JPH06287165A - 液晶化合物 - Google Patents
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- JPH06287165A JPH06287165A JP5329787A JP32978793A JPH06287165A JP H06287165 A JPH06287165 A JP H06287165A JP 5329787 A JP5329787 A JP 5329787A JP 32978793 A JP32978793 A JP 32978793A JP H06287165 A JPH06287165 A JP H06287165A
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Landscapes
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- Liquid Crystal Substances (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 一般式
【化1】
〔R1は炭素数1〜12のアルキル基または水素原子、
mは1〜12の整数、NAPは2,6-ナフチレン基、
nは0〜5の整数 、C*は不斉炭素原子、R2は炭素数
2〜10のアルキル基〕で示される液晶化合物。 【効果】この液晶化合物をナフタレン系およびエステル
系化合物からなる液晶組成物に添加および/または置換
することにより、配向状態を変化させることなく、コン
トラスト比を高くすることができる。
mは1〜12の整数、NAPは2,6-ナフチレン基、
nは0〜5の整数 、C*は不斉炭素原子、R2は炭素数
2〜10のアルキル基〕で示される液晶化合物。 【効果】この液晶化合物をナフタレン系およびエステル
系化合物からなる液晶組成物に添加および/または置換
することにより、配向状態を変化させることなく、コン
トラスト比を高くすることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示素子などに用
いる液晶組成物の成分として有用な新規液晶化合物に関
する。更に詳しくは、キラルなスメクチックC相(以
下、Sc*相と略称する)を示す新規なナフタレン系液
晶化合物を提供するものである。
いる液晶組成物の成分として有用な新規液晶化合物に関
する。更に詳しくは、キラルなスメクチックC相(以
下、Sc*相と略称する)を示す新規なナフタレン系液
晶化合物を提供するものである。
【0002】
【従来の技術】最近、メイヤーらにより強誘電性液晶化
合物を用いる表示方式が報告され、これによるとTN型
の100〜1000倍という高速応答とメモリー効果が
得られるため、次世代の表示素子として期待され、現
在、盛んに研究、開発が進められている。強誘電性液晶
化合物の液晶相は、チルト系のキラルスメクチック相に
属するものであるが、実用的には、その中で最も低粘性
であるSc*相が最も望ましい。Sc*相を示す液晶化
合物は、既に数多く合成され、検討されているが、強誘
電性液晶表示素子として用いるための条件としては、
(a)室温を含む広い温度範囲でSc*相を示すこと、
(b)均一な配向性を示し、かつその螺旋ピッチが大き
いこと、(c)適当なチルト角を有すること、(d)粘
性が小さいこと等が挙げられる。しかし、これら条件を
単独で満足するSc*相を示す液晶化合物は現在知られ
ておらず、混合によりこれらを満足させる努力がなされ
ている。また、新規なSc*相を示す液晶化合物の開発
も進められている。一方、Sc*相を示す液晶組成物
(以下、Sc*液晶組成物という)の調製方法として、
強誘電性を示さず、キラルでないSc相を示す液晶化合
物または組成物にキラルな化合物を添加する方法もあ
り、Sc相を示す液晶化合物の開発も進められている。
なお、Sc*相を示す液晶化合物のラセミ体も、Sc相
を示す液晶化合物として用いることができる。従来、S
c相あるいはSc*相を示す代表的な液晶化合物とし
て、下記化2および化3で示されるフェニルピリミジン
系液晶化合物などが知られており、これらの混合物から
なるSc*液晶組成物が知られている。
合物を用いる表示方式が報告され、これによるとTN型
の100〜1000倍という高速応答とメモリー効果が
得られるため、次世代の表示素子として期待され、現
在、盛んに研究、開発が進められている。強誘電性液晶
化合物の液晶相は、チルト系のキラルスメクチック相に
属するものであるが、実用的には、その中で最も低粘性
であるSc*相が最も望ましい。Sc*相を示す液晶化
合物は、既に数多く合成され、検討されているが、強誘
電性液晶表示素子として用いるための条件としては、
(a)室温を含む広い温度範囲でSc*相を示すこと、
(b)均一な配向性を示し、かつその螺旋ピッチが大き
いこと、(c)適当なチルト角を有すること、(d)粘
性が小さいこと等が挙げられる。しかし、これら条件を
単独で満足するSc*相を示す液晶化合物は現在知られ
ておらず、混合によりこれらを満足させる努力がなされ
ている。また、新規なSc*相を示す液晶化合物の開発
も進められている。一方、Sc*相を示す液晶組成物
(以下、Sc*液晶組成物という)の調製方法として、
強誘電性を示さず、キラルでないSc相を示す液晶化合
物または組成物にキラルな化合物を添加する方法もあ
り、Sc相を示す液晶化合物の開発も進められている。
なお、Sc*相を示す液晶化合物のラセミ体も、Sc相
を示す液晶化合物として用いることができる。従来、S
c相あるいはSc*相を示す代表的な液晶化合物とし
て、下記化2および化3で示されるフェニルピリミジン
系液晶化合物などが知られており、これらの混合物から
なるSc*液晶組成物が知られている。
【0003】
【化2】
【0004】
【化3】
【0005】化3中、C*は不斉炭素原子を表す。
【0006】また、Sc相を示さないキラルな化合物と
して、特開平2−138274号公報記載の下記化4で
示されるγ−ラクトン環を有する化合物などが知られて
おり、前記の化2や化3で示される化合物からなるSc
相(あるいはSc*相)を示す組成物に化4で示される
化合物を添加したSc*液晶組成物などが知られてい
る。
して、特開平2−138274号公報記載の下記化4で
示されるγ−ラクトン環を有する化合物などが知られて
おり、前記の化2や化3で示される化合物からなるSc
相(あるいはSc*相)を示す組成物に化4で示される
化合物を添加したSc*液晶組成物などが知られてい
る。
【0007】
【化4】
【0008】化4中、*は不斉炭素原子を表す。
【0009】さらに、特開平1−193390号公報で
は、下記化5、化6および化7で表されるナフタレン系
およびエステル系化合物からなるSc*液晶組成物が提
案されている。
は、下記化5、化6および化7で表されるナフタレン系
およびエステル系化合物からなるSc*液晶組成物が提
案されている。
【0010】
【化5】
【0011】
【化6】
【0012】
【化7】
【0013】化5〜7中、NAPは2,6−ナフチレン
基を、C*は不斉炭素原子を表す。
基を、C*は不斉炭素原子を表す。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
1−193390号公報では、前記のフェニルピリミジ
ン系液晶化合物などを用いたSc*液晶組成物は、液晶
セルに注入した場合に、Sc*相において、層構造が
“く”の字に屈曲するためにジグザグ欠陥が生じやす
く、コントラスト比が1対5と低いという問題があるこ
とを指摘している。また、ナフタレン系およびエステル
系化合物からなる組成物を液晶セルに注入した場合、ジ
グザグ欠陥は観察されず、良好なメモリー性が得られる
が、コントラスト比が1対12程度であり、表示素子に
適用するにはコントラスト比が不十分である。
1−193390号公報では、前記のフェニルピリミジ
ン系液晶化合物などを用いたSc*液晶組成物は、液晶
セルに注入した場合に、Sc*相において、層構造が
“く”の字に屈曲するためにジグザグ欠陥が生じやす
く、コントラスト比が1対5と低いという問題があるこ
とを指摘している。また、ナフタレン系およびエステル
系化合物からなる組成物を液晶セルに注入した場合、ジ
グザグ欠陥は観察されず、良好なメモリー性が得られる
が、コントラスト比が1対12程度であり、表示素子に
適用するにはコントラスト比が不十分である。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記ナフ
タレン系化合物およびエステル系化合物から成るSc*
液晶組成物に添加および/または置換することにより、
良好な配向性を損なうことなく、コントラスト比を高め
る、配向性の良好な液晶化合物について鋭意検討を行っ
た結果、従来とは構造の異なる、アルケニル基を持つナ
フタレン系液晶化合物が、コントラスト比を高める効果
のあることを見出し、本発明に到達した。すなわち本発
明は、下記一般式(1)
タレン系化合物およびエステル系化合物から成るSc*
液晶組成物に添加および/または置換することにより、
良好な配向性を損なうことなく、コントラスト比を高め
る、配向性の良好な液晶化合物について鋭意検討を行っ
た結果、従来とは構造の異なる、アルケニル基を持つナ
フタレン系液晶化合物が、コントラスト比を高める効果
のあることを見出し、本発明に到達した。すなわち本発
明は、下記一般式(1)
【0016】
【化8】
【0017】〔式中、R1は炭素数4〜12のアルキル
基または水素原子を表し、mは1〜12の整数を表し、
NAPは2,6−ナフチレン基を表し、nは0〜5の整
数を表し、C*は不斉炭素原子を表し、R2は炭素数2
〜10のアルキル基を表す〕で示される液晶化合物であ
る。
基または水素原子を表し、mは1〜12の整数を表し、
NAPは2,6−ナフチレン基を表し、nは0〜5の整
数を表し、C*は不斉炭素原子を表し、R2は炭素数2
〜10のアルキル基を表す〕で示される液晶化合物であ
る。
【0018】一般式(1)中、R1で表される炭素数4
〜12のアルキル基の具体例としては、n−ブチル基、
n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n
−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n−ウン
デシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これらのう
ち好ましいものは、水素原子および炭素数4〜10のア
ルキル基である。
〜12のアルキル基の具体例としては、n−ブチル基、
n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n
−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n−ウン
デシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これらのう
ち好ましいものは、水素原子および炭素数4〜10のア
ルキル基である。
【0019】mは好ましくは、1〜10の整数である。
nは好ましくは、0、1、3および5である。
nは好ましくは、0、1、3および5である。
【0020】R2で表される炭素数2〜10のアルキル
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。本発明の液晶化合物の具体
例としては、表1〜表3に示すような基を有する化合物
が挙げられる。
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。本発明の液晶化合物の具体
例としては、表1〜表3に示すような基を有する化合物
が挙げられる。
【0021】
【表1】
【0022】
【表2】
【0023】
【表3】
【0024】表1〜表3中、各記号はそれぞれ以下の基
を表す。 ETY;C2H5- BUT;n-C4H9- PE
N;n-C5H11- HEX;n-C6H13- HEP;n-C7H15- OC
T;n-C8H17- NON;n-C9H19-
を表す。 ETY;C2H5- BUT;n-C4H9- PE
N;n-C5H11- HEX;n-C6H13- HEP;n-C7H15- OC
T;n-C8H17- NON;n-C9H19-
【0025】本発明の化合物は、例えば次に示す工程を
経て合成できる〔下記式中R1、m、NAP、nおよび
R2 は一般式(1)の場合と同一である〕。
経て合成できる〔下記式中R1、m、NAP、nおよび
R2 は一般式(1)の場合と同一である〕。
【0026】
【化9】
【0027】すなわち、一般式(2)で示される安息香
酸誘導体を、ジエチルアゾジカルボキシレートとトリフ
ェニルホスフィンの存在下、一般式(3)で示されるナ
フトール誘導体と反応させることにより、本発明の化合
物である一般式(1)の化合物を得ることができる。ま
た一般式(2)の化合物は次の工程を経て合成できる。
酸誘導体を、ジエチルアゾジカルボキシレートとトリフ
ェニルホスフィンの存在下、一般式(3)で示されるナ
フトール誘導体と反応させることにより、本発明の化合
物である一般式(1)の化合物を得ることができる。ま
た一般式(2)の化合物は次の工程を経て合成できる。
【0028】
【化10】
【0029】すなわち、一般式(4)で示されるブロム
体を、水酸化ナトリウムの存在下、p−ヒドロキシ安息
香酸と反応させることにより一般式(2)の化合物を得
ることができる。
体を、水酸化ナトリウムの存在下、p−ヒドロキシ安息
香酸と反応させることにより一般式(2)の化合物を得
ることができる。
【0030】あるいは次の工程を経ても合成できる。
【0031】
【化11】
【0032】すなわち、一般式(5)で示されるアルコ
ールを、ジエチルアゾジカルボキシレートとトリフェニ
ルホスフィンの存在下、p−ヒドロキシ安息香酸メチル
と反応させることにより得た一般式(6)の化合物を、
水酸化ナトリウムを用いて加水分解することにより一般
式(2)の化合物を得ることができる。
ールを、ジエチルアゾジカルボキシレートとトリフェニ
ルホスフィンの存在下、p−ヒドロキシ安息香酸メチル
と反応させることにより得た一般式(6)の化合物を、
水酸化ナトリウムを用いて加水分解することにより一般
式(2)の化合物を得ることができる。
【0033】一般式(5)で示されるアルコールは、あ
るものは市販されており、またあるものは対応するアル
デヒドを水素化ホウ素ナトリウム、水素化リチウムアル
ミニウムあるいは水素化ジイソブチルアルミニウム等を
用いて還元することにより得ることができる。
るものは市販されており、またあるものは対応するアル
デヒドを水素化ホウ素ナトリウム、水素化リチウムアル
ミニウムあるいは水素化ジイソブチルアルミニウム等を
用いて還元することにより得ることができる。
【0034】また一般式(2)の化合物は、R1が水素
原子の場合、次の工程を経ても合成できる。
原子の場合、次の工程を経ても合成できる。
【0035】
【化12】
【0036】すなわち、一般式(7)で示されるジブロ
ム体を、水酸化ナトリウムの存在下、p−ブロモフェノ
ールと反応させることにより得た一般式(8)の化合物
に、カリウム−t−ブトキシドを作用させることにより
一般式(9)の化合物を得ることができる。一般式
(9)の化合物にマグネシウムを反応させてグリニャー
ル試薬とした後、炭酸ガスを作用させることにより、一
般式(2’)の化合物を得ることができる。
ム体を、水酸化ナトリウムの存在下、p−ブロモフェノ
ールと反応させることにより得た一般式(8)の化合物
に、カリウム−t−ブトキシドを作用させることにより
一般式(9)の化合物を得ることができる。一般式
(9)の化合物にマグネシウムを反応させてグリニャー
ル試薬とした後、炭酸ガスを作用させることにより、一
般式(2’)の化合物を得ることができる。
【0037】また一般式(3)の化合物は、WO87/
06577号公報記載の方法により得ることができる。
06577号公報記載の方法により得ることができる。
【0038】本発明のラセミ体である液晶化合物は、上
記合成ルートにおいて、ラセミ体である一般式(3)で
示される化合物を用いることにより得ることができる。
記合成ルートにおいて、ラセミ体である一般式(3)で
示される化合物を用いることにより得ることができる。
【0039】一般に、液晶化合物は2種以上の多成分か
らなる液晶組成物の成分として用いられ、本発明の液晶
化合物も液晶組成物の成分として利用することができ
る。
らなる液晶組成物の成分として用いられ、本発明の液晶
化合物も液晶組成物の成分として利用することができ
る。
【0040】本発明の液晶化合物と好適に用いられる任
意成分としては、他のSc相を示す液晶化合物(2−
4’−アルキルオキシフェニル−5−アルキルピリミジ
ン、2−4’−アルキルフェニル−5−アルキルオキシ
ピリミジン、2−4’−アルキルオキシオキシフェニル
-5-アルキルオキシピリミジン、2-p-アルキルオキシ
カルボニルフェニル−5−アルキルピリミジン、2−
4’−アルキルオキシ−3’−フルオロフェニル−5−
アルキルピリミジン、2−4’−アルキルオキシ−
2’,3’−ジフルオロフェニル−5−アルキルピリミ
ジン、2−4’−アルキルオキシフェニル−5−アルキ
ルピリジン、2−4’−アルキルオキシ−3’−フルオ
ロフェニル−5−アルキルピリジン等)、他のSc*相
を示す液晶化合物(光学活性4−アルキルオキシ−4’
−ビフェニルカルボン酸−p’−(2−メチルブチルオ
キシカルボニル)フェニルエステル、光学活性4−n−
アルキルオキシ−4’−ビフェニルカルボン酸−2−メ
チルブチルエステル、光学活性4−アルキルオキシフェ
ニル−4’−(4−メチルヘキシルオキシ)ベンゾエー
ト、光学活性4−アルケニルオキシフェニル−4’−
(4−メチルヘキシルオキシ)ベンゾエート、特開昭6
3−233932号公報記載のナフタレン系化合物
等)、キラルな化合物(特開昭63−99032号公
報、特開昭63−190843号公報、特開平2−13
8274号公報、特開平2−256673号公報、特開
平2−262579号公報、特開平2−286673号
公報、特開平3−27374号公報等に記載の化合
物)、Sc相を示さないスメクチック液晶化合物、ネマ
チック相を示す液晶化合物および2色性色素(アントラ
キノン系色素、アゾ系色素等)などが挙げられる。
意成分としては、他のSc相を示す液晶化合物(2−
4’−アルキルオキシフェニル−5−アルキルピリミジ
ン、2−4’−アルキルフェニル−5−アルキルオキシ
ピリミジン、2−4’−アルキルオキシオキシフェニル
-5-アルキルオキシピリミジン、2-p-アルキルオキシ
カルボニルフェニル−5−アルキルピリミジン、2−
4’−アルキルオキシ−3’−フルオロフェニル−5−
アルキルピリミジン、2−4’−アルキルオキシ−
2’,3’−ジフルオロフェニル−5−アルキルピリミ
ジン、2−4’−アルキルオキシフェニル−5−アルキ
ルピリジン、2−4’−アルキルオキシ−3’−フルオ
ロフェニル−5−アルキルピリジン等)、他のSc*相
を示す液晶化合物(光学活性4−アルキルオキシ−4’
−ビフェニルカルボン酸−p’−(2−メチルブチルオ
キシカルボニル)フェニルエステル、光学活性4−n−
アルキルオキシ−4’−ビフェニルカルボン酸−2−メ
チルブチルエステル、光学活性4−アルキルオキシフェ
ニル−4’−(4−メチルヘキシルオキシ)ベンゾエー
ト、光学活性4−アルケニルオキシフェニル−4’−
(4−メチルヘキシルオキシ)ベンゾエート、特開昭6
3−233932号公報記載のナフタレン系化合物
等)、キラルな化合物(特開昭63−99032号公
報、特開昭63−190843号公報、特開平2−13
8274号公報、特開平2−256673号公報、特開
平2−262579号公報、特開平2−286673号
公報、特開平3−27374号公報等に記載の化合
物)、Sc相を示さないスメクチック液晶化合物、ネマ
チック相を示す液晶化合物および2色性色素(アントラ
キノン系色素、アゾ系色素等)などが挙げられる。
【0041】本発明の液晶化合物と併用する任意成分と
して、これらのうち好ましいものは、エステル系化合物
およびナフタレン系化合物である。この様なエステル系
化合物は、下記一般式(10)
して、これらのうち好ましいものは、エステル系化合物
およびナフタレン系化合物である。この様なエステル系
化合物は、下記一般式(10)
【0042】
【化13】
【0043】〔式中、R3は炭素数4〜12のアルキル
基または水素原子を表し、pは1〜12の整数を表し、
qは1〜5の整数を表し、C*は不斉炭素原子を表し、
R4は炭素数2〜10のアルキル基を表す〕で示される
化合物、または一般式(11)
基または水素原子を表し、pは1〜12の整数を表し、
qは1〜5の整数を表し、C*は不斉炭素原子を表し、
R4は炭素数2〜10のアルキル基を表す〕で示される
化合物、または一般式(11)
【0044】
【化14】
【0045】〔式中、R5は炭素数4〜14のアルキル
基を表し、rは1〜5の整数を表し、C*は不斉炭素原
子を表し、R6は炭素数2〜10のアルキル基を表す〕
で示される化合物である。
基を表し、rは1〜5の整数を表し、C*は不斉炭素原
子を表し、R6は炭素数2〜10のアルキル基を表す〕
で示される化合物である。
【0046】一般式(10)中、R3で表される炭素数
4〜12のアルキル基の具体例としては、n−ブチル
基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n
−ウンデシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これ
らのうち好ましいものは、水素原子および炭素数4〜1
0のアルキル基である。
4〜12のアルキル基の具体例としては、n−ブチル
基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n
−ウンデシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これ
らのうち好ましいものは、水素原子および炭素数4〜1
0のアルキル基である。
【0047】pは好ましくは、1〜10の整数である。
qは好ましくは、1、2、3および5である。
qは好ましくは、1、2、3および5である。
【0048】R4で表される炭素数2〜10のアルキル
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。
【0049】一般式(11)中、R5で表される炭素数
4〜14のアルキル基の具体例としては、n−ブチル
基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n
−ウンデシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これ
らのうち好ましいものは、炭素数6〜12のアルキル基
である。
4〜14のアルキル基の具体例としては、n−ブチル
基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n
−ウンデシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これ
らのうち好ましいものは、炭素数6〜12のアルキル基
である。
【0050】rは好ましくは0、1、3および5であ
る。
る。
【0051】R6で表される炭素数2〜10のアルキル
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。一方、前記のナフタレン系
化合物は、下記一般式(12)
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。一方、前記のナフタレン系
化合物は、下記一般式(12)
【0052】
【化15】
【0053】〔式中、R7は炭素数4〜14のアルキル
基を表し、NAPは2,6−ナフチレン基を表し、sは
1〜5の整数を表し、C*は不斉炭素原子を表し、R8
は炭素数2〜10のアルキル基を表す〕で示される化合
物である。
基を表し、NAPは2,6−ナフチレン基を表し、sは
1〜5の整数を表し、C*は不斉炭素原子を表し、R8
は炭素数2〜10のアルキル基を表す〕で示される化合
物である。
【0054】一般式(12)中、R7で表される炭素数
4〜14のアルキル基の具体例としては、n−ブチル
基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n
−ウンデシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これ
らのうち好ましいものは、炭素数6〜12のアルキル基
である。
4〜14のアルキル基の具体例としては、n−ブチル
基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n
−ウンデシル基、n−ドデシル基などが挙げられ、これ
らのうち好ましいものは、炭素数6〜12のアルキル基
である。
【0055】sは好ましくは0、1、3および5であ
る。
る。
【0056】R8で表される炭素数2〜10のアルキル
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。
基の具体例としては、エチル基、n−プロピル基、n−
ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプ
チル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基
などが挙げられ、これらのうち好ましいものは、炭素数
2〜6のアルキル基である。
【0057】強誘電性を示すSc*液晶組成物は、電圧
印加により光スイッチング現象を起こし、これを利用し
た応答の速い液晶表示素子を作製できる〔例えば、特開
昭56−107216号公報、特開昭59−11874
4号公報、エヌ.エー.クラーク(N.A.Clar
k)、エス.ティー.ラガウォール(S.T.Lage
rwall);アプライド フィジックス レター(A
pplied Physics Letter)36、
899(1980)など〕。
印加により光スイッチング現象を起こし、これを利用し
た応答の速い液晶表示素子を作製できる〔例えば、特開
昭56−107216号公報、特開昭59−11874
4号公報、エヌ.エー.クラーク(N.A.Clar
k)、エス.ティー.ラガウォール(S.T.Lage
rwall);アプライド フィジックス レター(A
pplied Physics Letter)36、
899(1980)など〕。
【0058】本発明の液晶化合物を含有する、Sc*相
を示す液晶組成物をセル間隔0.5〜10μm、好まし
くは0.5〜3μmの液晶セルに真空封入し、両側偏光
子を設置することにより光スイッチング素子(液晶表示
素子)とすることができる。上記の液晶セルは、透明電
極を設けた基板の表面を配向処理した後、2枚の基板間
にスペーサーを介在させ、貼り合わせることによって作
製することができる。基板としては、特に制限はなく、
In2O3、SnO2、In2O3−SnO2などを設けたガ
ラス、ポリエステルフィルムなどの基板、薄膜トランジ
スター、ダイオードを形成した基板などが挙げられる。
また、上記スペーサーとしては、アルミナビーズ、ガラ
スファイバー、ポリイミドフィルムなどが挙げられる。
配向処理方法としては、通常の配向処理、例えば、ポリ
イミド膜のラビング処理、SiO斜め蒸着などが適用で
きる。
を示す液晶組成物をセル間隔0.5〜10μm、好まし
くは0.5〜3μmの液晶セルに真空封入し、両側偏光
子を設置することにより光スイッチング素子(液晶表示
素子)とすることができる。上記の液晶セルは、透明電
極を設けた基板の表面を配向処理した後、2枚の基板間
にスペーサーを介在させ、貼り合わせることによって作
製することができる。基板としては、特に制限はなく、
In2O3、SnO2、In2O3−SnO2などを設けたガ
ラス、ポリエステルフィルムなどの基板、薄膜トランジ
スター、ダイオードを形成した基板などが挙げられる。
また、上記スペーサーとしては、アルミナビーズ、ガラ
スファイバー、ポリイミドフィルムなどが挙げられる。
配向処理方法としては、通常の配向処理、例えば、ポリ
イミド膜のラビング処理、SiO斜め蒸着などが適用で
きる。
【0059】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に説明する
が、本発明はこれに限定されない。なお、化合物の構造
は、NMR(核磁気共鳴スペクトル分析)、MS(質量
分析)、IR(赤外吸収スペクトル分析)および元素分
析により確認した。 実施例 1 表1中No.7の化合物の製造 p−ヒドロキシ安息香酸メチル5.0g(32.9m
mol)、9−デセノール6.2g(39.5mmo
l)、トリフェニルホスフィン(以下TPPと略称す
る)10.3g(39.5mmol)を乾燥テトラヒド
ロフラン(以下THFと略称する)60mlに溶かし、
これに10℃以下でジエチルアゾジカルボキシレート
(以下DEADと略称する)6.9g(39.5mmo
l)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘ
キサンで抽出し、ヘキサンを留去することにより、4−
(9−デセニルオキシ)安息香酸メチル6.5gを得
た。 で得た4−(9−デセニルオキシ)安息香酸メチル
6.5gにエタノール70ml、水酸化ナトリウム水溶
液1.8g/10ml(44.8mmol)を加え、1
時間還流した。放冷後、1N塩酸300ml中に投入
し、析出した固体を濾取し、トルエンから再結晶するこ
とにより4-(9-デセニルオキシ)安息香酸4.6gを
得た。 で得た4−(9−デセニルオキシ)安息香酸2.0
g(7.2mmol)、6−ヒドロキシ−2−ナフトエ
酸−2−メチルブチルエステル(この化合物は、WO8
7/06577号公報記載の方法により得ることができ
る。)1.9g(7.2mmol)、TPP2.3g
(8.7mmol)をTHF30mlに溶かし、これに
10℃以下でDEAD1.5g(8.7mmol)を加
え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘキサンで
抽出した。ヘキサンを留去し、得られた固体をシリカゲ
ルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶すること
より、本発明の化合物である表1中No.7の化合物
2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2924.0 1717.0 1609.0 1278.0
1193.0 1174.01 H-NMR (ppm) 0.94〜1.08(m,6H) 1.22〜2.10(m,17H)
4.03(t,3H) 4.22(ddd,2H) 4.90〜5.02(m,2H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.70〜7.72(m,1H) 7.86(d,1H) 8.01(d,1H) 8.09(dd,1H) 8.19(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:76.71 C:76.55 H:7.80 H:8.01
が、本発明はこれに限定されない。なお、化合物の構造
は、NMR(核磁気共鳴スペクトル分析)、MS(質量
分析)、IR(赤外吸収スペクトル分析)および元素分
析により確認した。 実施例 1 表1中No.7の化合物の製造 p−ヒドロキシ安息香酸メチル5.0g(32.9m
mol)、9−デセノール6.2g(39.5mmo
l)、トリフェニルホスフィン(以下TPPと略称す
る)10.3g(39.5mmol)を乾燥テトラヒド
ロフラン(以下THFと略称する)60mlに溶かし、
これに10℃以下でジエチルアゾジカルボキシレート
(以下DEADと略称する)6.9g(39.5mmo
l)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘ
キサンで抽出し、ヘキサンを留去することにより、4−
(9−デセニルオキシ)安息香酸メチル6.5gを得
た。 で得た4−(9−デセニルオキシ)安息香酸メチル
6.5gにエタノール70ml、水酸化ナトリウム水溶
液1.8g/10ml(44.8mmol)を加え、1
時間還流した。放冷後、1N塩酸300ml中に投入
し、析出した固体を濾取し、トルエンから再結晶するこ
とにより4-(9-デセニルオキシ)安息香酸4.6gを
得た。 で得た4−(9−デセニルオキシ)安息香酸2.0
g(7.2mmol)、6−ヒドロキシ−2−ナフトエ
酸−2−メチルブチルエステル(この化合物は、WO8
7/06577号公報記載の方法により得ることができ
る。)1.9g(7.2mmol)、TPP2.3g
(8.7mmol)をTHF30mlに溶かし、これに
10℃以下でDEAD1.5g(8.7mmol)を加
え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘキサンで
抽出した。ヘキサンを留去し、得られた固体をシリカゲ
ルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶すること
より、本発明の化合物である表1中No.7の化合物
2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2924.0 1717.0 1609.0 1278.0
1193.0 1174.01 H-NMR (ppm) 0.94〜1.08(m,6H) 1.22〜2.10(m,17H)
4.03(t,3H) 4.22(ddd,2H) 4.90〜5.02(m,2H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.70〜7.72(m,1H) 7.86(d,1H) 8.01(d,1H) 8.09(dd,1H) 8.19(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:76.71 C:76.55 H:7.80 H:8.01
【0060】実施例 2 表1中No.8の化合物の製造 実施例1の〜において9-デセノールに代えてtra
ns-2-デセン-1-オールを同じモル比で用いた以外は実
施例1の〜と同様の操作を行うことにより、4−
(trans−2−デセニルオキシ)安息香酸を得た。 で得た4−(trans−2−デセニルオキシ)安
息香酸2.0g(7.2mmol)、実施例1ので得
た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−2−メチルブチル
エステル1.9g(7.2mmol)、TPP2.3g
(8.7mmol)をTHF30mlに溶かし、これに
10℃以下でDEAD1.5g(8.7mmol)を加
え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘキサンで
抽出した。ヘキサンを留去し、得られた固体をシリカゲ
ルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶すること
より、本発明の化合物である表1中No.8の化合物
2.1gを得た。 IR ( cm-1) 2928.0 1731.0 1611.0 1263.0
1201.0 1172.01 H-NMR (ppm) 0.87(t,3H) 1.00(t,3H) 1.05(d,3H) 1.
20〜1.97(m,13H) 2.10(q,2H) 4.22(ddd,2H) 4.57(d,2H) 5.63〜5.75(m,1
H) 5.82〜5.91(m,1H) 7.00(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.85(d,1H) 8.00(d,1H) 8.09(dd,1H) 8.18(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:76.71 C:76.87 H:7.80 H:7.90
ns-2-デセン-1-オールを同じモル比で用いた以外は実
施例1の〜と同様の操作を行うことにより、4−
(trans−2−デセニルオキシ)安息香酸を得た。 で得た4−(trans−2−デセニルオキシ)安
息香酸2.0g(7.2mmol)、実施例1ので得
た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−2−メチルブチル
エステル1.9g(7.2mmol)、TPP2.3g
(8.7mmol)をTHF30mlに溶かし、これに
10℃以下でDEAD1.5g(8.7mmol)を加
え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘキサンで
抽出した。ヘキサンを留去し、得られた固体をシリカゲ
ルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶すること
より、本発明の化合物である表1中No.8の化合物
2.1gを得た。 IR ( cm-1) 2928.0 1731.0 1611.0 1263.0
1201.0 1172.01 H-NMR (ppm) 0.87(t,3H) 1.00(t,3H) 1.05(d,3H) 1.
20〜1.97(m,13H) 2.10(q,2H) 4.22(ddd,2H) 4.57(d,2H) 5.63〜5.75(m,1
H) 5.82〜5.91(m,1H) 7.00(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.85(d,1H) 8.00(d,1H) 8.09(dd,1H) 8.18(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:76.71 C:76.87 H:7.80 H:7.90
【0061】実施例 3 表1中No.22の化合物の製造 実施例1ので得た4−(9−デセニルオキシ)安息
香酸2.0g(7.2mmol)、6−ヒドロキシ−2
−ナフトエ酸−1−メチルヘプチルエステル(この化合
物は、WO87/06577号公報記載の方法により得
ることができる。)2.2g(7.2mmol)、TP
P2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶かし、これ
に10℃以下でDEAD1.5g(8.7mmol)を
加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘキサン
で抽出し、ヘキサンを留去した。得られた固体をシリカ
ゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶するこ
とより、本発明の化合物である表1中No.22の化合
物2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2930.0 1715.0 1609.0 1267.0
1199.01 H-NMR (ppm) 0.87(t,3H) 1.23〜1.88(m,25H) 2.00〜
2.09(m,2H) 4.05(t,2H) 4.90〜5.02(m,2H) 5.13〜5.26(m,1H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.99(d,2H) 7.42(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.75(d,1H) 8.01(d,1H) 8.09(dd,1H) 8.18(d,2H) 8.62(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.38 C:77.50 H:8.30 H:8.15
香酸2.0g(7.2mmol)、6−ヒドロキシ−2
−ナフトエ酸−1−メチルヘプチルエステル(この化合
物は、WO87/06577号公報記載の方法により得
ることができる。)2.2g(7.2mmol)、TP
P2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶かし、これ
に10℃以下でDEAD1.5g(8.7mmol)を
加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去後、ヘキサン
で抽出し、ヘキサンを留去した。得られた固体をシリカ
ゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶するこ
とより、本発明の化合物である表1中No.22の化合
物2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2930.0 1715.0 1609.0 1267.0
1199.01 H-NMR (ppm) 0.87(t,3H) 1.23〜1.88(m,25H) 2.00〜
2.09(m,2H) 4.05(t,2H) 4.90〜5.02(m,2H) 5.13〜5.26(m,1H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.99(d,2H) 7.42(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.75(d,1H) 8.01(d,1H) 8.09(dd,1H) 8.18(d,2H) 8.62(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.38 C:77.50 H:8.30 H:8.15
【0062】実施例 4 表2中No.28の化合物の製造 p−ブロモフェノール13.0g(75.1mmo
l)をジメチルスルホキシド150mlに溶かし、これ
に水酸化ナトリウム水溶液3.3g/20ml(82.
5mmol)、1,12−ジブロモドデカン25.0g
(76.2mmol)を加え、室温で24時間攪拌し
た。反応終了後氷水中に投入し、析出した結晶を濾取す
ることにより、12’−ブロモドデシルオキシ−4−ブ
ロモベンゼン29.3gを得た。 で得た12’−ブロモドデシルオキシ−4−ブロモ
ベンゼン29.3g(69.8mmol)に0℃以下で
乾燥ジメチルスルホキシド200ml、カリウム−t−
ブトキシド11.7g(104mmol)を加え、80
℃で8時間攪拌した。放冷後、氷水300ml中に投入
し、ヘキサンで抽出した。ヘキサン層を水洗後、ヘキサ
ンを留去することにより、11’−ドデセニルオキシ−
4−ブロモベンゼン17.2gを得た。 で得た11’−ドデセニルオキシ−4−ブロモベン
ゼン17.2g(50.7mmol)と金属マグネシウ
ムより調整したグリニャール試薬の乾燥エーテル溶液1
00mlに、5℃以下で炭酸ガスを1時間吹き込んだ。
反応終了後、氷水中に投入し、エーテルで抽出した。エ
ーテル層を1N塩酸、水で順次洗浄後、エーテルを留去
した。得られた固体をヘキサン/トルエン混合溶媒から
再結晶することにより、4−(11−ドデセニルオキ
シ)安息香酸8.6gを得た。 で得た4−(11−ドデセニルオキシ)安息香酸
2.0g(6.6mmol)、実施例3ので得た6−
ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−1−メチルヘプチルエス
テル2.0g(6.6mmol)、TPP2.1g
(7.9mmol)をTHF30mlに溶かし、これに
10℃以下でDEAD1.4g(7.9mmol)を加
え、室温で一晩攪拌した。THFを留去し、ヘキサンで
抽出後、ヘキサンを留去した。得られた固体をシリカゲ
ルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶すること
より、本発明の化合物である表2中No.28の化合物
2.0gを得た。 IR ( cm-1) 2928.0 2856.0 1734.0 1715.0
1261.0 1199.0 1178.01 H-NMR (ppm) 0.86(t,3H) 1.23〜1.87(m,29H) 2.00〜
2.09(m,2H) 4.03(t,2H) 4.90〜5.03(m,2H) 5.17〜5.28(m,1H) 5.73〜5.89(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.86(d,1H) 8.01(d,1H) 8.08(dd,1H)8.18(d,2H) 8.60(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.78 C:77.91 H:8.59 H:8.50
l)をジメチルスルホキシド150mlに溶かし、これ
に水酸化ナトリウム水溶液3.3g/20ml(82.
5mmol)、1,12−ジブロモドデカン25.0g
(76.2mmol)を加え、室温で24時間攪拌し
た。反応終了後氷水中に投入し、析出した結晶を濾取す
ることにより、12’−ブロモドデシルオキシ−4−ブ
ロモベンゼン29.3gを得た。 で得た12’−ブロモドデシルオキシ−4−ブロモ
ベンゼン29.3g(69.8mmol)に0℃以下で
乾燥ジメチルスルホキシド200ml、カリウム−t−
ブトキシド11.7g(104mmol)を加え、80
℃で8時間攪拌した。放冷後、氷水300ml中に投入
し、ヘキサンで抽出した。ヘキサン層を水洗後、ヘキサ
ンを留去することにより、11’−ドデセニルオキシ−
4−ブロモベンゼン17.2gを得た。 で得た11’−ドデセニルオキシ−4−ブロモベン
ゼン17.2g(50.7mmol)と金属マグネシウ
ムより調整したグリニャール試薬の乾燥エーテル溶液1
00mlに、5℃以下で炭酸ガスを1時間吹き込んだ。
反応終了後、氷水中に投入し、エーテルで抽出した。エ
ーテル層を1N塩酸、水で順次洗浄後、エーテルを留去
した。得られた固体をヘキサン/トルエン混合溶媒から
再結晶することにより、4−(11−ドデセニルオキ
シ)安息香酸8.6gを得た。 で得た4−(11−ドデセニルオキシ)安息香酸
2.0g(6.6mmol)、実施例3ので得た6−
ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−1−メチルヘプチルエス
テル2.0g(6.6mmol)、TPP2.1g
(7.9mmol)をTHF30mlに溶かし、これに
10℃以下でDEAD1.4g(7.9mmol)を加
え、室温で一晩攪拌した。THFを留去し、ヘキサンで
抽出後、ヘキサンを留去した。得られた固体をシリカゲ
ルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶すること
より、本発明の化合物である表2中No.28の化合物
2.0gを得た。 IR ( cm-1) 2928.0 2856.0 1734.0 1715.0
1261.0 1199.0 1178.01 H-NMR (ppm) 0.86(t,3H) 1.23〜1.87(m,29H) 2.00〜
2.09(m,2H) 4.03(t,2H) 4.90〜5.03(m,2H) 5.17〜5.28(m,1H) 5.73〜5.89(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.86(d,1H) 8.01(d,1H) 8.08(dd,1H)8.18(d,2H) 8.60(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.78 C:77.91 H:8.59 H:8.50
【0063】実施例 5 表1中No.23の化合物の製造 実施例2ので得た4−(trans−2−デセニル
オキシ)安息香酸2.0g(7.2mmol)、実施例
3ので得た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−1−メ
チルヘプチルエステル2.2g(7.2mmol)、T
PP2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶
かし、これに10℃以下でDEAD1.5g(8.7m
mol)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去
し、ヘキサンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた
固体をシリカゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回
再結晶することより、本発明の化合物である表1中N
o.23の化合物2.0gを得た。 IR ( cm-1) 2930.0 1731.0 1611.0 1263.0
1201.0 1172.01 H-NMR (ppm) 0.87(t,3H) 1.23〜1.85(m,23H) 2.05〜
2.13(m,2H) 4.58(d,2H) 5.17〜5.27(m,1H) 5.62〜5.75(m,1H) 5.82〜5.92(m,1H) 7.00(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.85(d,1H) 8.00(d,1H) 8.09(dd,1H)8.18(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.38 C:77.30 H:8.30 H:8.18
オキシ)安息香酸2.0g(7.2mmol)、実施例
3ので得た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−1−メ
チルヘプチルエステル2.2g(7.2mmol)、T
PP2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶
かし、これに10℃以下でDEAD1.5g(8.7m
mol)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去
し、ヘキサンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた
固体をシリカゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回
再結晶することより、本発明の化合物である表1中N
o.23の化合物2.0gを得た。 IR ( cm-1) 2930.0 1731.0 1611.0 1263.0
1201.0 1172.01 H-NMR (ppm) 0.87(t,3H) 1.23〜1.85(m,23H) 2.05〜
2.13(m,2H) 4.58(d,2H) 5.17〜5.27(m,1H) 5.62〜5.75(m,1H) 5.82〜5.92(m,1H) 7.00(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.85(d,1H) 8.00(d,1H) 8.09(dd,1H)8.18(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.38 C:77.30 H:8.30 H:8.18
【0064】実施例 6 表2中No.37の化合物の製造 実施例1ので得た4−(9−デセニルオキシ)安息
香酸2.0g(7.2mmol)、6−ヒドロキシ−2
−ナフトエ酸−4−メチルヘキシルエステル(この化合
物は、WO87/06577号公報記載の方法により得
ることができる。)2.2g(7.2mmol)、TP
P2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶か
し、これに10℃以下でDEAD1.5g(8.7mm
ol)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去し、
ヘキサンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた固体
をシリカゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結
晶することより、本発明の化合物である表2中No.3
7の化合物2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2920.0 1729.0 1609.0 1278.0
1199.0 1069.01 H-NMR (ppm) 0.85〜0.95(m,6H) 1.11〜1.90(m,19H)
2.00〜2.10(m,2H) 4.05(t,2H) 4.36(t,2H) 4.91〜5.03(m,2H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.72(d,1H) 7.86(d,1H) 8.01(d,1H) 8.08(dd,1H)8.18(d,2H) 8.62(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.17 C:77.02 H:8.14 H:8.26
香酸2.0g(7.2mmol)、6−ヒドロキシ−2
−ナフトエ酸−4−メチルヘキシルエステル(この化合
物は、WO87/06577号公報記載の方法により得
ることができる。)2.2g(7.2mmol)、TP
P2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶か
し、これに10℃以下でDEAD1.5g(8.7mm
ol)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去し、
ヘキサンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた固体
をシリカゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結
晶することより、本発明の化合物である表2中No.3
7の化合物2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2920.0 1729.0 1609.0 1278.0
1199.0 1069.01 H-NMR (ppm) 0.85〜0.95(m,6H) 1.11〜1.90(m,19H)
2.00〜2.10(m,2H) 4.05(t,2H) 4.36(t,2H) 4.91〜5.03(m,2H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.72(d,1H) 7.86(d,1H) 8.01(d,1H) 8.08(dd,1H)8.18(d,2H) 8.62(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.17 C:77.02 H:8.14 H:8.26
【0065】実施例 7 表2中No.43の化合物の製造 実施例4ので得た4−(11−ドデセニルオキシ)
安息香酸2.0g(6.6mmol)、実施例6ので
得た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−4−メチルヘキ
シルエステル1.7g(6.6mmol)、TPP2.
1g(7.9mmol)をTHF30mlに溶かし、こ
れに10℃以下でDEAD1.4g(7.9mmol)
を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去し、ヘキサ
ンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた固体をシリ
カゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶する
ことより、本発明の化合物である表2中No.43の化
合物1.9gを得た。 IR ( cm-1) 2926.0 1734.0 1717.0 1607.0
1265.0 1197.0 1178.01 H-NMR (ppm) 0.85〜0.93(m,6H) 1.11〜1.90(m,23H)
1.99〜2.08(m,2H) 4.02(t,2H) 4.37(t,2H) 4.92〜5.03(m,2H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.85(d,1H) 8.00(d,1H) 8.08(dd,1H)8.17(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.59 C:77.47 H:8.45 H:8.50
安息香酸2.0g(6.6mmol)、実施例6ので
得た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−4−メチルヘキ
シルエステル1.7g(6.6mmol)、TPP2.
1g(7.9mmol)をTHF30mlに溶かし、こ
れに10℃以下でDEAD1.4g(7.9mmol)
を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去し、ヘキサ
ンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた固体をシリ
カゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回再結晶する
ことより、本発明の化合物である表2中No.43の化
合物1.9gを得た。 IR ( cm-1) 2926.0 1734.0 1717.0 1607.0
1265.0 1197.0 1178.01 H-NMR (ppm) 0.85〜0.93(m,6H) 1.11〜1.90(m,23H)
1.99〜2.08(m,2H) 4.02(t,2H) 4.37(t,2H) 4.92〜5.03(m,2H) 5.75〜5.88(m,1H) 6.98(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.71(d,1H) 7.85(d,1H) 8.00(d,1H) 8.08(dd,1H)8.17(d,2H) 8.61(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.59 C:77.47 H:8.45 H:8.50
【0066】実施例 8 表2中No.38の化合物の製造 実施例2ので得た4−(trans−2−デセニル
オキシ)安息香酸2.0g(7.2mmol)、実施例
6ので得た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−4−メ
チルヘキシルエステル2.2g(7.2mmol)、T
PP2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶
かし、これに10℃以下でDEAD1.5g(8.7m
mol)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去
し、ヘキサンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた
固体をシリカゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回
再結晶することより、本発明の化合物である表2中N
o.38の化合物2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2926.0 1715.0 1605.0 1278.0
1191.0 1064.01 H-NMR (ppm) 0.85〜0.93(m,9H) 1.15〜1.57(m,15H)
1.70〜1.93(m,2H) 2.03〜2.17(m,2H) 4.34(t,2H) 4.58(d,2H) 5.63〜5.72(m,1H) 5.83〜5.93(m,1H) 7.00(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.72(d,1H) 7.83(d,1H) 7.99(d,1H) 8.07(dd,1H)8.18(d,2H) 8.60(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.17 C:77.00 H:8.14 H:8.31
オキシ)安息香酸2.0g(7.2mmol)、実施例
6ので得た6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸−4−メ
チルヘキシルエステル2.2g(7.2mmol)、T
PP2.3g(8.7mmol)をTHF30mlに溶
かし、これに10℃以下でDEAD1.5g(8.7m
mol)を加え、室温で一晩攪拌した。THFを留去
し、ヘキサンで抽出後、ヘキサンを留去した。得られた
固体をシリカゲルカラムで精製し、エタノ−ルから3回
再結晶することより、本発明の化合物である表2中N
o.38の化合物2.2gを得た。 IR ( cm-1) 2926.0 1715.0 1605.0 1278.0
1191.0 1064.01 H-NMR (ppm) 0.85〜0.93(m,9H) 1.15〜1.57(m,15H)
1.70〜1.93(m,2H) 2.03〜2.17(m,2H) 4.34(t,2H) 4.58(d,2H) 5.63〜5.72(m,1H) 5.83〜5.93(m,1H) 7.00(d,2H) 7.41(dd,1H) 7.72(d,1H) 7.83(d,1H) 7.99(d,1H) 8.07(dd,1H)8.18(d,2H) 8.60(s,1H) 元素分析値 理論値(%) 実測値(%) C:77.17 C:77.00 H:8.14 H:8.31
【0067】実施例1〜実施例8で得られた化合物およ
び組成物の相転移温度を表4に示す。
び組成物の相転移温度を表4に示す。
【0068】
【表4】 −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 実施例 ‖化合物 ‖ 相転移温度(℃) −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− No. ‖ No.‖ Cry S1 Sc* SA Iso −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 1 ‖ 7 ‖ ・53.6 - ・56.9 ・96.1 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 2 ‖ 8 ‖ ・53.0 - ・59.8 ・105.7 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 3 ‖ 22 ‖ ・43.0 - - ・58.3 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 4 ‖ 28 ‖ ・56.3 - - ・57.3 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 5 ‖ 23 ‖ ・53.2 (・51.1) ・54.4 ・69.1 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 6 ‖ 37 ‖ ・55.0 - ・63.9 ・92.3 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 7 ‖ 43 ‖ ・63.1 - ・65.4 ・87.7 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−− 8 ‖ 38 ‖ ・31.3 - ・78.1 ・101.3 ・ −−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−
【0069】表4中各記号は、それぞれ以下の意味を表
す。 Cry;結晶相 S1 ;未同定スメクチック相 Sc* ;カイラルスメクチックC相 SA ;スメクチックA相 Iso;等方性液体相 ・ ;相が存在する ( );モノトロピック相を表す − ;相が存在しない
す。 Cry;結晶相 S1 ;未同定スメクチック相 Sc* ;カイラルスメクチックC相 SA ;スメクチックA相 Iso;等方性液体相 ・ ;相が存在する ( );モノトロピック相を表す − ;相が存在しない
【0070】使用例例 1〜16 実施例1、3、4、5、7および8中の化合物(表1中
のNo.7,22,23の化合物、表2中のNo.2
8,38,43の化合物)および下記化16および化1
7に示されるナフタレン系化合物と下記化18〜化20
で示されるエステル系化合物(NA、NB、A〜C)を
表5に示す割合で混合して、液晶組成物を得た。
のNo.7,22,23の化合物、表2中のNo.2
8,38,43の化合物)および下記化16および化1
7に示されるナフタレン系化合物と下記化18〜化20
で示されるエステル系化合物(NA、NB、A〜C)を
表5に示す割合で混合して、液晶組成物を得た。
【0071】
【化16】
【0072】
【化17】
【0073】
【化18】
【0074】
【化19】
【0075】
【化20】
【0076】化16および17中、NAPは2,6−ナ
フチレン基を、化16〜化20中、C*は不斉炭素原子
を表す。次に、透明電極付のガラス基板に配向処理剤と
してポリイミドを塗布し、表面をラビングした後、スペ
ーサーを介在させ、ラビング方向が反平行となるように
貼合わせ、セル厚2μmのセルを作成した。このセルに
表4に示した液晶組成物を注入して液晶セルを作成し
た。2枚の直交する偏光子の間に設置し、25℃におい
て、+10V/μmの電圧を500μ秒印加した時の透
過率(T1)、−10V/μmの電圧を500μ秒印加
した時の透過率(T2)、+10V/μmの電圧を50
0μ秒印加し、電圧を切ってから0.5秒後での透過率
(T3)を測定することで、コントラスト比(T1/T
2と定義)を測定した。これらの使用例の結果を表5に
示した。偏光顕微鏡を用いてその配向状態を観察した結
果、使用例1〜16で得られた液晶セルの何れにおいて
もジグザグ欠陥はなく、良好な配向を示した。また、
0.5秒後でのメモリー性(T3/T1と定義)は、何
れの液晶セルにおいても0.9以上と良好であった。
フチレン基を、化16〜化20中、C*は不斉炭素原子
を表す。次に、透明電極付のガラス基板に配向処理剤と
してポリイミドを塗布し、表面をラビングした後、スペ
ーサーを介在させ、ラビング方向が反平行となるように
貼合わせ、セル厚2μmのセルを作成した。このセルに
表4に示した液晶組成物を注入して液晶セルを作成し
た。2枚の直交する偏光子の間に設置し、25℃におい
て、+10V/μmの電圧を500μ秒印加した時の透
過率(T1)、−10V/μmの電圧を500μ秒印加
した時の透過率(T2)、+10V/μmの電圧を50
0μ秒印加し、電圧を切ってから0.5秒後での透過率
(T3)を測定することで、コントラスト比(T1/T
2と定義)を測定した。これらの使用例の結果を表5に
示した。偏光顕微鏡を用いてその配向状態を観察した結
果、使用例1〜16で得られた液晶セルの何れにおいて
もジグザグ欠陥はなく、良好な配向を示した。また、
0.5秒後でのメモリー性(T3/T1と定義)は、何
れの液晶セルにおいても0.9以上と良好であった。
【0077】比較例 1 前記化16(NA)、化17(NB)および化18
(A)からなる組成物を調整し、使用例1〜16と同様
にしてSc*相転移温度およびコントラスト比を調べ
た。その結果を表5に示した。
(A)からなる組成物を調整し、使用例1〜16と同様
にしてSc*相転移温度およびコントラスト比を調べ
た。その結果を表5に示した。
【0078】
【表5】
【0079】なお、表5において、含有量は成分1/本
発明のナフタレン(ナフタレン1と記す)/本発明のナ
フタレン(ナフタレン2と記す)を表す。表5の結果か
ら、ナフタレン1およびナフタレン2が、ともにアルキ
ル基を持つナフタレン系化合物(NAおよびNB)の場
合はコントラスト比が16であるのに対し、少なくとも
一方がアルケニル基を持つナフタレン系化合物の場合
は、コントラスト比が23〜36と大幅に向上している
ことがわかる。
発明のナフタレン(ナフタレン1と記す)/本発明のナ
フタレン(ナフタレン2と記す)を表す。表5の結果か
ら、ナフタレン1およびナフタレン2が、ともにアルキ
ル基を持つナフタレン系化合物(NAおよびNB)の場
合はコントラスト比が16であるのに対し、少なくとも
一方がアルケニル基を持つナフタレン系化合物の場合
は、コントラスト比が23〜36と大幅に向上している
ことがわかる。
【0080】
【発明の効果】本発明の液晶化合物は、Sc*液晶組成
物、特にナフタレン系化合物およびエステル系化合物か
らなる液晶組成物に添加および/または置換することに
より、良好な配向性を損なうことなく、組成物のコント
ラスト比を高めることができる。従って、本発明の化合
物は液晶表示素子に用いる液晶材料として有用である。
物、特にナフタレン系化合物およびエステル系化合物か
らなる液晶組成物に添加および/または置換することに
より、良好な配向性を損なうことなく、組成物のコント
ラスト比を高めることができる。従って、本発明の化合
物は液晶表示素子に用いる液晶材料として有用である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 正洋 京都市東山区一橋野本町11番地の1 三洋 化成工業株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 下記一般式(1) 【化1】 〔式中、R1は炭素数4〜12のアルキル基または水素
原子を表し、mは1〜12の整数を表し、NAPは2,
6−ナフチレン基を表し、nは0〜5の整数を表し、C
*は不斉炭素原子を表し、R2は炭素数2〜10のアル
キル基を表す〕で示される液晶化合物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5329787A JPH06287165A (ja) | 1993-02-02 | 1993-11-30 | 液晶化合物 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5-39354 | 1993-02-02 | ||
JP3935493 | 1993-02-02 | ||
JP5329787A JPH06287165A (ja) | 1993-02-02 | 1993-11-30 | 液晶化合物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06287165A true JPH06287165A (ja) | 1994-10-11 |
Family
ID=26378716
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5329787A Pending JPH06287165A (ja) | 1993-02-02 | 1993-11-30 | 液晶化合物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06287165A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4205607A1 (de) * | 1991-05-23 | 1992-12-10 | Pioneer Electronic Corp | Hirnwellen induzierende vorrichtung |
-
1993
- 1993-11-30 JP JP5329787A patent/JPH06287165A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4205607A1 (de) * | 1991-05-23 | 1992-12-10 | Pioneer Electronic Corp | Hirnwellen induzierende vorrichtung |
DE4205607C2 (de) * | 1991-05-23 | 2001-07-19 | Pioneer Electronic Corp | Vorrichtung zum Induzieren einer gewünschten Hirnwelle bei einer Person |
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