JP2000258121A - 複数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法 - Google Patents
複数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法Info
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- JP2000258121A JP2000258121A JP11066084A JP6608499A JP2000258121A JP 2000258121 A JP2000258121 A JP 2000258121A JP 11066084 A JP11066084 A JP 11066084A JP 6608499 A JP6608499 A JP 6608499A JP 2000258121 A JP2000258121 A JP 2000258121A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 画像処理印刷機等へ適用される複数カメラ校
正用のマスター基板及び校正方法を得る。 【解決手段】 同一画像認識カメラ視野内に収まる二点
以上の認識マーク２１，２２，２３を有する認識マーク
群３０を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応
させて配置してなり、各認識マーク群内の前記二点以上
の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互の
位置関係が既知であるマスター基板２０を用い、各画像
認識カメラで対応する認識マーク群３０を撮像して、各
認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク２１，２
２，２３相互の既知の位置関係及び各認識マーク群相互
の既知の位置関係から各画像認識カメラの分解能、座標
系の傾き及び前記複数の画像認識カメラの相対位置関係
を算出する。
正用のマスター基板及び校正方法を得る。 【解決手段】 同一画像認識カメラ視野内に収まる二点
以上の認識マーク２１，２２，２３を有する認識マーク
群３０を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応
させて配置してなり、各認識マーク群内の前記二点以上
の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互の
位置関係が既知であるマスター基板２０を用い、各画像
認識カメラで対応する認識マーク群３０を撮像して、各
認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク２１，２
２，２３相互の既知の位置関係及び各認識マーク群相互
の既知の位置関係から各画像認識カメラの分解能、座標
系の傾き及び前記複数の画像認識カメラの相対位置関係
を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の画像認識カ
メラを備える画像処理印刷機等において、複数の画像認
識カメラの校正を高精度で実行可能な複数カメラ校正用
のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法に関す
る。
メラを備える画像処理印刷機等において、複数の画像認
識カメラの校正を高精度で実行可能な複数カメラ校正用
のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、画像処理印刷機等の画像認識カ
メラの校正項目には、各カメラ視野の分解能（Ｘ軸方
向、Ｙ軸方向）、座標系の傾き、及び各カメラ間の相対
位置関係があり、これらの数値が解らないと、被印刷体
等のワークの位置補正に必要な補正量を算出することが
できない。
メラの校正項目には、各カメラ視野の分解能（Ｘ軸方
向、Ｙ軸方向）、座標系の傾き、及び各カメラ間の相対
位置関係があり、これらの数値が解らないと、被印刷体
等のワークの位置補正に必要な補正量を算出することが
できない。
【０００３】図３乃至図６は、従来の画像認識カメラの
校正方法を説明するための図である。図３及び図４は、
個々の画像認識カメラのカメラ分解能及び座標系の傾き
の算出手順を説明するための図である。また、図５及び
図６は、各カメラ間相対位置関係の算出手順を説明する
ための図である。
校正方法を説明するための図である。図３及び図４は、
個々の画像認識カメラのカメラ分解能及び座標系の傾き
の算出手順を説明するための図である。また、図５及び
図６は、各カメラ間相対位置関係の算出手順を説明する
ための図である。
【０００４】上記の図において、図３及び図５に示すよ
うに校正されるべき画像認識カメラ群は、画像認識カメ
ラ１、カメラ２、カメラ３、カメラ４を有する構成であ
る。
うに校正されるべき画像認識カメラ群は、画像認識カメ
ラ１、カメラ２、カメラ３、カメラ４を有する構成であ
る。
【０００５】図３及び図４において、校正すべき画像認
識カメラに対し図４中の枠（Ａ）の一点の校正用マーク
１０が図３の４台のカメラに対向したＸ−Ｙテーブル１
２上に設定され、当該カメラの位置を一定に保持した状
態にてＸ−Ｙ軸方向へ移動される。つまり、校正用のマ
ーク１０を同一カメラの視野内でＸ軸方向、及びＹ軸方
向へ順次移動させ、カメラにおいて順次撮像を行う。図
４中において枠（Ｂ）は、Ｘ−ＹテーブルをＸ軸方向へ
既知距離Ｌ１だけ移動させた場合のマーク１０の視野内
変位を表している。また、図４中の枠（Ｃ）はＹ軸方向
へ既知距離Ｌ２だけ移動させた場合の、マーク１０の視
野内変位を表している。このように、既知量Ｌ１，Ｌ２
と移動前後の校正用マーク１０のカメラ視野内の座標値
の差により、各カメラの分解能及びカメラ側座標系の傾
きの算出が行われる。
識カメラに対し図４中の枠（Ａ）の一点の校正用マーク
１０が図３の４台のカメラに対向したＸ−Ｙテーブル１
２上に設定され、当該カメラの位置を一定に保持した状
態にてＸ−Ｙ軸方向へ移動される。つまり、校正用のマ
ーク１０を同一カメラの視野内でＸ軸方向、及びＹ軸方
向へ順次移動させ、カメラにおいて順次撮像を行う。図
４中において枠（Ｂ）は、Ｘ−ＹテーブルをＸ軸方向へ
既知距離Ｌ１だけ移動させた場合のマーク１０の視野内
変位を表している。また、図４中の枠（Ｃ）はＹ軸方向
へ既知距離Ｌ２だけ移動させた場合の、マーク１０の視
野内変位を表している。このように、既知量Ｌ１，Ｌ２
と移動前後の校正用マーク１０のカメラ視野内の座標値
の差により、各カメラの分解能及びカメラ側座標系の傾
きの算出が行われる。
【０００６】また、図５及び図６を用いて各カメラ間の
相対位置関係の校正を行う。これらの図は、校正すべき
複合構成のカメラ１及びカメラ２に対し、校正用マーク
１０をＹ軸方向へカメラの設計上の間隔距離に相当する
既知距離Ｑｙだけ移動させた場合を概念的に表してい
る。そして、校正用マーク１０がカメラ１からカメラ２
の各撮像視野範囲内へ移動され、カメラ１及びカメラ２
において個々に順次撮像を行う。そして撮像した画像デ
ータ、つまり各カメラ視野におけるマーク１０の座標値
とＸ−Ｙテーブルの既知移動量に基づき、各々の各カメ
ラ間の相対的な位置関係の算出が行われる。
相対位置関係の校正を行う。これらの図は、校正すべき
複合構成のカメラ１及びカメラ２に対し、校正用マーク
１０をＹ軸方向へカメラの設計上の間隔距離に相当する
既知距離Ｑｙだけ移動させた場合を概念的に表してい
る。そして、校正用マーク１０がカメラ１からカメラ２
の各撮像視野範囲内へ移動され、カメラ１及びカメラ２
において個々に順次撮像を行う。そして撮像した画像デ
ータ、つまり各カメラ視野におけるマーク１０の座標値
とＸ−Ｙテーブルの既知移動量に基づき、各々の各カメ
ラ間の相対的な位置関係の算出が行われる。
【０００７】このように、従来の校正作業では、Ｘ−Ｙ
テーブル１２にて、各カメラ視野内で一点の校正用マー
クをＸ方向、Ｙ方向に既知量だけ移動させ、移動前後の
マークのカメラ側座標値の差により、分解能、及びカメ
ラ側座標系の傾きを算出している。また、各カメラ間の
相対位置関係は、１つのマークを順次、各カメラ視野内
に入るように移動させ画像認識を行い、各カメラ視野に
おけるマークの座標値と、Ｘ−Ｙテーブル１２の既知移
動量とにより算出している。
テーブル１２にて、各カメラ視野内で一点の校正用マー
クをＸ方向、Ｙ方向に既知量だけ移動させ、移動前後の
マークのカメラ側座標値の差により、分解能、及びカメ
ラ側座標系の傾きを算出している。また、各カメラ間の
相対位置関係は、１つのマークを順次、各カメラ視野内
に入るように移動させ画像認識を行い、各カメラ視野に
おけるマークの座標値と、Ｘ−Ｙテーブル１２の既知移
動量とにより算出している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、Ｘ−Ｙテーブルは、カメラ間距離を移動
できるストロークを確保していなければならない。ま
た、カメラ校正の基準座標が装置のＸ一Ｙテーブルであ
るため、テーブル自体の精度に起因する移動量誤差が、
カメラ校正の精度に影響を与えてしまう問題を伴う。
従来技術では、Ｘ−Ｙテーブルは、カメラ間距離を移動
できるストロークを確保していなければならない。ま
た、カメラ校正の基準座標が装置のＸ一Ｙテーブルであ
るため、テーブル自体の精度に起因する移動量誤差が、
カメラ校正の精度に影響を与えてしまう問題を伴う。
【０００９】また、ワーク位置認識カメラが配置された
カメラステーションとは別なカメラステーションがあ
り、ここにフィードバック用位置検査カメラが配置され
ているような場合、校正時に校正用マークを移動させる
ためにＸ−Ｙテーブルをそれぞれのカメラステーション
に持っていなければならない。また、基準座標系は各カ
メラステーションがそれぞれに持っているＸ−Ｙテーブ
ルとなるため、基準座標系が複数存在することになり、
各カメラステーションの座標系の相対誤差が補正量の算
出に影響を与え、誤差が増大する問題を伴う。
カメラステーションとは別なカメラステーションがあ
り、ここにフィードバック用位置検査カメラが配置され
ているような場合、校正時に校正用マークを移動させる
ためにＸ−Ｙテーブルをそれぞれのカメラステーション
に持っていなければならない。また、基準座標系は各カ
メラステーションがそれぞれに持っているＸ−Ｙテーブ
ルとなるため、基準座標系が複数存在することになり、
各カメラステーションの座標系の相対誤差が補正量の算
出に影響を与え、誤差が増大する問題を伴う。
【００１０】本発明は、上記の点に鑑み、複数の画像認
識カメラの校正作業を高精度でかつ容易に実行可能な複
数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校
正方法を提供することを目的とする。
識カメラの校正作業を高精度でかつ容易に実行可能な複
数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校
正方法を提供することを目的とする。
【００１１】本発明のその他の目的や新規な特徴は後述
の実施の形態において明らかにする。
の実施の形態において明らかにする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本願請求項１の発明に係る複数カメラ校正用のマス
ター基板は、同一画像認識カメラ視野内に収まる二点以
上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の複
数の画像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、各
認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位置
関係及び各認識マーク群相互の位置関係が既知であるこ
とを特徴としている。
に、本願請求項１の発明に係る複数カメラ校正用のマス
ター基板は、同一画像認識カメラ視野内に収まる二点以
上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の複
数の画像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、各
認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位置
関係及び各認識マーク群相互の位置関係が既知であるこ
とを特徴としている。
【００１３】本願請求項２の発明は、請求項１におい
て、各認識マーク群がフォトエッチングにより基板面に
形成されているものである。
て、各認識マーク群がフォトエッチングにより基板面に
形成されているものである。
【００１４】本願請求項３の発明に係る画像認識カメラ
の校正方法は、同一画像認識カメラ視野内に収まる二点
以上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の
複数の画像認識カメラ視野に対応させて配置し、各画像
認識カメラで対応する認識マーク群を撮像して、各認識
マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既知の位
置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から各
画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数の
画像認識カメラの相対位置関係を算出することを特徴と
している。
の校正方法は、同一画像認識カメラ視野内に収まる二点
以上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の
複数の画像認識カメラ視野に対応させて配置し、各画像
認識カメラで対応する認識マーク群を撮像して、各認識
マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既知の位
置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から各
画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数の
画像認識カメラの相対位置関係を算出することを特徴と
している。
【００１５】本願請求項４の発明は、同一画像認識カメ
ラ視野内に収まる二点以上の認識マークを有する認識マ
ーク群を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応
させて配置してなり、各認識マーク群内の前記二点以上
の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互の
位置関係が既知であるマスター基板を用い、各画像認識
カメラで対応する認識マーク群を撮像して、各認識マー
ク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既知の位置関
係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から各画像
認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数の画像
認識カメラの相対位置関係を算出することを特徴として
いる。
ラ視野内に収まる二点以上の認識マークを有する認識マ
ーク群を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応
させて配置してなり、各認識マーク群内の前記二点以上
の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互の
位置関係が既知であるマスター基板を用い、各画像認識
カメラで対応する認識マーク群を撮像して、各認識マー
ク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既知の位置関
係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から各画像
認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数の画像
認識カメラの相対位置関係を算出することを特徴として
いる。
【００１６】本願請求項５の発明は、所定間隔の複数の
画像認識カメラを備える複数のカメラステーションに対
して、同一画像認識カメラ視野内に収まる二点以上の認
識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の複数の画
像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、各認識マ
ーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位置関係及
び各認識マーク群相互の位置関係が既知である同一マス
ター基板を用い、各カメラステーションにおいて、各画
像認識カメラで対応する認識マーク群を撮像して、各認
識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既知の
位置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から
各画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数
の画像認識カメラの相対位置関係を算出することを特徴
としている。
画像認識カメラを備える複数のカメラステーションに対
して、同一画像認識カメラ視野内に収まる二点以上の認
識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の複数の画
像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、各認識マ
ーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位置関係及
び各認識マーク群相互の位置関係が既知である同一マス
ター基板を用い、各カメラステーションにおいて、各画
像認識カメラで対応する認識マーク群を撮像して、各認
識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既知の
位置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から
各画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数
の画像認識カメラの相対位置関係を算出することを特徴
としている。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る複数カメラ校
正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法の実
施の形態を図面に従って説明する。
正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法の実
施の形態を図面に従って説明する。
【００１８】図１及び図２は、本発明の複数カメラ校正
用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法の一実
施の形態であり、これらの図１及び図２は複数カメラ校
正用のマスター基板の構成例及び画像認識カメラの校正
方法の手順例を説明するための図である。但し、画像認
識カメラは図３に示した場合と同様にカメラ１からカメ
ラ４の４台構成となっているものとした。
用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法の一実
施の形態であり、これらの図１及び図２は複数カメラ校
正用のマスター基板の構成例及び画像認識カメラの校正
方法の手順例を説明するための図である。但し、画像認
識カメラは図３に示した場合と同様にカメラ１からカメ
ラ４の４台構成となっているものとした。
【００１９】まず、同一画像認識カメラ視野内に収まる
三点の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の
４台の画像認識カメラ視野に対応させて配置し（設計上
の各カメラ位置に配置し）、各認識マーク群内の前記三
点の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互
の位置関係が既知であるマスター基板２０を用意する。
図２は三点の認識マーク２１、２２、２３からなる認識
マーク群３０の構成例を示し、図１は図２に示した認識
マーク群３０が４つ設計上の各カメラに対応する位置に
配置されたマスター基板２０の構成例を示している。
三点の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の
４台の画像認識カメラ視野に対応させて配置し（設計上
の各カメラ位置に配置し）、各認識マーク群内の前記三
点の認識マーク相互の位置関係及び各認識マーク群相互
の位置関係が既知であるマスター基板２０を用意する。
図２は三点の認識マーク２１、２２、２３からなる認識
マーク群３０の構成例を示し、図１は図２に示した認識
マーク群３０が４つ設計上の各カメラに対応する位置に
配置されたマスター基板２０の構成例を示している。
【００２０】４つの認識マーク群３０は、設計上のカメ
ラピッチ（Ｐｘ、Ｐｙ）で矩形に配置されている。ま
た、各々の認識マーク群３０では、三点の認識マーク２
１、２２、２３がピッチ（Ｓｘ、Ｓｙ）で三角点（例え
ば直角三角形の頂点）に配置されている。
ラピッチ（Ｐｘ、Ｐｙ）で矩形に配置されている。ま
た、各々の認識マーク群３０では、三点の認識マーク２
１、２２、２３がピッチ（Ｓｘ、Ｓｙ）で三角点（例え
ば直角三角形の頂点）に配置されている。
【００２１】上記の構成に成るマスター基板２０を用い
た各画像認識カメラの校正は、以下の手順により実行さ
れる。なお、ここにおける校正対象のカメラは、従来例
の説明で用いた図３の４台の画像認識カメラ１、カメラ
２、カメラ３、カメラ４であるものとする。
た各画像認識カメラの校正は、以下の手順により実行さ
れる。なお、ここにおける校正対象のカメラは、従来例
の説明で用いた図３の４台の画像認識カメラ１、カメラ
２、カメラ３、カメラ４であるものとする。
【００２２】４台のカメラ１乃至カメラ４は、設計上の
カメラピッチ（Ｐｘ、Ｐｙ）で矩形に配置されており
（例えば各カメラの視野中心がピッチ（Ｐｘ，Ｐｙ）で
配置されており）、各カメラの撮像視野内にマスター基
板２０を設置する。マスター基板２０の設定は、各認識
マーク群３０がそれぞれ対応するカメラの視野内に収ま
って画像認識されるようにする。例えば右下位置の認識
マーク群３０がカメラ１、右上位置の認識マーク群３０
がカメラ２、左上位置の認識マーク群３０がカメラ３、
左下の認識マーク群３０がカメラ４の視野内にそれぞれ
収まるように調整する。
カメラピッチ（Ｐｘ、Ｐｙ）で矩形に配置されており
（例えば各カメラの視野中心がピッチ（Ｐｘ，Ｐｙ）で
配置されており）、各カメラの撮像視野内にマスター基
板２０を設置する。マスター基板２０の設定は、各認識
マーク群３０がそれぞれ対応するカメラの視野内に収ま
って画像認識されるようにする。例えば右下位置の認識
マーク群３０がカメラ１、右上位置の認識マーク群３０
がカメラ２、左上位置の認識マーク群３０がカメラ３、
左下の認識マーク群３０がカメラ４の視野内にそれぞれ
収まるように調整する。
【００２３】４台のカメラ１、カメラ２、カメラ３、カ
メラ４により撮影された各認識マーク群３０の各々の画
像を解析し、マスター基板２０上の既知の寸法のピッチ
（Ｐｘ、Ｐｙ）とピッチ（Ｓｘ、Ｓｙ）と画像を解析し
て得られたデータとを比較することにより、複数カメラ
の校正が可能となる。例えば、マーク２１，２２を結ぶ
直線がＸ軸方向、マーク２２，２３を結ぶ直線がＹ軸方
向であると設定すれば、カメラ視野内でのそれらの直線
の傾きからカメラ側の座標系の傾きを算出できる。ま
た、Ｓｘ，Ｓｙのカメラ視野内での長さからＸ，Ｙ軸方
向の分解能を算出できる。各認識マーク群３０のピッチ
Ｐｘ，Ｐｙが各カメラの視野内のどこに位置するかによ
り（例えば視野の中心（原点）からのずれ量を検出する
ことにより）、各カメラの相対位置関係を算出できる。
メラ４により撮影された各認識マーク群３０の各々の画
像を解析し、マスター基板２０上の既知の寸法のピッチ
（Ｐｘ、Ｐｙ）とピッチ（Ｓｘ、Ｓｙ）と画像を解析し
て得られたデータとを比較することにより、複数カメラ
の校正が可能となる。例えば、マーク２１，２２を結ぶ
直線がＸ軸方向、マーク２２，２３を結ぶ直線がＹ軸方
向であると設定すれば、カメラ視野内でのそれらの直線
の傾きからカメラ側の座標系の傾きを算出できる。ま
た、Ｓｘ，Ｓｙのカメラ視野内での長さからＸ，Ｙ軸方
向の分解能を算出できる。各認識マーク群３０のピッチ
Ｐｘ，Ｐｙが各カメラの視野内のどこに位置するかによ
り（例えば視野の中心（原点）からのずれ量を検出する
ことにより）、各カメラの相対位置関係を算出できる。
【００２４】上記の複数カメラ校正用のマスター基板２
０を用いた校正において、三点の認識マークからなる認
識マーク群３０内での各マーク２１、２２、２３間の距
離、位置関係（直角度）、及び各マーク群３０間の距
離、位置関係（直角度）は、マスター基板２０をガラス
基板面に対してフォトエッチングにて製作することで、
カメラの分解能を確保するに必要且つ十分な精度で所定
位置に配置されているものとする。つまり、認識マーク
群３０内の三点の認識マーク相互の位置関係及び各認識
マーク群相互の位置関係がカメラの校正に必要な高精度
の既知量として取り扱えるようにする。
０を用いた校正において、三点の認識マークからなる認
識マーク群３０内での各マーク２１、２２、２３間の距
離、位置関係（直角度）、及び各マーク群３０間の距
離、位置関係（直角度）は、マスター基板２０をガラス
基板面に対してフォトエッチングにて製作することで、
カメラの分解能を確保するに必要且つ十分な精度で所定
位置に配置されているものとする。つまり、認識マーク
群３０内の三点の認識マーク相互の位置関係及び各認識
マーク群相互の位置関係がカメラの校正に必要な高精度
の既知量として取り扱えるようにする。
【００２５】この実施の形態によれば、次の通りの効果
を得ることができる。
を得ることができる。
【００２６】(1) 同一画像認識カメラ視野内に収まる
三点の認識マーク２１、２２、２３を有する認識マーク
群３０を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応
させて配置したマスター基板２０を用いて基準座標系と
し、各画像認識カメラで対応する認識マーク群を撮像し
て、各認識マーク群内の前記三点の認識マーク相互の既
知の位置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係
から各画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び各カ
メラの相対位置関係を算出するため、Ｘ−Ｙテーブルで
校正用マークを移動させていた従来の校正方法で問題と
なった、Ｘ−Ｙテーブル使用に伴う誤差の発生がない。
三点の認識マーク２１、２２、２３を有する認識マーク
群３０を、所定間隔の複数の画像認識カメラ視野に対応
させて配置したマスター基板２０を用いて基準座標系と
し、各画像認識カメラで対応する認識マーク群を撮像し
て、各認識マーク群内の前記三点の認識マーク相互の既
知の位置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係
から各画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び各カ
メラの相対位置関係を算出するため、Ｘ−Ｙテーブルで
校正用マークを移動させていた従来の校正方法で問題と
なった、Ｘ−Ｙテーブル使用に伴う誤差の発生がない。
【００２７】(2) 基準座標系となるマスター基板２０
の各マーク群３０はフォトエッチングによってガラス基
板面に作製可能であり、サブミクロンのオーダーで管理
することができる。位置精度の高いマーク群を校正の基
準に用いるため、カメラ校正の精度向上を図ることが可
能となる。
の各マーク群３０はフォトエッチングによってガラス基
板面に作製可能であり、サブミクロンのオーダーで管理
することができる。位置精度の高いマーク群を校正の基
準に用いるため、カメラ校正の精度向上を図ることが可
能となる。
【００２８】上記実施の形態では、１つのカメラステー
ションに４台の画像認識カメラがある場合であるが、例
えばワーク位置認識カメラが配置されたカメラステーシ
ョンとは別なカメラステーションがあり、ここにフィー
ドバック用位置検査カメラが配置されているような場
合、つまりカメラステーションが複数ある場合にも本発
明は適用可能である。
ションに４台の画像認識カメラがある場合であるが、例
えばワーク位置認識カメラが配置されたカメラステーシ
ョンとは別なカメラステーションがあり、ここにフィー
ドバック用位置検査カメラが配置されているような場
合、つまりカメラステーションが複数ある場合にも本発
明は適用可能である。
【００２９】複数台の画像認識カメラが配置されたカメ
ラステーションが複数あるときは、前述の１つのカメラ
ステーションのカメラについてのマスター基板２０を用
いた校正作業を、他のカメラステーションについても同
じマスター基板２０上のマーク群３０によって構成され
る座標系を唯一の基準座標系として、実行すればよい。
このような校正手順によれば、複数のカメラステーショ
ンを有する構成であっても、各カメラステーション毎に
Ｘ−Ｙテーブルを備える必要が無くなり、校正のための
装置の小型化、及びコストダウンが図れる。また、唯一
のマスター基板２０を基準座標系とすることにより、複
数のカメラステーションを有する場合でも、各カメラス
テーション間で同一の座標系を共有することになるの
で、各カメラステーション間の座標のバラツキに起因す
る誤差の影響を回避することができる。
ラステーションが複数あるときは、前述の１つのカメラ
ステーションのカメラについてのマスター基板２０を用
いた校正作業を、他のカメラステーションについても同
じマスター基板２０上のマーク群３０によって構成され
る座標系を唯一の基準座標系として、実行すればよい。
このような校正手順によれば、複数のカメラステーショ
ンを有する構成であっても、各カメラステーション毎に
Ｘ−Ｙテーブルを備える必要が無くなり、校正のための
装置の小型化、及びコストダウンが図れる。また、唯一
のマスター基板２０を基準座標系とすることにより、複
数のカメラステーションを有する場合でも、各カメラス
テーション間で同一の座標系を共有することになるの
で、各カメラステーション間の座標のバラツキに起因す
る誤差の影響を回避することができる。
【００３０】なお、同一カメラ視野内に収まる認識マー
ク群３０内の認識マークは、直角三角形の各頂点にある
場合が好都合であるが、認識マークが二点以上であれ
ば、理論的にカメラ校正は可能である。また、マスター
基板２０は、必要な精度が確保できればフォトエッチン
グ以外の製作方法によるものでも問題はない。
ク群３０内の認識マークは、直角三角形の各頂点にある
場合が好都合であるが、認識マークが二点以上であれ
ば、理論的にカメラ校正は可能である。また、マスター
基板２０は、必要な精度が確保できればフォトエッチン
グ以外の製作方法によるものでも問題はない。
【００３１】以上本発明の実施の形態について説明して
きたが、本発明はこれに限定されることなく請求項の記
載の範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当
業者には自明であろう。
きたが、本発明はこれに限定されることなく請求項の記
載の範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当
業者には自明であろう。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
２台以上の画像認識カメラの校正を１回の撮像で得られ
る画像データに基づき行うことができる。よって、校正
用のマークのカメラ視野内での移動が不要で、この移動
のために生じる誤差、作業工数も発生しない。さらに、
移動のためのＸ−Ｙテーブルも不要となる。
２台以上の画像認識カメラの校正を１回の撮像で得られ
る画像データに基づき行うことができる。よって、校正
用のマークのカメラ視野内での移動が不要で、この移動
のために生じる誤差、作業工数も発生しない。さらに、
移動のためのＸ−Ｙテーブルも不要となる。
【００３３】また、複数のカメラステーションがある場
合でも、校正用のマスター基板を共用することで、同一
の座標系を共有して、各カメラステーション間の座標の
バラツキに起因する誤差の影響を回避でき、さらに各カ
メラステーション毎にＸ−Ｙテーブルを設ける必要を無
くして、装置の小型化、コストダウンを図ることができ
る。
合でも、校正用のマスター基板を共用することで、同一
の座標系を共有して、各カメラステーション間の座標の
バラツキに起因する誤差の影響を回避でき、さらに各カ
メラステーション毎にＸ−Ｙテーブルを設ける必要を無
くして、装置の小型化、コストダウンを図ることができ
る。
【図１】本発明に係る複数カメラ校正用のマスター基板
及び画像認識カメラの校正方法の実施の形態であって、
マスター基板の全体構成を示す平面図である。
及び画像認識カメラの校正方法の実施の形態であって、
マスター基板の全体構成を示す平面図である。
【図２】図１のマスター基板に形成された認識マーク群
の構成例を示す部分拡大平面図である。
の構成例を示す部分拡大平面図である。
【図３】従来の画像認識カメラの校正方法における画像
認識カメラ及びＸ−Ｙテーブル配置を示す斜視図であ
る。
認識カメラ及びＸ−Ｙテーブル配置を示す斜視図であ
る。
【図４】従来の校正方法において、１台の画像認識カメ
ラについての分解能及び座標系の傾きを算出する場合の
説明図である。
ラについての分解能及び座標系の傾きを算出する場合の
説明図である。
【図５】従来の校正方法において、画像認識カメラ相互
の位置関係を校正する場合を説明する斜視図である。
の位置関係を校正する場合を説明する斜視図である。
【図６】従来の校正方法において、画像認識カメラ相互
の位置関係を算出する場合の説明図である。
の位置関係を算出する場合の説明図である。
１，２，３，４ 画像認識カメラ １０ 校正用マーク ２０ マスター基板 ２１、２２、２３ 認識マーク ３０ 認識マーク群
フロントページの続き (72)発明者 伊藤 義和 東京都中央区日本橋一丁目13番１号ティー ディーケイ株式会社内 (72)発明者 竹島 悟 東京都中央区日本橋一丁目13番１号ティー ディーケイ株式会社内 Ｆターム(参考） 2F065 AA03 AA31 BB28 DD02 DD19 FF04 FF61 JJ03 JJ05 JJ19 JJ26 QQ31
Claims (5)
- 【請求項１】 同一画像認識カメラ視野内に収まる二点
以上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の
複数の画像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、
各認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位
置関係及び各認識マーク群相互の位置関係が既知である
ことを特徴とする複数カメラ校正用のマスター基板。 - 【請求項２】 各認識マーク群がフォトエッチングによ
り基板面に形成されている請求項１記載の複数カメラ校
正用のマスター基板。 - 【請求項３】 同一画像認識カメラ視野内に収まる二点
以上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の
複数の画像認識カメラ視野に対応させて配置し、各画像
認識カメラで対応する認識マーク群を撮像して、各認識
マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既知の位
置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係から各
画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記複数の
画像認識カメラの相対位置関係を算出することを特徴と
する画像認識カメラの校正方法。 - 【請求項４】 同一画像認識カメラ視野内に収まる二点
以上の認識マークを有する認識マーク群を、所定間隔の
複数の画像認識カメラ視野に対応させて配置してなり、
各認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の位
置関係及び各認識マーク群相互の位置関係が既知である
マスター基板を用い、 各画像認識カメラで対応する認識マーク群を撮像して、
各認識マーク群内の前記二点以上の認識マーク相互の既
知の位置関係及び各認識マーク群相互の既知の位置関係
から各画像認識カメラの分解能、座標系の傾き及び前記
複数の画像認識カメラの相対位置関係を算出することを
特徴とする画像認識カメラの校正方法。 - 【請求項５】 所定間隔の複数の画像認識カメラを備え
る複数のカメラステーションに対して、 同一画像認識カメラ視野内に収まる二点以上の認識マー
クを有する認識マーク群を、所定間隔の複数の画像認識
カメラ視野に対応させて配置してなり、各認識マーク群
内の前記二点以上の認識マーク相互の位置関係及び各認
識マーク群相互の位置関係が既知である同一マスター基
板を用い、 各カメラステーションにおいて、各画像認識カメラで対
応する認識マーク群を撮像して、各認識マーク群内の前
記二点以上の認識マーク相互の既知の位置関係及び各認
識マーク群相互の既知の位置関係から各画像認識カメラ
の分解能、座標系の傾き及び前記複数の画像認識カメラ
の相対位置関係を算出することを特徴とする画像認識カ
メラの校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11066084A JP2000258121A (ja) | 1999-03-12 | 1999-03-12 | 複数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11066084A JP2000258121A (ja) | 1999-03-12 | 1999-03-12 | 複数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000258121A true JP2000258121A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13305648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11066084A Pending JP2000258121A (ja) | 1999-03-12 | 1999-03-12 | 複数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000258121A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006268032A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-10-05 | Fuji Photo Film Co Ltd | 描画装置および描画装置の校正方法 |
| JP2006284890A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | アライメントセンサの位置校正方法、基準パターン校正方法、露光位置補正方法、校正用パターン及びアライメント装置 |
| JP2006330534A (ja) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Nikon Corp | 基準指標板、基準指標板の調整方法、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 |
| JP2009054732A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Nikon Corp | マーク検出方法及び装置、位置制御方法及び装置、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
| JPWO2010095551A1 (ja) * | 2009-02-18 | 2012-08-23 | 旭硝子株式会社 | 矩形板状物の外形形状測定方法、及び撮像手段の相対位置校正方法 |
| JP2013185931A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-09-19 | Jvc Kenwood Corp | カメラ較正装置 |
-
1999
- 1999-03-12 JP JP11066084A patent/JP2000258121A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP4533785B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2010-09-01 | 富士フイルム株式会社 | アライメントセンサの位置校正方法、基準パターン校正方法、露光位置補正方法、校正用パターン及びアライメント装置 |
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| JPWO2010095551A1 (ja) * | 2009-02-18 | 2012-08-23 | 旭硝子株式会社 | 矩形板状物の外形形状測定方法、及び撮像手段の相対位置校正方法 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040601 |