JPH065724B2 - 密着形イメ−ジセンサ - Google Patents

密着形イメ−ジセンサ

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JPH065724B2
JPH065724B2 JP60101266A JP10126685A JPH065724B2 JP H065724 B2 JPH065724 B2 JP H065724B2 JP 60101266 A JP60101266 A JP 60101266A JP 10126685 A JP10126685 A JP 10126685A JP H065724 B2 JPH065724 B2 JP H065724B2
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啓輔 栗原
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14665Imagers using a photoconductor layer

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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は密着形イメージセンサに係り、特に小形のセン
サ基板を構成するに好適な端子の引出し法を用いた密着
形イメージセンサに関する。
〔発明の背景〕 従来の密着形イメージセンサの電極端子の引出し方法に
ついては、例えば特開昭59-40568号公報や特開昭59-435
69号公報などに記載のように、センサ基板のパターン配
置が例示されているが、基板の両側への引出し方法が一
般であつて片側への引出し方法については考慮されてい
ない。このため両側への引出し方法によるセンサ基板が
大形になるなどの問題点がある。
〔発明の目的〕
本発明はセンサ基板の小形化などに好適な電極端子を基
板の片側へ取り出すパターン構成の密着形イメージセン
サを提供するにある。
〔発明の概要〕
本発明は、基板上に駆動用回路素子を搭載した密着形イ
メージセンサにおいて、基板上に、下部電極,金属膜,
透明電極膜が順次積層されてなる光電変換素子を主走査
方向に沿い帯状に配置すると共に、該光電変換素子の下
部電極を主走査方向に沿い適宜の間隔で複数並設し、そ
の基板上における光電変換素子の主走査方向と直交する
副走査方向の一端側に、該光電変換素子の透明電極膜と
接続し得る光電変換素子の共通電極層を光電変換素子と
平行に配置し、その基板上における前記副走査方向の他
端側に、回路駆動用端子及び接続線パターンをなす金属
層を主走査方向に沿って複数並設し、基板上における光
電変換素子の前記下部電極と前記金属層との間に駆動用
回路素子を主走査方向に沿って複数搭載し、かつ共通電
極層と接続する透明電極膜に、少なくともその一部が副
走査方向に沿い駆動用回路素子間を通って前記金属層と
同一面上の同一位置まで張り出しかつ該金属層と互いに
離間して共通端子をなす突出部を延長形成したことを特
徴とするもの 〔発明の実施例〕 以下に本発明の一実施例を図面により説明する。
まず、第2図(a)は本発明による密着形イメージセンサ
の一実施例を対象とする密着形イメージセンサの回路構
成を例示するブロツク図である。第2図(a)において、
1はセンサ基板,2は光電変換素子(群)をなすアモルフ
アスシリコンa・Siダイオード(群),3は駆動用回路素子
(群),4は接続線パターン,5は共通端子,6は回路駆
動用端子(群)である。センサ基板1上に光電変換素子を
なすa・Siダイオード2が主走査方向に配列され、そのa・
Siダイオード2を駆動してa・Siダイオード2からの信号
を接続線パターン4を介し出力電圧として取り出す駆動
用回路素子3が搭載される。このセンサ基板1からの接
続線の引出し端子は共通電極の共通端子5および回路駆
動用の端子(群)6からなる。これらの各素子が主走査方
向に連続的に配置される。
第2図(b),(c)は第2図(a)の回路構成を実際のセンサ
基板上にレイアウトして光電変換素子のa・Siダイオード
2および接続線パターン4を形成し駆動用回路素子3を
組み立てた状態を例示する従来の密着形イメージセンサ
のパターン構成断面図、およびパターン配置平面図であ
る。第2図(b),(c)において、第2図(a)ほか各図面を
通じて同一符号は同一のものまたは相当部分を示すもの
とし、21は光電変換素子のa・Siダイオード2のa・Si膜,
22はa・Siダイオード2の上部電極をなすITO等の透明
導電膜,41はa・Siダイオード2の下部電極および接続線
パターン4をなす下層の第1の金属膜(パターン),42
は接続線パターン4をなす下層の第2の金属膜(パター
ン),7は保護膜である。この密着形イメージセンサは
例えば次のプロセスで製造できる。まず、ガラス基板1
上にa・Siダイオード2の下部電極および接続線パターン
4をなすクロム等の下層の第1の金属膜(パターン)41
と端子5,6および駆動用回路素子3の接続線パターン
4をなす金等の下層の第2の金属膜(パターン)42を形
成する。次に光電変換材料であるa・Si膜21を形成し、次
いで光電変換素子のa・Siダイオード2の上部電極をなす
ITO等の透明導電膜22を形成し、さらにa・Si膜を保護す
る保護膜7を形成する。最後に駆動用回路素子3を搭載
し、ワイヤボンデイング等により接続線パターン4をな
す下層の第2の金属膜(パターン)42に接続してセンサ
基板が完成する。
第2図(b),(c)の従来のセンサにおいては、共通電極の
共通端子5は回路駆動用端子(群)6が形成される基板1
の一方の側とは反対側に存在する状態で外部に引き出さ
れている。このような状態で共通端子5を引き出すため
に図示のように第2の金属膜42の配置により基板寸法が
大きくなり、また最終的な組立てにおいて基板1の2辺
から端子(群)を取り出す必要がある。特に例えばA−A
線で切断して基板を複数個接続することにより高保留り
のセンサ基板1を得ようとする場合には、各々の基板か
ら共通電極の共通端子5を取り出す必要が生じて実装構
成が複雑になる。さらに第2図(b),(c)のパターンを構
成するためには共通端子5の材質によりa・Si膜21の特性
を劣化させる恐れがあり、両者の距離を十分離して配置
する必要があるため、基板1の寸法をさらに増大させて
製造価格も増大させる問題点がある。本発明はこの問題
点を解決するために電極端子を基板の片側へ取り出すパ
ターン構成のセンサを提供する。
つぎに第1図は本発明による密着形イメージセンサの一
実施例を示すパターン配置平面図である。第1図におい
て、第2図(a),(b),(c)と同一符号は同一のものまた
は相当部分を示し、8は本発明による透明導電膜22の突
出部である。このセンサの製造プロセスは従来の第2図
(b),(c)の上記プロセスと同様である。第1図におい
て、基板1上に複数個の光電変換素子のa・Siダイオード
2を主走査方向に配列し、そのa・Siダイオード2からの
電気信号を取り出す駆動用回路素子3を搭載した密着形
イメージセンサにあつて、光電変換素子のa・Siダイオー
ド2をなすa・Si膜21を基板1上における副走査方向の一
端側に、主走査方向に沿って帯状に配置し、また基板1
上において副走査方向のa・Si膜21より一端寄りの
位置に下層の第1の金属膜(パターン)41aからなる
共通電極をa・Si膜21と平行に配置する。前記a・Si
ダイオード2の下部電極をなす下層の第1の金属膜41b
と駆動用回路素子3の接続線パターンおよび駆動用回路
素子3から回路駆動用端子6への接続線パターン4をな
す下層の第1の金属膜41bおよび第2の金属膜(パター
ン)42bとは副走査方向に並行して基板1の他方の側ま
で延びている。さらにa・Si膜21上にはa・Siダイオード2
の上部電極をなす透明導電膜22を主走査方向の一端から
他端まで帯状に形成して、共通電極をなす第1の金属膜
41aと電気的に接続する。またこの帯状の透明導電膜22
は1箇所以上で副走査方向に駆動用回路素子3の配置側
へ延在させて透明導電膜22の突出部8を形成し、この突
出部8と電気的に接続した下層の第1の金属膜および第
2の金属膜42aからなる共通電極41aの接続線パターン
を駆動用回路素子3の第2の金属膜42bの接続線(駆動
線)パターンと同一の副走査方向に基板1の他方側の端
部まで導くことにより、共通電極の共通端子5を回路駆
動用端子(群)6と基板1の同一方向に取り出すことがで
きる。
このようなパターン構成により、従来の第2図(b),(c)
に存在した共通電極の第2の金属膜42は不必要となるの
で、基板1の寸法が大幅に減少する。さらに第1図のA
−A線で基板1を切断して、そのセンサ基板を複数個接
続してセンサを構成する場合にも、各々の基板から共通
端子5を別に取り出す必要がなく、回路駆動用端子(群)
6とともに外部回路に接続できる。また透明導電膜22の
突出部8は1個所に限らず複数個所に形成して端子を取
り出すことが可能であり、特性に与える影響はない。ま
た突出部8を配置するためには、第1の金属膜41bの配
置をわずかにずらすだけで広い面積で第1の金属膜41b
と電気的に接続できる。さらに光電変換素子のa・Si膜21
を保護する保護膜7が共通電極をなす第1の金属膜41a
を覆うように形成できるため生産性の向上が期待でき
る。
〔発明の効果〕
以上のように本発明を密着形イメージセンサによれば、
透明電極膜の突出部を共通端子とすると共に、基板上に
おいて回路駆動用端子及び接続線パターンをなす金属層
と同一位置に配置してある構成とし、従来のような共通
端子の金属膜が不要となり、端子を基板の一辺側に配置
するように構成したので、基板の副走査方向の寸法を減
少することができる結果、それだけ基板を確実に小形化
できる効果があり、また突出部を透明電極膜の一部を延
長して形成するので、突出部の形成が容易であり、しか
も光電変換素子の保護層が共通電極層を覆うように形成
することも可能となり、保護層の形成が容易となる結
果、生産性の向上を図り得ると云う効果がある。また、
基板を所望の位置から切断することによって、イメージ
センサを特に新規のマスクを用いることなく容易に製作
できると云う効果もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による密着形イメージセンサの一実施例
を示すパターン配置平面図、第2図(a),(b),(c)は従
来の密着形イメージセンサを例示するそれぞれ回路構成
ブロック図、そのパターン構成断面図、およびパターン
配置平面図である。 1…基板 21…光電変換素子のa・Si膜 22…透明導電膜 3…駆動用回路素子 41a…共通電極の第1の金属膜 41b…第1の金属膜 42a…共通電極の共通端子接続線パターンの第2の金属 膜 42b…駆動用回路素子の接続線パターンの第2の金属膜 8…透明導電膜の突出部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】主走査方向に沿って配置されかつ下部電
    極,金属膜,透明電極膜からなる光電変換素子と、該光
    電変換素子の共通端子と、回路駆動用端子と、接続線パ
    ターンとを基板上の所定位置に設け、その基板上に、光
    電変換素子からの電子信号を接続線パターンを介し取り
    出す回路駆動用素子を搭載した密着形イメージセンサに
    おいて、基板上に、下部電極,金属膜,透明電極膜が順
    次積層されてなる光電変換素子を主走査方向に沿い帯状
    に配置すると共に、該光電変換素子の下部電極を主走査
    方向に沿い適宜の間隔で複数並設し、その基板上におけ
    る光電変換素子の主走査方向と直交する副走査方向の一
    端側に、該光電変換素子の透明電極膜と接続し得る光電
    変換素子の共通電極層を光電変換素子と平行に配置し、
    その基板上における前記副走査方向の他端側に、回路駆
    動用端子及び接続線パターンをなす金属層を主走査方向
    に沿って複数並設し、基板上における光電変換素子の前
    記下部電極と前記金属層との間に駆動用回路素子を主走
    査方向に沿って複数搭載し、かつ共通電極層と接続する
    透明電極膜に、少なくともその一部が副走査方向に沿い
    駆動用回路素子間を通って前記金属層と同一面上の同一
    位置まで張り出しかつ該金属層と互いに離間して共通端
    子をなす突出部を延長形成したことを特徴とする密着形
    イメージセンサ。
JP60101266A 1985-05-15 1985-05-15 密着形イメ−ジセンサ Expired - Lifetime JPH065724B2 (ja)

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JPS61260671A JPS61260671A (ja) 1986-11-18
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