JPH0655892A - Ｘｙプロッタ装置 - Google Patents
Ｘｙプロッタ装置Info
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- JPH0655892A JPH0655892A JP23146592A JP23146592A JPH0655892A JP H0655892 A JPH0655892 A JP H0655892A JP 23146592 A JP23146592 A JP 23146592A JP 23146592 A JP23146592 A JP 23146592A JP H0655892 A JPH0655892 A JP H0655892A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correction
- pattern
- sensor
- xin
- pen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 個人差のない正確な補正を短時間に行うこと
【構成】このＸＹプロッタ装置は、矩形作図範囲の境界
付近に描かれたテストパターンのうち、センサをＸ方向
とＹ方向に移動させてこれらのテストパターンをセンサ
が横切ることにより得られた少なくとも２組の座標距離
と基準距離との差を読み取り、これらの値と基準値とを
比較して補正情報を得、これに基づいて作図データの距
離寸法、直角度等を自己補正するようにした。
付近に描かれたテストパターンのうち、センサをＸ方向
とＹ方向に移動させてこれらのテストパターンをセンサ
が横切ることにより得られた少なくとも２組の座標距離
と基準距離との差を読み取り、これらの値と基準値とを
比較して補正情報を得、これに基づいて作図データの距
離寸法、直角度等を自己補正するようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＸＹプロッタ装置に関
し、特に自己補正機能を有するＸＹプロッタ装置に関す
る。
し、特に自己補正機能を有するＸＹプロッタ装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】作図された図を人がガラススケール、三
次元測定器などを用いて計測し、補正値を算出し、操作
パネル等より入力したり、部品の取付位置を調整してい
た。
次元測定器などを用いて計測し、補正値を算出し、操作
パネル等より入力したり、部品の取付位置を調整してい
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな方法は、描かれた図を測定するのに人手を介するた
め、測定値に個人差が出たり大がかりな測定機を必要と
した。たとえば、図９に示した従来の１本のベルトでア
ームを制御している場合、Ｘ方向に移動の際、Ｙ座標値
がベルトから離れるほどベルトに近い点に較べＸ方向に
おける移動量の誤差が大きい。すなわちベルトから離れ
るほど精度が悪くなり、Ｘ方向移動量誤差の大きさは、
ｙ座標値に依存している。このような問題を解決するた
めに、アームを制御するベルトを図１０に示すように２
本にした構成も提案されている。しかし、このような構
成にしても、モータの動作量をシャフトを介して２本の
ベルトに伝達するギヤ（シャフトの両端に取り付けられ
ている）にわずかではあるが誤差が含まれており、この
ため、実際の作図範囲の原点に対する作図誤差が図１１
の斜線で示すように生じてしまう。
うな方法は、描かれた図を測定するのに人手を介するた
め、測定値に個人差が出たり大がかりな測定機を必要と
した。たとえば、図９に示した従来の１本のベルトでア
ームを制御している場合、Ｘ方向に移動の際、Ｙ座標値
がベルトから離れるほどベルトに近い点に較べＸ方向に
おける移動量の誤差が大きい。すなわちベルトから離れ
るほど精度が悪くなり、Ｘ方向移動量誤差の大きさは、
ｙ座標値に依存している。このような問題を解決するた
めに、アームを制御するベルトを図１０に示すように２
本にした構成も提案されている。しかし、このような構
成にしても、モータの動作量をシャフトを介して２本の
ベルトに伝達するギヤ（シャフトの両端に取り付けられ
ている）にわずかではあるが誤差が含まれており、この
ため、実際の作図範囲の原点に対する作図誤差が図１１
の斜線で示すように生じてしまう。
【０００４】
【課題を解決するための手段】このような問題を解決す
るために、本発明では、矩形作図範囲の境界付近に描か
れたテストパターンのうち、センサをＸ方向とＹ方向に
移動させてこれらのテストパターンをセンサが横切るこ
とにより得られた少なくとも２組の座標距離と基準距離
との差を読み取り、これらの値と基準値とを比較して補
正情報を得、これに基づいて作図データの距離寸法、直
角度等を補正するようにしたことを特徴とするＸＹプロ
ッタ装置が提供される。たとえば、作図された作図機後
部に（線分読み取り）センサを設け、描かれたサンプル
図の一定の位置の座標を読み取り、機械的な精度の誤差
を記憶して自己補正させるようにする。
るために、本発明では、矩形作図範囲の境界付近に描か
れたテストパターンのうち、センサをＸ方向とＹ方向に
移動させてこれらのテストパターンをセンサが横切るこ
とにより得られた少なくとも２組の座標距離と基準距離
との差を読み取り、これらの値と基準値とを比較して補
正情報を得、これに基づいて作図データの距離寸法、直
角度等を補正するようにしたことを特徴とするＸＹプロ
ッタ装置が提供される。たとえば、作図された作図機後
部に（線分読み取り）センサを設け、描かれたサンプル
図の一定の位置の座標を読み取り、機械的な精度の誤差
を記憶して自己補正させるようにする。
【０００５】
【作用】このようにすれば、補正量の測定、入力、記憶
を自動的に行うことができ、個人差のない正確な補正を
短時間に行うことができる。
を自動的に行うことができ、個人差のない正確な補正を
短時間に行うことができる。
【０００６】
【実施例】ここで、実施例の説明をする前に、このよう
なプロッタ装置において用いられる補正方法を図８を用
いて簡単に説明する。まず、図８を用いて台形歪補正の
求め方を説明する。図８において、Ｘ、Ｙは、Ｘ軸、Ｙ
軸のそれぞれにおける最大作図移動量、ΔＸＨ、ΔＸＬ
は、Ｙ軸上端および下端における作図移動量誤差であ
り、いずれも定数である。そしてｘ方向の移動量をＸ
（一定）とし、ｙ軸座標が変化した場合、その変化量を
ｙｉｎとすると、このときのｘ方向の誤差Δｘは、以下
の式によって表される。 Δｘ＝（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ このことから、ｘ方向の移動量をＸ（一定）とし、任意
のｙ座標（ｙｉｎ）を与えたとき、ｘ方向の移動量誤差
の大きさΔＸは、 Δｘ＝ΔＸＨ＋Δｘ ＝（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ で与えられる。
なプロッタ装置において用いられる補正方法を図８を用
いて簡単に説明する。まず、図８を用いて台形歪補正の
求め方を説明する。図８において、Ｘ、Ｙは、Ｘ軸、Ｙ
軸のそれぞれにおける最大作図移動量、ΔＸＨ、ΔＸＬ
は、Ｙ軸上端および下端における作図移動量誤差であ
り、いずれも定数である。そしてｘ方向の移動量をＸ
（一定）とし、ｙ軸座標が変化した場合、その変化量を
ｙｉｎとすると、このときのｘ方向の誤差Δｘは、以下
の式によって表される。 Δｘ＝（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ このことから、ｘ方向の移動量をＸ（一定）とし、任意
のｙ座標（ｙｉｎ）を与えたとき、ｘ方向の移動量誤差
の大きさΔＸは、 Δｘ＝ΔＸＨ＋Δｘ ＝（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ で与えられる。
【０００７】つぎに、任意のｘ座標（ｘｉｎ）を与えた
場合、ｘ方向における移動量の誤差の大きさは、 Δｘ＝（ｘｉｎ／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸＨ）
（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ） となる。したがって、任意の点（ｘｉｎ，ｙｉｎ）を設
定したときの実際のｘ方向移動量ｘは、 ｘ＝ｘｉｎ＋Δｘ ＝ｘｉｎ＋（ｘｉｎ／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸ
Ｈ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ）で与えられる。
場合、ｘ方向における移動量の誤差の大きさは、 Δｘ＝（ｘｉｎ／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸＨ）
（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ） となる。したがって、任意の点（ｘｉｎ，ｙｉｎ）を設
定したときの実際のｘ方向移動量ｘは、 ｘ＝ｘｉｎ＋Δｘ ＝ｘｉｎ＋（ｘｉｎ／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸ
Ｈ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ）で与えられる。
【０００８】しかし、常識は、任意の点（ｘｉｎ，ｙｉ
ｎ）を与えたときに実際のｘ方向移動量を求めるもので
ある。したがって、任意の点（ｘｉｎ，ｙｉｎ）に対し
ｘ方向移動量がｘｉｎとなるような移動量ｘｔについて
考えると、 ｘｉｎ：ｘ＝ｘｔ：ｘｉｎ の関係が成り立つ。したがって、 ｘｔ＝ｘｉｎ2 ／ｘ ＝ｘｉｎ2 （ｘｉｎ＋（ｘｉｎ／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（ Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ） ＝ｘｉｎ（１＋（１／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ ）／Ｙ） で与えられる。
ｎ）を与えたときに実際のｘ方向移動量を求めるもので
ある。したがって、任意の点（ｘｉｎ，ｙｉｎ）に対し
ｘ方向移動量がｘｉｎとなるような移動量ｘｔについて
考えると、 ｘｉｎ：ｘ＝ｘｔ：ｘｉｎ の関係が成り立つ。したがって、 ｘｔ＝ｘｉｎ2 ／ｘ ＝ｘｉｎ2 （ｘｉｎ＋（ｘｉｎ／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（ Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ） ＝ｘｉｎ（１＋（１／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−ΔＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ ）／Ｙ） で与えられる。
【０００９】以上述べたように、任意の点（ｘｉｎ，ｙ
ｉｎ）を与えたとき、実際のｘ方向移動量がｘｉｎにな
るような距離補正値ｘは、 ｘ＝ｘｉｎ（１＋（１／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−Δ
ＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ） で与えられた。この距離補正処理は、すべてのベクトル
にかかってくるので、できるだけ処理速度を速くした
い。上述した式では、乗除演算は、処理に時間がかかっ
てしまう。そこで、この式を ｘ＝ｘｉｎＸＹ／（ＸＹ＋ΔＸＬＹ＋（ΔＸＨ−ΔＸ
Ｌ）ｙｉｎ） と変形することができる。したがって、この式からΔＸ
Ｌ、ΔＸＨ、Ｘ、Ｙは定数であり、変数ｘｉｎ，ｙｉｎ
のみを求めれば、ｘ方向の補正値が求められることにな
る。
ｉｎ）を与えたとき、実際のｘ方向移動量がｘｉｎにな
るような距離補正値ｘは、 ｘ＝ｘｉｎ（１＋（１／Ｘ）・（ΔＸＨ＋（ΔＸＬ−Δ
ＸＨ）（Ｙ−ｙｉｎ）／Ｙ） で与えられた。この距離補正処理は、すべてのベクトル
にかかってくるので、できるだけ処理速度を速くした
い。上述した式では、乗除演算は、処理に時間がかかっ
てしまう。そこで、この式を ｘ＝ｘｉｎＸＹ／（ＸＹ＋ΔＸＬＹ＋（ΔＸＨ−ΔＸ
Ｌ）ｙｉｎ） と変形することができる。したがって、この式からΔＸ
Ｌ、ΔＸＨ、Ｘ、Ｙは定数であり、変数ｘｉｎ，ｙｉｎ
のみを求めれば、ｘ方向の補正値が求められることにな
る。
【００１０】つぎに、図８を用いて台形歪の求め方を説
明する。図８において、Ｘの移動量を指定した場合、ペ
ンはＹ方向下端では、Ｘ＋ΔＸＬ移動し、Ｙ方向上端で
は、Ｘ＋ΔＸＨ移動してしまう。この場合の任意の点
（ｘ１，ｙ１）に対しｘ方向移動量がｘ１になるように
する移動量ｘを求めるとき、以下の方法が用いられる。
ある２つの任意の点Ｐ（ｘｐ，ｙｐ）、Ｑ（ｘｑ，ｙ
ｑ）が与えられており、点Ｐから点Ｑへ移動するように
設定されたとき、ｘ方向の移動量（ｘｑ−ｘｐ）の値か
ら距離補正値（ｘｑ−ｘｐ）’を求めるのではなく、原
点からそれぞれの点に対しての距離補正値ｘｐ’、ｙ
ｐ’を求め、その値から実際のｘ方向移動量（ｘｑ’−
ｘｐ’）を得るようにする。換言すれば、これは、ある
座標から任意の座標へ移動する際、２点間の移動量から
距離補正を行うのではなく、それぞれの点に対しての原
点からの移動量を求め、その値から距離補正値を求め、
それぞれ得られた値から実際の移動量を求めるようにし
たものである。
明する。図８において、Ｘの移動量を指定した場合、ペ
ンはＹ方向下端では、Ｘ＋ΔＸＬ移動し、Ｙ方向上端で
は、Ｘ＋ΔＸＨ移動してしまう。この場合の任意の点
（ｘ１，ｙ１）に対しｘ方向移動量がｘ１になるように
する移動量ｘを求めるとき、以下の方法が用いられる。
ある２つの任意の点Ｐ（ｘｐ，ｙｐ）、Ｑ（ｘｑ，ｙ
ｑ）が与えられており、点Ｐから点Ｑへ移動するように
設定されたとき、ｘ方向の移動量（ｘｑ−ｘｐ）の値か
ら距離補正値（ｘｑ−ｘｐ）’を求めるのではなく、原
点からそれぞれの点に対しての距離補正値ｘｐ’、ｙ
ｐ’を求め、その値から実際のｘ方向移動量（ｘｑ’−
ｘｐ’）を得るようにする。換言すれば、これは、ある
座標から任意の座標へ移動する際、２点間の移動量から
距離補正を行うのではなく、それぞれの点に対しての原
点からの移動量を求め、その値から距離補正値を求め、
それぞれ得られた値から実際の移動量を求めるようにし
たものである。
【００１１】図１は、本発明によるＸＹプロッタ装置の
基本構成を示し、特に多ペン式ＸＹプロッタ装置の例を
示している。同図において、装置１０は、用紙が載置さ
れる部分１２と、この部分上をＸ方向に移動するアーム
１３ａと、このアーム上に組み込まれたキャリッジガイ
ド１３ｂと、このガイドに沿ってＹ方向に移動するペン
ヘッド１４と、用紙載置部分１２の周辺に隣接してペン
ストック１５が設けられ、このペンストックにペン１６
（本例では８個）が設置されている。なお、１７は操作
パネルである。
基本構成を示し、特に多ペン式ＸＹプロッタ装置の例を
示している。同図において、装置１０は、用紙が載置さ
れる部分１２と、この部分上をＸ方向に移動するアーム
１３ａと、このアーム上に組み込まれたキャリッジガイ
ド１３ｂと、このガイドに沿ってＹ方向に移動するペン
ヘッド１４と、用紙載置部分１２の周辺に隣接してペン
ストック１５が設けられ、このペンストックにペン１６
（本例では８個）が設置されている。なお、１７は操作
パネルである。
【００１２】図２は、装置１０の基本的なシステムの制
御系統を示し、同図において、２１は、パターンジェネ
レータ２１ａ、メモリ２１ｂ、ＣＰＵ２１ｃ、Ａ／Ｄコ
ンバータ２１ｄ、カウンタ２１ｅなどが内蔵されるペン
制御ユニットである。また、２２は、本発明によって特
徴づけられるセンサであり、このセンサ２２は、図３に
示されるペンヘッド１４のペン駆動ユニット２３のフレ
ーム２４ａの一部に取り付けられており、公知のフォト
カプラのような光学センサによって構成され、用紙に描
かれた線分を読み取る動作を行う。なお、このペン駆動
ユニット２３は、図１に示されるアーム１３ａに組み込
まれたキャリッジガイド１３ｂに沿って移動するように
構成されている。また、２４はモータ制御回路、２５，
２６はこのモータ制御回路２４の制御下にペンヘッド１
４、アーム１３ａをＸ，Ｙ方向にそれぞれ移動させるよ
うに回転するモータである。２８は、上述したセンサ２
２、ペン駆動ユニット２３のほかエンコーダ２３ａ等を
含む作図機構部である。もちろんこの作図機構２８に
は、上述した各構成要素と関連して動作するペンのアッ
プダウン機構、ペンのＸＹ移動機構などが含まれること
はもちろんである。
御系統を示し、同図において、２１は、パターンジェネ
レータ２１ａ、メモリ２１ｂ、ＣＰＵ２１ｃ、Ａ／Ｄコ
ンバータ２１ｄ、カウンタ２１ｅなどが内蔵されるペン
制御ユニットである。また、２２は、本発明によって特
徴づけられるセンサであり、このセンサ２２は、図３に
示されるペンヘッド１４のペン駆動ユニット２３のフレ
ーム２４ａの一部に取り付けられており、公知のフォト
カプラのような光学センサによって構成され、用紙に描
かれた線分を読み取る動作を行う。なお、このペン駆動
ユニット２３は、図１に示されるアーム１３ａに組み込
まれたキャリッジガイド１３ｂに沿って移動するように
構成されている。また、２４はモータ制御回路、２５，
２６はこのモータ制御回路２４の制御下にペンヘッド１
４、アーム１３ａをＸ，Ｙ方向にそれぞれ移動させるよ
うに回転するモータである。２８は、上述したセンサ２
２、ペン駆動ユニット２３のほかエンコーダ２３ａ等を
含む作図機構部である。もちろんこの作図機構２８に
は、上述した各構成要素と関連して動作するペンのアッ
プダウン機構、ペンのＸＹ移動機構などが含まれること
はもちろんである。
【００１３】このような構成のもとに、図４に示される
ように、矩形フィルムテンプレートＦＴを装置１０の用
紙設定位置に配置し、以下の動作を行う。この場合、フ
ィルムテンプレートＦＴには、各コーナー付近にカギ型
のパターンが形成されている。すなわち、テンプレート
ＦＴの４隅にパターンが設けられ、これらのパターンの
うち、左下隅のＡパターンは、交点から右と上に延びた
直線セグメントによって構成され、右下隅のＢパターン
は、交点から左と上に延びた直線セグメントによって構
成され、左上隅のＣパターンは、交点から下と右に延び
た直線セグメントによって構成され、右上隅のＤパター
ンは、交点から左と下に延びた直線セグメントによって
構成されている。
ように、矩形フィルムテンプレートＦＴを装置１０の用
紙設定位置に配置し、以下の動作を行う。この場合、フ
ィルムテンプレートＦＴには、各コーナー付近にカギ型
のパターンが形成されている。すなわち、テンプレート
ＦＴの４隅にパターンが設けられ、これらのパターンの
うち、左下隅のＡパターンは、交点から右と上に延びた
直線セグメントによって構成され、右下隅のＢパターン
は、交点から左と上に延びた直線セグメントによって構
成され、左上隅のＣパターンは、交点から下と右に延び
た直線セグメントによって構成され、右上隅のＤパター
ンは、交点から左と下に延びた直線セグメントによって
構成されている。
【００１４】まず、図６のステップＳ１をスタートし、
図４のテンプレートＦＴ上のＡパターンの上に延びた直
線セグメントである縦線Ａ１上を、センサ２２によって
左右に横切らせ、図５に示すようにセンサ２２の出力Ｏ
１、Ｏ２を得、ピーク値座標の中間点を線幅３１の中央
としてＸ座標ＰＸＡをメモリ２１ｂに記憶する。つぎ
に、図６のステップＳ２に移り、センサ２２を図４のＢ
パターンの部分まで移動させてＢパターンの上に延びた
直線セグメントである縦線Ｂ１上を、センサ２２によっ
て左右に横切らせ、上記位置と同様に縦線のＸ座標ＰＸ
Ｂを読み取り、これをメモリ２１ｂに記憶する。
図４のテンプレートＦＴ上のＡパターンの上に延びた直
線セグメントである縦線Ａ１上を、センサ２２によって
左右に横切らせ、図５に示すようにセンサ２２の出力Ｏ
１、Ｏ２を得、ピーク値座標の中間点を線幅３１の中央
としてＸ座標ＰＸＡをメモリ２１ｂに記憶する。つぎ
に、図６のステップＳ２に移り、センサ２２を図４のＢ
パターンの部分まで移動させてＢパターンの上に延びた
直線セグメントである縦線Ｂ１上を、センサ２２によっ
て左右に横切らせ、上記位置と同様に縦線のＸ座標ＰＸ
Ｂを読み取り、これをメモリ２１ｂに記憶する。
【００１５】つぎに、ステップＳ３に移り、得られたＸ
座標ＰＸＡとＰＸＢから上記ＡパターンとＢパターン間
の距離を計算し、Ａ−Ｂパターン間を移動するのに必要
な理論的数値（基準距離）と読み取った値の誤差ΔＸＬ
を求め、これをＸ軸の移動距離補正定数とし、メモリ２
１ｂに記憶する。このＡパターンとＢパターンとの間を
移動することにより得られる値は、作図機構部２８に組
み込まれた公知のエンコーダ２３ａとペン制御ユニット
２１のカウンタ２１ｅとの組み合わせから得られること
になる。
座標ＰＸＡとＰＸＢから上記ＡパターンとＢパターン間
の距離を計算し、Ａ−Ｂパターン間を移動するのに必要
な理論的数値（基準距離）と読み取った値の誤差ΔＸＬ
を求め、これをＸ軸の移動距離補正定数とし、メモリ２
１ｂに記憶する。このＡパターンとＢパターンとの間を
移動することにより得られる値は、作図機構部２８に組
み込まれた公知のエンコーダ２３ａとペン制御ユニット
２１のカウンタ２１ｅとの組み合わせから得られること
になる。
【００１６】つぎに、ステップＳ４に移って、センサ２
２をＣパターンの部分に移動させ、Ｃパターンの下方に
延びた直線セグメントである縦線Ｃ１を左右に横切って
この縦線Ｃ１の座標を求める。この求め方は、前述した
ステップＳ１の縦線Ａ１の座標の求め方と同じである。
Ｄパターンの下に延びた直線セグメントである縦線Ｄ１
のＸ座標をＡパターンの縦線Ａ１と同様に読み取り、メ
モリ２１ｂに記憶する。さらに、ステップＳ５に移り、
Ｃパターンの下に延びた直線セグメントである縦線Ｃ１
からＤパターンの下に延びた縦線Ｄ１に向かってセンサ
２２を移動させ、ＤパターンのＸ座標ＰＸＤを読み取
り、これをメモリ２１ｂに記憶する。
２をＣパターンの部分に移動させ、Ｃパターンの下方に
延びた直線セグメントである縦線Ｃ１を左右に横切って
この縦線Ｃ１の座標を求める。この求め方は、前述した
ステップＳ１の縦線Ａ１の座標の求め方と同じである。
Ｄパターンの下に延びた直線セグメントである縦線Ｄ１
のＸ座標をＡパターンの縦線Ａ１と同様に読み取り、メ
モリ２１ｂに記憶する。さらに、ステップＳ５に移り、
Ｃパターンの下に延びた直線セグメントである縦線Ｃ１
からＤパターンの下に延びた縦線Ｄ１に向かってセンサ
２２を移動させ、ＤパターンのＸ座標ＰＸＤを読み取
り、これをメモリ２１ｂに記憶する。
【００１７】つぎに、ステップＳ６に移り、得られたＸ
座標ＰＸＣとＰＸＤから上記ＣパターンとＤパターン間
の距離を計算し、Ｃ−Ｄパターン間を移動するのに必要
な理論的数値（基準距離）と読み取った値の誤差ΔＸＨ
を求め、これをＸ軸の移動距離補正定数とし、メモリ２
１ｂに記憶する。このＣパターンとＤパターンとの間を
移動することにより得られる値は、作図機構部２８に組
み込まれた公知のエンコーダ２３ａとペン制御ユニット
２１のカウンタ２１ｅとの組み合わせから得られること
になる。
座標ＰＸＣとＰＸＤから上記ＣパターンとＤパターン間
の距離を計算し、Ｃ−Ｄパターン間を移動するのに必要
な理論的数値（基準距離）と読み取った値の誤差ΔＸＨ
を求め、これをＸ軸の移動距離補正定数とし、メモリ２
１ｂに記憶する。このＣパターンとＤパターンとの間を
移動することにより得られる値は、作図機構部２８に組
み込まれた公知のエンコーダ２３ａとペン制御ユニット
２１のカウンタ２１ｅとの組み合わせから得られること
になる。
【００１８】つぎに、ステップＳ７に移って、上述した
処理により得られたΔＸＬ、ΔＸＨを台形歪の補正定数
としてメモリ２１ｂに記憶する。この後、図８のステッ
プＳ８に移り、図４のＡパターンの横線Ａ２上を、セン
サ２２によって上下に横切らせ、図５に示すようにセン
サ２２の出力Ｏ１、Ｏ２を得、ピーク値座標の中間点を
線幅３１の中央としてＹ座標をメモリ２１ｂに記憶す
る。つぎに、ステップＳ９に移り、図４のＣパターンの
右に延びた直線セグメントである横線Ｃ２を上記横線Ａ
２と同様に横線Ｃ２のＹ座標を読み取り、これをメモリ
２１ｂに記憶する。
処理により得られたΔＸＬ、ΔＸＨを台形歪の補正定数
としてメモリ２１ｂに記憶する。この後、図８のステッ
プＳ８に移り、図４のＡパターンの横線Ａ２上を、セン
サ２２によって上下に横切らせ、図５に示すようにセン
サ２２の出力Ｏ１、Ｏ２を得、ピーク値座標の中間点を
線幅３１の中央としてＹ座標をメモリ２１ｂに記憶す
る。つぎに、ステップＳ９に移り、図４のＣパターンの
右に延びた直線セグメントである横線Ｃ２を上記横線Ａ
２と同様に横線Ｃ２のＹ座標を読み取り、これをメモリ
２１ｂに記憶する。
【００１９】そして、ステップＳ１０に移って、上記Ａ
パターンとＣパターンとの間を移動するのに必要な理論
的数値と読み取った値の差をＹ軸の移動距離補正定数と
し、これをメモリ２１ｂに記憶する。このＡパターンと
Ｃパターンとの間を移動することにより得られる値は、
作図機構部２８に組み込まれた公知のエンコーダ２３ａ
とカウンタ２１ｅの組み合わせから得られることにな
る。
パターンとＣパターンとの間を移動するのに必要な理論
的数値と読み取った値の差をＹ軸の移動距離補正定数と
し、これをメモリ２１ｂに記憶する。このＡパターンと
Ｃパターンとの間を移動することにより得られる値は、
作図機構部２８に組み込まれた公知のエンコーダ２３ａ
とカウンタ２１ｅの組み合わせから得られることにな
る。
【００２０】つぎに、ステップＳ１１に移り、ステップ
Ｓ１０で求めたＹ軸の移動距離補正定数と、ステップＳ
７で求めた台形歪の補正定数の差からＡパターンとＣパ
ターンを結ぶ辺ＡＣの傾きを求め、これを直角度補正定
数としてメモリ２１ｂに記憶する。以上の処理によって
Ｘ軸、Ｙ軸距離補正、台形補正、直角度補正の各定数を
記憶し、これらの定数を用いて任意の寸法に応じて補正
して作図する。
Ｓ１０で求めたＹ軸の移動距離補正定数と、ステップＳ
７で求めた台形歪の補正定数の差からＡパターンとＣパ
ターンを結ぶ辺ＡＣの傾きを求め、これを直角度補正定
数としてメモリ２１ｂに記憶する。以上の処理によって
Ｘ軸、Ｙ軸距離補正、台形補正、直角度補正の各定数を
記憶し、これらの定数を用いて任意の寸法に応じて補正
して作図する。
【００２１】なお、本実施例においては、センサとして
フォトカプラのような光学センサを用いたけれども磁気
センサあるいは、その他公知の非接触タイプのセンサで
あれば同様に用いることができる。また、本実施例で
は、フィルムテンプレートにテストパターンを描くよう
にしたけれども作図用紙の作図領域外に形成するように
してもよいことはもちろんである。
フォトカプラのような光学センサを用いたけれども磁気
センサあるいは、その他公知の非接触タイプのセンサで
あれば同様に用いることができる。また、本実施例で
は、フィルムテンプレートにテストパターンを描くよう
にしたけれども作図用紙の作図領域外に形成するように
してもよいことはもちろんである。
【００２２】
【発明の効果】このようにすれば、補正量の測定、入
力、記憶を自動的に行うことができ、個人差のない正確
な補正を短時間に行うことができる。また、フィルムテ
ンプレートを使用することにより大がかりな測定機を使
用しないため、メンテナンス上も引き取り修理を行わな
くてもフィールドでのサービスマン対応で容易にでき
る。したがって生産、保守のコストが大幅に削減でき
る。
力、記憶を自動的に行うことができ、個人差のない正確
な補正を短時間に行うことができる。また、フィルムテ
ンプレートを使用することにより大がかりな測定機を使
用しないため、メンテナンス上も引き取り修理を行わな
くてもフィールドでのサービスマン対応で容易にでき
る。したがって生産、保守のコストが大幅に削減でき
る。
【図１】本発明によるＸＹプロッタ装置の基本構成を示
す図である。
す図である。
【図２】図１に示されるプロッタ装置の制御系統の基本
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図３】図１および図２に示されるペンヘッドの具体例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図４】本発明が適用されたフィルムテンプレートの一
例を示す図である。
例を示す図である。
【図５】センサから得られる出力電圧波形を示す図であ
る。
る。
【図６】本発明の動作を説明するフローチャートであ
る。
る。
【図７】図６のフローチャートに続くフローチャートで
ある。
ある。
【図８】台形歪誤差を補正するための動作を説明する図
である。
である。
【図９】従来のＸＹプロッタ装置の動作を説明する図で
ある。
ある。
【図１０】従来の他のＸＹプロッタ装置の動作を説明す
る図である。
る図である。
【図１１】図１０の装置の問題点を説明するための図で
ある。
ある。
１０ 装置 １２ 用紙載置部分 １３ａ アーム １３ｂ キャリッジガイド １４ ペンヘッド １５ ペンストック １６ ペン １７ 操作パネル ２１ ペン制御ユニット ２１ａ パターンジェネレータ ２１ｂ メモリ ２１ｃ ＣＰＵ ２１ｄ Ａ／Ｄコンバータ ２１ｅ カウンタ ２２ センサ ２３ ペン駆動ユニット ２４ａ フレーム ２４ モータ制御回路 ２５、２６ モータ ２８ 作図機構部 ＦＴ フィルムテンプレート
Claims (1)
- 【請求項１】 矩形作図範囲の境界付近に描かれたテス
トパターンのうち、センサをＸ方向とＹ方向に移動させ
てこれらのテストパターンをセンサが横切ることにより
得られた少なくとも２組の座標距離と基準距離との差を
読み取り、これらの値と基準値とを比較して補正情報を
得、これに基づいて作図データの距離寸法、直角度等を
自己補正するようにしたことを特徴とするＸＹプロッタ
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4231465A JP2927120B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | Ｘｙプロッタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4231465A JP2927120B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | Ｘｙプロッタ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0655892A true JPH0655892A (ja) | 1994-03-01 |
| JP2927120B2 JP2927120B2 (ja) | 1999-07-28 |
Family
ID=16923934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4231465A Expired - Fee Related JP2927120B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | Ｘｙプロッタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2927120B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11170195A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-06-29 | Mimaki Engineering:Kk | カッティングプロッタと該プロッタを用いたシール材のカット方法 |
| US6191192B1 (en) | 1997-06-23 | 2001-02-20 | Toyo Boseki Kabushiki Kaisha | Antibacterial polymeric moldings |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61102298A (ja) * | 1984-10-26 | 1986-05-20 | 高橋 茂一 | Ｘ−ｙプロツタ装置 |
| JPS62124999A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-06 | 株式会社ニコン | 自動作図装置 |
-
1992
- 1992-08-06 JP JP4231465A patent/JP2927120B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61102298A (ja) * | 1984-10-26 | 1986-05-20 | 高橋 茂一 | Ｘ−ｙプロツタ装置 |
| JPS62124999A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-06 | 株式会社ニコン | 自動作図装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6191192B1 (en) | 1997-06-23 | 2001-02-20 | Toyo Boseki Kabushiki Kaisha | Antibacterial polymeric moldings |
| JPH11170195A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-06-29 | Mimaki Engineering:Kk | カッティングプロッタと該プロッタを用いたシール材のカット方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2927120B2 (ja) | 1999-07-28 |
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