JPH0631150U - 半導体回路装置 - Google Patents

半導体回路装置

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Publication number
JPH0631150U
JPH0631150U JP071817U JP7181792U JPH0631150U JP H0631150 U JPH0631150 U JP H0631150U JP 071817 U JP071817 U JP 071817U JP 7181792 U JP7181792 U JP 7181792U JP H0631150 U JPH0631150 U JP H0631150U
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JP
Japan
Prior art keywords
resin
guard ring
semiconductor circuit
circuit element
bonding
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Pending
Application number
JP071817U
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English (en)
Inventor
伸悦 伊勢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Chemi Con Corp
Original Assignee
Nippon Chemi Con Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Chemi Con Corp filed Critical Nippon Chemi Con Corp
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Publication of JPH0631150U publication Critical patent/JPH0631150U/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】半導体回路素子を封止するための樹脂が半田パ
ットまで流出しないようにする。 【構成】プリント基板8の上に実装した半導体回路素子
1とボンディングパット2の第1にガードリング31を
形成するとともに、その第1ガードリング31の外側で
半田パット6に隣接した位置にも第2のガードリング3
2を形成した。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は半導体回路装置に関し、特に半導体回路素子を樹脂封止する際のガ ードリングに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、半導体回路装置の分野では、プリント基板に直接半導体回路素子を 実装し、プリント基板の上の導電パターンと直接結線するいわゆるチップオンボ ードが知られている。このチップオンボードの工程は次のようになる。
【0003】 図3に示すように絶縁性の有機基材からなるプリント配線板8の上に導電パタ ーン5をフォトエッチング等に手段により形成する。この導電パターン5と連続 してダイボンディンク領域を設け、このダイボンディング領域の上に半導体回路 素子1を接着固定する。そして前述のダイボンディング領域の外周には導電パタ ーン5の先端、すなわちボンディングパット2を配置する。そして半導体回路素 子1側の電極と前述のボンディングパット2をアルミニウムや金よりなるボンデ ィングワイヤ7で電気的に接続する。
【0004】 そして、半導体回路素子1とボンディングワイヤ7の機械的な保護や、汚染に 対しての保護を目的として、半導体回路素子1の周辺に樹脂4の注入し封止を行 う。一般に、半導体回路素子1の周囲には樹脂4の流れ止めのためにガードリン グ3が形成されている。このガードリング3は印刷等の手段により、半導体回路 素子1を囲むように形成される。そして、このガードリング3が堰の役割を果た し、樹脂4が流れ出すのを防止する作用を持つようになる。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
ところで、樹脂を注入する工程においては樹脂4を注入する際の気温や湿度等 の環境によって樹脂4の粘性が変化する場合がある。樹脂4の粘性が変化すると 、例えば樹脂4の粘性が柔らかくなった場合では、注入する樹脂4の量が所望の 値よりも多くなったりすることがある。そうするとプリント基板8に形成したガ ードリング3では堰き止めることができずに、ガードリング3の外まで樹脂4が 流れ出てしまうことがあった。また、樹脂を注入する工程ではガードリング3に よって樹脂4を堰き止めることができても、樹脂4が硬化する前にプリント基板 8に振動が加わり、樹脂4がガードリング3より流れ出すこともあった。
【0006】 図4に示すように、ガードリング3から樹脂4が流れ出すと、流れ出した樹脂 4が隣接する半田パット6まで流れてしまい、半田パット6を被覆してしまうお それがあった。このように半田パット6が被覆されてしまうと、その後の工程で 電子部品を適正に実装することができなくなり、極めて不都合なものとなってい た。
【0007】 そこで、この考案では、半導体回路素子を封止するための樹脂が半田パットま で流れ出ないようにすることを目的とする。
【0008】
【課題を解決しようとする手段】
この考案では、プリント基板上に実装した半導体回路素子とその半導体回路素 子の電極と電気的に接続するために半導体回路素子の周囲に設けたボンディング パットの外側に、前記半導体回路素子およびボンディングパットを封止する樹脂 の流れ止めのために第1のガードリングを形成し、さらにその第1のガードリン グの外側で所望の位置に第1のガードリングを乗り越えて溢れ出した樹脂の流れ 止めのための第2のガードリングを形成したことを特徴とする。
【0009】
【作用】
この考案では、半導体回路素子を囲むように第1のガードリングを形成し、さ らにその第1のガードリングの外側の所望の位置、例えば半田パットの半導体回 路素子側と隣接する所に第2のガードリングを設けたので、第1のガードリング では樹脂を堰き止めることができずに樹脂が溢れ出したとしても、溢れ出した樹 脂は第2のガードリングによって堰き止められ、半田パットまで流れ出ることが ない。
【0010】 また、外側のガードリングは所望の位置、すなわち必要に応じて形成すること ができるために、外側のガードリングの形成のためには必要最小限の面積ですみ 、半導体回路装置が大型化することがない。
【0011】
【実施例】
次に図面とともにこの考案について詳細に説明する。図1はこの考案の半導体 回路装置の樹脂で封止する前の状態を示す図面、図2はこの考案の半導体回路装 置で樹脂を注入した際に樹脂がガードリングより流れ出した状態を示す図面であ る。
【0012】 セラミック等の絶縁材料からなるプリント基板8には設計仕様に基づいて導電 パターン5が形成されている。この導電パターン5はチップ部品を実装するため の半田パット6や、スルーホール等に連絡している。
【0013】 そして図1に示すように、導電パターン5と連続して半導体回路素子1を実装 するためのダイボンディング領域が形成されており、さらにダイボンディング領 域と隣接してチップ部品を実装するための半田パット6が形成されている。また 、導電パターン5と連続して半導体回路素子1の電極と電気的に接続するための ボンディングパット2をダイボンディング領域の周囲に配置した。
【0014】 その後に、プリント基板8に樹脂の流れ止めのためのガードリング31、32 を形成する。ガードリング31、32はプリント基板8へ印刷法により形成した 。その第1のガードリング31の形状は、前述のダイボンディング領域の周囲に 配置したボンディングパット2を全て囲むように形成し、さらにその第1のガー ドリング31の外側で半田パット6に隣接する位置にも第2のガードリング32 を形成した。
【0015】 そして、ダイボンディング領域に半導体回路素子1を接着固定し、半導体回路 素子1の電極とボンディングパット2を従来より知られているワイヤボンディン グ法により接続し、半導体回路素子1とボンディングパット2の電気的な接続を 得る。その後に、半導体回路素子1、ボンディングワイヤ7及びボンディングワ イヤ7とボンディングパット2の接続部を機械的に保護するために半導体回路素 子1の周辺に樹脂4を適量注入する。ここで用いる樹脂4はエポキシ樹脂等の熱 硬化性の樹脂を用いる。そして樹脂4を注入したプリント基板8は加熱炉等に入 れて、樹脂4を硬化させ封止工程を終了する。
【0016】 この考案によると、図2に示すように、樹脂4をプリント基板8に注入した際 に樹脂4の注入量が所望の値よりも多く注入されて第1のガードリング31より 樹脂4が流れ出した場合や、樹脂4を注入したプリント基板8を硬化工程へ移送 する際に振動が加わり、第1のガードリング31より樹脂が流れ出した場合でも 第2のガードリング32によって樹脂が堰き止められるようになる。
【0017】
【考案の効果】
この考案によれば、半導体回路素子とその周囲に設けられたボンディングパッ トを囲むように第1のガードリングを形成するとともに、その第1のガードリン グの外側の所望の位置にも第2のガードリングを形成したので、第1のガードリ ングより樹脂が流れ出したとしても、第2のガードリングによって堰き止められ るようになる。したがって、流れ出た樹脂が半田パットやその他の樹脂が付着す ることが好ましくないところへ及ぶ事がなくなるので、製品の歩留りの向上及び 信頼性の向上を図ることができる。
【0018】 また、第2のガードリングは所望の位置にのみ形成するために、第2のガード リングの占める面積は必要最小限の大きさですみ、半導体回路装置が大型化する ことがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の半導体回路装置の樹脂封止する前の
状態を示す図面である。
【図2】この考案の半導体回路装置で樹脂の注入した際
に樹脂が流れ出した状態を示す図面である。
【図3】従来例の半導体回路装置の樹脂封止する前の状
態を示す図面である。
【図4】従来例の半導体回路装置で樹脂の注入した際に
樹脂が流れ出した状態を示す図面である。
【符号の説明】
1 半導体回路素子 2 ボンディングパット 3 ガードリング 31 第1のガードリング 32 第2のガードリング 4 樹脂 5 導電パターン 6 半田パット 7 ボンディングワイヤ 8 プリント基板

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】プリント基板上に実装した半導体回路素子
    と該半導体回路素子の電極と電気的に接続するために前
    記半導体回路素子の周囲に設けたボンディングパットの
    外側に、前記半導体回路素子およびボンディングパット
    を封止する樹脂の流れ止めのための第1のガードリング
    を形成するとともに、前記第1のガードリングの外周の
    所望の位置に第1のガードリングを乗り越えて溢れだし
    た樹脂の流れ止めのための第2のガードリングを形成し
    た半導体回路装置。
JP071817U 1992-09-21 1992-09-21 半導体回路装置 Pending JPH0631150U (ja)

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JP071817U JPH0631150U (ja) 1992-09-21 1992-09-21 半導体回路装置

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JP071817U JPH0631150U (ja) 1992-09-21 1992-09-21 半導体回路装置

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JPH0631150U true JPH0631150U (ja) 1994-04-22

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ID=13471493

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JP071817U Pending JPH0631150U (ja) 1992-09-21 1992-09-21 半導体回路装置

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