JPH0632838A - tert−ブトキシカルボニル基で部分エステル化されたp−ヒドロキシスチレン−スチレンランダム共重合体及びその製造方法 - Google Patents

tert−ブトキシカルボニル基で部分エステル化されたp−ヒドロキシスチレン−スチレンランダム共重合体及びその製造方法

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JPH0632838A
JPH0632838A JP21467192A JP21467192A JPH0632838A JP H0632838 A JPH0632838 A JP H0632838A JP 21467192 A JP21467192 A JP 21467192A JP 21467192 A JP21467192 A JP 21467192A JP H0632838 A JPH0632838 A JP H0632838A
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JP
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hydroxystyrene
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copolymer
styrene
random copolymer
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JP21467192A
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English (en)
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Osamu Watanabe
修 渡辺
Motoyuki Yamada
素行 山田
Fujio Yagihashi
不二夫 八木橋
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 酸で容易に脱離される基を有することからア
ルカリ現像できると共に、単分散性で高現像性及び高解
像度を有し、機能性高分子としてレジスト材料等の用途
に好適なポリマーを提供する。 【構成】 重量平均分子量(Mw)/数平均分子量
(Mn)が1.01〜1.5の単分散性のヒドロキシス
チレンとスチレンとのランダム共重合体中のポリヒドロ
キシスチレン部の水酸基を部分的にtert−ブトキシ
カルボニル化して、下記構造式(1),(2)及び
(3)で示される繰り返し単位を有し、かつ分子量分布
が重量平均分子量(Mw)/数平均分子量(Mn)=1.
01〜1.5であるポリp−ヒドロキシスチレン部の水
酸基がtert−ブトキシカルボニル基で部分エステル
化されたp−ヒドロキシスチレン−スチレンランダム共
重合体を得る。 【化1】

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はLSI用のレジスト材等
として好適に用いられるポリp−ヒドロキシスチレン部
の水酸基がtert−ブトキシカルボニル基で部分エス
テル化された単分散性のp−ヒドロキシスチレン−スチ
レンランダム共重合体及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
高解像度のリソグラフィー用或いはLSI用として使用
するレジスト材料用ベースポリマーとしては、機能性高
分子が多用されている。特に近年のLSIにおける高密
度化の進展に伴い、レジスト材料については益々高解像
度及び高現像性が要求されるようになり、このような要
求に応え得る機能性高分子としては従来はノボラック樹
脂が主流に使用されていたが、最近においてはこれに代
わるものとして化学増幅タイプのレジスト材料が種々検
討されている。
【0003】上記化学増幅タイプのレジスト材料におい
ては、特に作業性の観点から酸によって容易に脱離する
官能基を有すると共に、その官能基の脱離前後での溶解
性が異なるものが賞用されている。このようなレジスト
材料としては耐プラズマ性に優れているポリスチレン誘
導体が特に好適なものとして知られている。
【0004】これらのポリマーをレジスト用ベースポリ
マーとして使用する場合には、その分子量や分子量分布
がレジストの現像特性及び解像度に大きな影響を与える
が、これらのポリマーは通常のラジカル重合法や縮重合
法により得られる多分散ポリマーであって、はじめから
分子量や分子量分布を制御するということが配慮されて
いないので、レジストの現像性及び解像度を高めるた
め、分別という手法を用いて分子量の制御を行ってい
る。
【0005】しかしながら、分別という手法は操作が複
雑であるのみならず、時間がかかるという欠点がある
上、厳しくなる要求性能に対して十分に追随することが
困難であるので、問題解決の本質的手段にはなり得ない
ものであった。
【0006】従って、レジスト材料用ベースポリマーと
して好適な高品質のポリマーの開発が望まれていた。
【0007】本発明は上記要望に応えるためなされたも
ので、酸によって容易に脱離する官能基を有するので、
その官能基の脱離前後での溶解性が異なることで高現像
性及び高解像度を有し、レジスト材料等として有用なポ
リp−ヒドロキシスチレン部の水酸基がtert−ブト
キシカルボニル基で部分エステル化したp−ヒドロキシ
スチレン−スチレンランダム共重合体及びその製造方法
を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明者は上記
目的を達成するため鋭意検討を重ねた結果、下記構造式
(4)で示されるスチレンと下記構造式(5)で示され
るp−tert−ブトキシスチレンとをリビング重合さ
せた後、分子中のtert−ブチル基を脱離させること
により、重量平均分子量(Mw)/数平均分子量(Mn
が1.01〜1.5の単分散性のp−ヒドロキシスチレ
ンとスチレンとのランダム共重合体が得られること、そ
して該ランダム共重合体中のポリp−ヒドロキシスチレ
ン部の水酸基を部分的にtert−ブトキシカルボニル
化することにより、下記構造式(1),(2)及び
(3)で示される繰り返し単位を有し、かつ分子量分布
がMw/Mn=1.01〜1.5であるポリp−ヒドロキ
シスチレン部の水酸基がtert−ブトキシカルボニル
基で部分エステル化されたp−ヒドロキシスチレンとス
チレンとの単分散性ランダム共重合体が得られること、
この方法は分子量の制御が容易であり、かつ確実にMw
/Mn=1.01〜1.5の単分散性のランダム共重合
体を与えるものであると共に、このようにして得られた
単分散性ランダム共重合体が酸によって容易に脱離し得
るtert−ブトキシカルボニル基を有し、アルカリで
容易に現像することができる上、単分散性で分別という
面倒な手法を行わなくても高現像性及び高解像度を有
し、それ故、機能性高分子としてレジスト材料用ベース
ポリマー等の用途に好適に利用できることを知見し、本
発明をなすに至った。
【0009】
【化2】
【0010】従って、本発明は、上記構造式(1),
(2)及び(3)で示される繰り返し単位を有し、かつ
分子量分布が重量平均分子量(Mw)/数平均分子量
(Mn)=1.01〜1.5であることを特徴とするポ
リp−ヒドロキシスチレン部の水酸基がtert−ブト
キシカルボニル基で部分エステル化されたp−ヒドロキ
シスチレン−スチレンランダム共重合体、及び重量平均
分子量(Mw)/数平均分子量(Mn)が1.01〜1.
5の単分散性のp−ヒドロキシスチレンとスチレンとの
ランダム共重合体中のポリp−ヒドロキシスチレン部の
水酸基を部分的にtert−ブトキシカルボニル化する
上記p−ヒドロキシスチレン−スチレンランダム共重合
体の製造方法を提供する。
【0011】以下、本発明につき更に詳述すると、本発
明のランダム共重合体は、下記構造式(1),(2)及
び(3)で示される繰り返し単位を有するポリp−ヒド
ロキシスチレン部の水酸基がtert−ブトキシカルボ
ニル基で部分エステル化されたものである。
【0012】
【化3】
【0013】ここで、上記式(1),(2)及び(3)
の繰り返し単位は任意の割合で含有してよいが、通常は
重量分率が0.01≦構造式(1)≦99.98,0.
01≦構造式(2)≦99.98,0.01≦構造式
(3)≦99.98、(1)+(2)+(3)=1とな
るような割合で含有することが好ましく、特に本発明の
ランダム共重合体をレジスト材として使用する場合は、
レジストの現像時における溶解性の差の観点から20≦
(1)≦99.98,0.01≦(2)≦50,0.0
1≦(3)≦80、より好ましくは50≦(1)≦9
9.98,0.01≦(2)≦20,0.01≦(3)
≦45とすることが好適である。
【0014】更に、上記ランダム共重合体において、分
子中の水酸基のt−ブトキシカルボニル基による部分エ
ステル化の割合は、ポリp−ヒドロキシスチレン部に対
して0.1〜80%(重量%、以下同様)、特に5〜4
5%であることが好ましい。
【0015】本発明の上記p−ヒドロキシスチレンとス
チレンとのランダム共重合体は、Mw/Mnが1.01〜
1.5、好ましくは1.01〜1.3の範囲となるよう
な分子量分布を有する単分散性のものである。Mw/Mn
が1.01に満たないものは技術的に合成困難であり、
1.5を超えるとレジスト材料として利用できる程度の
高解像度、高現像度を得ることができない。なお、重量
平均分子量(Mw)は光散乱法により、また、数平均分
子量(Mn)は膜浸透圧計を用いて測定することができ
る。
【0016】更に、上記ランダム共重合体の平均分子量
は特に制限されるものではないが、レジスト材料として
使用する場合は、一般に数平均分子量が500〜50
0,000の範囲、特に3,000〜300,000の
範囲であることが好ましい。数平均分子量が500未満
ではレジスト材料として膜強度が無い場合があり、50
0,000を超えると現像特性、相溶性に問題があり、
高解像度、高現像度を得ることができない場合がある。
【0017】なお、上記分子量分布の評価はゲルパーミ
ェーションクロマトグラフィー(GPC)によって行う
ことができ、分子構造は1H−NMRスペクトルによっ
て容易に確認することができる。
【0018】本発明において上述した単分散性の部分エ
ステル化p−ヒドロキシスチレン−スチレンランダム共
重合体は、以下に示す如く単分散性p−ヒドロキシスチ
レン−スチレンランダム共重合体の水酸基をt−ブトキ
シカルボニル基によって部分的にエステル化することに
より容易に得ることができる。
【0019】ここでまず、単分散性のp−ヒドロキシス
チレンとスチレンとのランダム共重合体は、下記構造式
(4)で示されるスチレンと下記構造式(5)で示され
るt−ブトキシスチレンの両モノマーをリビング重合さ
せた後、分子中のt−ブチル基を脱離することによって
得ることができる。
【0020】
【化4】
【0021】また、上記モノマーのリビング重合に際し
ては、重合開始剤として有機金属化合物を用いることが
好ましい。有機金属化合物としては、例えばn−ブチル
リチウム、sec−ブチルリチウム、t−ブチルリチウ
ム、ナトリウムナフタレン、アントラセンナトリウム、
α−メチルスチレンテトラマージナトリウム、クミルカ
リウム、クミルセシウム等の有機アルカリ金属などが挙
げられる。なお重合開始剤の添加量は、生成するポリマ
ーの分子量に依存しており、分子量とモノマーの重量か
ら算出される。
【0022】リビング重合は一般に有機溶媒中で行うこ
とが望ましい。有機溶媒としては芳香族炭化水素、環状
エーテル、脂肪族炭化水素溶媒等が例示され、具体例と
してベンゼン、トルエン、テトラヒドロフラン、ジオキ
サン、テトラヒドロピラン、ジメトキシエタン、n−ヘ
キサン、シクロヘキサン等が挙げられる。これらの有機
溶媒はそれぞれ単独で使用しても2種以上を組み合わせ
て使用してもよい。なお、上記両モノマー(4),
(5)の有機溶媒中の濃度は、1〜50%、特に1〜3
0%とすることが好ましい。
【0023】反応は高真空下又はアルゴン、窒素等の不
活性ガス雰囲気下で撹拌して行うことが好ましい。反応
温度は−100℃から使用した有機溶媒の沸点温度まで
の間で自由に選択することができるが、特にテトラヒド
ロフラン溶媒では−78℃〜0℃、ベンゼン溶媒では室
温で反応させることが好ましい。また、反応は通常約1
0分〜20時間行うことが好適である。
【0024】反応の停止は、例えばメタノール、水、メ
チルブロマイド等の停止剤を反応系に添加することによ
って行う。次いで、得られた反応混合溶液を適当な溶
剤、例えばメタノール中に沈澱せしめ、洗浄、乾燥する
ことにより、重合反応によって生成したポリマーを精
製、単離することができる。なお、このようにリビング
重合反応を行うと、上記式(4)及び(5)のモノマー
中のビニル基のみが選択的に反応して重合し、下記構造
式(6)及び(7)で示される繰り返し単位を有するラ
ンダム共重合体が得られる。
【0025】
【化5】
【0026】このようにして得られる共重合体は、単分
散性で分子量分布Mw/Mnが1.01〜1.5のもので
ある。
【0027】なお、上記反応におけるポリマーの収率は
ほぼ100%であるので、得られるポリマーの分子量は
使用したモノマーの重量と重合開始剤のモル数(分子
数)から容易に算出できる。
【0028】次に、上記式(6)及び(7)で示される
繰り返し単位を有するランダム共重合体中のt−ブチル
基を脱離させることにより、下記構造式(8)及び
(9)で示されるフェノール残基構造単位を有するp−
ヒドロキシスチレンとスチレンとのランダム共重合体が
得られる。
【0029】
【化6】
【0030】上記のt−ブチル基の脱離反応は、ジオキ
サン、アセトン、アセトニトリル、ベンゼン等の単独又
は混合溶媒中で塩酸、臭化水素酸等の酸を滴下すること
によって容易に行うことができる。これらの反応におい
ては、高分子の主鎖が切断されたり、分子間に架橋反応
が起こるということがないので、前駆体であるp−t−
ブトキシスチレンとスチレンとのランダム共重合体の分
子量分布がそのまま維持されて、分子量分布の狭い単分
散のp−ヒドロキシスチレンとスチレンとのランダム共
重合体を得ることができる。
【0031】なおこの場合、酸の添加量はポリp−t−
ブトキシスチレンと等モル以上添加すればよい。
【0032】更に、上述の単分散のp−ヒドロキシスチ
レンとスチレンとのランダム共重合体のポリp−ヒドロ
キシスチレン部の水酸基を部分的にt−ブトキシカルボ
ニル化する反応は、通常のt−ブトキシカルボニル化反
応と同様にして容易に行うことができる。
【0033】例えば、t−ブトキシカルボニル化試薬と
してクロロギ酸−t−ブチル、ジ−t−ブチルカーボネ
ート、t−ブトキシカルボニルチオ−(4,6−ジメチ
ルピルジン)、t−ブチルペンタクロロフェニルカーボ
ネート、2−(t−ブトキシカルボニルオキシイミノ)
−2−フェニルアセトニトリル等を使用し、かつ酸トラ
ップ溶媒としてピリジン、テトラエチルアミン等を用い
て、単分散のポリp−ヒドロキシスチレン部の水酸基を
部分的にt−ブトキシカルボニル化する。この場合、必
要に応じてジメチルアミン、4−N,N−ジメチルアミ
ノピリジン等をt−ブトキシカルボニル化触媒として反
応系に添加してもよい。なお、t−ブトキシカルボニル
化試薬の使用量は、t−ブトキシカルボニル化率に比例
量であり、t−ブトキシカルボニル化触媒の添加量は触
媒量とすることができる。更に酸トラップ溶媒の使用量
は、t−ブトキシカルボニル化試薬と等モルが好適であ
る。
【0034】また、カリウム−t−ブトキシドを用い
て、p−ヒドロキシスチレンとスチレンとのランダム共
重合体をカリウム塩にし、これをジ−t−ブチルジカー
ボネートと反応させる方法によっても単分散のp−ヒド
ロキシスチレンとスチレンとのランダム共重合体を部分
的にt−ブトキシカルボニル化することができる。な
お、本発明におけるt−ブトキシカルボニル化反応は上
記反応に限定されるものではない。
【0035】このようにして得られる本発明の部分エス
テル化単分散性p−ヒドロキシスチレン−スチレン共重
合体のt−ブトキシカルボニル化率は、1H−NMRス
ペクトルによって容易に確認することができるもので、
このt−ブトキシカルボニル化率は、上述したようにレ
ジストの現像時における溶解性の差の観点からポリヒド
ロキシスチレンに対して0.1〜80%、特に5〜45
%の範囲であることが好ましい。
【0036】
【発明の効果】本発明のt−ブトキシカルボニル基で部
分エステル化されたp−ヒドロキシスチレン−スチレン
ランダム共重合体は分子量分布が狭い上、分子量を任意
に制御することができるので、高解像度のレジスト材料
等の感光性高分子材料として好適である。また、本発明
の製造方法によれば、上記単分散性のt−ブトキシカル
ボニル基部分エステルのp−ヒドロキシスチレンとスチ
レンとのランダム共重合体をその分子量を任意にかつ容
易に制御して工業的に有利に製造することができる。
【0037】
【実施例】以下、実施例を示し本発明を更に詳述する
が、本発明は下記実施例に限定されるものではない。
【0038】〔実施例〕単分散性のp−ヒドロキシスチレンとスチレンとのラン
ダム共重合体の合成 3リットルのフラスコに溶媒としてテトラヒドロフラン
2300ml、開始剤としてn−ブチルリチウム8×1
-3モルを仕込み、混合した。得られた混合溶液を−7
8℃に冷却した後、この溶液にp−tert−ブトキシ
スチレン95gとスチレン5gとを混合した溶液を添加
し、2時間撹拌しながら重合反応を行わせたところ、反
応溶液は赤色を呈した。次いで、得られた反応溶液に反
応停止剤としてメタノールを添加して重合反応を停止さ
せた後、この溶液をメタノール中に注ぎ、得られた重合
体を沈澱させ、分離乾燥させたところ、白色の重合体1
00gが得られた。
【0039】得られた重合体の1H−NMRの測定結果
は下記の通りである。 1.4〜2.2ppm:(ブロード,3H,−C2
−) 1.3〜1.6ppm:(ブロード,9H,−OC(C
33 ) 6〜7ppm: (ブロード,4H,C6 4
【0040】1H−NMR測定結果から、上記の共重合
体はスチレン5%及びp−tert−ブトキシスチレン
95%からなる共重合体であることが確認された。
【0041】また、膜浸透圧測定法によって数平均分子
量を測定したところ、1.2×104g/モルであっ
た。更に、GPC溶出曲線の結果から、単分散性が極め
て高い(Mw/Mn=1.15)ことが確認された。な
お、図1にGPC溶出曲線の結果を示す。
【0042】次いで、上記共重合体100gをアセトン
2000mlに加えて溶解させた後、60℃で少量の濃
塩酸を添加した。得られた溶液を8時間撹拌した後、こ
の溶液を水中に注ぎ、洗浄・乾燥させたところ、ポリマ
ー69gが得られた。
【0043】膜浸透圧測定法によりこのポリマーの数平
均分子量を測定したところ7600g/モルであった。
また、このポリマーの分子量分布をGPCにより評価し
た結果は図2に示した通りであり、極めて単分散性の高
い共重合体であることが確認された。更に、ここで得ら
れたポリマーの1H−NMRの測定結果からtert−
ブチル基に由来するピークが観測されなかったので、ポ
リマーがポリp−ヒドロキシスチレンとポリスチレンと
の共重合体であって、tert−ブチル基を全く有して
いないことが確認された。
【0044】tert−ブトキシカルボニル基で部分エ
ステル化されたp−ヒドロキシスチレンとスチレンとの
ランダム共重合体の合成 上記リビング重合で得られたp−ヒドロキシスチレンと
スチレンとのランダム共重合体(分子量7600、分子
量分布1.15)50gをピリジン700mlに溶解さ
せ、45℃で撹拌しながら二炭酸ジ−t−ブチルを20
g添加した。添加と同時にガスが発生したが、更にN2
気流中で一時間反応させた。濃塩酸5gを含む水1リッ
トルに反応液を滴下し、白色の沈澱を得た。ろ過した
後、アセトン50mlに沈澱溶解させ、水1リットルに
滴下した。沈澱をろ過した後、40℃以下で真空乾燥し
た。
【0045】得られたポリマーは前記式(1),(2)
及び(3)の繰り返し単位を有するもので、1H−NM
Rにおける8ppmのOH基のピークを用いてtert
−ブトキシカルボニル基の導入率を求めた結果、20.
5%であり、また分子量分布は1.15であった。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例で得られたp−tert−ブトキシスチ
レンとスチレンとのランダム共重合体のGPC溶出曲線
を示すグラフである。
【図2】実施例で得られたヒドロキシスチレンとスチレ
ンとのランダム共重合体のGPC溶出曲線を示すグラフ
である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八木橋 不二夫 神奈川県川崎市高津区坂戸3丁目2番1号 信越化学工業株式会社コーポレートリサ ーチセンター内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記構造式(1),(2)及び(3)で
    示される繰り返し単位を有し、かつ分子量分布が重量平
    均分子量(Mw)/数平均分子量(Mn)=1.01〜
    1.5であることを特徴とするポリp−ヒドロキシスチ
    レン部の水酸基がtert−ブトキシカルボニル基で部
    分エステル化されたp−ヒドロキシスチレン−スチレン
    ランダム共重合体。 【化1】
  2. 【請求項2】 重量平均分子量(Mw)/数平均分子量
    (Mn)が1.01〜1.5の単分散性のp−ヒドロキ
    シスチレンとスチレンとのランダム共重合体中のポリp
    −ヒドロキシスチレン部のランダム水酸基を部分的にp
    −tert−ブトキシカルボニル化する請求項1記載の
    p−ヒドロキシスチレン−スチレンランダム共重合体の
    製造方法。
JP21467192A 1992-07-20 1992-07-20 tert−ブトキシカルボニル基で部分エステル化されたp−ヒドロキシスチレン−スチレンランダム共重合体及びその製造方法 Pending JPH0632838A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115260667B (zh) * 2022-08-25 2024-03-22 浙江理工大学 一种纳米粒子填充聚合物纳米复合材料及其制备方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115260667B (zh) * 2022-08-25 2024-03-22 浙江理工大学 一种纳米粒子填充聚合物纳米复合材料及其制备方法

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