JPH0632886B2 - 水中ベルヌイピックアップを有する研磨システム - Google Patents

水中ベルヌイピックアップを有する研磨システム

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JPH0632886B2
JPH0632886B2 JP61504548A JP50454886A JPH0632886B2 JP H0632886 B2 JPH0632886 B2 JP H0632886B2 JP 61504548 A JP61504548 A JP 61504548A JP 50454886 A JP50454886 A JP 50454886A JP H0632886 B2 JPH0632886 B2 JP H0632886B2
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polishing
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cassette
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ダブリュ クロンクハイト・ポール
シー ボスレー・ブルース
エイチ ジョーンズ・ジェイムズ
ジー パテル・アシット
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モトロ−ラ・インコ−ポレ−テッド
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    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/34Accessories
    • B24B37/345Feeding, loading or unloading work specially adapted to lapping

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 本発明は一般に半導体ウェーハ処理設備に関し、更に詳
細には半導体装置の製作に使用するシリコンまたはその
他の材料から成る半導体ウェーハを研磨する装置に関す
る。
半導体装置は通常シリコンなどから作られる基板上に製
造される。基板すなわちウェーハは種々な大きさのイン
ゴットから薄切りされる。この薄切り工程で表面損傷が
生じ、得られるウェーハには厚さの変動や平行からのず
れが生ずる。ウェーハの平坦度と平行度とを改善し、の
こぎり跡や表面損傷が無いようにするには、ウェーハを
ラッピングあるいは研削、およびエッチングや研磨の工
程を通す。
ラップしたウェーハの粗面は通常エッチして下層面の損
傷を除去し、次いで研磨して平らな鏡面仕上げにしてか
ら半導体装置の処理を行うのに好適になる。研磨したウ
ェーハは欠陥があってはならず、特にウェーハをサブミ
クロンの装置に使用するときは、極度に平坦でなければ
ならない。
ウェーハの研磨は普通2部工程から成り、第1部、すな
わち1次研磨は、切り株(stock)の除去である。1次
研磨中、約17μmの材料が各ウェーハから取り去られ
る。次のステップすなわち最終研磨中には、非常にわず
かな量の材料しか除去されない。1次研磨と最終研磨と
は同じ形式の機械で行われるが用いるスラリーとパッド
とは異なる。最終研磨にかかる時間は1次研磨にかかる
時間の約20%に過ぎないから、最終研磨に使用される
機械1台について4または5台の1次研磨機が存在す
る。
現存する研磨機械は複雑な集積回路の始原材料として必
要な高品質の平坦仕上げ作り出すことができないことが
わかった。2%を超すウェーハが、1次研磨機からの取
外し中、ウェーハの輸送中、および最終研磨機への取付
け中に、ウェーハの人手による取扱いのために損傷する
ということもわかった。
したがって、1次研磨と最終研磨とを共に行うことがで
き、更にオペレータの取扱う量を最小限にして、大きな
直径の、極端に平らな、欠陥の無いウェーハを作ること
ができる自動研磨システムの必要性が存在する。
発明の概要 したがって、半導体ウェーハあるいは加工物を研磨する
改良された装置を提供するのが本発明の目的である。
本発明の他の目的は欠陥また破壊のため除却されるウェ
ーハを減らし、あるいは皆無にすることである。
本発明の更に他の目的は高精度、高確度、および優秀な
平坦度に半導体ウェーハを研磨することである。
前述の、およびその他の目的と利点とは、その一部とし
てロボットと付属のベルヌイピックアップとを活用する
本発明により達成される。ロボットとベルヌイピックア
ップとはウェーハをウェーハカセット処理システムの取
付け(load)および取外し(unload)ステーションから複数
のウェーハ研磨機の取付けおよび取外しステーションに
移すのに使用される。
少なくとも前記ウェーハカセット処理装置の取付けステ
ーションおよび前記ウェーハ研磨機の取外しステーショ
ンは水中に配置できるよう構成され、それによって研磨
されたウェーハの損傷がさらに的確に防止される。
図面の簡単な説明 第1図は本発明によるウェーハ研磨システムの上面図を
示す。
第2図は第1図のウェーハ研磨システムに使用するウェ
ーハカセット処理システムの上面図を示す。
第3図は第2図のウェーハカセット処理システムに設置
されている水中ロードステーションの側面図を示す。
第4図は第1図のウェーハ研磨システムに使用するベル
ヌイピックアップの側面図を示す。
実施例の詳細な説明 第1図は半導体ウェーハあるいは同様な加工物を自動的
に研磨する研磨機の上面図である。研磨システム10は
ウェーハをカセットウェーハ処理装置40から6台の単
頭ウェーハ研磨機60に移すのにベルヌイピックアップ
(Bernoulli pickup)30を有するロボット20を使用し
ている。
ロボット20はペンシルバニヤ州プルシャのU.S.Robot
of King 社から市販されているメーカ100/2型ロボ
ットでよい。ロボット20はロボット制御卓21により
ウェーハを個々の研磨機の取付けステーション61まで
運び、取外しステーション62から拾い上げるようにプ
ログラムされる。制御卓21はウェーハ処理装置40に
設置されている受取り部すなわち取付けステーションの
所定位置で、ロボット20がいつでも拾い上げることが
できるようになっているウェーハを見分ける。
ウェーハカセット処理装置40は、第2図に示すよう
に、カリフォルニヤ州サンホセのシリコンバレーグルー
プから得られる変形スクラバである。スクラバパネル4
1、カセットホルダ42、およびブラッシスクラバ43
だけが本来の機器の部分である。スクラバパネル41は
元来キャビネット45の側面に取付けられていたが、第
2図に示す位置に移動された。スラリフェイル装置48
は研磨機60がスラリー無しでウェーハを研磨しようと
することがないようにするものである。スラリーが無け
ればウェーハが損傷したり破壊したりする。フェイル装
置48はフェイル灯、リセットボタン、および主スラリ
ーおよび仕上げスラリー用の消音ボタンを備えている。
また圧力スイッチおよび各研磨機コンピュータとの接続
部を備えている。
ゲージ・パネル47はブラッシスクラバ43の圧力設定
値を示す。リセットパネルアセンブリ46はオペレータ
にロードアセンブリ49に設置されているカセットがウ
ェーハで満杯になっていることを知らせる。これにより
ロボット20がウェーハを更にカセットに入れるのを止
める。満杯のカセットを空のものに替えるとパネル46
のリセットボタンが作動して動作を開始する。ロードア
センブリ49を一層詳細に第3図に示す。
第3図は傾斜底51とあふれ井戸(well)52とを有する
ステンレス鋼の水槽50を備えたロードアセンブリ49
を示す。底51に案内棒53が取付けられている。ハン
ドルアセンブリ54と滑動台アセンブリ55とが案内棒
53にその長さを自由に滑るように取付けられている。
ウェーハカセットはウェーハをロボット20から受取る
ように滑動台アセンブリ55に載せられている。水槽5
0には水面56まで脱イオン水(D.I.)が満たされ
ていて滑動台アセンブリ55を沈めている。D.I.水
はろ過され、水槽50の下に設置されたポンプで再循環
される。
摩擦研磨機60(第1図)はキャビネットに取付けられ
ているサーボ駆動研磨アームを使用している。研磨アー
ムに接続されて加工物ホルトダがあり、これをウェーハ
チャックと呼ぶことがある。研磨アームに隣接して取付
けステーション61があり、これは加工物すなわちウェ
ーハを研磨アームおよび付属ウェーハチャックが拾い上
げるように位置ぎめする。取付けステーションの次にブ
ラッシステーションがあり、これは次のウェーハを拾い
上げる前にウェーハチャックの溝を自動的に掃除する。
ブラッシステーションの次に、キャビネットに取付けら
れているのは粗い材料の大部分を除去するのに使用され
る1次研磨ステーションである。1次研磨ステーション
と並んでウェーハの表面を仕上げるのに使用される最終
研磨ステーションがある。研磨サイクルの完了時に、研
磨アームは研磨したウェーハを最終研磨ステーションの
次に設置されている取外しステーション62に排出す
る。
第4図はベルヌイピックアップ30を示すが、これはロ
ボット20の腕に取付けられ、ロボット20と協同して
ウェーハをステーションからステーションへ移すのに使
用される。可撓管路がユニオン31によりピックアップ
30に接続されている。この管路は低圧空気に使用され
る。ステンレス鋼の管32は真空、低容積のD.I.水
および高容積のD.I.水を運ぶのに使用される。
提示した発明の形態では、1つまたは2つのウェーハカ
セットがカセットホルダ42(第2図)に載置されてお
り、ここでウェーハはウェーハの裏側を掃除するブラッ
シスクラバ43を通して自動的に送り込まれる。スクラ
バ43は次にウェーハを取外しステーション44に送
る。ステーション44の底にファイバ光学センサが組込
まれていて、ウェーハがいつでも拾い上げ得る状態にな
っているという信号をロボット20に送る。ロボット2
0は真空とベルヌイピックアップ30(第1図)とを使
用してウェーハを拾い上げる。いずれかの方法に動い
て、ロボット20はウェーハを働いている研磨機60の
最初の空の取付けステーション61に置く。ロボット2
0を働かせるには1台の研磨機が働いているだけでよ
い。いったんロボット20がウェーハを取付けステーシ
ョン61に引渡すと、研磨機60は、それ自身の独立の
コンピュータ装置を用いて、ウェーハの裏側を清掃し、
1次および最終研磨パッドを用いてウェーハの前面を研
磨し、ウェーハを取外しステーション62に引渡す。
取外しステーション62に置かれているウェーハはステ
ーション62の底から放出される水のジェットにより水
中に漂っている。底にはウェーハが拾い上げ準備が完了
していることをロボット20に知らせるファイバ光学セ
ンサも設置されている。ウェーハは取外しステーション
62の中に漂っていて、研磨した表面が、これは下向き
になっているが、損傷しないようにしている。引掻き傷
を防止するため、ロボット20はステーション62の水
面下、ウェーハのちょうど上でピックアップ30を停止
するようにプラグラムされている。高圧水流がピックア
ップ30から6秒間放出される。ベルヌイ効果のため、
低圧域がウェーハとピックアップ30との間に作られ、
ピックアップ30に続いてウェーハが引き上げられる。
6秒後水流が遮断され、真空が働く。ウェーハをピック
アップ30に充分近接して確実に接触する。
ウェーハを取外しステーション62から回収した後、ロ
ボット20は自身でウェーハ処理装置40の前方に戻
り、ウェーハを水中取付けステーション49の2つのカ
セットのうちの1つに投入する。ロボット20は入れる
べきスロットの直上約1.5インチにピックアップ30
を位置ぎめしてカセットを取付ける。ウェーハを解放す
るには、真空を遮断し、ピックアップ30を通して低圧
水流を送る。ウェーハはピックアップ30を滑り落ちて
カセットのスロットに入る。ウェーハを数えながら、ロ
ボット20は最初のカセットに一杯になるまでロード
し、次いで第2のカセットにロードし始める。最初のカ
セットが研磨したウェーハで一杯になると、ロボット2
0はパネルアセンブリ46の音声および/まはは可視信
号によりオペレータに通知する。ハンドルアセンブリ5
4を使用して満杯のカセットを水から引き上げ、回転乾
燥機(spin dryer)に載置する。空のカセットは滑動台ア
センブリ55に載置されて水中の低い位置まで戻る。空
のカセットへの取付けを開始するには、リセットパネル
アセンブリ46のリセットボタンを作動させる。
このようにして、半導体材料を研磨する改良された装置
が提供されたことが明らかである。これは一部にはロボ
ットおよび付属のベルヌイピックアップ、および水中取
付けステーションを有するウェーハカセット処理装置に
より実現される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジョーンズ・ジェイムズ エイチ アメリカ合衆国アリゾナ州 85029、フェ ニックス、ウエスト・デザート・コーブ 1621 (72)発明者 パテル・アシット ジー アメリカ合衆国アリゾナ州 85224、チャ ンドラー、ウエスト・チルトン・ストリー ト 607

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】腕を有するロボットと、 該ロボットの腕に装着されたベルヌイピックアップと、 水中に配置された取付けステーションを有するウェーハ
    カセット処理装置と、 水を入れることができる取外しステーションを有しウェ
    ーハが水中で前記取外しステーションから取外すことが
    できるようにした複数のウェーハ研磨機であって、前記
    ベルヌイピックアップはウェーハを該研磨機の取外しス
    テーションから前記ウェーハ処理装置の取付けステーシ
    ョンに移すために使用されるもの、 を具備することを特徴とする半導体ウェーハの研磨装
    置。
  2. 【請求項2】前記ウェーハカセット処理装置の取付けス
    テーションは、 傾斜底を有する水槽と、 前記水槽の底に設置された案内棒と、 前記案内棒に装着されたハンドルアセンブリと、 前記ハンドルアセンブリに装着された滑動台アセンブリ
    と、 を具備する請求の範囲第1項に記載の装置。
  3. 【請求項3】前記滑動台アセンブリは水を入れることが
    できる、請求の範囲第2項に記載の装置。
  4. 【請求項4】取付けステーションと取外しステーション
    との間でウェーハを移動するためのピックアップを有す
    るロボットアームを使用した半導体ウェーハの研磨方法
    であって、 ウェーハのカセットをウェーハ処理装置に取付ける段階
    と、 前記ウェーハを前記ウェーハ処理装置に設置されている
    ブラッシスクラバで掃除する段階と、 前記ウェーハを前記ウェーハ処理装置の水中の取外しス
    テーションに送る段階と、 ウェーハピックアップを使用したロボットアームによっ
    て前記ウェーハをウェーハ処理装置の取外しステーショ
    ンから得る段階であって、前記ウェーハピックアップは
    ウェーハが前記ピックアップの方向に移動するようにベ
    ルヌイ効果によって低圧力領域を生成するための高圧力
    流を与えるものと、 前記ウェーハをウェーハ研磨機の水中の取付けステーシ
    ョンに投入する段階と、 前記ウェーハを前記ウェーハ研磨機で研磨する段階と、 を具備することを特徴とする半導体ウェーハの研磨方
    法。
JP61504548A 1985-11-01 1986-08-25 水中ベルヌイピックアップを有する研磨システム Expired - Lifetime JPH0632886B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

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US793818 1985-11-01
US06/793,818 US4653231A (en) 1985-11-01 1985-11-01 Polishing system with underwater Bernoulli pickup
PCT/US1986/001724 WO1987002608A1 (en) 1985-11-01 1986-08-25 Polishing system with underwater bernoulli pickup

Publications (2)

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JPS63501203A JPS63501203A (ja) 1988-05-12
JPH0632886B2 true JPH0632886B2 (ja) 1994-05-02

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EP (1) EP0245289B1 (ja)
JP (1) JPH0632886B2 (ja)
DE (1) DE3685491D1 (ja)
HK (1) HK81895A (ja)
SG (1) SG139794G (ja)
WO (1) WO1987002608A1 (ja)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH658216A5 (fr) * 1985-09-06 1986-10-31 Bula & Fils Mach Procede de finissage de pieces moulees ou usinees et centre de finissage pour la mise en oeuvre de ce procede.
US5885138A (en) 1993-09-21 1999-03-23 Ebara Corporation Method and apparatus for dry-in, dry-out polishing and washing of a semiconductor device
KR100390293B1 (ko) * 1993-09-21 2003-09-02 가부시끼가이샤 도시바 폴리싱장치
US5938504A (en) * 1993-11-16 1999-08-17 Applied Materials, Inc. Substrate polishing apparatus
US5643053A (en) 1993-12-27 1997-07-01 Applied Materials, Inc. Chemical mechanical polishing apparatus with improved polishing control
US5582534A (en) * 1993-12-27 1996-12-10 Applied Materials, Inc. Orbital chemical mechanical polishing apparatus and method
US5650039A (en) * 1994-03-02 1997-07-22 Applied Materials, Inc. Chemical mechanical polishing apparatus with improved slurry distribution
US5733175A (en) * 1994-04-25 1998-03-31 Leach; Michael A. Polishing a workpiece using equal velocity at all points overlapping a polisher
US5679060A (en) * 1994-07-14 1997-10-21 Silicon Technology Corporation Wafer grinding machine
US5534106A (en) * 1994-07-26 1996-07-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Apparatus for processing semiconductor wafers
US5607341A (en) * 1994-08-08 1997-03-04 Leach; Michael A. Method and structure for polishing a wafer during manufacture of integrated circuits
DE19544328B4 (de) * 1994-11-29 2014-03-20 Ebara Corp. Poliervorrichtung
US5830045A (en) * 1995-08-21 1998-11-03 Ebara Corporation Polishing apparatus
US5804507A (en) * 1995-10-27 1998-09-08 Applied Materials, Inc. Radially oscillating carousel processing system for chemical mechanical polishing
US7097544B1 (en) * 1995-10-27 2006-08-29 Applied Materials Inc. Chemical mechanical polishing system having multiple polishing stations and providing relative linear polishing motion
US5738574A (en) * 1995-10-27 1998-04-14 Applied Materials, Inc. Continuous processing system for chemical mechanical polishing
JP3696690B2 (ja) * 1996-04-23 2005-09-21 不二越機械工業株式会社 ウェーハの研磨装置システム
US6213853B1 (en) 1997-09-10 2001-04-10 Speedfam-Ipec Corporation Integral machine for polishing, cleaning, rinsing and drying workpieces
GB9921879D0 (en) * 1999-09-17 1999-11-17 Interpole Limited Method to obtain metallic lead either from lead ores or from exhausted lead-acid storage batteries
KR20070058445A (ko) 2004-07-02 2007-06-08 스트라스바흐, 인코포레이티드 웨이퍼 처리 방법 및 시스템
NZ571914A (en) * 2008-10-10 2011-05-27 Xiaoqi Chen Non-contact lifting and locomotion device
CA2857213C (en) * 2013-08-10 2016-11-22 Taizhou Federal Robot Technology Co., Ltd. A surface processing system for a work piece
CN104015230B (zh) * 2014-06-23 2015-12-30 台州联帮机器人科技有限公司 一种工件表面的加工系统及加工方法
US10777436B2 (en) * 2015-04-29 2020-09-15 Applied Materials, Inc. High speed rotary sorter
US11705354B2 (en) 2020-07-10 2023-07-18 Applied Materials, Inc. Substrate handling systems

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59156666A (ja) * 1984-02-03 1984-09-05 Supiide Fuamu Kk 平面研削装置におけるワ−クの自動装填機構

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3701222A (en) * 1971-12-13 1972-10-31 Richardson Co Continuous sheet graining process
DE2429421C2 (de) * 1974-06-19 1981-12-10 Vits-Maschinenbau Gmbh, 4018 Langenfeld Vorrichtung zum Anheben des oberen Bogens eines Stapels mit Blasluft
DE2451549A1 (de) * 1974-10-30 1976-08-12 Mueller Georg Kugellager Belade- und entladevorrichtung fuer plattenfoermige halbleitermaterialien
US4141180A (en) * 1977-09-21 1979-02-27 Kayex Corporation Polishing apparatus
US4184292A (en) * 1978-03-24 1980-01-22 Revlon, Inc. Vacuum chuck
JPS57154854A (en) * 1981-03-20 1982-09-24 Hitachi Ltd Processing device for plate type material
JPS57154835A (en) * 1981-03-20 1982-09-24 Hitachi Ltd Method and apparatus for drying tabular material
FR2505712A1 (fr) * 1981-05-18 1982-11-19 Procedes Equip Sciences Ind Sa Machine a polir automatique, pour plaquettes minces, fragiles et deformables
JPS58157141A (ja) * 1982-03-13 1983-09-19 Fuji Seiki Seizosho:Kk リ−ドフレ−ムケ−ス連続送出し装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59156666A (ja) * 1984-02-03 1984-09-05 Supiide Fuamu Kk 平面研削装置におけるワ−クの自動装填機構

Also Published As

Publication number Publication date
US4653231A (en) 1987-03-31
EP0245289A1 (en) 1987-11-19
JPS63501203A (ja) 1988-05-12
HK81895A (en) 1995-06-01
SG139794G (en) 1995-01-13
EP0245289B1 (en) 1992-05-27
WO1987002608A1 (en) 1987-05-07
EP0245289A4 (en) 1989-01-24
DE3685491D1 (de) 1992-07-02

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