JPH064923U - 光ディスク再生装置の傷検出回路および光ディスク再生装置 - Google Patents

光ディスク再生装置の傷検出回路および光ディスク再生装置

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JPH064923U
JPH064923U JP4716392U JP4716392U JPH064923U JP H064923 U JPH064923 U JP H064923U JP 4716392 U JP4716392 U JP 4716392U JP 4716392 U JP4716392 U JP 4716392U JP H064923 U JPH064923 U JP H064923U
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JP
Japan
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resistor
reproducing apparatus
signal
transistor
optical disc
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JP4716392U
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広己 浅賀
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Kenwood KK
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Kenwood KK
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Abstract

(57)【要約】 【目的】RF信号のレベル変動に拘らず光ディスクの傷
を確実に検出しサーボゲインを切換える。 【構成】RF信号の入力端子はコンデンサC2を介して
電源電圧間の抵抗R8と抵抗R9の直列回路の接続点に
接続されている。同接続点は抵抗R10を介して演算増
幅器7の反転入力端子に接続され、演算増幅器7の出力
端子は抵抗R11を介して反転入力端子に接続されてい
る。また、演算増幅器7の非反転入力はグランドに接続
されている。さらに、演算増幅器7の出力端子はトラン
ジスタ8のベースに接続され、トランジスタ8のエミッ
タはグランドに、また、コレクタは抵抗R12を介して
増幅器3の入力端子に接続されている。トランジスタ8
が導通すると、増幅器3の入力電圧は可変抵抗R2と抵
抗R12により分圧され、トラッキングサーボのループ
ゲインは低くなる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は光ディスク再生装置に係わり、特に、光ディスクに傷がある場合の トラッキングサーボやフォーカスサーボの誤動作を防止する手段に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の光ディスク再生装置のトラッキングサーボ回路の例を図3に示す。図に 示すように、トラッキングエラー信号(TE)は増幅器1で増幅され、抵抗R1 および可変抵抗R2で分圧された後ホールド回路6に入力される。
【0003】 ホールド回路6は光ディスクに傷が検出されたときにトラッキングエラー信号 をホールドするためのものであり、電界効果トランジスタ2および抵抗R3の直 列回路によりコンデンサC1を充電し、抵抗R4によりコンデンサC1の電荷を 放電するように構成されている。
【0004】 電界効果トランジスタ2が導通状態のときにはコンデンサC1の端子電圧はト ラッキングエラー信号に追従し、その電圧が増幅器3に入力される。増幅器3は 入力電圧を位相調整および増幅してトラッキングコイル4に印加する。
【0005】 トラッキングコイル4は対物レンズアクチュエータに付設され、磁界中に配置 されている。トラッキングコイル4に流れる電流の電磁作用により光スポットが 信号ピット列に追従するように対物レンズが駆動される。
【0006】 電界効果トランジスタ2は光ディスクに傷が検出されると、遮断状態とされる 。すなわち、RF信号が電源電圧を抵抗R7と抵抗R6で分圧された電圧と比較 器5で比較され、比較器5の出力が抵抗R5を介して電界効果トランジスタ2の ゲートに印加されている。
【0007】 RF信号が比較器5の基準電圧より高い通常の場合は、比較器5の出力は高電 圧となり、それが抵抗R5を介して電界効果トランジスタ2のゲートに印加され 電界効果トランジスタ2は導通状態となるが、光ディスクに傷があってRF信号 が比較器5の基準電圧より低くなると比較器5の出力は低電圧となって電界効果 トランジスタ2のゲートに電圧が印加されず電界効果トランジスタ2は遮断状態 となる。
【0008】 電界効果トランジスタ2が遮断状態となると、ホールド回路6は直前の電圧を ホールドして、トラッキングエラー信号の異状によるトラッキングサーボの誤動 作が防止される。
【0009】
【考案が解決しようとする問題点】
上記した従来の回路では、RF信号が基準電圧と比較されてディスクの傷が検 出される。その状態を図4(a)に示している。しかしながら、RF信号のレベ ルが変動するため、レベル変動による誤検出を避けるために基準電圧が低く設定 されている。従って、光ディスクに傷があっても図4(b)に示すようにRF信 号が基準電圧より低くならない場合は傷が検出されないことがあった。
【0010】 また、光ディスクに傷が検出されると、ホールド回路によりトラッキングエラ ー信号をホールドしているが、ホールド回路を使用するためにコストが高くなる という欠点があった。
【0011】 この考案は上記した点に鑑みてなされたものであって、その目的とするところ は、RF信号のレベル変動に拘らず確実に光ディスクの傷が検出される傷検出回 路を提供することにある。
【0012】 この考案の他の目的は、光ディスクの傷に対応してループゲインが切換えられ る安価なトラッキングサーボ回路またはフォーカスサーボ回路を提供することで ある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
この考案の光ディスク再生装置の傷検出回路は、光ピックアップから出力され るRF信号の直流成分をカットし、さらに直流バイアスを加えた後増幅すること により傷検出信号を得るように構成したものである。
【0014】 またこの考案の光ディスク再生装置は前記傷検出回路の出力信号によりトラッ キングサーボまたはフォーカスサーボのループゲイン切換え回路を作動させるよ うに構成したものである。
【0015】
【作用】
この考案の傷検出回路によれば、RF信号の直流成分がカットされて直流バイ アスが加えられるのでRF信号のレベルが変動しなくなり、このようにレベルの 固定されたRF信号を増幅することにより傷によるRF信号の変化が確実に検出 される。
【0016】 このように、検出された信号によりトラッキングサーボまたはフォーカスサー ボのループゲイン切換え回路のスイッチ素子、例えば、トランジスタをオンオフ させてループゲインを小さくすればサーボの誤動作が防止される。
【0017】
【実施例】
この考案の実施例である光ディスク再生装置の傷検出回路およびトラッキング サーボ回路を図面に基づいて説明する。図1はこの考案の実施例を示す回路図で ある。
【0018】 図に示すように、トラッキングエラー信号(TE)は増幅器1で増幅され、抵 抗R1および可変抵抗R2で分圧された後、増幅器3に入力される。増幅器3は 入力電圧を位相調整および増幅してトラッキングコイル4に印加する。
【0019】 トラッキングコイル4は対物レンズアクチュエータに付設され、磁界中に配置 されている。トラッキングコイル4に流れる電流の電磁作用により光スポットが 信号ピット列に追従するように対物レンズが駆動される。
【0020】 RF信号の入力端子はコンデンサC2を介して電源電圧間の抵抗R8と抵抗R 9の直列回路の接続点に接続されている。同接続点は抵抗R10を介して演算増 幅器7の反転入力端子に接続され、演算増幅器7の出力端子は抵抗R11を介し て反転入力端子に接続されている。また、演算増幅器7の非反転入力端子はグラ ンドに接続されている。
【0021】 さらに、演算増幅器7の出力端子はトランジスタ8のベースに接続され、トラ ンジスタ8のエミッタはグランドに、また、コレクタは抵抗R12を介して増幅 器3の入力端子に接続されている。トランジスタ8が導通すると、増幅器3の入 力電圧は可変抵抗R2と抵抗R12により分圧され、トラッキングサーボのルー プゲインは低くなる。すなわち、トランジスタ8と抵抗R12によりゲイン切換 え回路9が形成されている。
【0022】 コンデンサC2から演算増幅器7までの回路は傷検出回路を形成している。以 下にその作用を説明する。
【0023】 RF信号は図2の曲線aで示すようにディスクの傷の部分で低下している。こ の信号は接続点(図1のb点)に現れるが、コンデンサC2により直流成分がカ ットされ抵抗R8および抵抗R9により直流バイアスが加えられるので、図2の 曲線bで示すようになる。すなわち、傷のない部分のレベル(直流成分)は一定 である。また、傷の部分でRF信号の電圧が変動してその変動はコンデンサC2 によりb点に伝えられ−電位となる。
【0024】 b点の電圧は抵抗R10と抵抗R11の抵抗比で反転増幅され、演算増幅器7 の出力端子には図2の曲線cで示す電圧が現れる。この電圧がトランジスタ8の ベースエミッター間順電圧を越えるとトランジスタ8が導通する。
【0025】 このように、RF信号のレベルが任意のレベルに設定され、そのレベルが変動 しないので、傷の発生によるRF信号の変化が確実に検出されループゲインが切 換えられて低くり、トラッキングエラー信号の異状によるトラッキングサーボの 誤動作が防止される。
【0026】 実施例は以上のように構成されているが考案はこれに限られず、例えば、トラ ッキングサーボの代わりにフォーカスサーボにこの考案を適用することも可能で ある。
【0027】
【考案の効果】
この考案の傷検出回路およびサーボ回路によれば、RF信号の振幅のばらつき やレベルの変動があってもディスクの傷が確実に検出され傷の部分でサーボゲイ ンが低くなるので、傷のあるディスクも正常な再生が可能となる。
【0028】 また、従来のものに比べてホールド回路の代わりにスイッチ素子による切換え 回路を使用しているので製造コストが安くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の実施例を示す回路図である。
【図2】同実施例における信号を示すグラフである。
【図3】従来の光ディスク再生装置のトラッキングサー
ボ回路の例を示す回路図である。
【図4】同回路における信号を示すグラフである。
【符号の説明】
1 増幅器 2 電界効果トランジスタ 3 増幅器 4 トラッキングコイル 5 比較器 6 ホールド回路 7 演算増幅器 8 トランジスタ 9 ゲイン切換え回路

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ピックアップから出力されるRF信号
    の直流成分をカットし、さらに直流バイアスを加えた後
    増幅することにより傷検出信号を得るように構成した光
    ディスク再生装置の傷検出回路。
  2. 【請求項2】 請求項1の傷検出回路の出力信号により
    トラッキングサーボまたはフォーカスサーボのループゲ
    イン切換え回路を作動させるように構成した光ディスク
    再生装置
JP4716392U 1992-06-12 1992-06-12 光ディスク再生装置の傷検出回路および光ディスク再生装置 Pending JPH064923U (ja)

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JP4716392U JPH064923U (ja) 1992-06-12 1992-06-12 光ディスク再生装置の傷検出回路および光ディスク再生装置

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JP4716392U JPH064923U (ja) 1992-06-12 1992-06-12 光ディスク再生装置の傷検出回路および光ディスク再生装置

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JPH064923U true JPH064923U (ja) 1994-01-21

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ID=12767410

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6190335A (ja) * 1984-10-09 1986-05-08 Sony Corp 光学式デイスクプレ−ヤ
JPS6196530A (ja) * 1984-10-17 1986-05-15 Sanyo Electric Co Ltd トラツキングサ−ボ回路
JPS62271232A (ja) * 1986-05-20 1987-11-25 Pioneer Electronic Corp トラツキング制御装置

Patent Citations (3)

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