JPH065288B2 - 固体検出器モジユ−ル - Google Patents

固体検出器モジユ−ル

Info

Publication number
JPH065288B2
JPH065288B2 JP58245637A JP24563783A JPH065288B2 JP H065288 B2 JPH065288 B2 JP H065288B2 JP 58245637 A JP58245637 A JP 58245637A JP 24563783 A JP24563783 A JP 24563783A JP H065288 B2 JPH065288 B2 JP H065288B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scintillator
module
diode
solid
ray detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58245637A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59141087A (ja
Inventor
デイビツド・マイクル・ホフマン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=23803698&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH065288(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JPS59141087A publication Critical patent/JPS59141087A/ja
Publication of JPH065288B2 publication Critical patent/JPH065288B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
    • G01T1/20183—Arrangements for preventing or correcting crosstalk, e.g. optical or electrical arrangements for correcting crosstalk
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
    • G01T1/20182—Modular detectors, e.g. tiled scintillators or tiled photodiodes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
    • G01T1/20185—Coupling means between the photodiode and the scintillator, e.g. optical couplings using adhesives with wavelength-shifting fibres

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はＸ線検出器に関するもので、更に詳しく言え
ば、「固体検出器」として知られるようになった種類の
Ｘ線検出器に関する。
この種の検出器の重要な用途としてはＣＴスキヤナがあ
る。ただ１つまたは極めて少数（約３０）の検出器しか
使用しなかった初期の旧型スキャナとは異なり、最新の
スキャナでは数百の検出器セルが組込まれていて、空間
分解能に向上させるためにそれらをできるだけ高密度に
配置しかつコントラスト分解能を向上させるためにそれ
らの効率をできるだけ高めることが意図されている。
ＣＴ用途においてはキセノンガス検出器がかなりの成功
を収めたとは言え、高分解能の固体検出器を開発する努
力は続けられている。固体検出器によって達成し得る利
点の１つとしては、理論的な量子検出効率の上昇が挙げ
られる。しかしながら、固体検出器はキセノンガス検出
器の場合には見られなかった幾つかの問題を含んでい
る。固体検出器において電気信号を発生する素子は通例
ホトダイオードであるが、それの受光面は入射Ｘ線によ
って悪い影響を受ける。Ｘ線がホトダイオードの受光面
を衝撃すると、雑音が発生して読取り中の信号が不正確
になることがあり、また長期使用後にはホトダイオード
自体が劣化することもある。その結果、ホトダイオード
の受光面をＸ線から保護するために適当な対策を講じる
ことが必要である。
考慮すべき第２の因子は、シンチレータによって発生さ
れた光をホトダイオードの受光面に伝達する際の減衰量
を最少にするような光学的効率の問題である。この点に
関しては、ホトダイオードの受光面積を最大にするこ
と、かつまた受光面をできるだけシンチレータに近接さ
せて結合度を最大にすることが望ましい。
商業的に入手可能な固体検出器スキャナの大部分は固定
リング式のものであって、検出器が走査円の中心から適
正な距離を置いて配置されている。この種の検出器はか
なり大きい検出器開口を有し、従ってかなり大きいシン
チレータを含むのが通例である。換言すれば、これらは
「アスペクト（aspect）の広い」光学装置と見なすこと
ができる。入射Ｘ線によって発生される光子の大部分が
シンチレータの前面付近において発生され、そして最終
的には背面に位置するホトダイオードに到達して集めら
れることを考慮すれば、アスペクトの広い検出器におい
て使用される比較的大きい結晶の場合、光子が発生部位
からホトダイオードまで移動する際に結晶側面との間で
示す相互作用は少なくて済む。しかるに回転式の検出器
構成の場合には、検出器が走査円の中心に一層近接して
いるためにかなり小さな検出器セルが要求され、それに
応じて所要の結晶は幅の狭いものとなる。このような構
成は「アスペクトの狭い」光学系を作るが、この場合に
は光子が検出用のホトダイオードにまで移動する間に多
数回の反射を受けることが特徴である。それ故、回転式
の検出器構成における固体検出器に対して要求される光
学的結合条件は比較的厳しいものとなる。
初期において使用されていたシンチレータ材料（たとえ
ばヨウ化セシウム）の中には、かなり強い光出力を与え
るものがあった。しかしながら、それらには様々な欠点
があったため、現在では別種のシンチレータ材料が好適
とされている。幾つかの理由から、高分解能の検出器に
おけるシンチレータ材料としてはタングステン酸カドミ
ウムを使用することが望ましい。しかしながら、この材
料には光出力がかなり弱いという大きな欠点がある。従
って、タングステン酸カドミウムを使用するためには検
出器の光学的効率を更に高めることが要求される。
上記の説明からわかる通り、本発明の目的はシンチレー
タ中において発生された光を従来よりも効率よくホトダ
イオードに伝達するような固体検出器を提供することに
ある。
また、組立てを容易にするためモジュール構造を有する
ような上記のごとき検出器を提供することも本発明の目
的の１つである。
その他の目的および利点は、添付の図面を参照しながら
以下の詳細な説明を読めば自ら明らかとなろう。
以下、本発明は好適な実施例に関連して記載されるが、
本発明がその実施例に限定されるというわけではない。
それどころか、前記特許請求の範囲によって規定される
本発明の精神および範囲から逸脱しない限り、全ての代
替品、変形品および同等品が本発明の対象を成すのであ
る。
添付の図面を見ると、これらの図は本発明の説明に必要
な特徴に注目しながら検出器列の一部分のみを示してい
る。（本発明の好適な実施例を成す）回転式の検出器を
具備したＣＴスキャナにおいては、公知の通り、検出器
が弓形を成すのが通例であり、またその中には比較的多
くの数（しばしば５００〜１０００個）の検出器セルが
含まれることがある。典型的な検出器セルは０．０５０
インチ程度の幅を有することがあるが、この数値を見れ
ば本発明の対象となる光学系がいかにアスペクトの狭い
ものであるかが多少とも理解されよう。
第１図には、１対の剛性外被部材２１および２２上に支
持された検出器２０が示されている。これらの外被部材
上には１対の鉛遮蔽層２３および２４がそれぞれ配置さ
れ、それによって一定厚さのＸ線ビームを入射させるた
めの窓２５が規定されている。好ましくはマコール（Ma
cor）から成る１対の支持体２６および２７がそれぞれ
の取付け用部材２８および２９に結合されている。これ
らの取付け用部材自体は１対の板３０および３１にそれ
ぞれ固定され、そして後者は外被部材２１および２２に
ボルト留めされている。かかる集合体の後部は裏板３２
によって閉鎖されている一方、前部は予め設置された
（好ましくはエポキシ樹脂含浸黒鉛繊維から成る）前窓
部材３３によってＸ線は通すが光は通さないように密封
されている。
第２および３図は、本発明に従って組立てられたセル構
成要素を一層良く示している。第３図に最も良く示され
ているごとく、マコール製の支持体（支持体２７のみが
示されている）には（好ましくはタングステンから成
る）複数のコリメータ板４０を正確に配置するための溝
４１が設けられている。コリメータ板の間の狭い空間４
２が検出器チャネルを構成している。
各セルの内部には入射Ｘ線束を光子に変換するためのシ
ンチレータ部材４４が配置され、そしてそれにより発生
された光子はダイオードモジュール４６中の対応するダ
イオード４５によって検出される。ダイオードの端子は
電線４７（第１図を参照のこと）によって印刷回路板４
８に接続され、そして後者はデータ収集システムに接続
されている。従って、データ収集システムに伝達される
電気信号は検出器の各セル内に入射したＸ線束の尺度と
なる。
説明の都合上、シンチレータ部材のコリメータ板に近い
方の面５０の前面、ダイオードに近い方の面５１を後
面、そして一般にコリメータ板と平行な細長い面５２を
側面と呼ぶ。以後、シンチレータ部材は好適な実施の態
様に従ってタングステン酸カドミウム結晶から成るもの
として記載するが、本発明の原理はその他の種類のシン
チレータ部材にも適用し得ることは言うまでもない。な
お、タングステン酸カドミウムが好適であるのは、それ
の均一性が良く、Ｘ線阻止能が大きく、かつ応答速度が
早いからである。
タングステン酸カドミウムから成るシンチレータ部材を
使用する場合、図示のごとくシンチレータ部材の後方に
ダイオードを配置することが極めて望ましい。なぜな
ら、シンチレータ部材の上方および下方にそれぞれダイ
オードを配置する方式に比べ、ダイオードの受光面積を
大きくすることができるからである。更に、垂直方向の
応答の一様性がこれら２ダイオードを用いる方式よりも
良好である。ただし、図示のごとくシンチレータ部材の
後方にダイオードを配置した場合には、シンチレータ部
材の深さ（すなわち前面から後面までの寸法）が制約を
受ける。更に詳しく述べれば、シンチレータ部材はダイ
オードを直射Ｘ線から保護するのに十分な深さを有して
いなければならない。１２０ｋＶｐのＸ線束の９９．９
％以上を吸収するには３mmの深さで十分なことが判明し
ている。
かかる光学系はアスペクトの狭いタイプのものであるか
ら、シンチレータ部材を必要以上に深くすることは望ま
しくない。更に詳しく述べれば、大部分のＸ線がシンチ
レータ部材の前面近くで捕獲されて光に変換され、それ
から深さ方向に移動して検出用のダイオードに到達する
が、結晶が薄いために多数回の反射を受けることにな
る。
結晶からダイオードに伝達される光の量を増加させるた
めには、光パイピング技術（光伝達技術）を用いるよう
にこれらの部材を特別なやり方で形成すればよい。先ず
第一に、タングステン酸カドミウム結晶自体の結晶方位
を適正に決定しなければならない。タングステン酸カド
ミウムは結晶格子の方向の関数として異なる屈折率を有
する。屈折率が最小となる方向は劈開面に平行である。
従って、本発明の実施に際しては、側面５２が劈開面と
合致するように結晶の方位が決定される。更にまた、側
面は前面から後面への効率のよい光パイピング作用が達
成されるように高度に研磨される。側面に劈開を起こさ
せれば自然に高度の研磨面が得られるが、それを更に研
磨することもできる。研磨度が高くなるほど光出力も強
くなるのである。
第２および３図を見ればわかる通り、シンチレータ部材
の間にコリメータ板が配置された多くの従来方式とは異
なり、本発明のこの実施の態様においてはコリメータ板
がシンチレータ部材の前面５０までしか達していない。
タングステン酸カドミウムはＸ線に対する自己吸収性が
大きいため、タングステン製のコリメータ板を取除いて
も約２％の混信しか生じないのである。
このような構成の場合には、光学的混信を低減させるた
め、上記のごとく光パイピング作用に関して最適化され
たシンチレータ部材の側面に対し、光パイピング効果を
保存しながら光学的混信を低減させるような被膜が施さ
れる。すなわち、臨界反射角を破壊して光出力を劇的に
低下させる傾向のある金属被膜は回避され、その代りに
化学被膜が設置される。１．５より大きい屈折率を持っ
た結合剤（たとえばアクリル樹脂、ラッカーまたはウレ
タン樹脂）中に光の波長に対応した粒度のTiO2粒子を懸
濁したものから成る化学被膜を使用することが最も効果
的であると判明した。ダイオードに接触すべき後面を除
き、結晶の５つの面の全てがこの材料で被覆される。
下記のように結晶同士を結合してモジュール化する場合
には、結晶同士が緊密に配置されるようにするためTiO2
被膜の厚さはできるだけ薄く維持される。また、結晶間
の光学的障壁の不透明度を高めるため、結晶間の光学的
混信を取除く厚さ０．２５ミルの銀フレーク被膜で結晶
を更に被覆することも望ましい。
タングステン酸カドミウムは屈折率が大きいために比較
的多量の光を捕捉する傾向のあることが知られている。
それ故、光パイピング作用を高めるために結晶の側面は
高度に研磨されるが、残りの面は拡散性散乱によって光
を逃がすことができるように粗面のままに残される。こ
のように光が捕捉される傾向があるため、本発明の実施
に当っては、結晶の後面とダイオードの受光面との間に
１．５より大きい屈折率を持った光学カップラが挿入さ
れる。かかる粗面および光学カップラの併用により、境
界面を通しての光伝達の効率が最大となる。
本発明の別の実施の態様に従えば、上記のごとくに最適
化された結晶／ダイオード集合体を合体させることによ
って多重チャネルのモジュールが作製され、そして複数
のかかるモジュールを使用することによって完全な検出
器列を形成することが可能となる。シンチレータ部材間
にコリメータ板を挿入する必要がないから、第３図に示
されるごとく、セルの能動素子を組立てるのに先立って
コリメータ板をそれぞれの溝の中に固定することができ
る。次いで、上記のごとく光パイピング作用、光学的混
信などに関して最適化された複数のシンチレータ部材を
横に並べて接合することによってシンチレータモジュー
ル４４ａが形成される。一実施例に従えば、かかるモジ
ュールは１６個のシンチレータ部材によって構成され
る。同様に、ダイオードモジュール４６も１６個のダイ
オード４５を含んでいて、その寸法および位置はシンチ
レータ部材の幅に合致している。シンチレータ部材を互
いに接合してモジュール４４ａを形成した後、所望の粗
面を得るのに適した粒度の研磨材を用いたラップ仕上に
よってモジュール４４ａの後面が平坦にされる。粗面は
それぞれのシンチレータ部材からの光伝達を容易にする
一方、モジュールの平坦性はモジュールの全ての部分か
らの均一かつ最適の光検出を可能にする。その後、ダイ
オードの前面またはシンチレータ部材の後面にエポテッ
ク（Epotek）×３０４のごとき光学カップラが塗布さ
れ、次いで両素子がジグ内において接触させられる。こ
の場合のジグは、ダイオードに対するシンチレータ部材
の相対位置を調節すると共に、両者間の光学カップラ層
の厚さを決定するのに役立つ。こうして得られたシンチ
レータ／ダイオードモジュールが予めそれぞれ溝の中に
固定されたコリメータ板の後方に配置されるが、その際
にはシンチレータ部材の接合部にコリメータ板が位置す
るようにする。その結果、Ｘ線がダイオードに直射する
可能性はたとえあっても極めて少ない。固定具または光
学的位置合せ技術の使用によってシンチレータ／ダイオ
ードモジュールをコリメータ板の後方に注意深く配置し
た後、６０および６１の位置でモジュールがマコール製
の支持体に接合される。上記の実施例に従えば、こうし
て得られるのは１６チャネルのモジュールであって、前
述のごとくそれを組合わせることによって検出器列を形
成することができる。
上記のモジュール構造に由来する利点の１つとして、シ
ンチレータ部材をコリメータ板に接合する方式の場合に
比べて著しく幅の広いシンチレータ部材を使用し得るこ
と、従って著しく幅の広いダイオードを使用し得ること
が挙げられる。ダイオードの幅が広くなれば受光面積が
大きくなり、従って光の検出効率が高めることになる。
機械的に見ると、このようなモジュール構造は従来提唱
されてきた多くの構造に比べてそれほど複雑でない。個
々の部品は複雑でないと同時に安価であり、しかも適当
なジグおよび固定具の使用によって容易に組立てられ
る。
最後に、本発明のモジュール構造は単一または二重セル
構造よりも信頼性が高い。なぜなら、ダイオードモジュ
ールとシンチレータモジュールとの間に形成された接合
面は固有の冗長性を示すからである。
以上の説明から明らかな通り、本発明によれば、光出力
の弱いシンチレータに対して特に適合しかつシンチレー
タから検出用ダイオードへの光伝達を向上させることの
可能な改良された固体検出器およびモジュールが提供さ
れる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本説明の一実施例を成す検出器の断面図、第２
図は第１図の検出器の構成要素およびそれらの相互関係
を示す拡大図、そして第３図は複数の検出器セルを示す
部分切欠き斜視図である。 図中、２０は固体Ｘ線検出器、２１および２２は外被部
材、２３および２４は鉛遮蔽層、２５は窓、２６および
２７は支持体、２８および２９は取付用部材、３２は裏
板、３３は前窓部材、４０はコリメータ板、４１は溝、
４４ａはシンチレータモジュール、４５はダイオード、
４６はダイオードモジュール、５０は前面、５１は後
面、そして５２は側面を表わす。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】複数の個別のダイオードを有するダイオー
    ド・モジュールと、同じ複数のシンチレータとを含み、
    各々のシンチレータは結晶格子の方向の関数として異な
    る屈折率をもち、最小の屈折率は劈開面に平行である結
    晶を有し、各々のシンチレータはＸ線を受けるための前
    面および前記ダイオードと結合するための後面及び並置
    された側面を有し、各々のシンチレータは劈開面が側面
    と合致するように方位が決定され、更に各々のシンチレ
    ータは研磨された側面を有して前記前面から前記後面へ
    の光パイピング作用を行うようにされ、前記側面上に設
    置されて前記シンチレータ間の混信を低減させる被膜手
    段とを含み、前記複数のシンチレータは側面同士結合さ
    れてシンチレータ・モジュールを形成し、更に前記シン
    チレータを前記ダイオードのそれぞれに対応するように
    して前記シンチレータ・モジュールを前記ダイオード・
    モジュールに接合する光学的結合手段とを含む、固体Ｘ
    線検出器に用いるためのシンチレータ／ダイオード・モ
    ジュール。
  2. 【請求項２】前記シンチレータ部材がタングステン酸カ
    ドミウムから成る特許請求の範囲第１項記載のモジュー
    ル。
  3. 【請求項３】前記側面を除く前記シンチレータ部材の全
    ての面が粗面であって、このため捕捉された光を逃がす
    ことができる特許請求の範囲第２項記載のモジュール。
  4. 【請求項４】前記後面を除く前記シンチレータ部材の全
    ての面が結合剤中に懸濁されたTiO2の化学被膜によって
    被覆されている特許請求の範囲第２項記載のモジュー
    ル。
  5. 【請求項５】入射Ｘ線束を対応した電気信号に変換する
    ための複数のチャネルを持つＸ線検出器において、該チ
    ヤネルを規定する複数のコリメータ板の配列体と、前記
    コリメータ板の後方で整合したモジュール形シンチレー
    タ／ダイオード集成体を有し、該モジュール形シンチレ
    ータ／ダイオード集成体が複数のシンチレータ・バーを
    有し各々のシンチレータ・バーは結晶格子の方向の関数
    として異なる屈折率をもち、最小の屈折率は劈開面に平
    行である結晶を有し、前記シンチレータ部材はＸ線を受
    けるための前面、光を伝達するための後面及び２つの側
    面を有し、各々のシンチレータは劈開面が側面と合致す
    るように方位が決定され、更に各々のシンチレータは研
    磨された側面を有して前記前面から前記後面への光パイ
    ピング作用を行なうようにされ、各々のシンチレータの
    前記側面を通しての光透過を低減させるシンチレータの
    被膜手段とを有し、複数の前記シンチレータは前記側面
    において接合することによってシンチレータ・モジュー
    ルを形成し、個々のシンチレータに整合する個別のダイ
    オードを有するダイオード・モジュールがシンチレータ
    ・モジュールの後部に配置され、更にダイオード・モジ
    ュールをシンチレータ・モジュールに接合する光結合手
    段とを含む、固体Ｘ線検出器。
  6. 【請求項６】前記シンチレータ部材がタングステン酸カ
    ドミウムから成る特許請求の範囲第５項記載の固体Ｘ線
    検出器。
  7. 【請求項７】前記側面を除く前記シンチレータ部材の全
    ての面が粗面であって、このため捕捉された光を逃がす
    ことができる特許請求の範囲第６項記載の固体Ｘ線検出
    器。
  8. 【請求項８】前記後面を除く前記シンチレータ部材の全
    ての面が結合剤中に懸濁されたTiO2の化学被膜によって
    被覆されている特許請求の範囲第６項記載の固体Ｘ線検
    出器。
  9. 【請求項９】前記シンチレータ・モジュールが前記ダイ
    オード・モジュールに接合するための後面を有してい
    て、前記後面には平坦性および粗面性を向上させるため
    のラップ仕上が施されている特許請求の範囲第５項記載
    の固体Ｘ線検出器。
JP58245637A 1982-12-29 1983-12-28 固体検出器モジユ−ル Expired - Lifetime JPH065288B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US454200 1982-12-29
US06/454,200 US4560877A (en) 1982-12-29 1982-12-29 Solid state detector module

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59141087A JPS59141087A (ja) 1984-08-13
JPH065288B2 true JPH065288B2 (ja) 1994-01-19

Family

ID=23803698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58245637A Expired - Lifetime JPH065288B2 (ja) 1982-12-29 1983-12-28 固体検出器モジユ−ル

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4560877A (ja)
EP (1) EP0117307B1 (ja)
JP (1) JPH065288B2 (ja)
DE (1) DE3377533D1 (ja)
IL (1) IL70142A (ja)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3669928D1 (de) * 1985-07-12 1990-05-03 Siemens Ag Roentgendetektorsystem.
US5220170A (en) * 1985-12-11 1993-06-15 General Imaging Corporation X-ray imaging system and solid state detector therefor
US5041729A (en) * 1987-10-28 1991-08-20 Hitachi, Ltd. Radiation detector and manufacturing process thereof
EP0328886B1 (de) * 1988-02-19 1993-04-14 Siemens Aktiengesellschaft Isoliereinrichtung zum optischen Isolieren integrierter Komponenten
US4870279A (en) * 1988-06-20 1989-09-26 General Electric Company High resolution X-ray detector
JP2752045B2 (ja) * 1988-12-05 1998-05-18 株式会社日立メディコ 多素子放射線検出器およびその製造方法ならびにｘ線ｃｔ装置
JPH082604Y2 (ja) * 1989-08-03 1996-01-29 理学電機工業株式会社 特性ｘ線検出装置
DE4107264A1 (de) * 1990-03-15 1991-09-19 Gen Electric Mehrfachenergie-festkoerper-strahlungsdetektor
US5118934A (en) * 1990-08-03 1992-06-02 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Fiber fed x-ray/gamma ray imaging apparatus
FR2672691A1 (fr) * 1991-02-11 1992-08-14 Mouyen Francis Capteur de radiations ionisantes utilisable dans un systeme d'imagerie radiographique.
US5059800A (en) * 1991-04-19 1991-10-22 General Electric Company Two dimensional mosaic scintillation detector
JPH09236668A (ja) * 1996-12-26 1997-09-09 Toshiba Corp Ｘ線検出器の製造方法
US6479824B1 (en) 2000-11-08 2002-11-12 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for CT imaging and other applications
DK175850B1 (da) * 2001-04-24 2005-03-29 Force Technology System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrör
JP2003041244A (ja) * 2001-07-25 2003-02-13 Furukawa Co Ltd シンチレータ
US6859514B2 (en) * 2003-03-14 2005-02-22 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc CT detector array with uniform cross-talk
US7099429B2 (en) * 2003-10-06 2006-08-29 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for radiation detectors and methods of manufacture
US6898265B1 (en) 2003-11-20 2005-05-24 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for radiation detectors and methods of manufacture
CN101622552B (zh) * 2007-03-05 2016-04-20 皇家飞利浦电子股份有限公司 像素化pet检测器中改进的光检测
CN101470086B (zh) * 2007-12-29 2012-11-28 清华大学 探测器装置及具有该探测器装置的ct检查系统
US8779366B2 (en) * 2009-05-20 2014-07-15 Koninklijke Philips N.V. Pixelated scintillator array
US8199882B2 (en) * 2009-12-07 2012-06-12 Moxtek, Inc. Integrated collimator
WO2012153223A1 (en) * 2011-05-12 2012-11-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Optimized scintilator crystals for pet
WO2014136734A1 (ja) * 2013-03-07 2014-09-12 株式会社 日立メディコ 放射線検出器とそれを備えたｘ線ｃｔ装置
CN104345070B (zh) * 2013-07-29 2018-03-23 同方威视技术股份有限公司 探测器模块、安装探测器模块的方法及射线检测系统

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB893505A (en) * 1959-04-02 1962-04-11 Harshaw Chem Corp Scintillometer component
US3102955A (en) * 1960-07-06 1963-09-03 Harshaw Chem Corp Scintillation detector with compensating reflector for the crystal
GB983505A (en) 1960-07-28 1965-02-17 Ass Elect Ind Improvements in or relating to electric contact spring assemblies
JPS5142578A (ja) * 1974-10-09 1976-04-10 Hitachi Electronics Iyoshinchireeshonzokenshitsuki
US3978337A (en) * 1975-01-29 1976-08-31 Wisconsin Alumni Research Foundation Three-dimensional time-of-flight gamma camera system
US4110621A (en) * 1977-03-23 1978-08-29 Butler-Newton, Inc. Tomography X-ray detector
GB1564385A (en) * 1977-03-24 1980-04-10 Emi Ltd Arrangements for detecting ionising radiation
US4234792A (en) * 1977-09-29 1980-11-18 Raytheon Company Scintillator crystal radiation detector
US4187427A (en) * 1978-01-09 1980-02-05 General Electric Company Structure for collimated scintillation detectors useful in tomography
NL7802916A (nl) * 1978-03-17 1979-09-19 Philips Nv Stralendetektorinrichting.
US4220860A (en) * 1978-07-24 1980-09-02 Ohio Nuclear, Inc. Tomographic scanner with cadmium tungstate scintillation crystals
JPS597679B2 (ja) * 1979-03-28 1984-02-20 株式会社日立製作所 シンチレ−タ用結晶及びその製造方法
US4267446A (en) * 1979-04-03 1981-05-12 Geoco, Inc. Dual scintillation detector for determining grade of uranium ore
JPS5648560A (en) * 1979-09-29 1981-05-01 Kagaku Gijutsucho Hoshasen Igaku Sogo Kenkyusho Position detector for radiant ray
US4338521A (en) * 1980-05-09 1982-07-06 General Electric Company Modular radiation detector array and module
JPS57100999A (en) * 1980-12-15 1982-06-23 Hitachi Chem Co Ltd Heat treatment of single crystal of tungstic acid compound
JPS57194374A (en) * 1981-05-26 1982-11-29 Agency Of Ind Science & Technol Gamma ray detector for positron ct
US4429227A (en) * 1981-12-28 1984-01-31 General Electric Company Solid state detector for CT comprising improvements in collimator plates

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59141087A (ja) 1984-08-13
EP0117307B1 (en) 1988-07-27
IL70142A0 (en) 1984-02-29
EP0117307A1 (en) 1984-09-05
IL70142A (en) 1987-07-31
DE3377533D1 (en) 1988-09-01
US4560877A (en) 1985-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH065288B2 (ja) 固体検出器モジユ−ル
US5059800A (en) Two dimensional mosaic scintillation detector
US4982096A (en) Multi-element radiation detector
US4563584A (en) Solid state detector
US6292529B1 (en) Two-dimensional X-ray detector array for CT applications
US6114703A (en) High resolution scintillation detector with semiconductor readout
JPS58146879A (ja) Ｘ線走査器のシンチレ−シヨン検出器
JPS6211313B2 (ja)
JPH0511060A (ja) ２次元モザイク状シンチレ―シヨン検出装置
JPS63282681A (ja) 放射線位置検出器
EP1525492B1 (en) Multi-array detection systems in ct
US4414473A (en) Resilient mount for modular detector cell
EP2486424A2 (en) Radiation conversion elements with reflectors for radiological imaging apparatus
JPH0332371B2 (ja)
US4491732A (en) Optical potting of solid-state detector cells
JPH0425513B2 (ja)
CN110477942B (zh) 一种pet探测器以及医学影像设备
JPH01191085A (ja) 多素子放射線検出器及びその製造方法
JPH11295432A (ja) Ｃｔ用固体検出器
JP2001042044A (ja) Ｘ線検出器及びこれを用いたｘ線ｃｔ装置
JP2002311142A (ja) Ｘ線固体検出器の製造方法およびｘ線ｃｔ装置
JP3704799B2 (ja) 放射線検出器アレイの製造方法
US4336458A (en) Diagnostic radiology apparatus for producing layer images of an examination subject
JPS58118977A (ja) 放射線検出器
JPH095444A (ja) Ｘ線検出器およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term