JPH06302635A - 樹脂封止型半導体装置の製法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置の製法

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JPH06302635A
JPH06302635A JP8850193A JP8850193A JPH06302635A JP H06302635 A JPH06302635 A JP H06302635A JP 8850193 A JP8850193 A JP 8850193A JP 8850193 A JP8850193 A JP 8850193A JP H06302635 A JPH06302635 A JP H06302635A
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JP
Japan
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resin
lead frame
semiconductor device
package
dam
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Pending
Application number
JP8850193A
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English (en)
Inventor
Takao Miwa
崇夫 三輪
Masahiro Suzuki
正博 鈴木
Akio Takahashi
昭雄 高橋
Teruo Kitamura
輝夫 北村
Hiroyuki Hozoji
裕之 宝蔵寺
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】多ピン化に対応した樹脂封止型半導体装置の品
質向上と製造工程の簡略化。 【構成】予め各ピンが分離した構造のリードフレーム6
のタブ1に半導体チップを搭載し、前記タブ1の周辺に
多数配置されたインナーリード2と前記半導体チップと
をワイヤボンディングしてレジンモールドによりパッケ
ージを形成する樹脂封止型半導体装置の製法であって、
前記リードフレーム6の前記パッケージの外周部にモー
ルドレジンのダムバー5を感光性樹脂を用いて形成し、
該感光性樹脂を光硬化することを特徴とする樹脂封止型
半導体装置の製法。 【効果】光硬化性樹脂のダムバーを形成したことによ
り、リードフレームの変形が防止され、モールド時のレ
ジンのアウターリード3への洩れが防止でき、高品質の
樹脂封止型半導体装置を安定供給できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂封止型半導体装置
の製法に関する。
【0002】
【従来の技術】樹脂封止型半導体装置のレジンモールド
によるパッケージ構造は、リードフレームのタブに半導
体チップを搭載,接着した後、半導体チップとリードフ
レームをワイヤボンディング等により電気的に接続す
る。その後、半導体チップ及びリードフレームのボンデ
ィング部を保護する目的でパッケージの外形に合わせて
モールドレジンで封止を行う。モールドはリードフレー
ムの上下からパッケージの外形に合わせた金型を押し当
て、そこに加熱溶融して粘度の低下したモールドレジン
を注入する。モールドレジンは、一定時間経過すると硬
化しパッケージが完成する。
【0003】このレジンモールド時に、レジンが金型と
リードフレームの隙間からパッケージの外部に流出する
のを防ぐために、リードフレーム上にパッケージの外形
に合わせてダムバーと呼ばれるレジン止めが、エッチン
グにより施されている。パッケージの組立て工程では、
樹脂封止後、外部端子となるアウターリードを形成する
ために、前述のダムバーをリード幅に合わせて切断す
る。このダムバー切断により各リード間は電気的に隔離
される。その後、アウターリード部をウィング状に成形
してパッケージが完成する。
【0004】しかし、近来のLSIの高集積化等に伴う
ピン数の増化により、ピン間隔が狭くなって従来のプレ
ス切断が適用できなくなってきている。このようなダム
切断工程を必要としない半導体パッケージの製法として
は、特開平2−122660号,特開昭58−2884
1号あるいは特開平4−69961号公報に開示されて
いるように、耐熱性有機フィルムを用いてダムバーを形
成する方法がある。
【0005】また、特開平4−206560号公報に
は、300℃以上の耐熱性を有する有機高分子材料から
なるダムバーを形成することが開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】現在、レジンモールド
法を用いたプラスチクパッケージ中で、特に、ロジック
やマイクロコンピュータ等に多く使用されるQFP(Q
uad Flat Package)においては、多ピン化の要求が高
く、また、パケージサイズも制限されているために、ア
ウターリードの間隔を狭くするピッチの微細化が進んで
おり、現在、0.3mm以下のピッチのアウターリード
を用いたQFPの開発が進められている。
【0007】この0.3mm以下のピッチのリードフレ
ームを有するQFPを安定して得るには、0.2mm以
下の切断精度が必要となるが、こうした微細な切断加工
技術の工業的な実用化は困難である。
【0008】今後、ますます多ピン化が進展することは
明らかで、それに伴うアウターリードピッチの微細化を
考えた場合、従来のダムバーを有するリードフレームを
用いて、モールド後にダムを切断してパケージを完成さ
せる方法を適用することは極めて困難であると考えられ
る。
【0009】こうしたダム切断工程を必要としないもの
としては、前記の耐熱性有機フィルムを用いてダムバー
を形成する方法があるが、リードフレームとの間の隙間
を完全に埋めることができないため、モールドレジンの
洩れやはみ出しを十分に防止できないと云う問題があ
る。
【0010】また、ダムバーに300℃以上の耐熱性を
有する有機高分子材料を用いた場合には、ダムバー形成
時の加熱により熱応力が発生してリードフレームが変形
すると云う問題がある。
【0011】更にまた、粘着性の有機接着剤を有する材
料では、接着層の耐熱性が問題となり、モールドレジン
の漏れを完全に防げないと云う問題がある。
【0012】本発明の目的は、前記課題を解決したダム
バーを形成し、高信頼性の樹脂封止型半導体装置の製法
を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、各ピンが
分離した構造のリードフレームに、絶縁性で、かつ、リ
ードフレームとの隙間を十分埋めることができる光硬化
性樹脂のダムを設けることにより、ダム切断工程の不用
なパッケージの形成方法を完成した。
【0014】本発明の要旨は、リードフレームのタブに
半導体チップを搭載し、前記タブの周辺に多数配置され
たインナーリードと前記半導体チップとをワイヤボンデ
ィングしてレジンモールドによりパッケージを形成する
樹脂封止型半導体装置の製法であって、前記リードフレ
ームの前記パッケージの外周部にモールドレジンのダム
を感光性樹脂を用いて形成し、該感光性樹脂を光硬化す
ることを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製法にあ
る。
【0015】即ち、リードフレーム上に、絶縁性でパッ
ケージとリードフレーム間の隙間を埋めてモールドレジ
ンの洩れるのを防止する感光性樹脂からなるダムを形成
することにある。
【0016】上記ダムのダムバーとしては、ダムを形成
した後の耐熱温度が樹脂封止温度(例えば170℃)以
上であり、リードフレームとの隙間を完全に埋めて樹脂
モールドの工程でモールドレジンが外部へ洩れて流出す
るのを防止でき、しかも、リードフレームに歪等の変形
を与えないものである。こうしたダムバー材料として
は、光硬化性エポキシ樹脂などの感光性樹脂がある。
【0017】前記光硬化性樹脂は、ダム形成部分に樹脂
あるいはその溶液を塗布(印刷、ポッティング)してダ
ムバーを形成し、光硬化性基の反応可能な紫外線等の光
を照射することによって目的を達成できる。また光硬化
性ドライフィルムを用いても同様に達成できる。特に、
溶液状の光硬化性樹脂は、フィルム形成等の装置を必要
としないので経済的である。また、光硬化性樹脂フィル
ムは取扱性がよいので当該半導体装置の工業的な量産に
適している。
【0018】前記光硬化性樹脂は、熱硬化性樹脂を用い
た場合と比べ、低温でしかも短時間に目的とするダムを
形成できる。こうした光硬化性樹脂の例としては、アデ
カオプトマーKRM,アデカオプトマーBY,アデカオ
プトマーKR,アデカオプトマーKS等の各種シリーズ
(旭電化工業株式会社製)が挙げられる。
【0019】また、前記光硬化性樹脂フィルムの例とし
てはフォテック(日立化成社製),リストン(duPo
ut社製),VACREL(duPout社製),VA
NX(富士写真フイルム株式会社製),オザテック(H
oechest社製),サンフォート(旭化成社製),
日合アルフォ(日本合成化学工業株式会社製),ラミナ
ー(ダイナケムコーポレーション製),ネオトロック
(日東電気工業株式会社製)等が挙げらあれる。
【0020】
【作用】光硬化性樹脂を用いて絶縁性ダムを形成するこ
とにより、ダム切断工程が不要となるので、高集積度の
樹脂封止型半導体装置のパッケージングが容易となる。
【0021】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
【0022】〔実施例1〕図1に本発明の一実施例を示
す。一般に、リードフレーム6は、半導体チップを搭
載,固着させるタブ1と、該タブ1を支持しているタブ
吊りリード4と、タブ1の周辺に多数配設されたインナ
ーリード2(半導体チップとの間でワイヤボンッディン
グされるリード)と、レジンパケージから外部に引出さ
れたアウターリード3とを備えている。
【0023】上記リードフレームを用いた半導体装置の
組立ては、一般に、リードフレーム6のタブ1に半導体
チップを搭載,固着後、チップのボンディングパット部
とインナーリード2とをコネクタワイヤによりボンディ
ングして電気的に接続後、樹脂モールドを行い、次い
で、アウターリード3を所定の形状に折り曲げ、成形す
る工程で行われる。
【0024】本実施例では、ダムバー5として光硬化性
樹脂からなる絶縁性のダムバーを形成した。光硬化性樹
脂として液状光硬化性樹脂であるアデカオプトマーBY
−300B(旭電化工業株式会社製)を用いた。
【0025】従来、モールドレジンがアウターリード部
に流出するのを防止するため、ダムバーがエッチングな
どによって施されていた。本実施例では金属製ダムバー
の代わりに光硬化性樹脂を用いたもので、該光硬化性樹
脂は塗型により所定部分に塗布し高圧水銀灯によって硬
化した。硬化は室温で行い硬化によるリードフレーム6
の変形は殆ど認められず、リードフレーム6と光硬化性
樹脂からなるダムバー5は完全に密着していた。
【0026】図2は、図1のA−A'部の部分断面模式
図で、光硬化性樹脂からなる絶縁性のダムバー5はアウ
ターリード2と密着して形成される。なお、図2におい
ては、ダムバー5はアウターリード2よりも肉厚に形成
されている場合を示したが、図3の模式図に示すように
アウターリード2の厚さと同じでもよい。
【0027】また、図4はダムバーを形成したリードフ
レーム6をパッケージ形成用の金型内に装填した金型の
部分断面模式図であるが、ダムバー5はその一部が金型
8のモールドレジンのキャビティ9内に在るように設置
するのが望ましい。
【0028】なお、半導体チップはインナーリード2と
ワイヤボンディングを行なってから金型内へ装填され
る。また、光硬化されたダムバー5は、金型8,8'に
よって押圧して十分に密着後、キャビティ9内に加熱,
溶融されて粘度の下がったモールドレジンを注入した。
これによってダムバー5によりモールドレジンが洩れる
のが防止され、また、金型を外してもリードフレーム6
の周辺にバリの発生は全く認められなかった。
【0029】また、上記ダムバーは、必要に応じてリー
ドフレーム6の両面に形成することができる。
【0030】〔実施例2〕実施例1における液状感光性
樹脂に代えて、光硬化性樹脂フイルムとしてフォテック
ーSR−3000(日立化成社製)を用いダムを形成し
た。
【0031】光硬化性フイルムは、予めダムバー5の形
状に成形したものを、通常のフィルムラミネータを用い
てリードフレーム6上の所定の位置に配置し、高圧水銀
灯を用いて硬化した。硬化条件は75℃で10分保持し
て硬化させた。
【0032】該フィルムは、実施例1同様に硬化後もリ
ードフレーム6の変形は認められず、リードフレーム6
とも完全に密着していた。
【0033】また、レジンモールド後、リードフレーム
6の周辺でのバリの発生は全く認められなかった。
【0034】〔比較例1〕実施例2の光硬化性樹脂フィ
ルムに代えて、ポリイミド接着フィルムAS200I
(日立化成社製)を用いてダムを形成した。フィルムは
ダムバー5の形に成形し所定位置に配置して、250
℃,20kg/cm2,30分の条件でプレスし成形し
た。プレス後室温に戻したところ、リードフレーム6が
変形した。また、接着フィルムとリードフレーム6が剥
離し、レジンモールド時に金型とリードフレーム6との
合わせ目からレジンが洩れてリードフレーム6の周辺に
大きいバリが多発した。
【0035】〔比較例2〕実施例2の光硬化性樹脂フィ
ルムに代えて粘着層を設けたポリイミドフィルムをリー
ドフレーム6に貼り付けダムバー5としたが、レジンモ
ールド時にポリイミドフィルムの粘着層が溶融し、レジ
ンの洩れを防止できなかったために、リードフレーム6
の周辺に多くのバリが発生した。
【0036】〔比較例3〕実施例2の光硬化性樹脂フィ
ルムに代えて熱可塑性ポリイミドであるLARC−TP
I(三井東圧化学社製)フィルムを用い、同様にダムを
形成した。250℃,20kg/cm2,30分の条件
でプレス後、室温に戻したところ、リードフレーム6が
変形した。また、フィルムとリードフレーム6が剥離
し、レジンモールドによりリードフレーム6の周辺に大
きいバリが多発した。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、光硬化性樹脂を用いて
ダムバーを形成することにより、リードフレームの変形
を防止することができ、かつ、リードフレームとの密着
性に優れたダムバーを形成することができる。これによ
って、モールド時のレジンのアウターリード部への洩れ
が防止できる。また、これまでのようにモールド後にダ
ムバーを切断する必要がないので、高品質の樹脂封止半
導体装置の安定供給が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すダムバーを設けたリー
ドフレームの平面模式図である。
【図2】図1のA−A'断面の一実施例の部分断面模式
図である。
【図3】図1のA−A'断面の他の実施例の部分断面模
式図である。
【図4】本発明の一実施例におけるモールド金型の部分
断面模式図である。
【符号の説明】
1…タブ、2…インナーリード、3…アウターリード、
4…タブ吊りリード、5…ダムバー、6…リードフレー
ム、8,8'…モールド金型、9…キャビティ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北村 輝夫 東京都青梅市今井町2326番地 株式会社日 立製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 宝蔵寺 裕之 東京都青梅市今井町2326番地 株式会社日 立製作所デバイス開発センタ内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各ピンが分離した構造のリードフレーム
    のタブに半導体チップを搭載し、前記タブの周辺に多数
    配置されたインナーリードと前記半導体チップとをワイ
    ヤボンディングしてレジンモールドによりパッケージを
    形成する樹脂封止型半導体装置の製法であって、前記リ
    ードフレームの前記パッケージの外周部にモールドレジ
    ンのダムを感光性樹脂を用いて形成し、該感光性樹脂を
    光硬化することを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製
    法。
  2. 【請求項2】 各ピンが分離した構造のリードフレーム
    のタブに半導体チップを搭載し、前記タブの周辺に多数
    配置されたインナーリードと前記半導体チップとをワイ
    ヤボンディングしてレジンモールドによりパッケージを
    形成する樹脂封止型半導体装置の製法であって、前記リ
    ードフレームの前記パッケージの外周部にモールドレジ
    ンのダムをフィルム状の感光性樹脂を用いて形成し、該
    感光性樹脂フィルムを光硬化することを特徴とする樹脂
    封止型半導体装置の製法。
JP8850193A 1993-04-15 1993-04-15 樹脂封止型半導体装置の製法 Pending JPH06302635A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002343816A (ja) * 2001-05-18 2002-11-29 Lintec Corp 樹脂タイバー形成用テープ、樹脂タイバー、樹脂タイバー付リードフレーム、樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002343816A (ja) * 2001-05-18 2002-11-29 Lintec Corp 樹脂タイバー形成用テープ、樹脂タイバー、樹脂タイバー付リードフレーム、樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

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