JPH0649932U - 凹凸測定用ゲージ - Google Patents
凹凸測定用ゲージInfo
- Publication number
- JPH0649932U JPH0649932U JP8563692U JP8563692U JPH0649932U JP H0649932 U JPH0649932 U JP H0649932U JP 8563692 U JP8563692 U JP 8563692U JP 8563692 U JP8563692 U JP 8563692U JP H0649932 U JPH0649932 U JP H0649932U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gauge
- measurement reference
- measurement
- measured
- probe
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- Pending
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 曲率面の凹凸の測定を精度よく行なえるよう
にする。 【構成】 ダイヤルゲージ12をその測定子20が下端
から突出するように固定する取付部材13の下部で測定
子20を挾む両側に、測定基準端15を下向きに突設
し、両測定基準部15の下端を測定子20と直線状に並
ぶナイフエッジ状の測定基準端21に形成し、被測定物
の表面に測定基準端21と測定子20を当接させること
によって凹凸の測定を行なうと共に、測定基準端21と
測定子20が同軸線上に並んでいるので、ゲージ11が
傾斜しても測定誤差の発生は少ない。
にする。 【構成】 ダイヤルゲージ12をその測定子20が下端
から突出するように固定する取付部材13の下部で測定
子20を挾む両側に、測定基準端15を下向きに突設
し、両測定基準部15の下端を測定子20と直線状に並
ぶナイフエッジ状の測定基準端21に形成し、被測定物
の表面に測定基準端21と測定子20を当接させること
によって凹凸の測定を行なうと共に、測定基準端21と
測定子20が同軸線上に並んでいるので、ゲージ11が
傾斜しても測定誤差の発生は少ない。
Description
【0001】
この考案は、パイプや円軸等の曲率面の凹凸を測定するために用いるゲージに 関する。
【0002】
パイプや円軸等は、仕上り状態の検査や製品への使用時に、その外表面の凹凸 の有無を測定する必要がある。
【0003】 曲率面の凹凸を測定する従来のゲージは、ダイヤルゲージを装着する取付部材 1の下部両側に図6Aの如く一対の測定基準部2を設け、被測定物A上にダイヤ ルゲージの測定子3と両測定基準部2の下端測定基準面4を当接させ、凹凸があ る場合の測定子3の上下移動により、凹凸の深さや高さを測定するものである。
【0004】
ところで、従来のゲージにおける測定基準部2は、下端測定基準面4が水平の 平坦面に形成されていたため、図6Bに示すように、測定作業時において、ゲー ジ1が少しでも傾斜すると、測定基準面4が被測定物Aから浮上り、測定子3の 先端と測定基準面4との差だけ誤差Xが生じ、精度の高い測定が行なえないとい う問題がある。
【0005】 そこでこの考案は、測定時にゲージが傾斜しても測定誤差の生じないゲージを 提供することを課題としている。
【0006】
上記のような課題を解決するため、この考案は、ダイヤルゲージをその測定子 が下端から下方に突出するよう固定する取付部材の下部で測定子を挾む両側の位 置に、測定基準部を下向きに突設し、両測定基準部の下端を測定子と直線状に並 ぶナイフエッジ状に形成した構成を採用したものである。
【0007】
取付部材にダイヤルゲージを装着した状態で、両側の測定基準部の下端を被測 定物上に当接させると、ダイヤルゲージの測定子も被測定物に当接し、被測定物 の表面における凹凸の有無及び凹凸の深さや高さが測定できる。
【0008】 上記測定時において、測定基準部の下端は、ナイフエッジ状に形成され、かつ ナイフエッジと測定子は直線状に並んでいるので、ゲージが傾斜した場合、傾斜 は測定子の先端を支点として生じることになり、ナイフエッジと測定子の先端に 位置ずれが生じないため、測定の誤差が発生しない。
【0009】
以下、この考案の実施例を添付図面の図1乃至図5に基づいて説明する。
【0010】 図1乃至図3のように、ゲージ11は、ダイヤルゲージ12の取付部材13と 、この取付部材13の軸心を挾む両側外周面に設けた板状突出部14、14とか らなり、両突出部14、14の下端が取付部材13の下面よりも下方に突出する 測定基準部15、15になっている。
【0011】 上記取付部材13は、軸心に沿って上下に貫通する孔16が設けられた円筒状 に形成され、ダイヤルゲージ12は孔16に軸17を挿入し、ビス18で締付け ることによってゲージ11に固定される。ダイヤルゲージ12は、軸17の上端 に表示部19を設け、軸17の下端から突出する測定子20が上下動し、測定子 20の上下動を表示部19によって表示すると共に、この測定子20が取付部材 13の下面から下方に突出するよう、ゲージ11にセットされる。
【0012】 両側の測定基準部15、15は、ダイヤルゲージ12の測定子20を挾んで両 側に位置し、図2のように側面から見ると、この測定基準部15、15と測定子 20が直列状に並ぶようになっている。
【0013】 両側の測定基準部15、15は、その下端部がナイフエッジ状の測定基準端2 1になり、この基準端21は、測定子20の軸心と直線状に並んで一致している 。
【0014】 両測定基準端21は、図4A又はBで示すように、パイプや円軸の如き、曲率 面をもった被測定物Aの測定に対応するよう、曲率面に同一又は近似した弧状図 4Aもしくは角度をもった直線の傾斜状(図4B)になっている。なお、平面測 定用の場合は、両測定基準端21を水平に形成すればよい。
【0015】 この考案のゲージは、上記のような構成であり、ゲージ11の取付部材13に ダイヤルゲージ12を取付けた図1と図2に示す状態で図4AとBのように、被 測定物Aの外面に両測定基準端21、21を当接させれば、測定子20の先端も 被測定物Aの表面に当接する。
【0016】 この状態でゲージ11を被測定物Aの軸方向又は径方向に移動させれば、被測 定物Aの表面における凹凸の有無及び凹凸の深さや高さを測定することができる 。
【0017】 上記の測定時において、図5Aのようにゲージ11は垂直に保持して測定する のが理想であるが、図5Bの如く、ゲージ11が傾斜状になる場合がある。しか しこの場合において、両測定基準端21はナイフエッジ状に形成され、かつ測定 子20の軸心を通る直線状になっているので、ゲージ11が傾斜しても、被測定 物Aに対する測定基準端21と測定子20の当接部分は同一直線上に並び、測定 誤差の発生を極力少なくすることができる。
【0018】
以上のように、この考案によると、ダイヤルゲージを装着する取付部材の下部 両側に測定基準部を突設し、この測定基準部の下端を測定子と直線状に並ぶナイ フエッジ状に形成したので、測定時に測定基準端とナイフエッジが同一直線上に 並び、ゲージに傾斜が生じても測定誤差の発生が少なく、精度の高い凹凸の測定 が行なえる。
【図1】この考案のゲージにダイヤルゲージを取付けた
正面図
正面図
【図2】同上の側面図
【図3】ゲージの斜視図
【図4】AとBは凹凸の測定状態を示す縦断面図
【図5】AとBは測定時におけるゲージと測定子の関係
を示す側面図
を示す側面図
【図6】AとBは従来のゲージにおける測定状態を示す
側面図
側面図
11 ゲージ 12 ダイヤルゲージ 13 取付部材 15 測定基準部 16 孔 17 軸 20 測定子 21 測定基準端
Claims (1)
- 【請求項1】 ダイヤルゲージをその測定子が下端から
下方に突出するよう固定する取付部材の下部で測定子を
挾む両側の位置に、測定基準部を下向きに突設し、両測
定基準部の下端を測定子と直線状に並ぶナイフエッジ状
に形成した凹凸測定用ゲージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8563692U JPH0649932U (ja) | 1992-12-14 | 1992-12-14 | 凹凸測定用ゲージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8563692U JPH0649932U (ja) | 1992-12-14 | 1992-12-14 | 凹凸測定用ゲージ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0649932U true JPH0649932U (ja) | 1994-07-08 |
Family
ID=13864322
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8563692U Pending JPH0649932U (ja) | 1992-12-14 | 1992-12-14 | 凹凸測定用ゲージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0649932U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001055667A1 (fr) * | 2000-01-25 | 2001-08-02 | Technocoat Co., Ltd. | Verificateur permettant de mesurer les dimensions et le diametre des protuberances et des evidements sur une surface de reference et son diametre |
KR101509657B1 (ko) * | 2013-12-09 | 2015-04-07 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 단차 조정을 위한 장치 및 이를 이용한 단차 조정 방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6011820A (ja) * | 1983-03-30 | 1985-01-22 | Chino Works Ltd | 表示器点灯回路 |
-
1992
- 1992-12-14 JP JP8563692U patent/JPH0649932U/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6011820A (ja) * | 1983-03-30 | 1985-01-22 | Chino Works Ltd | 表示器点灯回路 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001055667A1 (fr) * | 2000-01-25 | 2001-08-02 | Technocoat Co., Ltd. | Verificateur permettant de mesurer les dimensions et le diametre des protuberances et des evidements sur une surface de reference et son diametre |
KR101509657B1 (ko) * | 2013-12-09 | 2015-04-07 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 단차 조정을 위한 장치 및 이를 이용한 단차 조정 방법 |
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