JPH06302647A - 半導体電子部品 - Google Patents

半導体電子部品

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Publication number
JPH06302647A
JPH06302647A JP8968193A JP8968193A JPH06302647A JP H06302647 A JPH06302647 A JP H06302647A JP 8968193 A JP8968193 A JP 8968193A JP 8968193 A JP8968193 A JP 8968193A JP H06302647 A JPH06302647 A JP H06302647A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reliability
tape
stress
electronic component
tab tape
Prior art date
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Pending
Application number
JP8968193A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruhiko Ito
輝彦 伊藤
Shozo Nakamura
省三 中村
Toshiharu Ishida
寿治 石田
Akio Hasebe
昭男 長谷部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP8968193A priority Critical patent/JPH06302647A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】TABテープを用いた電子部品の単体の信頼性
や接続信頼性を向上させること。 【構成】TABテープを用いた電子部品に切り込みを入
れることにより、部品製造時、搭載時、使用時に加わる
集中応力を緩和し、電子部品の単体の信頼性や接続信頼
性を向上させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はTABテープを用いた電
子部品の形状及び接続プロセスに関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のTABテープを用いたQu
ad Flatleaded Package(4方向
端子列パッケージ、以下「QFP」という)の構造を示
したものである。ベースフィルム1に接着剤で銅箔をラ
ミネートし、エッチング工程を経て電極2を構成する。
その後、チップ3をボンディングし、ポッティングレジ
ン4、またはパッケージモールドを行い、製造を完了す
る。
【0003】従来、このようなTABテープを用いた電
子部品では、部品製造時や部品搭載時、および使用時な
どに、電子部品自身やリード部分の、特にコーナ部や左
右端部に応力が集中し、リード断線、接続不良などを引
き起こしていた。
【0004】そのため、部材どうしの熱膨張係数を同じ
にする、部材の剛性を上げる、もしくは応力が集中する
箇所にダミーリードを設けるなどして信頼性の向上を計
っていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】TABテープを用いた
電子部品は、高機能、小形、軽量、高密度実装などのニ
ーズから、出力リードは狭ピッチ化の傾向にある。この
ため接続用のリードはより細く、より薄くなってきてお
り、上記のようにチップ搭載時の応力、部品製造時の応
力、基板への接続後に加わる応力などにより、リード
(銅箔等)が破断する、接続部の信頼性が低下するなど
の問題があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題を解
決するために、TABテープを用いた電子部品に切り込
みを入れている。このことにより応力を分散させて緩和
し、リードの断線等を防止してTABテープを用いた電
子部品の信頼性やその接続信頼性などを向上させてい
る。
【0007】
【作用】TABテープを用いた電子部品の応力集中箇所
に切り込みを入れることにより、そこに加わる様々な集
中応力を緩和し、電子部品の信頼性や接続信頼性等を向
上させている。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図を用いて説明す
る。
【0009】図1は、本発明による実施例である、TA
Bテープを用いたQFPの構造を示したものである。こ
の図に示すように、各電極2間のベースフィルム1にイ
ンナーリードから接続部のリードまで切り込み5を入
れ、チップ3の接続後の残留応力や使用時の発生応力を
低減しTABテープを用いた電子部品の単体の信頼性や
接続信頼性などを向上させている。
【0010】図3から図5はTABテープを用いたTa
pe Carrier Package(ベースフィル
ムにドライバLSIをTABによって搭載したもの、以
下「TCP」という)の場合の実施例である。図3に
は、このTCPのリード線6の中で2本を代表として示
した。図4では、リード線6に垂直になるように切り込
み5(黒く示してある部分全て)を設け、リード線6に
かかる応力を緩和している。図5では、図に示すよう
に、切り込み5を広く設け、リード線6がベースフィル
ム1に接する部分を小さくすることによって、上記のご
とく応力を低減し、信頼性を向上させている。
【0011】
【発明の効果】本発明を用いることによって、TABテ
ープを用いた電子部品の単体の信頼性や接続信頼性を向
上させることができ、この部品を使用している全ての製
品の信頼性に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるTABテープを用いたQFP構造
の実施例を示す図である。
【図2】従来のTABテープを用いたQFPの構造図で
ある。
【図3】従来のTABテープを用いたTCPの構造図で
ある。
【図4】本発明によるTABテープを用いたTCP構造
の実施例その1を示す図である。
【図5】本発明によるTABテープを用いたTCP構造
の実施例その2を示す図である。
【符号の説明】
1…ベースフィルム、 2…電極、 3…チップ、 4…ポッティングレジン、 5…切り込み、 6…リード線。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長谷部 昭男 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所生産技術研究所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】Tape Automated Bond
    ing(テープキャリア方式による自動ボンディングシ
    ステム、以下「TAB」という)テープを用いた電子部
    品において、チップ接続部分や基板への接続端子などの
    応力集中箇所に切り込みを設けることを特徴とする半導
    体電子部品。
  2. 【請求項2】請求項1のTABテープを用いた電子部品
    において、電極配線部分などの必要以外のテープ部分に
    切り込みを設けることを特徴とする半導体電子部品。
JP8968193A 1993-04-16 1993-04-16 半導体電子部品 Pending JPH06302647A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0896368A4 (en) * 1997-01-23 2000-03-01 Seiko Epson Corp FILM SUPPORT STRIP, SEMICONDUCTOR ASSEMBLY AND DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, MOUNTING PLATE AND ELECTRONIC EQUIPMENT

Cited By (4)

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US6175151B1 (en) 1997-01-23 2001-01-16 Seiko Epson Corporation Film carrier tape, semiconductor assembly, semiconductor device, and method of manufacturing the same, mounted board, and electronic instrument
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