JP2553447Y2 - 光学測定器 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、被測定物の底面像を観
察測定するようにした光学測定器に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、例えば足型を測定する場合に
は、その底面像すなわち足裏形状を観察測定する必要が
あり、この底面形状をレーザー光を利用してスキャンす
ることで計測するようにした測定器が実用化されてい
る。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】しかして、上記のよう
なレーザー光を利用した測定器では、装置が大型となっ
てコスト面でも不利となる。

【０００４】また、被測定物の底面像を撮影する場合
に、載置台に載置した被測定物の底面を照明する必要が
あるが、この照明は良好な画像を得るためには底面全体
を均一な明るさで行わなければならない。しかし、上記
底面像を側方もしくは上方に反射させて撮影観察する場
合には、照明光源の配置が反射装置との関係で制限さ
れ、一側方からの照明では均等な照明が行えず、また、
底面像と重なる部分から照明すると、該底面像と光源の
像とが重なって底面像が明瞭に得られない問題を有す
る。

【０００５】そこで本考案は上記事情に鑑み、被測定物
の底面を均等に照明して良好な底面像を撮影観察できる
ようにした光学測定器を提供することを目的とするもの
である。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本考案の光学測定器は、下方から載置した被測定物の底
面が観察可能な載置台と、該載置台の下方に約４５度傾
け設置した半透鏡と、該半透鏡および前記載置台を透過
して、前記被測定物の底面像の外周部分を囲繞して外側
に配置し、前記載置台に載置された被測定物および被測
定物以外の部分に均一に照明する面発光の均一照明光源
と、載置台上の被測定物の底面像をその底面像の輪郭が
認識できる範囲までを含めて前記半透鏡の反射屈折を利
用して撮像する撮像装置とで構成したものである。

【０００７】

【作用】上記のような光学測定器では、被測定物の底面
像は載置台の下方に約４５度傾け設置した半透鏡によっ
てその底面像の輪郭が認識できる範囲までを含めて撮像
装置側に反射されて撮像されるものであるが、その際、
被測定物の底面像を囲繞して外側に配置した面発光の均
一照明光源からの光が半透鏡および載置台を透過して被
測定物の底面および被測定物以外の部分を均一に照明
し、しかも、上記光源は底面像の外側に位置して底面像
と重なることがないことで、被測定物の良好な底面像を
得てその輪郭を明確に認識することが可能となるもので
ある。

【０００８】

【実施例】以下、図面に沿って本考案の各実施例を説明
する。図１に一実施例の光学測定器の概略構成を示す。

【０００９】測定器10は、足などの被測定物Ｗを載置す
る水平状態に設置された載置台11を備えている。この載
置台11は、その下面から被測定物Ｗの底面が観視可能で
あり、例えば透明部材もしくはすりガラスで構成されて
いる。すりガラスの場合には、下方からの光が拡散さ
れ、被測定物Ｗの載置台11に対する接触部分のみが被測
定物Ｗの底面像として得られ、輪郭形状がより鮮明とな
るものである。

【００１０】上記載置台11の下方には、被測定物Ｗの底
面像を側方に反射する第１の反射手段12が配設されてい
る。この第１の反射手段12としては、例えば、平面鏡
（半透鏡）が側方に向けて45度に傾斜配設されている。

【００１１】また、上記第１の反射手段12の側方には、
第１の反射手段12によって反射された被測定物Ｗの底面
像を上方に反射する第２の反射手段13が配設されてい
る。この第２の反射手段13としては、例えば、平面鏡が
第１の反射手段12に対して約90度に傾斜配設されてい
る。すなわち、上記第１の反射手段12と第２の反射手段
13とによって、被測定物Ｗの底面像を上方に反射するよ
うに構成されている。

【００１２】さらに、上記第２の反射手段13の上方には
第３の反射手段14によって水平方向に反射された側面像
を撮影するテレビカメラ等の撮像装置15が設置されてい
る。なお、上記第３の反射手段14および撮像装置15は、
実際には90°回転した紙面と垂直な方向に配設されてい
る。

【００１３】前記第１の反射手段12は半透鏡で構成さ
れ、その背部（下方）には面発光の均一照明光源17が設
置されている。この均一照明光源17は、ＥＬ（エレクト
ロルミネセンス）照明板18が水平状態に配設されて形成
されている。上記ＥＬ照明板18は、例えば、表面の透明
電極と背面の金属板との間に蛍光体を含んだ誘電体層が
積層され、透明電極と金属板とに交流電源を接続して全
面で均等な明るさに発光し、電源の電圧と周波数の設定
によって（例えばスライダックで電圧を調整して）その
明るさが変更可能な公知のＥＬランプを採用している。

【００１４】また、図２に示すように、上記均一照明光
源17の発光部17a の形状、すなわちＥＬ照明板18の形状
は、被測定物Ｗの底面像の外周部分を囲繞する額縁状に
設けられている。なお、上記均一照明光源17の発光部17
a の形状は、被測定物Ｗの底面形状より外側でかつその
外周を包囲するように形成されるものであって、被測定
物Ｗの形状に対応して、４角形のほか円形、楕円形、長
円形などの各種形状に形成されるものである。

【００１５】撮影状態は、均一照明光源17のＥＬ照明板
18に通電が開始されて、該ＥＬ照明板18は所定の明るさ
に発光し、その照明光は半透鏡による第１の反射手段12
を通して載置台11上の被測定物Ｗの底面を周囲から均等
に照明する。また、底面像は第１ないし第３の反射手段
12〜14を経て撮像装置15によって撮影される。その際、
光源17からの光は載置台11の面で反射されて同様に撮像
装置15に入射されるが、発光部17a が底面像外に位置す
ることから、図２のように底面像と反射照明光とが重な
ることなく、均等に照明されて各部の明るさに大きな差
異がない状態で底面像が撮影される。そして、撮影され
た画像は、画像処理装置によって処理されて例えば輪郭
が認識され、これに基づき足裏形状の各部の寸法等を測
定するものである。

【００１６】本例によれば、均一照明光源17の設置によ
って簡単な構成で被測定物Ｗの底面を均等に照明でき、
しかも、底面像に光源像が重なって底面像が不鮮明とな
ることがない。

【００１７】なお、前記均一照明光源17としては、上記
のようなＥＬ照明板18が所定形状への成形性の点などか
ら好適であるが、他の拡散板などを利用した照明手段が
適宜採用可能である。また、上記実施例では、撮像装置
15を上部で水平に配設することから３つの反射手段を設
置しているが、第１または第２の反射手段12,13 による
像を直接撮影するように構成してもよい。

【００１８】

【００１９】

【００２０】また、両足を同時に撮影するようにしても
よい。すなわち、図１と対称に他方の載置台と各反射手
段と撮像装置および均一照明光源を配設すればよいもの
である。

【００２１】さらに、上記実施例では底面像のみを撮影
するようにしているが、側面像をも同時に撮影するよう
にしてもよい。例えば、前記載置台11の側方に被測定物
Ｗの側面像を前記第３の反射手段14に向けて反射する反
射手段を設け、前記撮像装置15によって同一視野内に側
面像と底面像とを隣接して同時に撮影するのが好適であ
る。この場合、側面像の背景部分にコントラストを高め
るＥＬ照明板による発光部材を設置するのが好適であ
る。

【００２２】本考案における被測定物Ｗは前記実施例の
ような足に限らず、底面からの輪郭画像が必要な各種物
品に対して適用可能である。

【００２３】

【考案の効果】上記のような光学測定器によれば、載置
台に載置した被測定物の底面像を側方に反射する半透鏡
を設け、この半透鏡を透過して被測定物の底面を均一に
照明する面発光の均一照明光源を底面像を囲繞して外側
に設けたことにより、撮像装置によって載置台上の被測
定物の底面像をその底面像の輪郭が認識できる範囲まで
を含めて半透鏡の反射屈折を利用して撮像し、しかも底
面像と光源とが重ならないことで、明るさが均一で良好
な底面像を簡易に得ることができて、該被測定物の底面
像の輪郭を明確に認識することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例における光学測定器の概略構
成を示す正面構成図

【図２】均一照明光源の平面図

【符号の説明】

10 測定器 Ｗ 被測定物 11 載置台 12 第１の反射手段 13 第２の反射手段 15 撮像装置 17 均一照明光源 17a 発光部 18 ＥＬ照明板

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】下方から載置した被測定物の底面が観察可
   能な載置台と、 該載置台の下方に約４５度傾け設置した半透鏡と、 該半透鏡および前記載置台を透過して、前記被測定物の
   底面像の外周部分を囲繞して外側に配置し、前記載置台
   に載置された被測定物および被測定物以外の部分に均一
   に照明する面発光の均一照明光源と、 載置台上の被測定物の底面像をその底面像の輪郭が認識
   できる範囲までを含めて前記半透鏡の反射屈折を利用し
   て撮像する撮像装置とからなる ことを特徴とする光学測
   定器。