JPH06337202A - 金属被覆電線の断面積比の調整方法および装置 - Google Patents
金属被覆電線の断面積比の調整方法および装置Info
- Publication number
- JPH06337202A JPH06337202A JP6004147A JP414794A JPH06337202A JP H06337202 A JPH06337202 A JP H06337202A JP 6004147 A JP6004147 A JP 6004147A JP 414794 A JP414794 A JP 414794A JP H06337202 A JPH06337202 A JP H06337202A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electric wire
- metal
- sectional area
- area ratio
- cross
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 188
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 188
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 51
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 193
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 21
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 20
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 195
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 148
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 142
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 95
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 62
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims description 51
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 claims description 41
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 claims description 32
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 13
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 10
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 8
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract description 15
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 abstract description 12
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 abstract description 4
- 239000011162 core material Substances 0.000 description 76
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 13
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 12
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 11
- 238000005491 wire drawing Methods 0.000 description 11
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 6
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 6
- VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N perchloric acid Chemical group OCl(=O)(=O)=O VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 6
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 6
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 6
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 6
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 6
- 101100493713 Caenorhabditis elegans bath-45 gene Proteins 0.000 description 5
- 239000000047 product Substances 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 4
- -1 For example Chemical class 0.000 description 3
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 3
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 3
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 3
- 101100043261 Caenorhabditis elegans spop-1 gene Proteins 0.000 description 2
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000001192 hot extrusion Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25F—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC REMOVAL OF MATERIALS FROM OBJECTS; APPARATUS THEREFOR
- C25F3/00—Electrolytic etching or polishing
- C25F3/16—Polishing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/002—Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/041—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
- G01R31/59—Testing of lines, cables or conductors while the cable continuously passes the testing apparatus, e.g. during manufacture
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/01—Manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/01—Manufacture or treatment
- H10N60/0268—Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
- H10N60/0801—Manufacture or treatment of filaments or composite wires
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Wire Processing (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
法および均一化方法ならびに電線の清浄方法ならびに金
属被覆電線の製造方法ならびに金属被覆電線の断面積比
の測定装置ならびに金属被覆電線の電解研磨装置を提供
する。 【構成】 金属被覆電線の断面積比は、芯線部に含まれ
る第1の材料の電気抵抗値と金属被覆層を構成する第2
の材料の電気抵抗値とを予め記憶しておき、この値と実
際に測定した金属被覆電線の電気抵抗値とに基づいて、
算出される。また、金属被覆電線の断面積比の測定およ
び均一化ならびに電線の清浄は、電解研磨により電線の
表層部を溶解することによって行なわれる。
Description
積比の測定方法、調整方法および均一化方法ならびに電
線の清浄方法ならびに金属被覆電線の製造方法ならびに
金属被覆電線の断面積比の測定装置ならびに金属被覆電
線の電解研磨装置に関するものであり、特に、芯線部と
この芯線部を覆う金属被覆層とを有する金属被覆電線の
断面積比を非破壊で測定する方法、断面積比を電解研磨
により調整する方法および長さ方向に均一化する方法な
らびに表面が金属からなる電線の表層部を電解研磨によ
り清浄にする方法ならびに金属被覆電線の電解研磨を用
いた製造方法ならびに金属被覆電線の断面積比を非破壊
で測定する装置ならびに金属被覆電線の表層部を電解研
磨により溶解するための電解研磨装置に関するものであ
る。
る金属被覆電線のうち、たとえば、Cu被覆NbTi超
電導線等の金属系の超電導線は、その超電導状態が破れ
た際の回路保護のため、銅または銅合金からなる安定化
材に、超電導材料が埋込まれた構造をなす。この場合、
単芯線については、超電導材料のみからなる芯線部と、
この芯線部を覆う銅または銅合金からなる被覆層とを有
する。一方、多芯線については、安定化材中に超電導材
料が埋めこまれてなる芯線部と、この芯線部を覆う被覆
層とを有する。
えば次のように製造されていた。図13は、NbTi超
電導単芯線の製造工程を示す流れ図である。また、図1
4〜図16は、NbTi超電導単芯線の製造工程の各段
階を示す図であり、図14および図16は斜視図、図1
5は断面図である。
材料からNbTi合金ロッドを作製し、このNbTi合
金ロッド1を、単芯線にとっての安定化材になる中空円
筒形状の銅管3の中に詰込み、銅製の蓋5をして真空に
引き、電子ビーム溶接により密封する。このようにして
得られた超電導複合体を、ビレットという。このビレッ
トは、単芯線の最終形状と、ほぼ相似な断面を有してい
る。
を、押出機9にかけて、線径を50〜30%にまで落と
す。
て得られた押出体11を、線引き機13にかけて最終線
径まで細線化する。
表面を清浄にする。この表面を清浄にする方法として
は、一般に、表面を化学的に溶解する酸洗いが利用され
る。この酸洗いは具体的には、サプライ手段と巻取り手
段の機構を有したラインの間に、酸の入った槽を設置
し、線を走らせて連続的に酸に浸漬させ、その表面を溶
解させることにより行なわれる。このときの溶解量は、
酸の強度、酸に浸漬している時間(槽の長さとラインの
線速)によって調整される。また、酸の種類としては、
たとえば、Cu被覆超電導線の場合は、硫酸系の酸が用
いられる。
られる。一方、図17は、NbTi超電導多芯線の製造
工程を示す流れ図である。また、図18は、NbTi超
電導多芯線の製造工程の1段階を示す斜視図である。
5をダイスにかけて六角形断面に成形して、切断、洗浄
した後、必要本数をまとめて再び銅管3の中に詰込み、
銅製の蓋5をして真空に引き、電子ビーム溶接により密
封し、多芯ビレットを作製する。
合と同様に、熱間押出機にかけた後、さらに伸線および
熱処理を繰り返し、撚線等を行なって、多芯の超電導線
が得られる。
において、NbTi等の超電導材料に対するCuまたは
Cu合金の断面積比(Cu/SC断面積比)は、一般に
銅比と呼ばれている。この銅比は、超電導線の安定性を
示す重要な特性値であり、超電導線の使用用途によって
細かく規定されている。
面積比は、たとえば、以下のようにして測定されてい
た。
ングし、その重量を測定する。次に、このCu被覆超電
導線のCuまたはCu合金からなる安定化材部を除去
し、残った超電導材料部の重量を測定する。このよう
に、サンプリングしたCu被覆超電導線について測定し
た全体重量および超電導材料部の重量から、Cu/SC
断面積比を、計算により求めていた。
なわれていた。すなわち、ビレットと呼ばれる超電導複
合体は、最終目的である超電導線と相似な断面を有する
とみなすことができる。そのため、ビレットを作製する
際に、最終目的とする銅比と等しくなるように、銅管の
厚さおよび充填する超電導材料の量を調整していた。
た超電導線の製造等においては、以下のような種々の問
題点があった。
を測定する際には、測定部分をサンプリングして破壊的
に測定するため、Cu被覆超電導線における端部のCu
/SC断面積比しか測定できない、という問題点があっ
た。
品質管理として、このような従来の方法によってCu/
SC断面積比を測定すると、端部での測定値が許容範囲
に入らない場合は、この端部を含めた一定長さ部分を切
断・除去しなくてはならない。そのため、歩留りが悪く
なるという問題が生じる。特に、Cu被覆超電導線の端
部は、Cu/SC断面積比が変動しやいす部分であるた
め、Cu被覆超電導線全体のCu/SC断面積比を、端
部での測定値から推定することは、問題があると考えら
れていた。したがって、従来、実験としては、全長にわ
たって破壊検査をして銅比のばらつきが生じていること
を把握していたが、製品検査としては利用できないた
め、実際の製品における線材の途中の銅比は測定できな
いという問題点があった。
比を調整する際には、減面加工では最終目的である線材
と相似な断面構造しか得られないため、銅比をビレット
作製時に決定しておく必要があった。すなわち、銅比の
異なる超電導線を製造するためには、それぞれ異なる銅
比のビレットを作製する必要があるため、製造工程が煩
雑になる、という問題点があった。
清浄または表面の異物除去を行なう際には、以下のよう
な問題点があった。すなわち、従来の酸洗いによる洗浄
では、洗浄するに従って酸の溶解能力が低下するため、
均一な溶解ができないという問題点があった。また、同
一時間での表面溶解の絶対量が少ないため、異物を除去
するために必要とする溶解を行なうには膨大な時間を必
要とするという問題点があった。
造する際には、特にビレットを押出しする際、高圧の加
わるダイス内で材料の不均一変形が生じ、製造された超
電導線の銅比がばらついてしまうという問題があった。
なメカニズムで生じていると推測される。
態を示す断面図である。図19を参照して、NbTi超
電導材料が安定化材である銅中に埋めこまれてなる芯線
部17が銅被覆部19により覆われてなるビレットを、
押出ダイス21を用いて矢印23の方向へ押出する際に
は、芯線部17と銅被覆部19との強度差および位置関
係のため、押出ダイス21内で押出初期に銅被覆部19
がうまく内部の芯線部17と一緒に流れ込むことができ
ない、という現象が生ずる。
19は削られたように後へ送られてしまう。
き場を失った銅は、今度は超電導材料を押しのけて居座
り、いわゆる銅たまり25ができてしまう。
長さ方向の断面図である。図22を参照して、このよう
な押出後の超電導線の銅被覆部19においては、銅が後
へ追いやられたために薄くなっている部分29や、銅た
まり25ができている。そのため、このような超電導線
においては、その長さ方向に芯線部と銅被覆部との断面
積比にばらつきが生じるため、結果として銅比のばらつ
きが生じていることになる。
用用途ごとに厳しく規定されている。これは、製品の超
電導状態が破壊されたとき、安定化材である銅に電流が
流れ込むためである。そのため、目的の線径において長
さ方向に銅比がばらついていると、以下のような問題が
生ずる。
ないために、超電導状態破壊時に電流が銅の方に迂回す
ることができず、線材が焼ける等の大トラブルになる可
能性がある。また、銅比が低い場合には、超電導部分の
面積が大きくなる。すなわち、超電導フィラメントの各
々について目的の加工度が十分得られていないことにな
るため、必要な臨界電流値を満たさなくなる可能性があ
る。一方、銅比が高い場合には、肝心の超電導部分の面
積が少ないことになるため、それ自体が必要な臨界電流
値を満たさなくなる可能性がある。
し、第1の材料を含む芯線部と、この芯線部を覆う第2
の材料からなる金属被覆層とを有する金属被覆電線の、
第1の材料からなる部分と第2の材料からなる部分との
断面積比を、非破壊で測定する方法を提供することにあ
る。
線の第1の材料からなる部分と第2の材料からなる部分
との断面積比を、伸線後に調整する方法を提供すること
にある。
属被覆電線の第1の材料からなる部分と第2の材料から
なる部分との断面積比を、長さ方向に均一にする方法を
提供することにある。
が金属からなる電線の表面を、短時間で効率よく清浄に
する方法を提供することにある。
解研磨を利用した超電導線の製造方法を提供することに
ある。
被覆電線の第1の材料からなる部分と第2の材料からな
る部分との断面積比を、非破壊で測定する測定装置を提
供することにある。
線を電解研磨する装置を提供することにある。
面に従って、第1の材料を含む芯線部と、この芯線部を
覆う第2の材料からなる部分とを有する金属被覆電線
の、第1の材料からなる部分と第2の材料からなる部分
との断面積比を非破壊で測定する方法が提供される。第
1の材料および第2の材料の電気抵抗値をそれぞれ予め
記憶するステップと、所定長さ領域にわたる金属被覆電
線の電気抵抗値を測定するステップと、予め記憶した第
1の材料および第2の材料の電気抵抗値と、実際に測定
した金属被覆電線の電気抵抗値とに基づいて、所定長さ
領域における第1の材料からなる部分と第2の材料から
なる部分との断面積比を算出するステップと、金属被覆
電線をその長さ方向に連続的に移動させることによっ
て、金属被覆電線の長さ方向における断面積比の分布を
測定するステップとを備える。
測定するステップは、1対の第1電極を介して所定長さ
領域の金属被覆電線に電流を流すことと、1対の第1電
極の内側に置かれた1対の第2電極を介して、所定長さ
領域の金属被覆電線に発生する電圧を測定することと、
付与した電流値と測定した電圧値とに基づいて、所定長
さ領域における金属被覆電線の電気抵抗値を算出するこ
とを含むとよい。
料であり、第2の材料は銅または銅合金であるとよい。
なお、この場合、単芯線については芯線部は超電導材料
のみからなるが、多芯線については芯線部は超電導材料
と、銅または銅合金からなる安定化材とを含む。
て、第1の材料を含む芯線部と、第2の材料からなる芯
線部を覆う金属被覆層とを有する金属被覆電線の被覆層
の表層部を、電解研磨により溶解し、第1の材料からな
る部分と第2の材料からなる部分との断面積比を調整す
る、金属被覆電線の断面積比の調整方法が提供される。
を陽極にし、電解槽中に置かれた金属を陰極として、電
解液を電気分解することによって、陽極となる電線の表
層部を溶解させるとよい。
連続的に通過させるように電線を長さ方向に連続的に移
動させることと、電解槽中の電線を陽極にし、電解槽中
に置かれた金属を陰極として、電解液を電気分解するこ
とによって、陽極となる電線の表層部を溶解させること
を含むとよい。
鉛、アルミニウム、金、銀、クロム、錫、タングステ
ン、鉄、銅およびニッケルからなる群から選ばれた金属
またはその合金であるとよい。
料であり、第2の材料は銅または銅合金であるとよい。
従って、第1の材料を含む芯線部と、芯線部を覆う第2
の材料からなる金属被覆層とを有する金属被覆電線の被
覆層の表層部を、電解研磨により溶解し、第1の材料か
らなる部分と第2の材料からなる部分との断面積比を長
さ方向に均一にする、金属被覆電線の断面積比の均一化
方法が提供される。
を陽極にし、電解槽中に置かれた金属を陰極として、電
解液を電気分解することによって、陽極となる電線の表
層部を溶解させるとよい。
連続的に通過させるように電線を長さ方向に連続的に移
動させることと、電解槽中の電線を陽極にし、電解槽中
に置かれた金属を陰極として、電解液を電気分解するこ
とによって、陽極となる電線の表層部を溶解させること
を含むとよい。
の大きさを変化させることによって、電線の表層部の溶
解量を制御するとよい。
させることによって、電線の表層部の溶解量を制御する
とよい。
鉛、アルミニウム、金、銀、クロム、錫、タングステ
ン、鉄、銅およびニッケルからなる群から選ばれた金属
またはその合金であるとよい。
料であり、第2の材料は銅または銅合金であるとよい。
って、表面が金属からなる電線の表層部を電解研磨によ
って除去することにより、電線の表面を清浄にする電線
の清浄方法が提供される。
を陽極にし、電解槽中に置かれた金属を陰極として、電
解液を電気分解することによって、陽極となる電線の表
層部を溶解させるとよい。
連続的に通過させるように電線を長さ方向に連続的に移
動させることと、電解槽中の電線を陽極にし、電解槽中
に置かれた金属を陰極として、電解液を電気分解するこ
とによって、陽極となる電線の表層部を溶解させること
を含むとよい。
ミニウム、金、銀、クロム、錫、タングステン、鉄、銅
およびニッケルからなる群から選ばれた金属またはその
合金であるとよい。
含む芯線部と、その芯線部を覆う銅または銅合金からな
る被覆層とを含むとよい。
って、金属被覆電線の製造方法が提供される。第2の材
料からなる金属管内に第1の材料を含む芯線となるべき
材料を充填しビレットを作製するステップと、作製され
たビレットを押出するステップと、押出された押出体を
伸線して金属被覆電線を作製するステップと、電線の表
層部を電解研磨によって除去するステップとを備えてい
る。
を陽極にし、電解槽中に置かれた金属を陰極として、電
解液を電気分解することによって、陽極となる電線の表
層部を溶解させるとよい。
連続的に通過させるように電線を長さ方向に連続的に移
動させることと、電解槽中の電線を陽極にし、電解槽中
に置かれた金属を陰極として、電解液を電気分解するこ
とによって、陽極となる電線の表層部を溶解させること
を含むとよい。
て、電線の長さ方向における第1の材料からなる部分と
第2の材料からなる部分との断面積比の分布状態を測定
するステップをさらに備えるとよい。
磨によって除去するステップは、測定した断面積比の分
布状態に応じて表層部の除去量を調節して、断面積比を
長さ方向にわたって均一にするとよい。
節は、電解液にかける電流の大きさを変化させることに
よって行なわれるとよい。
は、電線の移動速度を変化させることによって行なわれ
るとよい。
らに伸線して、電線の線径を長さ方向に均一にするステ
ップをさらに備えるとよい。
部の除去は、電線の第1の材料からなる部分と第2の材
料からなる部分との断面積比が所定の値となるまで行な
われるとよい。
の除去は、電線の表面の欠陥および付着した異物を除去
し得るに十分なだけ行なわれるとよい。
を含む芯線部と、その芯線部を覆う銅または銅合金から
なる被覆層とを含むとよい。
表面電流密度を、1〜200A/dm2 とするとよい。
従って、第1の材料を含む芯線部と、この芯線部を覆う
第2の材料からなる金属被覆層とを有する金属被覆電線
の第1の材料からなる部分と第2の材料からなる部分と
の断面積比を、非破壊で測定するための測定装置が提供
される。第1の材料および第2の材料の電気抵抗値をそ
れぞれ予め記憶する手段と、所定長さ領域の金属被覆電
線に電流を流すための1対の第1電極と、1対の第1電
極の内側に置かれ、所定長さ領域の金属被覆電線に発生
する電圧を測定するための1対の第2電極と、付与した
電流値と測定した電圧値とに基づいて、所定長さ領域に
おける金属被覆電線の電気抵抗値を算出する手段と、予
め記憶した第1の材料および第2の材料の電気抵抗値
と、実際に測定して算出した金属被覆電線の電気抵抗値
とに基づいて、所定長さ領域における第1の材料からな
る部分と第2の材料からなる部分との断面積比を算出す
る手段とを備えている。
に連続的に移動させる手段をさらに備え、金属被覆電線
の長さ方向における断面積比の分布を測定するとよい。
って、電線の電解研磨装置が提供される。電解液を含む
電解槽と、電解槽中を連続的に通過させるように表面が
金属からなる電線を長さ方向に連続的に移動させる手段
と、電線を陽極化する手段と、電解槽中に配置された陰
極となる金属部材と、電解研磨によって電線の表層部を
溶解させるために電線と金属部材との間に電位差を生じ
させる手段とを備えている。
る電線を巻回させるためのローラーを備えるとよい。
は、その速度を変更することができる手段を含むとよ
い。
量を変更することができる手段を含むとよい。
従って、第1の材料を含む芯線部と、この芯線部を覆う
第2の材料からなる金属被覆層とを有する金属被覆電線
の、第1の材料からなる部分と第2の材料からなる部分
との断面積比を長さ方向に均一にする装置が提供され
る。第1の材料および第2の材料の電気抵抗値をそれぞ
れ予め記憶する手段と、所定長さ領域の金属被覆電線に
電流を流すための1対の第1電極と、1対の第1電極の
内側に置かれ所定長さ領域の金属被覆電線に発生する電
圧を測定するための1対の第2電極と、付与した電流値
と測定した電圧値とに基づいて所定長さ領域における金
属被覆電線の電気抵抗値を算出する手段と、予め記憶し
た第1の材料および第2の材料の電気抵抗値と、実際に
測定して算出した金属被覆電線の電気抵抗値とに基づい
て、所定長さ領域における第1の材料からなる部分と第
2の材料からなる部分との断面積比を算出する手段と、
電解液を含む電解槽と、電線を陽極化する手段と、電解
槽中に配置された陰極となる金属部材と、電解研磨によ
って電線の表層部を溶解させるために電線と金属部材と
の間に電位差を生じさせる手段と、断面積比の測定に続
けて電解槽中を連続的に通過させるように電線を長さ方
向に連続的に移動させる手段と、断面積比の測定結果に
応じて電線の表層部を溶解する量を制御する手段とを備
えている。
ば、金属被覆電線の第1の材料からなる部分と第2の材
料からなる部分との断面積比を、非破壊で測定すること
ができる。そのため、あらゆる位置での断面積比の測定
が可能になり、また、連続的に測定することによって、
電線の全長にわたっての分布の測定も可能になる。
おける品質管理等にこの発明を利用すれば、不良部分を
確定できるため、その部分を無駄なく除去することによ
り、製造における歩留りを向上させることができる。
ず、製造工程途中の線径の金属被覆電線についても適用
できる。そのため、この発明は、第1の材料からなる部
分と第2の材料からなる部分との断面積比の均一な電線
を製造するためにも、有効に利用することができる。
第1の材料および第2の材料の電気抵抗値と、実際に測
定された金属被覆電線の電気抵抗値とから、以下の式
(1)に従って、第1の材料からなる部分と第2の材料
からなる部分との断面積比が計算される。
は測定電圧、Iは通電電流、αは20℃を基準とした場
合の定質量抵抗温度係数(1/℃)、Tは線材温度、S
は線材断面積、Lは電圧タップ間長さ、ρSCは第1の材
料の抵抗率、ρ Cuは第2の材料の抵抗率である。
属被覆電線の抵抗をR、第2の材料の抵抗をRCu、第1
の材料の抵抗をRSCとする。
抵抗が並列につながっていると考えられる。したがっ
て、以下の式が成り立つ。
らなる部分の断面積をSCu、第1の材料からなる部分の
断面積をSSCとし、さらに、第2の材料からなる部分の
第1の材料からなる部分に対する断面積比をXとする
と、以下の式、が成り立つ。
れぞれの比抵抗をρCu、ρSCとすると、以下の式、
のように書ける。
る部分と第1の材料からなる部分に対して共通である。
したがって、式、および式、から、次の式、
が得られる。
られる。
ρCu)} が得られる。
金属被覆電線の被覆層の表層部を電解研磨により溶解す
ることによって、第1の材料からなる部分と第2の材料
からなる部分との断面積比を調整することができる。す
なわち、電解研磨によれば、目的の溶解量を容易かつ均
一に得ることが可能であるため、ある断面積比を有する
金属被覆電線の表層部を溶解することにより、それより
低い断面積比の電線に加工することができるようにな
る。そのため、製造工程中に断面積比を変更することが
可能となるため、同じ出発材料から様々な用途の電線製
品を製造することが可能となる。したがって、製造工程
が簡略化される。
従えば、金属被覆電線の被覆層の表層部を電解研磨によ
り溶解することによって、第1の材料からなる部分と第
2の材料からなる部分との断面積比を、長さ方向に均一
にすることができる。すなわち、電解研磨によれば、目
的の溶解量を容易かつ均一に得ることが可能であるた
め、金属被覆電線の断面積比を予め測定し、また規定の
断面積比にするための溶解量を計算しておき、電解研磨
の際、これらの測定値および計算値に応じて断面積比の
高い部分は多く、逆に断面積比が低い部分は少なく被覆
層の表層部を溶解することにより、断面積比を均一にす
ることができる。その結果、金属被覆電線の製造におけ
る歩留りが向上し、コストの低下が期待できる。
解液にかける電流を変化させることにより、行なうこと
ができる。すなわち、電流を大きくすれば溶解量は多く
なり、逆に電流を小さくすれば溶解量が少なくなる。
度を変化させることによっても行なうことができる。す
なわち、金属被覆電線の移動速度を速くすれば、電線が
電解液中を通過する時間が短くなるため、金属被覆層の
溶解量は少なくなる。一方、電線の移動速度を遅くすれ
ば、電線が電解液中を通過する時間が長くなるため、被
覆層の溶解量は多くなる。
ば、表面が金属からなる電線の表層部を電解研磨によっ
て除去することにより、電線の表面を清浄にすることが
できる。すなわち、電解研磨を用いると、従来の酸洗い
等と比べて、多くの外皮を溶解させることができ、か
つ、目的の溶解量を容易にかつ均一に得ることができ
る。そのため、従来より短時間でより多くの外皮を効率
的に溶解させることによって、表面に付着した異物を除
去し、表面を滑らかに仕上げることができる。その結
果、従来異物が原因で発生していた断線を防止すること
もできる。
ば、金属被覆電線の製造方法において、電解研磨が利用
される。この電解研磨によって、断面積比の調整、均一
化または、表面の洗浄を行なうことができる。
なった金属被覆電線は、線径が長さ方向に不揃いになっ
ている。そこで、この線径が不揃いの電線を、再度ダイ
ス引きして伸線することにより、線径を均一にすること
ができる。
度を1〜200A/dm2 とすると、電解研磨の際、電
線に表面上の起伏や多数の気泡状中空部分が発生するこ
となく、金属被覆層を溶解することができる。
材料からなる部分と第2の材料からなる部分との断面積
比を非破壊で測定するための一例の測定装置の概略を示
す図である。
に1対の第1電極29a,29bを介して一定の電流を
通電するための定電流電源31と、1対の第2電極33
a,33b間で発生する電圧を測定するための電圧計3
5とを備えている。なお、1対の第2電極33a,33
bは、1対の第1電極29a,29bの内側に設けられ
ている。電圧計35には、測定された電圧を電気抵抗値
に換算し、さらに断面積比を連続的に計算するめたのコ
ンピュータ37が接続されている。また、この測定装置
は、電線27の電圧を連続的に測定するため、サプライ
手段39および巻取り手段41を備えている。
たとえばCu複合超電導線の全長銅比測定は、以下のよ
うにして行なわれる。
Cu合金からなる安定化材部と超電導材料部の電気抵抗
値を、それぞれ予め測定しておき、得られたデータをコ
ンピュータ37に入力しておく。
手段39から巻取り手段41へ連続的に巻換えながら、
Cu複合超電導線27の電気抵抗値をその長さ方向に沿
って連続的に測定する。このCu複合超電導線27の電
気抵抗値の測定は、1対の第1電極29a,29bを介
して、定電流電源31から定電流を通電し、1対の第2
電極33a,33b間で発生する電圧を電圧計35によ
り測定し、さらにコンピュータ37によって電気抵抗値
に換算することによって行なわれる。
されたCuまたはCu合金からなる安定化材部および超
電導材料部の電気抵抗値と、上述のように連続的に測定
されたCu複合超電導線27の電気抵抗値とに応答し
て、前述の式(1)に従って、Cu/SC断面積比を連
続的に計算する。
3mmのCu複合超電導線約5000mの全長銅比を測
定した。なお、測定は、100m間隔で、全長にわたっ
て行なった。その結果を図2に示す。図2において、横
軸は線材の長さ(m)を示し、縦軸はCu/SC断面積
比を示している。
て、Cu複合超電導線のCu/SC断面積比の分布を、
全長にわたって非破壊で測定できることがわかる。
おける品質管理等にこの発明を利用すれば、不良部分を
確定できるため、その部分を無駄なく除去することによ
り、製造における歩留りを向上させることができる。さ
らに、この発明は、最終製品のみならず、製造工程途中
の線径の金属被覆電線についても適用できる。そのた
め、この発明は、Cu/SC断面積比の均一なCu複合
超電導線を製造するためにも、有効に利用することがで
きる。
段と巻取り手段の機構を有したラインの間に、4端子法
用の電極を設置しておき、線を走らせながら4端子法用
の電極からある一定の電流を流して、その電圧を連続的
に測定する場合、その測定頻度は、電極をローラー状に
しておいてアナログ的に取込むようにするほか、ある一
定の位置ごとに測定することも考えられる。
のみならず、第1の材料を含む芯線部とこの芯線部を覆
う第2の材料からなる金属被覆電線の、第1の材料から
なる部分と第2の材料からなる部分との断面積比を非破
壊で測定する場合にも、広く適用可能である。
解研磨装置の一例を示す概略図である。
解液43を含む電解槽45と、電線27を陽極化する給
電部49と、電解槽45中に配置された陰極となる金属
部材51とを備え、電線27と金属部材51との間に電
位差が生じるように構成されている。また、電解槽45
中を連続的に通過させるように電線27を長さ方向に連
続的に移動させるための、サプライ手段39および巻取
り手段41を備えている。
て、サプライ手段39に巻かれた電線27を、陽極とな
るように給電しながら、陰極の金属部材51を含む電解
液43中に通す。すると、電線の外皮は、電気分解によ
って溶解する。このように溶解研磨された電線27を、
巻取り手段41に巻換える。なお、これらの工程は、連
続的に行なわれる。
層の溶解量は、電解液にかける電流の大きさおよび電線
の移動速度によって制御することができる。
る電流の大きさと金属被覆層の溶解量との関係を示す図
である。図4より、電流量が大きくなるほど、溶解量も
大きくなる。
度と金属被覆層の溶解量との関係を示す図である。図5
より、電線の移動速度が速くなるほど、溶解量は小さく
なる。
に、Cu被覆超電導線の銅比の調整を行なった。以下
に、その具体例を示す。
て、銅比が1.00、線径が3mmの超電導単芯線10
00mを、外皮片側の溶解量が50μmとなるように、
図3に示す電解研磨装置を用いてリン酸浴中で電解研磨
して、銅比を0.87にすることを目指した。
て、銅比が1.00、線径が3mmの超電導単芯線10
00mを、外皮片側の溶解量が50μmとなるよう希硫
酸で溶解させて、銅比を0.87にすることを目指し
た。
法では、0.3時間の浸漬時間によって、全長を目標の
0.87の銅比に仕上げることができた。しかし、比較
例1では、3時間浸漬させたが、溶解させるに従って、
酸の溶解能力が低下するため、全長を同じ銅比で仕上げ
ることができなかった。また、酸溶解で同じ溶解量を得
るためには、電解研磨に用いる酸の数十倍の量を必要と
した。
磨により銅比を調整する際、超電導多芯線の表面電流密
度を100A/dm2 として、表面の銅外皮を溶解し
た。
磨により銅比を調整する際、超電導多芯線の表面電流密
度を300A/dm2 として、表面の銅外皮を溶解し
た。
実施例3の超電導線を比較した。その結果、実施例2の
超電導線の銅溶解後の表面は、非常に滑らかであった。
これに対して、実施例3の超電導線は、電解研磨の際の
表面電流密度が高すぎるため、湯じわや巣が大量に発生
してしまった。
て、銅比が1.00、線径が3mmの超電導単芯線10
00mを外皮片側の溶解量が50μmとなるように、図
3に示した電解研磨装置を用いて、リン酸浴中で電解研
磨して、銅比を0.87にすることを目指した。なお、
このとき、リン酸浴43中での超電導線27と金属部材
51との距離は、5cmであった。
て、銅比が1.00、線径が12mmの超電導単芯線6
0mを外皮片側の溶解量が200μmとなるように、図
3に示した電解研磨装置を用いて、リン酸浴中で電解研
磨して、銅比を0.87にすることを目指した。なお、
このとき、リン酸浴43中での超電導線27と金属部材
51との距離は、5cmであった。
実施例5の超電導線を比較した。その結果、実施例4の
超電導線は周方向に均一に溶解されているのに対して、
実施例5の超電導線は周全体のマイナス電極からの距離
を一定に保つことが困難なため、周方向に不均一に溶解
してしまった。
工程中に銅比の調整を短時間で行なうことができること
がわかる。また、電解研磨の際には、超電導線の表面電
流密度を1〜200A/dm2 とすることが好ましい。
に、原材料から製品まで数十の工程があるため、各ビレ
ット間でそれまでの加工による差が生じることはかなり
の頻度で想定される。銅比についても同様で、ロット内
(1本の線の長さ方向で)のばらつきのほか、ロット間
でのばらつきは非常に問題となることが多い。この発明
によれば、伸線後の銅比のばらつきを修正することがで
きるようになる。
導線のみならず、芯線部とこの芯線部を覆う金属被覆層
とを有する金属被覆電線の、芯線部と金属被覆層との断
面積比を調整する場合にも、広く適用可能である。
鉛、アルミニウム、金、銀、クロム、錫、タングステ
ン、鉄、銅、ニッケル等の電気伝導度の良い材料が考え
られる。電解研磨のためにはある程度の表面電流密度が
必要であり、電気伝導度の悪いものは、その際の発熱が
伴う可能性があるからである。
よって異なるが、過塩素酸系、リン酸系、硫酸系、クロ
ム酸系、硝酸系、水酸化ナトリウム系、水酸化カリウム
系、シアン系等の酸が考えられる。たとえば、銅を溶解
する場合には、リン酸系、硫酸系の酸が好ましい。
製造工程中、いずれの段階で行なわれてもよい。
覆超電導線の表面の洗浄を行なった。以下にその具体例
を示す。
て、異物除去のため、線径が3mmの超電導多芯線50
00mを外皮片側の溶解量が30μmとなるように、図
3に示す電解研磨装置を用いて、リン酸浴中で電解研磨
した。その後、0.8mmまで伸線した。
て、異物除去のため、線径が3mmの超電導多芯線50
00mの外皮片側の溶解量が3μmとなるように、希硫
酸で溶解させた。その後、0.8mmまで伸線した。
ける異物が原因の断線回数は1回であったのに対して、
比較例2の超電導線の製造における異物が原因の断線回
数は20回であった。これは、電解研磨は、酸溶解より
も多く溶解可能なために、より完全に異物除去されたた
めと考えられる。
導線のみならず、表面が金属からなる電線の表面を清浄
にする場合にも、広く適用可能である。
ルミニウム、金、銀、クロム、錫、タングステン、鉄、
銅、ニッケル等の電気伝導度の良い材料が考えられる。
電解研磨のためにはある程度の表面電流密度が必要であ
り、電気伝導度の悪いものは、その際の発熱が伴う可能
性があるからである。
よって異なるが、過塩素酸系、リン酸系、硫酸系、クロ
ム酸系、硝酸系、水酸化ナトリウム系、水酸化カリウム
系、シアン系等の酸が考えられる。たとえば、銅を溶解
する場合には、リン酸系、硫酸系の酸が好ましい。
製造工程中、いずれの段階で行なわれてもよいが、洗浄
の目的が伸線時の断線を抑えることにある場合は、断線
が生じる可能性のある前に洗浄する方が効果的と考えら
れる。
面積比の均一化方法について、図を用いて詳しく説明す
る。
1の材料からなる部分と第2の材料からなる部分との断
面積比を長さ方向に均一化するための電解研磨装置の一
例を示す概略図である。
1に示す測定装置と図3に示す電解研磨装置とが組合わ
されて構成される。
線27に1対の第1電極29a,29bを介して一定の
電流を通電するための定電流電源31と、1対の第2電
極33a,33b間で発生する電圧を測定するための電
圧計35とを備えている。なお、1対の第2電極33
a,33bは、1対の第1電極29a,29bの内側に
設けられている。また、電解研磨系として、電解研磨液
43を含む電解槽45と、電線27を陽極化する給電部
49と、電解槽45中に配置された陰極となる金属部材
51とを備え、電線27と金属部材51との間に電位差
が生じるように構成されている。また、電線27の電圧
を連続的に測定し、電解槽45中を連続的に通過させる
ように、電線27を長さ方向に連続的に移動させるため
の、サプライ手段39および巻取り手段41を備えてい
る。
に接続されたコンピュータ53は、測定された電圧を電
気抵抗値に換算し、断面積比を連続的に計算するととも
に、目的の断面積比とするための溶解量を計算して、電
線の移動速度および電解液にかける電流量を算出し、算
出された線速および電流量を指示する。
は、以下の式(2)により求めることができる。ただ
し、溶解前の断面積比が、目標とする断面積比よりも大
きいことが条件とされる。
D2 は目標線径、C2 は目標断面積比とする。)また、
溶解量の経時的な調整は、予め、実験により電流、線速
と研磨量の関係を求めておけば、どれだけ溶解したいか
がわかれば、その製造条件を簡単に決めることができ
る。特に、長さ方向の断面積比を調整する目的で使用す
る場合は、目標溶解量から予め、線の位置と電流、線速
の関係を計算しておいて、ラインでそれらをパターン制
御するとよい。すなわち、ラインに線を走らせたときの
線の位置を調尺カウンタから読込むことにより、経時的
に制御することがきる。
磨の条件を設定する場合、具体的にはたとえば以下のよ
うに行なわれる。
を流して、「線の位置−電圧特性」データを測定した
後、その値をコンピュータで計算して、「線の位置−電
気抵抗特性」→「線の位置−断面積比特性」→「線の位
置−必要な溶解量」→「線の位置−電流、線速値」を求
め、そのパターンを電解研磨装置を制御するコンピュー
タに書込み、ラインを動かすと、自動的に電流量および
線速が制御され、目標とする溶解量が得られる。
ぐためには、電解槽の長さを長くすることが必要となる
が、電線を巻回させることにより、電解槽の長さ以上の
電線を電解液に浸漬することが可能となる。
を示す平面図である。図7を参照して、このように電線
27をシーブローラー55によって何ターンも巻回させ
ることによって、電解槽の長さ以上の長さの電線を、電
解液中に浸漬させることが可能となる。
装置とした場合、溶解後の線径測定データをフィードバ
ックして溶解量の補正を行なう機構を取付けることが望
ましいと考えられる。
を用いて、たとえばCu被覆超電導線の銅比の均一化を
行なった。以下に、その具体例を示す。
mの六角超電導単芯線を、外径307mm、内径251
mmの銅管の中に、銅比が1.38となるように約80
00本充填し、銅製の蓋をして密封し、ビレットを作製
した。次に、このビレットを熱間押出して減面加工し、
直径が80mmφの多芯超電導体を作製した。続いて、
これを線引き加工を繰り返し、直径が2.9mmφにな
るまで伸線を行なった。
外皮を、電解研磨により溶解して、銅比が1.25にな
るように調整した。
て、以下に図面を参照して詳しく説明する。
電導線を、電解研磨により均一な銅比となるように調整
する製造工程図である。
て得られた超電導多芯線の長さ方向の断面図である。
電導材料が安定化材である銅中に埋めこまれてなる芯線
部17と銅外皮19とからなり、銅外皮19に対する芯
線部17の断面積比は長さ方向に不均一になっているた
め、結果として銅比も長さ方向に不均一となっている。
ように、全長にわたって非破壊で測定した。
らないサイズで、適当な長さの4端子電極に接触させな
がら巻換え、電気抵抗を測定した。この電気抵抗値を、
予め求めておいた銅および超電導材料のそれぞれの電気
抵抗値を使用して、両者の断面積比に換算した。このよ
うにして、超電導線の銅比分布を連続的に測定すること
ができた。すなわち、このような多芯線に本発明を適用
した場合には、芯線部のうちの超電導材料からなる部分
の断面積と、芯線部のうちの安定化材からなる部分およ
び被覆層を構成する銅または銅合金の合計の断面積との
比が測定できる。
この際、電解研磨において電解液にかける電流量および
超電導線の移動速度と、銅の溶解量との関係を、予め求
めておく。この関係をもとにして、電解液にかける電流
量および超電導線の移動速度を制御しながら電解研磨を
行ない、銅外皮を銅比の高い部分を多く、逆に銅比の低
い部分は少なく溶解した。
た後の超電導線の長さ方向の断面図である。
線部17と銅外皮59とからなり、銅比は長さ方向に均
一となっている。
mの六角超電導単芯線を、外径307mm、内径251
mmの銅管の中に、銅比が1.25となるように約80
00本充填し、銅製の蓋をして密封し、ビレットを作製
した。次に、このビレットを熱間押出して減面加工し、
直径が80mmφの多芯超電導体を作製した。続いて、
これを線引き加工を繰り返し、直径が2.9mmφにな
るまで伸線を行なった。
比較例3の超電導多芯線の最終の銅比分布を測定した。
その結果を、図11および図12に示す。
て、長さ方向の銅比分布を示す図である。また、図12
は、比較例3の超電導多芯線について、長さ方向の銅比
分布を示す図である。図11および図12において、横
軸は直径2.9mmφへの熱間押出し後の先頭からの長
さ(m)を示し、縦軸は銅比を示している。
および比較例3の超電導多芯線の銅比分布の最大値、最
小値および平均値等を求めた。その結果を表1に示す。
施例7の超電導多芯線は、比較例3の超電導多芯線と比
べて、非常に均一な銅比分布を有していることがわか
る。
整する際には、その効率を考慮して、線径が1〜4mm
程度の超電導線について、その線径が1〜200μm程
度小さくなるような銅溶解量を設定することが望まし
い。
実施例7の超電導多芯線は、その線径が、2.78mm
から2.91mmまでばらついていた。
500mを、18%の減面率を有するダイス系列を用い
て、再び伸線加工した。
線の長さ方向の断面図である。図10を参照して、この
超電導多芯線は、芯線部57と銅外皮59とからなり、
銅比および線径は、長さ方向に均一となっている。
のある、実施例7の超電導多芯線2500mを、30%
の減面率を有するダイス系列を用いて、再び伸線加工し
た。
実施例9の超電導多芯線について、加工中の断線の発生
数を調べた。その結果を表2に示す。
例9の超電導線と比べて、断線数が少なく、伸線性が良
いことがわかる。
整後の超電導線を再び伸線して線径を均一とする際に
は、銅または銅合金の外皮が後部に流れたり断線が発生
したりするのを防ぐために、ダイスの減面率を10〜2
5%とすることが望ましいと考えられる。
電解研磨により銅比を調整する際、超電導多芯線の表面
電流密度を100A/dm2 として、表面の銅外皮を溶
解した。
電解研磨により銅比を調整する際、超電導多芯線の表面
電流密度を300A/dm2 として、表面の銅外皮を溶
解した。
び実施例11の超電導多芯線を比較した。その結果、実
施例10の超電導多芯線の銅溶解後の表面は、非常に滑
らかであった。これに対して、実施例11の超電導多芯
線は、電解研磨の際の超電導線の表面電流密度が高すぎ
るため、湯じわや巣が大量に発生してしまった。
電解研磨を行なう際には、超電導線の表面電流密度を1
〜200A/dm2 にすることが望ましいと考えられ
る。
された超電導線は、その長さ方向の銅比の均一性が確保
される。したがって、製造における歩留りが向上し、コ
ストの低下が期待できる。また、本発明によれば、銅比
の均一になった超電導線をさらに伸線加工することによ
り、線径も均一となり、性能の高い超電導線が得られ
る。
導線のみならず、芯線部とこの芯線部を覆う金属被覆層
とを有する金属被覆電線の、芯線部と金属被覆層との断
面積比を長さ方向に均一にする場合にも、広く適用可能
である。
鉛、アルミニウム、金、銀、クロム、錫、タングステ
ン、鉄、銅、ニッケル等の電気伝導度の良い材料が考え
られる。電解研磨のためにはある程度の表面電流密度が
必要であり、電気伝導度の悪いものは、その際の発熱が
伴う可能性があるからである。
よって異なるが、過塩素酸系、リン酸系、硫酸系、クロ
ム酸系、硝酸系、水酸化ナトリウム系、水酸化カリウム
系、シアン系等の酸が考えられる。たとえば、銅を溶解
する場合には、リン酸系、硫酸系の酸が好ましい。
製造工程中、いずれの段階で行なわれてもよい。ただ
し、線径を揃えるためには、研磨後に再度伸線すること
が必要である。
装置の一例を示す概略図である。
銅比の測定結果を示す図である。
例を示す概略図である。
図である。
す図である。
解研磨とを組合わせた装置の一例を示す概略図である。
均一な銅比となるように調整する製造工程図である。
均一な銅比となるように調整する製造工程図である。
り均一な銅比となるように調整する製造工程図である。
電導多芯線の長さ方向の銅比分布の一例を示す図であ
る。
比分布の一例を示す図である。
す流れ図である。
段階を示す図である。
段階を示す図である。
段階を示す図である。
す流れ図である。
段階を示す図である。
る。
る。
る。
向の断面図である。
Claims (33)
- 【請求項1】 第1の材料を含む芯線部と、この芯線部
を覆う第2の材料からなる金属被覆層とを有する金属被
覆電線の、第1の材料からなる部分と第2の材料からな
る部分との断面積比を非破壊で測定する方法であって、 前記第1の材料および前記第2の材料の電気抵抗値を、
それぞれ予め記憶するステップと、 所定長さ領域にわたる前記金属被覆電線の電気抵抗値を
測定するステップと、 予め記憶した第1の材料および第2の材料の電気抵抗値
と、実際に測定した金属被覆電線の電気抵抗値とに基づ
いて、前記所定長さ領域における第1の材料からなる部
分と第2の材料からなる部分との断面積比を算出するス
テップと、 前記金属被覆電線をその長さ方向に連続的に移動させる
ことによって、前記金属被覆電線の長さ方向における前
記断面積比の分布を測定するステップとを備える、金属
被覆電線の断面積比の測定方法。 - 【請求項2】 前記金属被覆電線の電気抵抗値を測定す
るステップは、1対の第1電極を介して前記所定長さ領
域の金属被覆電線に電流を流すことと、 前記1対の第1電極の内側に置かれた1対の第2電極を
介して、前記所定長さ領域の金属被覆電線に発生する電
圧を測定することと、 付与した電流値と測定した電圧値とに基づいて、前記所
定長さ領域における金属被覆電線の電気抵抗値を算出す
ることを含む、請求項1記載の金属被覆電線の断面積比
の測定方法。 - 【請求項3】 前記第1の材料は、超電導材料であり、
前記第2の材料は銅または銅合金である、請求項1記載
の金属被覆電線の断面積比の測定方法。 - 【請求項4】 第1の材料を含む芯線部と、芯線部を覆
う第2の材料からなる金属被覆層とを有する金属被覆電
線の、前記被覆層の表層部を、電解研磨により溶解し、
前記第1の材料からなる部分と前記第2の材料からなる
部分との断面積比を調整する、金属被覆電線の断面積比
の調整方法。 - 【請求項5】 前記電解研磨は、 電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置かれ
た金属を陰極として、電解液を電気分解することによっ
て、陽極となる前記電線の表層部を溶解させる、請求項
4記載の金属被覆電線の断面積比の調整方法。 - 【請求項6】 前記電解研磨は、 電解槽を連続的に通過させるように前記電線を長さ方向
に連続的に移動させることと、 前記電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置
かれた金属を陰極として、電解液を電気分解することに
よって、陽極となる前記電線の表層部を溶解させること
とを含む、請求項4記載の金属被覆電線の断面積比の調
整方法。 - 【請求項7】 前記第1の材料は超電導材料であり、前
記第2の材料は銅または銅合金である、請求項4記載の
金属被覆電線の断面積比の調整方法。 - 【請求項8】 第1の材料を含む芯線部と、芯線部を覆
う第2の材料からなる金属被覆層とを有する金属被覆電
線の、前記被覆層の表層部を、電解研磨により溶解し、
前記第1の材料からなる部分と前記第2の材料からなる
部分との断面積比を長さ方向に均一にする、金属被覆電
線の断面積比の均一化方法。 - 【請求項9】 前記電解研磨は、 電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置かれ
た金属を陰極として、電解液を電気分解することによっ
て、陽極となる前記電線の表層部を溶解させる、請求項
8記載の金属被覆電線の断面積比の均一化方法。 - 【請求項10】 前記電解研磨は、 電解槽を連続的に通過させるように前記電線を長さ方向
に連続的に移動させることと、 前記電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置
かれた金属を陰極として、電解液を電気分解することに
よって、陽極となる前記電線の表層部を溶解させること
とを含む、請求項8記載の金属被覆電線の断面積比の均
一化方法。 - 【請求項11】 前記電解液にかける電流の大きさを変
化させることによって、前記電線の表層部の溶解量を制
御する、請求項10記載の金属被覆電線の断面積比の均
一化方法。 - 【請求項12】 前記電線の移動速度を変化させること
によって、前記電線の表層部の溶解量を制御する、請求
項10記載の金属被覆電線の断面積比の均一化方法。 - 【請求項13】 前記第1の材料は超電導材料であり、
前記第2の材料は銅または銅合金である、請求項8記載
の金属被覆電線の断面積比の均一化方法。 - 【請求項14】 表面が金属からなる電線の表層部を電
解研磨によって除去することにより、前記電線の表面を
清浄にする、電線の清浄方法。 - 【請求項15】 前記電解研磨は、 電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置かれ
た金属を陰極として、電解液を電気分解することによっ
て、陽極となる前記電線の表層部を溶解させる、請求項
14記載の電線の清浄方法。 - 【請求項16】 前記電解研磨は、 電解槽を連続的に通過させるように前記電線を長さ方向
に連続的に移動させることと、 前記電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置
かれた金属を陰極として、電解液を電気分解することに
よって、陽極となる前記電線の表層部を溶解させること
とを含む、請求項14記載の電線の清浄方法。 - 【請求項17】 前記電線は、超電導材料を含む芯線部
と、その芯線部を覆う銅または銅合金からなる被覆層と
を含む、請求項14記載の電線の清浄方法。 - 【請求項18】 第2の材料からなる金属管内に第1の
材料を含む芯線となるべき材料を充填し、ビレットを作
製するステップと、 前記作製されたビレットを押出するステップと、 前記押出された押出体を伸線して金属被覆電線を作製す
るステップと、 前記電線の表層部を電解研磨によって除去するステップ
とを備える、金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項19】 前記電解研磨は、 電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置かれ
た金属を陰極として、電解液を電気分解することによっ
て、陽極となる前記電線の表層部を溶解させる、請求項
18記載の金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項20】 前記電解研磨は、 電解槽を連続的に通過させるように前記電線を長さ方向
に連続的に移動させることと、 前記電解槽中の前記電線を陽極にし、前記電解槽中に置
かれた金属を陰極として、電解液を電気分解することに
よって、陽極となる前記電線の表層部を溶解させること
とを含む、請求項18記載の金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項21】 前記電解研磨に先立って、前記電線の
長さ方向における第1の材料からなる部分と第2の材料
からなる部分との断面積比の分布状態を測定するステッ
プをさらに備える、請求項20記載の金属被覆電線の製
造方法。 - 【請求項22】 前記電線の表層部を電解研磨によって
除去するステップは、 前記測定した断面積比の分布状態に応じて表層部の除去
量を調節して、前記断面積比を長さ方向にわたって均一
にする、請求項21記載の金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項23】 前記表層部の除去量の調節は、前記電
解液にかける電流の大きさを変化させることによって行
なわれる、請求項22記載の金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項24】 前記表層部の除去量の調節は、前記電
線の移動速度を変化させことによって行なわれる、請求
項22記載の金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項25】 前記電解研磨後の電線をさらに伸線し
て、前記電線の線径を長さ方向に均一にするステップを
さらに備える、請求項22記載の金属被覆電線の製造方
法。 - 【請求項26】 前記電線は、超電導材料を含む芯線部
と、その芯線部を覆う銅または銅合金からなる被覆層と
を含む、請求項18記載の金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項27】 前記電解研磨の際、前記電線の表面電
流密度を1〜200A/dm2 とする、請求項19記載
の金属被覆電線の製造方法。 - 【請求項28】 第1の材料を含む芯線部と、この芯線
部を覆う第2の材料からなる金属被覆層とを有する金属
被覆電線の、第1の材料からなる部分と第2の材料から
なる部分との断面積比を非破壊で測定する装置であっ
て、 前記第1の材料および前記第2の材料の電気抵抗値を、
それぞれ予め記憶する手段と、 所定長さ領域の前記金属被覆電線に電流を流すための1
対の第1電極と、 前記1対の第1電極の内側に置かれ、前記所定長さ領域
の金属被覆電線に発生する電圧を測定するための1対の
第2電極と、 付与した電流値と測定した電圧値とに基づいて、 前記所定長さ領域における金属被覆電線の電気抵抗値を
算出する手段と、 予め記憶した第1の材料および第2の材料の電気抵抗値
と、実際に測定して算出した金属被覆電線の電気抵抗値
とに基づいて、前記所定長さ領域における第1の材料か
らなる部分と第2の材料からなる部分との断面積比を算
出する手段とを備える、金属被覆電線の断面積比の測定
装置。 - 【請求項29】 前記金属被覆電線をその長さ方向に連
続的に移動させる手段をさらに備え、前記金属被覆電線
の長さ方向における前記断面積比の分布を測定する、請
求項28記載の金属被覆電線の断面積比の測定装置。 - 【請求項30】 電解液を含む電解槽と、 前記電解槽中を連続的に通過させるように表面が金属か
らなる電線を長さ方向に連続的に移動させる手段と、 前記電線を陽極化する手段と、 前記電解槽中に配置された陰極となる金属部材と、 電解研磨によって前記電線の表層部を溶解させるため
に、前記電線と前記金属部材との間に電位差を生じさせ
る手段とを備える、電線の電解研磨装置。 - 【請求項31】 前記電線を移動させる手段は、その速
度を変更することができる手段を含む、請求項30記載
の電線の電解研磨装置。 - 【請求項32】 前記電解液における電流量を変更する
ことができる手段を含む、請求項30記載の電線の電解
研磨装置。 - 【請求項33】 第1の材料を含む芯線部と、この芯線
部を覆う第2の材料からなる金属被覆層とを有する金属
被覆電線の、第1の材料からなる部分と第2の材料から
なる部分との断面積比を長さ方向に均一にする装置であ
って、 前記第1の材料および前記第2の材料の電気抵抗値を、
それぞれ予め記憶する手段と、 所定長さ領域の前記金属被覆電線に電流を流すための1
対の第2電極と、 前記1対の第1電極の内側に置かれ、前記所定長さ領域
の金属被覆電線に発生する電圧を測定するための1対の
第2電極と、 付与した電流値と測定した電圧値とに基づいて、前記所
定長さ領域における金属被覆電線の電気抵抗値を算出す
る手段と、 予め記憶した第1の材料および第2の材料の電気抵抗値
と、実際に測定して算出した金属被覆電線の電気抵抗値
とに基づいて前記所定長さ領域における第1の材料から
なる部分と第2の材料からなる部分との断面積比を算出
する手段と、 電解液を含む電解槽と、 前記電線を陽極化する手段と、 前記電解槽中に配置された陰極となる金属部材と、 電解研磨によって前記電線の表層部を溶解させるため
に、前記電線と前記金属部材との間に電位差を生じさせ
る手段と、 前記断面積比の測定に続けて電解槽中を連続的に通過さ
せるように電線を長さ方向に連続的に移動させる手段
と、 前記断面積比の測定結果に応じて、前記電線の表層部を
溶解する量を制御する手段とを備える、金属被覆電線の
電解研磨装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00414794A JP3922728B2 (ja) | 1993-02-01 | 1994-01-19 | 金属被覆超電導線の製造方法および電解研磨装置 |
US08/189,404 US5507924A (en) | 1993-02-01 | 1994-01-31 | Method and apparatus for adjusting sectional area ratio of metal-covered electric wire |
FI940458A FI940458A (fi) | 1993-02-01 | 1994-01-31 | Menetelmä ja laite metallilla päällystetyn sähköjohtimen poikkipinnan suhteen säätämiseksi |
FR9401065A FR2703461B1 (fr) | 1993-02-01 | 1994-02-01 | Procédés et appareils de mesure, d'uniformisation, de réglage, de nettoyage, de fabrication et de polissage. |
FR9409029A FR2706615B1 (fr) | 1993-02-01 | 1994-07-21 | Procédé et appareil de mesure d'un rapport de sections entre deux matériaux faisant partie d'un fil électrique recouvert d'un métal . |
US08/599,454 US5602488A (en) | 1993-02-01 | 1996-01-22 | Method and apparatus for adjusting sectional area ratio of metal-covered electric wire |
US08/746,518 US5779864A (en) | 1993-02-01 | 1997-01-28 | Apparatus for adjusting sectional area ratio of metal-covered electric wire |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1473493 | 1993-02-01 | ||
JP5-14734 | 1993-02-01 | ||
JP5-69734 | 1993-03-29 | ||
JP6973493 | 1993-03-29 | ||
JP00414794A JP3922728B2 (ja) | 1993-02-01 | 1994-01-19 | 金属被覆超電導線の製造方法および電解研磨装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004060128A Division JP2004207251A (ja) | 1993-02-01 | 2004-03-04 | 金属被覆超電導線の断面積比の調整方法および製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06337202A true JPH06337202A (ja) | 1994-12-06 |
JP3922728B2 JP3922728B2 (ja) | 2007-05-30 |
Family
ID=27276137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00414794A Expired - Fee Related JP3922728B2 (ja) | 1993-02-01 | 1994-01-19 | 金属被覆超電導線の製造方法および電解研磨装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5507924A (ja) |
JP (1) | JP3922728B2 (ja) |
FI (1) | FI940458A (ja) |
FR (2) | FR2703461B1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018016768A1 (ko) * | 2016-07-21 | 2018-01-25 | (주)삼원산업사 | 산화물층이 형성된 알루미늄 전선 제조방법 |
RU194245U1 (ru) * | 2019-05-27 | 2019-12-04 | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ КАЗЕННОЕ ВОЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого МИНИСТЕРСТВА ОБОРОНЫ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ | Установка для измерения площади поперечного сечения нетокопроводящих жгутов волокон микропластика полимерных материалов |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT405060B (de) * | 1996-04-12 | 1999-05-25 | Andritz Patentverwaltung | Verfahren und vorrichtung zur elektrolytischen behandlung von durchlaufendem gut |
JP3171131B2 (ja) * | 1997-02-25 | 2001-05-28 | 住友電気工業株式会社 | 超電導線の臨界電流値を測定する方法および装置 |
AU2001260972A1 (en) * | 2000-01-20 | 2001-08-07 | American Superconductor Corporation | Pre-treatments for the encapsulation of superconducting composites |
DE10007567C2 (de) * | 2000-02-18 | 2003-08-07 | Graf & Co Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen eines Drahtes |
KR100371310B1 (ko) * | 2000-10-05 | 2003-02-07 | 한국과학기술원 | 전류밀도 제어를 이용한 전해가공방법 |
US7554317B2 (en) * | 2004-09-24 | 2009-06-30 | Superpower, Inc. | Critical current testing techniques for superconducting conductors |
CN100487823C (zh) * | 2005-06-17 | 2009-05-13 | 中国科学院电工研究所 | 高温超导电缆绕制机及电缆绕制方法 |
US7541213B2 (en) * | 2006-07-21 | 2009-06-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8305096B2 (en) * | 2006-10-30 | 2012-11-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Apparatus and method for measuring and monitoring layer properties in web-based processes |
JP6395102B2 (ja) * | 2014-07-24 | 2018-09-26 | 住友電気工業株式会社 | 超電導線材の臨界電流測定装置 |
DE102014014781A1 (de) * | 2014-10-10 | 2016-04-14 | Burster Cable Measurement Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des spezifischen Längenwiderstandes einer mehrdrähtigen Leitung |
CN104635056B (zh) * | 2015-02-06 | 2017-10-27 | 华南理工大学 | 一种用于计算三芯电缆中间接头压接管接触电阻的方法 |
US20210102309A1 (en) * | 2019-10-08 | 2021-04-08 | Lake Region Manufacturing, Inc. | Electropolishing of mp35n wire for fatigue life improvement of an implantable lead |
CN110823747B (zh) * | 2019-10-30 | 2022-02-22 | 西部超导材料科技股份有限公司 | 一种通过质量-电阻法测量wic镶嵌超导线铜超比方法 |
CN112432587A (zh) * | 2020-09-22 | 2021-03-02 | 国网江西省电力有限公司电力科学研究院 | 整盘电缆导体的长度截面判定方法 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2008046A (en) * | 1931-11-18 | 1935-07-16 | Trojan Powder Co | Method for the testing of detonating fuse |
US2725352A (en) * | 1950-07-21 | 1955-11-29 | Western Electric Co | Methods of and apparatus for dissolving surface projections, electropolishing and passivating metallic tapes |
US2725354A (en) * | 1951-10-18 | 1955-11-29 | Western Electric Co | Methods of and apparatus for electropolishing metallic articles |
GB726133A (en) * | 1952-10-09 | 1955-03-16 | Metro Cutanit Ltd | Improvements relating to the electrolytic treatment of metal wire and the like |
US2854626A (en) * | 1954-12-31 | 1958-09-30 | Davidson Martin | Plating thickness indicator |
US3630864A (en) * | 1967-06-19 | 1971-12-28 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method and apparatus for continuous electrolytic polishing of fine metal wires |
NL7008274A (ja) * | 1970-06-06 | 1971-12-08 | ||
US3740324A (en) * | 1971-01-29 | 1973-06-19 | Hughes Aircraft Co | Magnetic wire electropolishing process improvement |
US3936738A (en) * | 1974-01-02 | 1976-02-03 | Drexelbrook Controls, Inc. | Method of and apparatus for measuring the amount of coating material applied to substrates |
US4300094A (en) * | 1978-04-27 | 1981-11-10 | Micro Sensors, Inc. | Finish measuring method and apparatus |
SU876808A1 (ru) * | 1979-11-29 | 1981-10-30 | Харьковский Государственный Педагогический Институт Им.Г.С.Сковороды | Раствор дл электрохимического полировани изделий из ниоби |
US4287033A (en) * | 1980-04-14 | 1981-09-01 | Calspan Corporation | Electrochemical method for removing metallic sheaths |
DE3041552A1 (de) * | 1980-11-04 | 1982-10-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Messanordnung zum zerstoerungsfreien ermitteln der dicke einer metallischen oberflaechenschicht |
US4667149A (en) * | 1983-05-31 | 1987-05-19 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Precision nondestructive testing of metals |
GB8333355D0 (en) * | 1983-12-14 | 1984-01-18 | Rolls Royce | Metallic coating layer thickness |
FR2609333B1 (fr) * | 1987-01-06 | 1991-07-19 | Pechiney Aluminium | Dispositif de controle au defile de la continuite d'un revetement metallique sur un fil metallique de nature differente |
EP0380115B2 (en) * | 1989-01-26 | 2004-12-01 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Oxide superconducting wire |
KR0185154B1 (ko) * | 1991-01-16 | 1999-05-01 | 도모마쯔 겐고 | 선재의 연속 가공 방법 |
US5160589A (en) * | 1991-06-13 | 1992-11-03 | Michelangelo Gionfriddo | Procedure for the reduction of the cross-section of a wire |
-
1994
- 1994-01-19 JP JP00414794A patent/JP3922728B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1994-01-31 FI FI940458A patent/FI940458A/fi unknown
- 1994-01-31 US US08/189,404 patent/US5507924A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-02-01 FR FR9401065A patent/FR2703461B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1994-07-21 FR FR9409029A patent/FR2706615B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-01-22 US US08/599,454 patent/US5602488A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-01-28 US US08/746,518 patent/US5779864A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018016768A1 (ko) * | 2016-07-21 | 2018-01-25 | (주)삼원산업사 | 산화물층이 형성된 알루미늄 전선 제조방법 |
RU194245U1 (ru) * | 2019-05-27 | 2019-12-04 | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ КАЗЕННОЕ ВОЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого МИНИСТЕРСТВА ОБОРОНЫ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ | Установка для измерения площади поперечного сечения нетокопроводящих жгутов волокон микропластика полимерных материалов |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2706615B1 (fr) | 1998-02-06 |
US5779864A (en) | 1998-07-14 |
FR2703461A1 (fr) | 1994-10-07 |
FR2706615A1 (fr) | 1994-12-23 |
JP3922728B2 (ja) | 2007-05-30 |
FI940458A (fi) | 1994-08-02 |
US5507924A (en) | 1996-04-16 |
US5602488A (en) | 1997-02-11 |
FI940458A0 (fi) | 1994-01-31 |
FR2703461B1 (fr) | 1996-01-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3922728B2 (ja) | 金属被覆超電導線の製造方法および電解研磨装置 | |
US5679232A (en) | Process for making wire | |
RU2136787C1 (ru) | Медная проволока и способ изготовления медной проволоки | |
JP5344151B2 (ja) | Cu−Ag合金線の製造方法及びCu−Ag合金線 | |
US5071713A (en) | Metal fibers obtained by bundled drawing | |
US4079510A (en) | Method of manufacturing flexible electrical conductor | |
US5830583A (en) | Copper wire | |
JP2004207251A (ja) | 金属被覆超電導線の断面積比の調整方法および製造方法 | |
JP2001225228A5 (ja) | ||
US4052784A (en) | Method for the manufacture of a tubular conductor suitable for superconducting cables | |
KR20050092363A (ko) | 초전도체 와이어의 구리 대 초전도체 비를 증가시키기 위한방법 | |
JPH06943B2 (ja) | 被覆鋼線の製造方法 | |
US2422902A (en) | Method of electrolytically cleaning and plating conductors consisting principally of copper | |
TWI717122B (zh) | 線切割放電加工工件表面粗糙度預測方法 | |
DE2331925C3 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Verbunddrahtes mit einem Aluminiumkern und einer Niobhülle | |
US2725354A (en) | Methods of and apparatus for electropolishing metallic articles | |
JP3363858B2 (ja) | 光ファイバコネクタ用部品の製造方法 | |
JP2003215394A (ja) | フェルールの製造方法及びその装置 | |
US1071036A (en) | Method of process of producing hollow tapes, ribbons, or bands of metal. | |
CN110325297B (zh) | 铜线材的制造方法 | |
HU206525B (en) | Process and apparatus for producing microwire from colour metals first of all from aluminium | |
JP3383815B2 (ja) | 放電加工用パイプ電極およびその製造方法 | |
JPH0492316A (ja) | 化合物線状体の製造方法 | |
CN116180204A (zh) | 全自动精密铜线纳米覆层镀钯金设备 | |
CN116864197A (zh) | 一种高性能慢走丝线及其生产工艺 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040106 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040304 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040315 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040406 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20040709 |
|
RD07 | Notification of extinguishment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7427 Effective date: 20060424 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070105 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |