JPH0657406B2 - 半導体ウェハ回収方法 - Google Patents

半導体ウェハ回収方法

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JPH0657406B2
JPH0657406B2 JP60282941A JP28294185A JPH0657406B2 JP H0657406 B2 JPH0657406 B2 JP H0657406B2 JP 60282941 A JP60282941 A JP 60282941A JP 28294185 A JP28294185 A JP 28294185A JP H0657406 B2 JPH0657406 B2 JP H0657406B2
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JP
Japan
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wafer
blade
semiconductor wafer
sliced
separated
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JP60282941A
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俊 志村
博男 佐藤
隆男 石原
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明はウエハスライシング技術、特に、スライスされ
るウエハの回収に適用して効果のある技術に関するもの
である。
〔背景技術〕
シリコンなどの半導体材料の単結晶よりなるインゴット
からウエハをスライシングして切り離す場合、スライズ
されたウエハ(スライスウエハ)の回収のため、スライ
スウエハの下方に回収皿を挿入し、ウエハを保持してい
るベースを切り離して落下したウエハを回収皿で受け取
って外部に回収することが行われている。
ところが、このベース切り離し時には、ウエハが冷却液
の膜からの吸引力により、高速回転中のブレードに吸引
され、ブレードの高速回転による遠心力でブレード回転
方向に飛ばされて回収不能となる場合があること、さら
には、飛散されたウエハの作用で回転系のバランスがく
ずれ、ウエハ切断精度が低下することを本発明者は見い
出した。
なお、ウエハのスライシングについては、株式会社工業
調査会、昭和57年11月15日発行、「電子材料」1
983年11月号別冊、P51〜P52に記載されてい
る。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、スライスウエハを確実に回収すること
のできる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろ
う。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、スライスされているウエハとブレードの下面
との間に流体を噴射することにより、ブレードとスライ
スウエハとを分離させ、回収部に確実に回収することが
でき、ウエハの飛散防止によって高精度のスライシング
を安定して確保できる。
〔実施例〕
第1図は本発明による一実施例であるスライスウエハ回
収装置の要部の正面図、第2図はその平面図である。
この実施例において、たとえばシリコン(Si)などの
半導体材料の単結晶よりなるインゴット1は内周刃式の
高速回転型のブレード2で所定厚さの薄板状のウエハ3
に1枚ずつスライシングされる。
スライスウエハ回収装置はこのようにしてスライスされ
たウエハ3を所定枚数毎に支持用のベース4から切り離
して回収するものである。
そのため、スライスウエハ回収装置は、アーム5と、こ
のアーム5に取付けられてスライスウエハ3の下方に挿
入される回収皿6と、回収されるスライスウエハ3の飛
散を防止するサイドガード7,8とを有している。
また、本実施例では、ブレード2の回転方向Rとは反対
側におけるサイドガード8にエアノズル(流体供給手
段)9が止ねじ10とホルダ11とにより取付けられて
いる。このエアノズル9の空気噴出口12は、切り離さ
れるスライスウエハ3とブレード2の下面との間に空気
を効率的に噴射できるよう配向されている。
次に、本実施例の作用について説明する。
まず、半導体材料のインゴット1をブレード2の内周刃
で1枚ずつウエハ3にスライスする。そして、所定枚数
のウエハ3がスライスされた場合、ベース4を切断して
未切断のインゴット1とスライス済みのウエハ3とを分
離し、回収皿6上に落下させて回収する。
この時、スライスされているウエハ3とブレード2の下
面との間には冷却液(図示せず)が入り込んでその吸引
力でウエハ3がブレード2の方向に吸引される。
そこで、本実施例では、ウエハ3の切り落としの直前に
エアノズル9によってウエハ3とブレード2の下面との
間にエアを噴射する。それにより、ウエハ3とブレード
2とはエアノズル9からのエアで互いに分離される。そ
の結果、ウエハ3はブレード2に吸着することがない。
従って、従来生じていたブレード2に吸着しその高速回
転で回転方向に飛散されることを防止できる。
〔効果〕
(1).スライスされるウエハとブレードの下面との間に
流体を噴射する流体供給手段を有することにより、この
流体の働きでウエハとブレードとが確実に強制分離され
るので、ウエはの切り落とし、回収を確実に行うことが
できる。
(2).前記(1)により、回収すべきウエハがブレードの高
速回転によって飛散することを防止でき、精度の良い、
安定したスライシングが可能となる。
(3).前記(1)により、ウエハが大口径化しても、確実な
ウエハ回収が可能となる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
たとえば、エアノズルの構造や、噴射される流体の種類
などは他のものであってもよい。
〔利用分野〕
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるシリコンウエハのス
ライシングに適用した場合について説明したが、それに
限定されるものではなく、たとえば、GaAsなどの化
合物半導体のウエハのスライシングなど、薄片ウエハの
スライシングにおける回収に広く適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるスライスウエハ回収装
置の要部正面図、 第2図はその部分平面図である。 1……インゴット、2……ブレード、3……スライスさ
れたウエハ(スライスウエハ)、4……ベース、5……
アーム、6……回収皿、7,8……サイドガード、9…
…エアノズル(流体供給手段)、10……止ねじ、11
……ホルダ、12……空気噴出口。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石原 隆男 山梨県中巨摩郡竜王町西八幡(番地なし) 株式会社日立製作所武蔵工場甲府分工場 内 (56)参考文献 特開 昭60−9709(JP,A) 特開 昭53−54384(JP,A) 実開 昭60−46885(JP,U)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウェハスライシング装置でインゴットから
    切り離された、半導体ウェハを回収する方法であって、 スライスされた半導体ウェハの飛散防止のために切り離
    される半導体ウェハ側に設けるサイドガードにエアノズ
    ルを設け、半導体ウェハが切り離される直前に、切り離
    される半導体ウェハとブレードとの間にブレードの回転
    方向に向けてブレードに沿って気体を噴射し、切り離さ
    れる半導体ウェハとブレードとの間に流れる該気体によ
    って半導体ウェハとブレードとを強制分離することを特
    徴とする半導体ウェハ回収方法。
JP60282941A 1985-12-18 1985-12-18 半導体ウェハ回収方法 Expired - Lifetime JPH0657406B2 (ja)

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JPS6165750A (ja) * 1984-09-04 1986-04-04 Osaka Titanium Seizo Kk ウエハ−の枚葉取出し装置

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