JPH06295963A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

半導体装置及びその製造方法

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JPH06295963A
JPH06295963A JP8090093A JP8090093A JPH06295963A JP H06295963 A JPH06295963 A JP H06295963A JP 8090093 A JP8090093 A JP 8090093A JP 8090093 A JP8090093 A JP 8090093A JP H06295963 A JPH06295963 A JP H06295963A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】放熱板又は放熱ブロックを介して放熱を行う露
出型放熱方式の半導体装置において、放熱板又は放熱ブ
ロックと樹脂との密着性を上げしかも放熱板又は放熱ブ
ロックの樹脂表面に露出する部分を大きくし放熱効果を
上げ安定した半導体装置の稼働と高放熱特性を持つ安価
な半導体装置とその製造方法を得る。 【構成】放熱板又は放熱ブロックの外径にU字溝を入れ
る、又IC素子載置部へ返しの有る底付き穴を設ける。
板又はブロックの樹脂表面に露出する部分にモールド金
型エジェクターピンと同一位置に底付き穴を設ける。 【効果】樹脂封止する際にU字溝及び返しの部分に樹脂
が喰い付き板又はブロックと樹脂との密着性が向上す
る。底付き穴を設ける事によりモールド金型のエジェク
ターピンに統制される事なく放熱板又は放熱ブロックを
大きくできる。また、板又はブロックとモールド樹脂と
の密着性を上げ界面からの吸湿を防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置とその製造方
法に係わり、更に詳しくはパッケージの放熱性及び樹脂
封止する際の樹脂の密着性更には信頼性に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図4、図5、図6は従来の露出型放熱方
式の1例であり半導体装置の平面図、断面図、樹脂封止
する際の金型にセットした時の一部断面図である。
【0003】図4は従来の露出型放熱方式の半導体装置
を上から見た図であり、放熱板又は放熱ブロック2がエ
ジェクタ痕16の内側となっている。
【0004】図5においてポリイミド等の耐熱絶縁接着
テープ3でインナーリード1と放熱板又は放熱ブロック
2とを固定する、次に放熱板又は放熱ブロック2のIC
載置部にIC素子4を銀ペーストで固定しIC素子4の
ボンディングパッド、リードフレームインナーリード1
とをワイヤー5で接続する。その後モールド工程にて樹
脂6で封止しアウターリード7を折り曲げて端子とし露
出型放熱方式の半導体装置が製造される。
【0005】図6は露出型放熱方式の半導体装置を樹脂
封止する際の金型にセットした時の状態である。樹脂6
を金型へ圧入硬化後モールド金型下型9を下げる、同時
にモールド金型上型8に装着されているモールド金型上
型エジェクターピン10を突き下げ半導体装置をモール
ド金型下型に付着させる、モールド金型下型9が下がり
きった時点でモールド金型下型エジェクターピン11が
上昇しモールド金型下型9への付着を解放し半導体装置
をモールド金型内から取り出す。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のような露出型放
熱方式の半導体装置において図5の放熱板又は放熱ブロ
ック2と樹脂6との密着性が弱くしかも放熱板又は放熱
ブロック2が段付きになっている為に上面段付き部樹脂
厚が薄く樹脂にクラックが生じ易い。又放熱板又は放熱
ブロック2の外径がストレートの為に樹脂6との密着性
が弱く吸湿による劣化が促進され半導体装置の信頼性が
そこなわれる。又樹脂表面に露出する部分を大きくした
いが、図6の樹脂封止時に使用するモールド金型の上型
エジェクターピン10或いは下型エジェクターピン11
が邪魔になり大きくならない、以上の通り放熱板又は放
熱ブロックと樹脂との密着強度を上げて安定した信頼性
を確立したい。放熱板又は放熱ブロック樹脂表面に露出
する部分をできるだけ大きくし放熱効率を上げたいと言
う課題があった。
【0007】本発明は上記の課題を解決する為になされ
たもので、放熱板又は放熱ブロックと樹脂との密着性を
上げしかも放熱板又は放熱ブロックの樹脂表面に露出す
る部分を大きくし放熱効果を上げ安定した半導体装置の
稼働と高放熱特性を持つ安価な半導体装置とその製造方
法を得ることを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、次の手段をとることを特徴とする。
【0009】手段1.樹脂表面に露出する金属等、熱伝
導性の良い板又はブロックを用いたプラスチック封止の
半導体装置において該板又はブロックの樹脂表面に露出
する面に1つ以上の底付き穴を設ける。
【0010】手段2.手段1の半導体装置の製造方法に
おいて、該板又はブロックの樹脂表面に露出する面の1
つ以上の該底付き穴はモールド金型のエジェクターピン
とインデックスピンとの一致する位置に設ける。
【0011】手段3.手段1の半導体装置において、
板及びブロックの半導体素子載置部に返しの有る該底付
き穴(入り口部径よりも最深部径が大のクサビ状の底付
き穴以下返しの有る底付き穴)が有る。
【0012】手段4.手段1の半導体装置において、該
板又はブロックの外径部分に1つ以上のU字溝を設け
る。
【0013】
【作用】本発明の露出型放熱方式の半導体装置はモール
ド工程での樹脂封止する際に樹脂と放熱板又は放熱ブロ
ックとの密着性を向上し且つ樹脂表面に露出する部分を
できるだけ大きくし放熱効率を上げ安定した半導体装置
の稼働と高放熱特性を狙ったものであり放熱板又は放熱
ブロックの外径に一つ以上のU字溝を設ける又放熱板又
は放熱ブロックのIC素子載置部に返しの有る底付き穴
を設ける事によりモールド工程での樹脂封止する際に外
径のU字溝及びIC素子載置部に設けてある返しの有る
底付き穴の返し部分に樹脂が喰い付き強力な密着力が得
られIC素子、金線、インナーリード、が密封状態とな
る。放熱板又は放熱ブロックの樹脂表面に露出する部分
に一つ以上の深さ0.5mm程度の底付き丸穴を設け
る、この丸穴位置を樹脂封止する際に使用するモールド
金型上型に装着されているモールド金型上型エジェクタ
ーピン又はモールド金型下型に装着されているモールド
金型下型エジェクターピンと同一位置としエジェクター
ピン径よりも大きめに設定する。モールド工程でこのエ
ジェクターピンを逃がす事ができる為に放熱板又は放熱
ブロックをモールド外形の最大まで設定できしかも樹脂
表面に露出する部分に設けた底付き丸穴により放熱面積
が増し安定した高放熱特性を持った半導体装置が可能と
なる。
【0014】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例を示す平面図で
ある。樹脂6表面に露出する放熱板又は放熱ブロック2
がモールド外形の最大まで設定できしかも樹脂表面に露
出する部分に設けた底付き丸穴12により放熱面積が増
し放熱特性が高まる。
【0015】図2は本発明の第2の実施例を示す露出型
放熱方式の半導体装置の断面図である。図2においてポ
リイミド等の耐熱絶縁接着テープ3でインナーリード1
と放熱板又は放熱ブロック2とを固定する、次に放熱板
又は放熱ブロック2のIC載置部である返しのある底付
き穴14へIC素子4を銀ペーストで固定する。次にI
C素子4のボンディングパッドとインナーリードをワイ
ヤ5で接続する。その後モールド工程にて金型内に樹脂
6を注入封止しアウターリード7を折り曲げ加工し端子
とし半導体装置が製造される。モールド工程で樹脂封止
する際に放熱板又は放熱ブロック2の外径部のU字溝1
3及びIC素子4の載置部である返しのある底付き穴1
4にモールド樹脂が喰い込み凝固し樹脂6と放熱板又は
放熱ブロック2及びIC素子4及びワイヤ5及びインナ
ーリード1が密着密封状態となり高信頼性半導体装置が
得られる。放熱板又は放熱ブロック2の外径部のU字溝
13及びIC素子4の載置部である返しのある底付き穴
14により放熱板又は放熱ブルック2と樹脂6との界面
からの吸湿を抑制する事が可能となる。
【0016】図3は本発明の第3の実施例を示す露出型
放熱方式の半導体装置を樹脂封止する際の金型にセット
した時の断面図の一部である。図3においてIC素子を
搭載した放熱板又は放熱ブロック2をインナーリード1
上にポリイミド等の耐熱絶縁接着テープにて固定しIC
素子のボンディングパッドとインナーリードをワイヤで
接続した露出型放熱方式の半導体装置をモールド金型に
セットしモールド金型下型9を締める。次に樹脂注入口
15より樹脂を圧入、金型内に充填し熱硬化させる。樹
脂が硬化した時点でモールド金型下型9を下げる。同時
にモールド金型上型8に装着されているモールド金型上
型エジェクターピン10を突き下げ半導体装置をモール
ド金型下型に付着させるモールド金型下型9が完全に下
がった時点でモールド金型下型9に装着されているモー
ルド金型下型エジェクターピン11が上昇しモールド金
型下型9への付着を解放し半導体装置をモールド金型内
から取り出す。モールド金型上型エジェクターピン10
の位置と放熱板又は放熱ブロック2の底突き穴12は同
一位置に設定してモールド金型上型エジェクターピン1
0の外径よりも内径を1mm〜2mm大きく深さで0.
2mm〜0.5mmの逃げ代の有るのが良い、又放熱板
又は放熱ブロック2を半導体装置の裏面に取り付けたい
場合も上記で述べた同一の方法で放熱板又は放熱ブロッ
ク2をモールド樹脂外形まで拡大するのが可能となり高
放熱特性の半導体装置得られる。
【0017】
【発明の効果】以上述べたとおり本発明によれば露出型
放熱方式の半導体装置を製造する上で放熱板又は放熱ブ
ロックとモールド樹脂との密着性を上げる為に放熱板又
は放熱ブロックの外径に一つ以上のU字溝を設ける、更
にはICの載置部に返しのある底付き穴を設けた事によ
り樹脂封止する際にモールド樹脂が外径のU字溝及びI
Cの載置部に設けた返しのある底付き穴に喰い付き強力
な密着力が得られ放熱板又は放熱ブロックとIC素子と
金線とインナーリードとが密着密封状態となる為樹脂と
放熱板又は放熱ブロックとの界面からの吸湿が完全に防
止できる。又放熱板又は放熱ブロックの樹脂表面に露出
する部分に一つ以上の底付き丸穴をモールド金型上型又
は下型のエジェクターピンと同一位置に設けたことによ
り樹脂封止する際にモールド金型内のエジェクターピン
が逃げ放熱板又は放熱ブロックをモールド樹脂外形まで
拡大する事ができ従来の3倍の高放熱特性の半導体装置
が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例の平面図である。
【図2】 本発明の第2の実施例の断面図である。
【図3】 本発明の第3の実施例の断面図である。
【図4】 従来の方法を示す図である。
【図5】 従来の方法を示す図である。
【図6】 従来の方法を示す図である。
【符号の説明】
1…インナーリード 2…放熱板又は放熱ブロック 3…耐熱絶縁接着テープ 4…IC素子 5…ワイヤ 6…樹脂 7…アウターリード 8…モールド金型上型 9…モールド金型下型 10…モールド金型上型エジェクターピン 11…モールド金型下型エジェクターピン 12…底付き穴 13…U字溝 14…返しの有る底付き穴 15…樹脂注入口 16…エジェクター痕

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】樹脂表面に露出する金属等、熱伝導性の良
    い板又はブロックを用いたプラスチック封止の半導体装
    置において該板又はブロックの樹脂表面に露出する面に
    1つ以上の底付き穴を設ける事を特徴とする半導体装
    置。
  2. 【請求項2】該板又はブロックの樹脂表面に露出する面
    の1つ以上の該底付き穴はモールド金型のエジェクター
    ピンとインデックスピンとの一致する位置に設けた事を
    特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】板及びブロックの半導体素子載置部に返し
    の有る該底付き穴(入り口部径よりも最深部径が大のク
    サビ状の底付き穴以下返しの有る底付き穴)が有る事を
    特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】該板又はブロックの外径部分に1つ以上の
    U字溝を設けた事を特徴とする請求項1記載の半導体装
    置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6849933B2 (en) 2001-07-13 2005-02-01 Renesas Technology Corp. Semiconductor mounting device and method of manufacturing the same
US9620438B2 (en) 2014-02-14 2017-04-11 Stmicroelectronics (Malta) Ltd Electronic device with heat dissipater
EP2605276A3 (en) * 2011-12-15 2017-09-27 NXP USA, Inc. Packaged leadless semiconductor device

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