JPH0628614U - 画像処理型測定機 - Google Patents

画像処理型測定機

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JPH0628614U
JPH0628614U JP6264592U JP6264592U JPH0628614U JP H0628614 U JPH0628614 U JP H0628614U JP 6264592 U JP6264592 U JP 6264592U JP 6264592 U JP6264592 U JP 6264592U JP H0628614 U JPH0628614 U JP H0628614U
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行男 伊藤
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株式会社ソキア
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 背面照明用光源を移動させることなく被測定
物の背面側に光を照射すること。 【構成】 光源と、光源変換部を収納した光学的検出ユ
ニット20と、光源変換部の出力信号から被測定物の形
状等を測定する画像処理部とを備えている画像処理型測
定機において、外枠22と、外枠22上部に配置された
平面発光パネル24と、外枠22内に収納されて平面発
光パネル24背面側に光を照射するLED28とを備
え、LED28からの光を被測定物34の背面側に照射
するようにしたもの。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は画像処理型測定機に係り、特に、非接触で被測定物の寸法、形状など を測定するに好適な画像処理型測定機に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、画像処理型測定機として、測定台表面の被測定物に向けて光を照射する 光源と、被測定物からの反射光を受光して電気信号に変換する光電変換部と、光 電変換部の出力信号を画像処理して被測定物の形状等を測定する画像処理部とを 備えたものが知られている。この装置によれば、プローブを用いて被測定物に接 触させることなく被測定物の形状などを非接触で測定することができる。
【0003】 ところが、被測定物として反射率の高いものが用いられると、被測定物の孔径 を測定するときなどには、被測定物に照射された光が乱反射し、孔とそれ以外と が区別しにくく孔径を正確に測定することができない場合がある。そこで、実開 昭62−184409号公報に記載されているように、測定台上に反射シートを 載置し、孔からの反射光を反射シートを介して受光するようにしたものが提案さ れている。ところが、このような構成を採用しても、孔径が大きいときには孔と それ以外とが十分に区別することはできるが、孔径が小さいときは孔径を精度よ く測定できない場合がある。一方、図4に示されるように、鋳物台100上にス ペーサーを介してガラステーブル102を固定し、ガラステーブル102と鋳物 台100との間にアーム104の先端側を挿入し、アーム104の一端を光学的 検出ユニット106に固定し、アーム104の先端側にハロゲンランプ108を 配置し、ガラステーブル102上に載置された被測定物の背面側から光を照射す るようにしたものが提案されている。この装置においては、光学的検出ユニット 106側からガラステーブル102上の被測定物に光を照射するとともに、ガラ ステーブル102下方に配置されたハロゲンランプ108から被測定物に向けて 光を照射するようにしているため、孔径が小さいときでも孔径を精度よく測定す ることができる。
【0004】
【考案の解決しようとする課題】
しかし、図4に示す装置では、検出ユニット106にアーム104を固定しな ければならず、装置が大型化するとともに、検出ユニット106とともにアーム 104を移動させなければならず、アーム104の荷重が検出ユニット106に かかり検出ユニット106の構成によっては測定精度が低下する恐れがある。
【0005】 本考案は前記従来技術の問題点に鑑みなされたもので、その目的は背面照明用 の光源を移動させることなく被測定物の背面側に光を照射することができる画像 処理型測定機を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本考案に係る画像処理型測定機においては、測定 台上方に配置されて測定台の表面に光を照射する光源と、測定台上方に配置され て測定台側からの光を受光して電気信号に変換する光電変換部と、光電変換部の 出力信号を画像処理して被測定物の形状を測定する画像処理部とを備えている画 像処理型測定機において、測定台上に載置可能に構成されて前記光電変換部を臨 む開口部を有する枠体と、枠体の開口部内に収納されて開口部上方へ光を発する 発光素子と、枠体の開口部のうち発光素子より上方に配置されて発光素子からの 光を透過する光透過パネルとを備え、光透過パネルの表面は被測定物を載置可能 な測定面として形成されていることを特徴とする画像処理型測定機を構成したも のである。
【0007】 さらに、本考案は、測定台上方に配置されて測定台の表面に光を照射する光源 と、測定台上方に配置されて測定台側からの光を受光して電気信号に変換する光 電変換部と、光電変換部の出力信号を画像処理して被測定物の形状を測定する画 像処理部とを備えている画像処理型測定機において、測定台上に載置可能に構成 されて前記光電変換部を臨む開口部を有する枠体と、枠体の開口部内に分散して 収納されて開口部上方へ光を発する複数の発光素子と、発光素子群のうち指定の 発光素子のみを発光させる発光素子駆動部と、枠体の開口部のうち各発光素子よ り上方に配置されて発光素子からの光を透過する光透過パネルとを備え、光透過 パネルの表面は被測定物を載置可能な測定面として形成されていることを特徴と する画像処理型測定機を構成したものである。
【0008】
【作用】
前記した手段によれば、測定台上に枠体を載置し、この枠体内に発光素子と光 透過パネルを収納し、発光素子からの光を光透過パネルを介して被測定物の背面 側に照射するようにしたため、背面照明用の光源を移動させることなく被測定物 の背面側に光を照射することができ、装置を大型化することなく被測定物の寸法 、形状等を精度よく測定することができる。また発光素子群のうち指定の発光素 子のみを発光させれば消費電力を低減することができる。
【0009】
【実施例】
次に、本考案の実施例を図面に基づいて説明する。 図1において、架台10上にはベース12が固定されており、ベース12の上 面中央部には鋳物製の測定台14が固定されている。またベース12の側面側に はポール16がY軸方向に移動可能に配置されており、ポール16の頂部にはア ーム18が固定されている。アーム18は測定台14上方に配置されており、ア ーム18には光学的検出ユニット20がX軸方向及びZ軸方向に移動可能に固定 されている。この検出ユニット20は対物レンズなど各種光学機器を収納してい るとともに光源としてのランプや測定台14側からの光を受光して光に応じた電 気信号を発生する光源変換部を収納している。そして光電変換部の出力が画像処 理部に接続されており、画像処理部において、被測定物の形状等が測定されるよ うになっている。測定台14上には、図2に示されるように、外枠22が載置さ れており、この外枠22には光透過パネルとしての平面発光パネル24、拡散板 26、発光素子としてのLED28が収納されている。この外枠22は断面が略 コ字形状に形成されて、上部側に開口部30が形成されており、この開口部30 の上部側に平面発光パネル24が固定され、平面発光パネル24の下側に拡散板 26が配置されている。さらに開口部30の略中程にはプリント基板32が固定 されており、基板32上には複数のLED28が配置されている。各LED28 の端子はそれぞれ直流電源に接続されている。
【0010】 平面発光パネル24はその上面が測定面として平面上に形成されており、各L ED28を点灯すると、LED28からの光が拡散板26、平面発光パネル24 を介して平面発光パネル24上方へ伝搬する。このとき、LED28が分散配置 されていても、各LED28からの光が拡散板26で拡散されるため、平面発光 パネル24からは平行光が透過することになる。
【0011】 上記構成において、測定台14上に外枠22を載置すると共に平面発光パネル 24上に被測定物34を載置する。この状態で各LED28に電力を供給して各 LED28を点灯すると、平面発光パネル24背面側に各LED28からの光が 照射される。この状態で光学的検出ユニット20を被測定物34上方まで移動さ せて、検出ユニット20からの光を被測定物34に照射する。このとき被測定物 34からの反射光を検出ユニット20で受光すると、被測定物34からの反射光 が光電変換部で電気信号に変換され、光電変換部からの信号が画像処理部に転送 され、画像処理部において被測定物34の寸法、形状等の測定が行われる。この とき、被測定物34として反射率の高いものを用いても、被測定物34の背面側 から光が照射されているため、被測定物34の孔径等を精度よく測定することが できる。
【0012】 このように、本実施例によれば、平面発光パネル24上に被測定物34を載置 して被測定物34の寸法等を測定する場合、背面照明用の光源としてのLED2 8を移動させることなく、検出ユニット20のみを移動させるだけで被測定物3 4の寸法等を測定することができ、装置の小型化に寄与することができる。 また図3に示されるように、各LED28を複数のグループに分割し、各グル ープのLED28を発光素子駆動部を介して電源に接続し、測定エリアのLED 28のみを点灯するようにすれば消費電力を低減することができる。
【0013】
【考案の効果】
以上の説明から明らかなように、本考案に係る画像処理型測定器において、背 面照明用の光源を移動させることなく被測定物の背面側に光を照射するようにし たため、装置を大型化することなく被測定物の寸法等を精度よく測定することが できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示す斜視図
【図2】光透過パネルの断面図
【図3】LEDの駆動方法を説明するための図
【図4】従来例の斜視図
【符号の説明】
14 測定台 18 アーム 20 光学的検出ユニット 22 外枠 24 平面発光パネル 26 拡散板 28 LED 34 被測定物

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定台上方に配置されて測定台の表面に
    光を照射する光源と、測定台上方に配置されて測定台側
    からの光を受光して電気信号に変換する光電変換部と、
    光電変換部の出力信号を画像処理して被測定物の形状を
    測定する画像処理部とを備えている画像処理型測定機に
    おいて、測定台上に載置可能に構成されて前記光電変換
    部を臨む開口部を有する枠体と、枠体の開口部内に収納
    されて開口部上方へ光を発する発光素子と、枠体の開口
    部のうち発光素子より上方に配置されて発光素子からの
    光を透過する光透過パネルとを備え、光透過パネルの表
    面は被測定物を載置可能な測定面として形成されている
    ことを特徴とする画像処理型測定機。
  2. 【請求項2】 測定台上方に配置されて測定台の表面に
    光を照射する光源と、測定台上方に配置されて測定台側
    からの光を受光して電気信号に変換する光電変換部と、
    光電変換部の出力信号を画像処理して被測定物の形状を
    測定する画像処理部とを備えている画像処理型測定機に
    おいて、測定台上に載置可能に構成されて前記光電変換
    部を臨む開口部を有する枠体と、枠体の開口部内に分散
    して収納されて開口部上方へ光を発する複数の発光素子
    と、発光素子群のうち指定の発光素子のみを発光させる
    発光素子駆動部と、枠体の開口部のうち各発光素子より
    上方に配置されて発光素子からの光を透過する光透過パ
    ネルとを備え、光透過パネルの表面は被測定物を載置可
    能な測定面として形成されていることを特徴とする画像
    処理型測定機。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006267533A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Hitachi Kokusai Electric Inc 測定装置
JP4691375B2 (ja) * 2005-03-24 2011-06-01 株式会社日立国際電気 測定装置

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