JPH0667920A - レジスタ設定回路 - Google Patents

レジスタ設定回路

Info

Publication number
JPH0667920A
JPH0667920A JP4236330A JP23633092A JPH0667920A JP H0667920 A JPH0667920 A JP H0667920A JP 4236330 A JP4236330 A JP 4236330A JP 23633092 A JP23633092 A JP 23633092A JP H0667920 A JPH0667920 A JP H0667920A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
register
switch
signal
bit
inverter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4236330A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuru Adachi
満 足立
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4236330A priority Critical patent/JPH0667920A/ja
Publication of JPH0667920A publication Critical patent/JPH0667920A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ハードウェア的にレジスタへのデータ設定が
可能なレジスタ設定回路を得る。 【構成】 レジスタの各ビットにそれぞれ接続されてリ
セット信号入力時にそれらに電源もしくは地気を与える
スイッチ手段を、外部からの入力信号とテストモードで
あることを示す信号とに基づいて制御し、また、そのス
イッチ手段の制御を、リセット信号のエッジをカウント
クロックとするカウンタの計数値に基づいて行う。 【効果】 レジスタの各ビット毎に設定するデータの値
を選択することが可能となって、ソフトウェアによらず
に所定のデータをレジスタに設定でき、また、nビット
のカウンタを用いれば、n2 通りのデータの設定が可能
となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ワンチップマイクロ
コンピュータなどのプロセッサのテストの1つとして行
われる、内部のレジスタに所定データを設定した時の電
源電流の測定に際して、リセット解除後のレジスタに所
定のデータを設定するレジスタ設定回路に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図6は従来のレジスタ設定回路を示すブ
ロック図である。図において、1は例えばラッチ回路等
で形成された、ワンチップマイクロコンピュータなどの
プロセッサ内部のnビットのレジスタであり、この場合
には4ビットのレジスタが例示されている。2はこのレ
ジスタ1の各ビットに接続され、リセット信号によって
制御されるスイッチであり、3はこのスイッチ2を介し
てレジスタ1の各ビットに接続される地気である。4は
前記リセット信号が入力されるリセット端子であり、5
はリセット端子4より入力されたリセット信号を反転さ
せるインバータである。この場合、スイッチ2には例え
ば、そのドレインがレジスタ1の各ビットに、ソースが
地気3に、ゲートがインバータ5にそれぞれ接続された
Nチャンネルトランジスタが用いられている。なお、こ
のレジスタ1の各ビットに接続されている当該プロセッ
サの内部バスは図示を省略している。
【0003】次に動作について説明する。リセット時に
リセット端子4に入力されるリセット信号がローレベル
(以下“L”という)になると、そのリセット信号はイ
ンバータ5で極性が反転されてハイレベル(以下“H”
という)となり、スイッチ2としてのNチャンネルトラ
ンジスタのゲートに供給される。従って、各スイッチ2
は一斉にオン状態となり、レジスタ1は当該スイッチ2
に接続された地気3によってそのデータが強制的に
“L”に引き抜かれる。なお、図6の例では、リセット
時にレジスタ1が“L”に設定される場合について示し
たが、レジスタ1のビットによっては“H”に設定され
る場合もある。その場合にはスイッチ2としてPチャン
ネルトランジスタが用いられ、そのソースには電源が接
続される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のレジスタ設定回
路は以上のように構成されているので、リセット時にレ
ジスタ1のデータは“L”、または“H”のいずれか一
方にのみ設定されてしまい、プロセッサのテストでレジ
スタ1に所定のデータを設定して電源電流を測定する場
合には、ソフトウェアによって内部データバスからレジ
スタ1へそのデータを書き込まねばならず、設定するレ
ジスタ1の数が多ければソフトウェアの負荷が大きくな
ってしまうという問題点があった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、ハードウェアによってレジスタ
に所定のデータを設定できるレジスタ設定回路を得るこ
とを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係るレ
ジスタ設定回路は、リセット信号入力時にレジスタの各
ビットのそれぞれに、電源もしくは地気を与えるための
スイッチ手段を接続し、それを外部からの入力信号とテ
ストモードであることを示す信号とに基づいて制御する
切替制御回路を設けたものである。
【0007】また、請求項2の発明に係るレジスタ設定
回路は、カウントクロックをリセット信号のエッジとす
るカウンタの計数値に基づいてスイッチ手段を制御する
切替制御回路を設けたものである。
【0008】
【作用】請求項1の発明における切替制御回路は、外部
からの入力信号とテストモードであることを示す信号に
基づいてスイッチ手段を制御することにより、リセット
信号入力時にプロセッサが通常動作モードであれば、レ
ジスタの全てのビットに地気に接続して“L”にリセッ
トし、テストモードであれば電源または地気の一方を選
択的に接続して、所定のデータをハードウェア的に設定
する。
【0009】また、請求項2の発明における切替制御回
路は、リセット信号のエッジをカウントクロックとする
カウンタの計数値に基づいてスイッチ手段を制御するこ
とにより、レジスタの各ビットへの電源および地気の接
続を切り替えて、ハードウェア的に所定データを設定す
る。
【0010】
【実施例】 実施例1.以下、この発明の実施例1を図について説明
する。図1は請求項1の発明の一実施例の原理を示すブ
ロック図である。図において、1はレジスタ、2はスイ
ッチ、3は地気、4はリセット端子、5はインバータで
あり、図6に同一符号を付した従来のそれらと同一、あ
るいは相当部分であるため詳細な説明は省略する。
【0011】また、6は前記地気3とともにレジスタ1
の各ビットに選択的に接続される電源であり、7はこの
地気3および電源6をスイッチ2を介してレジスタ1の
各ビットに切り替えて接続する切替スイッチである。8
は外部からの信号が入力されるレジスタ設定用端子であ
り、9はこのレジスタ設定用端子8に入力された信号の
極性を反転させ、それをレジスタ1の偶数ビットに接続
されている前記切替スイッチ7に制御信号として供給す
るインバータである。10はこのインバータ9の出力の
極性をさらに反転させるインバータであり、11はこの
インバータ9とインバータ10の出力を切り替えて、そ
れをレジスタ1の奇数ビットに接続されている切替スイ
ッチ7に制御信号として供給するスイッチである。12
は外部端子レベルの組み合わせによって作成され、通常
動作モード時に“H”、テストモード時に“L”となる
テストモードイネーブル信号であり、スイッチ11はこ
のテストモードイネーブル信号12によって、それが
“H”であればインバータ9側に、“L”であればイン
バータ10側にそれぞれ切り替えられる。
【0012】なお、13はスイッチ2および切替スイッ
チ7によって形成され、レジスタ1の各ビットのそれぞ
れに、地気3もしくは電源6を与えるためのスイッチ手
段である。14はレジスタ設定用端子8より入力される
外部からの入力信号と、テストモードであることを示す
テストモードイネーブル信号12とに基づいて、そのス
イッチ手段13を制御する切替制御回路である。
【0013】次に動作について説明する。ワンチップマ
イクロコンピュータなどのプロセッサが通常動作モード
であれば、テストモードイネーブル信号12は“H”と
なっているため、スイッチ11はインバータ9側に切り
替えられている。その時、レジスタ設定用端子8に
“L”を与えた場合、全ての切替スイッチ7にはインバ
ータ9より“H”の制御信号が与えられ、切替スイッチ
7は一斉に地気3側に切り替えられている。かかる状態
でリセット端子4に入力されているリセット信号を
“L”とすれば、スイッチ2が一斉にオン状態となるた
め、レジスタ1の全てのビットのデータは、各切替スイ
ッチ7を介して接続された地気3によって強制的に
“L”に設定される。また、通常動作モードでレジスタ
設定用端子8に“H”を与えると、全切替スイッチ7は
インバータ9からの“H”の強制信号によって一斉に電
源6側に切り替えられる。その状態でリセット端子4の
リセット信号を“L”としてスイッチ2を一斉にオン状
態とすれば、レジスタ1の全てのビットのデータは電源
6によって強制的に“H”に設定される。
【0014】また、外部端子に与えるレベルの組み合わ
せによって、当該プロセッサをテストモードにエントリ
ーすると、テストモードイネーブル信号12が“L”と
なるため、スイッチ11はインバータ10側に切り替え
られる。これによって、切替スイッチ7中でレジスタ1
の偶数ビットに接続されたものにはインバータ9から、
奇数ビットに接続されたものにはインバータ10から、
それぞれ互いに逆極性の制御信号が与えれらる。従っ
て、レジスタ設定端子8に“L”を与えると、レジスタ
1の偶数ビットに接続された切替スイッチ7は地気3側
に切り替えられるため、レジスタ1の偶数ビットには強
制的に“L”が設定される。一方、奇数ビットに接続さ
れた切替スイッチ7は電源6側に切り替えられるため、
レジスタ1の奇数ビットには強制的に“H”が設定され
る。また、レジスタ設定端子8に“H”を与えると、切
替スイッチ7中のレジスタ1の奇数ビットに接続された
ものは地気3側に、偶数ビットに接続されたものは電源
6側に切り替えられるため、レジスタ1の奇数ビットは
“L”に、偶数ビットは“H”にそれぞれ強制的に設定
される。
【0015】図2は図1に示したブロック図を実際の回
路で実現した一例を示すブロック図であり、その動作は
図1の場合と同様である。図2に示す例ではスイッチ2
の各々を1つずつのトランスミッションゲートで、切替
スイッチ7の各々をインバータで、スイッチ11を2つ
のトランスミッションゲート11a,11bで構成して
いる。ここで、各トランスミッションゲート2のドレイ
ンはレジスタ1の各ビットに接続され、ソースはそれぞ
れインバータ7のドレインに接続されている。また、各
トランスミッションゲート2の制御信号として、Nチャ
ンネルトランジスタのゲートにはインバータ5の出力
が、Pチャンネルトランジスタのゲートにはインバータ
5の出力をインバータ14aで反転した出力が入力され
る。さらに、各インバータ7のドレインはトランスミッ
ションゲート2のソースにそれぞれ接続され、レジスタ
1の偶数ビットにトランスミッションゲート2を介して
接続されるインバータ7のゲートにはインバータ9の出
力が、奇数ビットにトランスミッションゲート2を介し
て接続されるインバータ7のゲートにはトランスミッシ
ョンゲート11a,11bのドレインが並列に接続され
ている。また、このトランスミッションゲート11bの
ソースはインバータ9の出力、11aのソースはインバ
ータ10の出力にそれぞれ接続され、トランスミッショ
ンゲート11aのPチャンネルトランジンスタ、11b
のNチャンネルトランジスタのゲートにはテストモード
イネーブル信号12が接続され、トランスミッションゲ
ート11aのNチャンネルトランジスタ、11bのPチ
ャンネルトランジスタのゲートにはテストモードイネー
ブル信号12がインバータ14bを介して接続される。
なお、他は図1の同一部分と同一の符号を付してその説
明を省略する。
【0016】実施例2.次に、この発明の実施例2を図
について説明する。図3は請求項1の発明の他の実施例
の原理を示すブロック図で、図1と同一もしくは相当す
る部分には同一符号を付して説明の重複をさけている。
図において、15はレジスタ1の各ビットに接続され、
テストモードイネーブル信号12を制御信号として、そ
れが“L”のときオンとなるスイッチである。16はス
イッチ15のそれぞれに直列に接続されて電源6に接続
され、制御信号が“L”のときオンとなるスイッチであ
り、17はスイッチ15のそれぞれに並列に接続されて
地気3に接続され、制御信号が“H”のときオンとなる
スイッチである。スイッチ手段13はこれらスイッチ1
5,16および17にて形成されており、レジスタ1の
偶数ビットに接続されたこれらスイッチ16,17に
は、制御信号としてインバータ5で反転されたリセット
信号が供給されている。
【0017】18はポート用端子とリセット端子とに共
用される兼用端子であり、19はテストモードイネーブ
ル信号12を制御信号として、それが“H”のときに兼
用端子18に入力された信号を通過させるトライステー
トバッファである。20は同じくテストモードイネーブ
ル信号12を制御信号とし、それが“L”のときに兼用
端子18からの信号を反転させて、レジスタ1の奇数ビ
ットに接続されたスイッチ16,17に制御信号として
供給するトライステートインバータである。21はテス
トモードイネーブル信号12を制御信号とし、それが
“H”のときオンとなって、トライステートインバータ
20からの出力が停止されたスイッチ16,17にイン
バータ5の出力を制御信号として供給するためのスイッ
チである。切替制御回路14はこれらインバータ5、ト
ライステートインバータ20およびスイッチ21にて形
成されている。
【0018】次に動作について説明する。通常動作モー
ド時においてはテストモードイネーブル信号12が
“H”となって各スイッチ15はオフとなるため、レジ
スタ1の各ビットは電源6と切りはなされ、各スイッチ
を介し地気3と接続される。また、テストイネーブル信
号12が“H”のときには兼用端子18はポート用端子
となって、入力された信号はトライステートバッファ1
9より送出される。その時スイッチ21がオンするた
め、スイッチの制御信号入力にはリセット端子4に入力
されたリセット信号がインバータ5を介して接続され
る。従って、リセット端子4に“L”が入力された場合
には、スイッチ17がオンとなって、レジスタ1の全ビ
ットに“L”が書き込まれる。
【0019】また、テストモードイネーブル信号12が
“L”のときにはスイッチはオン、スイッチ21はオフ
となる。その時、兼用端子18はリセット端子となり、
入力された信号がトライステートインバータ20で反転
されて、レジスタ1の奇数ビットに接続されたスイッチ
16,17の制御信号として供給される。一方、偶数ビ
ットに接続されたスイッチ16,17には、リセット端
子4からのリセット信号がインバータ5を介して制御信
号として供給される。従って、レジスタ1に書き込まれ
る値はリセット端子4と兼用端子18に入力される値の
組み合わせで決まり、例えばレジスタ1が図示のように
4ビット構成の場合、リセット端子4と兼用端子18と
の組み合わせで“0000”、“0101”、“101
0”および“1111”の4通りのデータの書き込みが
できる。
【0020】図4は図3に示したブロック図を実際の回
路で実現した一例を示すブロック図であり、その動作は
図3の場合と同様である。この図4に示す例では、スイ
ッチ15,16のそれぞれをNチャンネルトランジス
タ、スイッチ17のそれぞれをPチャンネルトランジス
タで形成し、スイッチ21をトランスミッションゲート
21aとインバータ21bとで構成している。
【0021】実施例3.次に、この発明の実施例3を図
について説明する。図5は請求項2の発明の一実施例を
示すブロック図で、図1と同一または相当部分には同一
符号を付してその説明を省略する。図において、22は
インバータ5で反転されたリセット信号のエッジをカウ
ントクロックとして計数するnビット(この場合、レジ
スタ1と同一の4ビット)で構成されたカウンタであ
り、その各ビットの計数値にて、レジスタ1の対応ビッ
トにスイッチ2を介して接続されている切替スイッチ7
の切り替えを制御している。23はこのカウンタ22を
リセットするためのカウンタリセット信号が入力される
カウンタリセット端子であり、切替制御回路14はこの
カウンタ22とインバータ5にて構成されている。
【0022】次に動作について説明する。ここで、通常
動作モードには、カウンタリセット端子23よりカウン
タ22に“L”のカウンタリセット信号を入力してリセ
ットし、その計数値を“1111”としておく。これに
よって、各切替スイッチ7は、制御信号として“H”が
入力されて、それぞれ地気3側に切り替えられる。その
時、リセット端子4に“L”が入力されると、レジスタ
1の各ビットには全て“L”が書き込まれる。カウンタ
リセット端子23に“H”のカウンタリセット信号が入
力されている時には、このカウンタ22はリセット端子
4に入力されるリセット信号の立ち上がりで計数値を順
次カウントダウンしてゆく。このカウンタ22の計数値
の各ビットは制御信号として各切替スイッチ7に供給さ
れており、その“H”、“L”によって地気3側あるい
は電源6側に切り替えられる。従って、カウンタリセッ
ト端子23に“H”を加えている間は、リセット端子4
に“L”を入力する前のリセット信号の立ち上がりの回
数によってカウンタ22が順次カウントダウンされるた
めレジスタ1にはこの場合16通りのデータの書き込み
が可能となる。即ち、カウンタ22のビット数をnとす
れば、2n 通りのデータをレジスタ1に書き込むことが
できる。
【0023】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれ
ば、レジスタの各ビットのそれぞれに接続され、リセッ
ト信号入力時にそれらに電源もしくは地気を与えるスイ
ッチ手段を、外部からの入力信号とテストモードである
ことを示す信号とに基づいて制御するように構成したの
で、レジスタの各ビット毎に設定するデータの値を選択
することが可能となり、ソフトウェアによらず、ハード
ウェアの処理にて所定のデータをレジスタに設定するこ
とができるレジスタ設定回路が得られる効果がある。
【0024】また、請求項2の発明によれば、スイッチ
手段の制御を、リセット信号のエッジをカウントクロッ
クとするカウンタの計数値に基づいて行うように構成し
たので、nビットのカウンタを用いた場合、n2 通りの
データの設定が可能となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1の原理を示すブロック図で
ある。
【図2】上記実施例の実際の回路構成の一例を示すブロ
ック図である。
【図3】この発明の実施例2の原理を示すブロック図で
ある。
【図4】上記実施例の実際の回路構成の一例を示すブロ
ック図である。
【図5】この発明の実施例3を示すブロック図である。
【図6】従来のレジスタ設定回路を示すブロック図であ
る。
【符号の説明】
1 レジスタ 13 スイッチ手段 14 切替制御回路 22 カウンタ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年1月12日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0001
【補正方法】変更
【補正内容】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、マイクロコンピュー
タのテストの1つとして行われる、内部のレジスタに所
定データを設定した時の電源電流の測定に際して、リセ
ット解除後のレジスタに所定のデータを設定するレジス
タ設定回路に関するものである。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0002
【補正方法】変更
【補正内容】
【0002】
【従来の技術】図6は従来のレジスタ設定回路を示すブ
ロック図である。図において、1は例えばラッチ回路等
で形成された、マイクロコンピュータ内部のnビットの
レジスタであり、この場合には4ビットのレジスタが例
示されている。2はこのレジスタ1の各ビットに接続さ
れ、リセット信号によって制御されるスイッチであり、
3はこのスイッチ2を介してレジスタ1の各ビットに接
続される地気である。4は前記リセット信号が入力され
るリセット端子であり、5はリセット端子4より入力さ
れたリセット信号を反転させるインバータである。この
場合、スイッチ2には例えば、そのドレインがレジスタ
1の各ビットに、ソースが地気3に、ゲートがインバー
タ5にそれぞれ接続されたNチャンネルトランジスタが
用いられている。なお、このレジスタ1の各ビットに接
続されている当該マイクロコンピュータの内部バスは図
示を省略している。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0004
【補正方法】変更
【補正内容】
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のレジスタ設定回
路は以上のように構成されているので、リセット時にレ
ジスタ1のデータは“L”、または“H”のいずれか一
方にのみ設定されてしまい、マイクロコンピュータのテ
ストでレジスタ1に所定のデータを設定して電源電流を
測定する場合には、ソフトウェアによって内部データバ
スからレジスタ1へそのデータを書き込まねばならず、
設定するレジスタ1の数が多ければソフトウェアの負荷
が大きくなってしまうという問題点があった。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0008
【補正方法】変更
【補正内容】
【0008】
【作用】請求項1の発明における切替制御回路は、外部
からの入力信号とテストモードであることを示す信号に
基づいてスイッチ手段を制御することにより、リセット
信号入力時にマイクロコンピュータが通常動作モードで
あれば、レジスタの全てのビットに地気に接続して
“L”にリセットし、テストモードであれば電源または
地気の一方を選択的に接続して、所定のデータをハード
ウェア的に設定する。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0013
【補正方法】変更
【補正内容】
【0013】次に動作について説明する。マイクロコン
ピュータが通常動作モードであれば、テストモードイネ
ーブル信号12は“H”となっているため、スイッチ1
1はインバータ9側に切り替えられている。その時、レ
ジスタ設定用端子8に“L”を与えた場合、全ての切替
スイッチ7にはインバータ9より“H”の制御信号が与
えられ、切替スイッチ7は一斉に地気3側に切り替えら
れている。かかる状態でリセット端子4に入力されてい
るリセット信号を“L”とすれば、スイッチ2が一斉に
オン状態となるため、レジスタ1の全てのビットのデー
タは、各切替スイッチ7を介して接続された地気3によ
って強制的に“L”に設定される。また、通常動作モー
ドでレジスタ設定用端子8に“H”を与えると、全切替
スイッチ7はインバータ9からの“H”の強制信号によ
って一斉に電源6側に切り替えられる。その状態でリセ
ット端子4のリセット信号を“L”としてスイッチ2を
一斉にオン状態とすれば、レジスタ1の全てのビットの
データは電源6によって強制的に“H”に設定される。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0014
【補正方法】変更
【補正内容】
【0014】また、外部端子に与えるレベルの組み合わ
せによって、当該マイクロコンピュータをテストモード
にエントリーすると、テストモードイネーブル信号12
が“L”となるため、スイッチ11はインバータ10側
に切り替えられる。これによって、切替スイッチ7中で
レジスタ1の偶数ビットに接続されたものにはインバー
タ9から、奇数ビットに接続されたものにはインバータ
10から、それぞれ互いに逆極性の制御信号が与えれら
る。従って、レジスタ設定端子8に“L”を与えると、
レジスタ1の偶数ビットに接続された切替スイッチ7は
地気3側に切り替えられるため、レジスタ1の偶数ビッ
トには強制的に“L”が設定される。一方、奇数ビット
に接続された切替スイッチ7は電源6側に切り替えられ
るため、レジスタ1の奇数ビットには強制的に“H”が
設定される。また、レジスタ設定端子8に“H”を与え
ると、切替スイッチ7中のレジスタ1の奇数ビットに接
続されたものは地気3側に、偶数ビットに接続されたも
のは電源6側に切り替えられるため、レジスタ1の奇数
ビットは“L”に、偶数ビットは“H”にそれぞれ強制
的に設定される。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0017
【補正方法】変更
【補正内容】
【0017】18はポート用端子と第2のリセット端子
とに共用される兼用端子であり、19はテストモードイ
ネーブル信号12を制御信号として、それが“H”のと
きに兼用端子18に入力された信号を通過させるトライ
ステートバッファである。20はテストモードイネーブ
ル信号12の反転信号を制御信号とし、それが“”の
ときに兼用端子18からの信号を次段のインバータで
転させて、レジスタ1の奇数ビットに接続されたスイッ
チ16,17に制御信号として供給するトライステート
バッファである。21はテストモードイネーブル信号1
2を制御信号とし、それが“H”のときオンとなって、
トライステートバッファ20からの出力が停止されたス
イッチ16,17にインバータ5の出力を制御信号とし
て供給するためのスイッチである。切替制御回路14は
これらインバータ5、トライステートバッファ20およ
びスイッチ21にて形成されている。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0019
【補正方法】変更
【補正内容】
【0019】また、テストモードイネーブル信号12が
“L”のときにはスイッチはオン、スイッチ21はオフ
となる。その時、兼用端子18はリセット端子となり、
入力された信号がトライステートバッファ20で反転さ
れて、レジスタ1の奇数ビットに接続されたスイッチ1
6,17の制御信号として供給される。一方、偶数ビッ
トに接続されたスイッチ16,17には、リセット端子
4からのリセット信号がインバータ5を介して制御信号
として供給される。従って、レジスタ1に書き込まれる
値はリセット端子4と兼用端子18に入力される値の組
み合わせで決まり、例えばレジスタ1が図示のように4
ビット構成の場合、リセット端子4と兼用端子18との
組み合わせで“0000”、“0101”、“101
0”および“1111”の4通りのデータの書き込みが
できる。
【手続補正10】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0024
【補正方法】変更
【補正内容】
【0024】また、請求項2の発明によれば、スイッチ
手段の制御を、リセット信号のエッジをカウントクロッ
クとするカウンタの計数値に基づいて行うように構成し
たので、nビットのカウンタを用いた場合、n 通りの
データの設定が可能となる効果がある。
【手続補正11】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正12】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 通常動作モードとテストモードを持つプ
    ロセッサのテストモード時に、前記プロセッサ内のレジ
    スタをリセットして所定のデータを設定するレジスタ設
    定回路において、リセット信号入力時に前記レジスタの
    各ビットのそれぞれに、電源もしくは地気を与えるため
    のスイッチ手段を接続し、前記スイッチ手段を、外部か
    らの入力信号とテストモードであることを示す信号とに
    基づいて制御する切替制御回路を備えたことを特徴とす
    るレジスタ設定回路。
  2. 【請求項2】 通常動作モードとテストモードを持つプ
    ロセッサのテスト時に、前記プロセッサ内のレジスタを
    リセットして所定のデータを設定するレジスタ設定回路
    において、リセット信号入力時に前記レジスタの各ビッ
    トのそれぞれに、電源もしくは地気を与えるためのスイ
    ッチ手段を接続し、前記スイッチ手段を、前記リセット
    信号のエッジをカウントクロックとするカウンタの計数
    値によって制御する切替制御回路を備えたことを特徴と
    するレジスタ設定回路。
JP4236330A 1992-08-13 1992-08-13 レジスタ設定回路 Pending JPH0667920A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4236330A JPH0667920A (ja) 1992-08-13 1992-08-13 レジスタ設定回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4236330A JPH0667920A (ja) 1992-08-13 1992-08-13 レジスタ設定回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0667920A true JPH0667920A (ja) 1994-03-11

Family

ID=16999211

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4236330A Pending JPH0667920A (ja) 1992-08-13 1992-08-13 レジスタ設定回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0667920A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009137564A (ja) * 2007-11-15 2009-06-25 Toyota Motor Corp ブレーキ制御装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009137564A (ja) * 2007-11-15 2009-06-25 Toyota Motor Corp ブレーキ制御装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4398146A (en) Test circuit for MOS devices
JPH0219015A (ja) 多機能フリップフロップ型回路
US5224065A (en) Arithmetic operation unit having bit inversion function
JPH02226589A (ja) 半導体記憶装置
JPH0758458B2 (ja) データ転送装置及びそれを使用したパイプライン処理装置
JPH0667920A (ja) レジスタ設定回路
US5192881A (en) Circuit which reduces noise caused by high current outputs
JPH0160856B2 (ja)
JP2906073B2 (ja) Dcテスト用回路を含むlsi
US5005156A (en) Semiconductor device having output buffer circuit controlled by output control signal
US5225722A (en) Signal transmission circuit and signal transmission method
EP0325423A2 (en) An error detecting circuit for a decoder
JPH07152534A (ja) 中央演算処理装置内汎用レジスタセット回路装置
JP2735268B2 (ja) Lsiの出力バッファ
JPH0636596A (ja) 半導体記憶装置
JP2782946B2 (ja) 半導体集積回路
JPH04123217A (ja) 外部端子の状態切換回路
JP2001051971A (ja) 入出力制御回路およびマイクロコンピュータ
JP3116423B2 (ja) 出力回路の検査回路
JPH03181098A (ja) フリップフロップ回路
JPH01271865A (ja) マイクロコンピュータ装置
JP2674871B2 (ja) デコーダ回路
JPS63103512A (ja) フリツプフロツプ回路
KR0179856B1 (ko) 레지스터 화일의 기초셀 회로
JPS6095370A (ja) 集積回路装置