】次に、シ−ク中には、欠陥箇所記憶回路18
は、トラック計数カウンタ11の減算カウント値C を読み
込みつつ、16進カウンタの値D(D=0 〜15）を監視する。
これらの値と、アドレス検出器17から読み込んだシ−ク
開始時のアドレスA とに基づいて、現在レ−ザ光束が通
過中のアドレスE を算出することができる。例えば、図
８のように、シ−ク開始時のアドレスA を100 、トラッ
ク計数カウンタ11のプリセット値を30とし、外方向へシ
−クする場合に於いて、トラック計数カウンタ11の減算
カウント値C が27、16進カウンタのカウント値D が3 で
あれば、その時のレ−ザ光束のアドレスE は、151 とし
て求まる。この値E が、欠陥箇所記憶回路18に記憶され
ている欠陥のアドレスと一致するか否かを監視すること
で、前記の判定を行うことができる。

【００３７】実施例３ 図９は実施例３の装置の制御回路の構成を示すブロック
図である。実施例３の装置は、略実施例２の装置と同様
であるため、実施例２の装置と同一のブロックについて
は同一の符号で示し、以下、異なる点を説明する。

【００３８】実施例３の装置では、欠陥検出器16によっ
て光ディスク2 の欠陥が検出されると、該欠陥の位置
が、当該光ディスク2 に固有の情報に基づいて識別され
た結果に対応付けて、欠陥箇所記憶回路18b に記憶され
る。また、光ディスクがセットされると、上記の光ディ
スクに固有の情報に基づいて該光ディスクが識別され、
その結果、欠陥の位置の記憶されている光ディスクであ
れば、そのシ−ク時に於いて、欠陥箇所記憶回路18b か
ら読み出される当該光ディスクの欠陥の位置のデ−タが
参照され、レ−ザ光束が該欠陥の位置を通過していると
判定された場合には、欠陥箇所記憶回路18b からスイッ
チコントロ−ラ6bに対して信号が出力される。これによ
り、前記実施例２の装置と同様に、検出速度信号(56)が
駆動電流の積分値(55)に基づいて生成される。

【００３９】なお、光ディスクの識別情報としては、例
えば、特開平4-114324号公報に開示されているように、
光ディスクの最内周のリ−ドインエリアに記録されてい
る当該光ディスクに固有のサブコ−ドを用いることがで
きる。即ち、このサブコ−ドをサブコ−ド復調器21によ
って復調し、ディスク識別回路22で処理して欠陥箇所記
憶回路18b に送ることで上記の記憶が行われ、また、光
ディスクの再セット時に於ける上記の識別が可能とな
る。

【００４０】

【発明の効果】以上、本発明では、トラック通過信号の
微分信号と駆動電流の積分信号とを交互に相補的に用い
て光ピックアップの移動速度を検出するとともに、レ−
ザ光束のピット通過（請求項１の発明）又は欠陥通過
（請求項２〜４の発明）によりトラック通過信号の波形
が乱れる場合には、強制的に、駆動電流の積分信号に基
づきレ−ザ光束の移動速度を検出している。

【００４１】また、請求項３の発明では、記憶されてい
る欠陥の位置をレ−ザ光束が通過する場合にも上記の強
制的な制御が行われる。また、請求項４の発明では、光
ディスクに対応付けて記憶されている当該光ディスクの
欠陥の位置をレ−ザ光束が通過する場合にも上記の強制
的な制御が行われる。

【００４２】したがって、レ−ザ光束の速度の検出を常
に正確に行うことができるため、レ−ザ光束の移動速度
を基準速度に追従させる制御を、常に安定して行うこと
ができる。また、アクセスエラ−も防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例１の装置の制御回路の構成を示すブロッ
ク図である。

【図２】実施例１の装置に於ける検出速度信号(56)の生
成過程を示す波形図である。

【図３】従来の装置における検出速度信号(6) の生成過
程を示す波形図である。

【図４】従来の装置に於いてレ−ザ光束のピット通過に
よりトラック通過信号が乱れることと、その場合の影響
を示す図である。

【図５】図１の装置のピット検出器5 の回路構成図であ
る。

【図６】図５のピット検出器の動作を示す図である。

【図７】実施例２の装置の制御回路の構成を示すブロッ
ク図である。

【図８】実施例２の装置のアドレス計算方式を示す図で
ある。

【図９】実施例３の装置の制御回路の構成を示すブロッ
ク図である。

【符号の説明】

２ 光ディスク １３ 差動増幅器 １５ 速度検出ブロック ５３ リトリガラブルモノマルチバイブレ−タ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクの半径方向へレ−ザ光束を移
   動させて目標位置に位置決めするためのシ−ク制御装置
   であって、 現在位置に応じて設定される基準速度に現実の移動速度
   を追従させるべく、基準速度信号と検出速度信号の差に
   相当する速度制御信号が０となるように、レ−ザ光束の
   移動を制御する駆動手段と、 レ−ザ光束が光ディスクのトラックを横切ることで生成
   されるトラック通過信号を微分して得られる微分信号
   と、レ−ザ光束の移動用に供給される駆動電流を積分し
   て得られる積分信号とを、交互に相補的に用いて、前記
   検出速度信号を生成する速度検出手段と、 光ディスクからのレ−ザ光束の反射光に基づいて、該光
   ディスクのピットを検出するピット検出手段と、 ピットが検出されている間は、前記検出速度信号を前記
   積分信号に基づいて生成するように、前記速度検出手段
   に対して強制する補正手段と、 を有するシ−ク制御装置。
2. 【請求項２】 請求項１に於いて、 前記ピット検出手段に代えて、光ディスクからのレ−ザ
   光束の反射光に基づいて、該光ディスクの欠陥を検出す
   る欠陥検出手段を具備せしめ、 前記補正手段は、上記欠陥が検出されている間に於い
   て、前記速度検出手段に対する前記強制を行う、 シ−ク制御装置。
3. 【請求項３】 請求項２に於いて、 前記欠陥検出手段により検出された欠陥の光ディスク上
   での位置を記憶する記憶手段を具備せしめ、 前記補正手段は、前記欠陥検出手段により前記欠陥が検
   出されている間と、レ−ザ光束が上記記憶手段から読み
   出される欠陥の位置にある間とに於いて、前記速度検出
   手段に対する前記強制を行う、 シ−ク制御装置。
4. 【請求項４】 請求項２に於いて、 光ディスクの特定領域からのレ−ザ光束の反射光に基づ
   いて、該光ディスクに固有の情報に基づいて再生中のデ
   ィスクを識別する識別手段と、 前記欠陥検出手段により検出された欠陥の光ディスク上
   での位置を、上記識別手段により検出されたディスク識
   別情報に対応付けて記憶する記憶手段と、 を具備せしめ、 前記補正手段は、前記欠陥検出手段により前記欠陥が検
   出されている間と、レ−ザ光束が上記記憶手段から読み
   出される識別情報で特定される光ディスクの欠陥の位置
   にある間とに於いて、前記速度検出手段に対する前記強
   制を行う、 シ−ク制御装置。