JPH0534507U - 光学測定器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定物の側面像の輪郭形状を簡易な構成に
よって明確に撮影観察できるようにする。 【構成】 載置台11に載置した被測定物Ｗの側面像を反
射手段を介して撮影するについて、載置台の被測定物の
背景部分にＥＬ照明板等による均一照明手段17を設置し
てなる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、被測定物の側面像の輪郭を明瞭に観察測定し得るようにした光学測 定器に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来より、例えば足型を測定する場合には、その側面像すなわち甲部分の輪郭 形状を観察測定する必要があり、この側面形状をレーザー光を利用してスキャン することで計測するようにした測定器が実用化されている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

しかして、上記のようなレーザー光を利用した測定器では、装置が大型となっ てコスト面でも不利となる。

【０００４】 また、単に被測定物の側面像を撮影した場合に、その撮影像から輪郭の判別を 行うのにコントラストが不明瞭なものでは、その画像処理が煩雑で不正確になる 問題を有する。

【０００５】 そこで本考案は上記事情に鑑み、被測定物の側面像を明瞭な輪郭形状を有する 状態で撮影観察できるようにした光学測定器を提供することを目的とするもので ある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため本考案の光学測定器は、載置台に被測定物を載置し、 この被測定物の側面像を反射手段を介して撮影するものであって、前記載置台の 被測定物の背景部分に均一照明手段を設置して構成したものである。

【０００７】

【作用】 上記のような光学測定器では、被測定物の側面像は反射手段によって撮像装置 側に反射されて撮像されるものであるが、その際、該側面像の背景部分にはＥＬ 照明板等による均一照明手段が配設されて、被測定物の輪郭形状が背景部分との 間に高いコントラストを有する画像として得られ、この輪郭形状の寸法の測定な どが簡易な画像処理によって行うことが可能となる。

【０００８】

【実施例】

以下、図面に沿って本考案の各実施例を説明する。図１に一実施例の光学測定 器の概略構成を示す。

【０００９】 測定器10は、足などの被測定物Ｗを載置する水平状態に設置された載置台11を 備えている。この載置台11の側方には、被測定物Ｗの側面像を上方に反射する第 １の反射手段12が配設されている。この第１の反射手段12としては、例えば、平 面鏡が傾斜角（あおり角）および横方向位置（反射距離）を所定状態として傾斜 配設されている。さらに、上記第１の反射手段12の上方には第２の反射手段13に よって水平方向に反射された側面像を撮影するテレビカメラ等の撮像装置15が設 置されている。なお、上記第２の反射手段13および撮像装置15は、実際には90° 回転した紙面と垂直な方向に配設されている。

【００１０】 一方、前記載置台11の被測定物Ｗの背景部分、すなわち第１の反射手段12と反 対側には、均一照明手段17が設置されている。この均一照明手段17は、ＥＬ（エ レクトロルミネセンス）照明板18が基板19に取り付けられて、ついたて状に形成 されている。上記ＥＬ照明板18は、例えば、表面の透明電極と背面の金属板との 間に蛍光体を含んだ誘電体層が積層され、透明電極と金属板とに交流電源を接続 して全面で均等な明るさに発光し、電源の電圧と周波数の設定によって（例えば スライダックで電圧を調整して）その明るさが変更可能な公知のＥＬランプを採 用している。

【００１１】 撮影状態は、図２に示すように、ＥＬ照明板18に通電が開始されて、該ＥＬ照 明板18は所定の明るさに発光し、撮像装置15によって撮影された被測定物Ｗの側 面像は、足全体が暗く背景の部分が明るく、その輪郭Waすなわち足の甲部分の形 状が明確な濃度差をもって鮮明なコントラストで撮影されるものである。そして 、撮影された画像は、例えば画像処理装置によって所定の明るさのスライスレベ ルで処理されて輪郭Waが認識され、これに基づき足の甲部分などの各部の寸法等 を測定するものであり、前記コントラストにより画像処理が簡易な処理によって 行える。

【００１２】 本例によれば、均一照明手段17の設置により簡単な構成で被測定物Ｗの側面像 を鮮明な輪郭Waをもって撮影できるものである。

【００１３】 なお、前記均一照明手段17としては、上記のようなＥＬ照明板18が光量、板状 の構造などから最適であるが、他の拡散板などを利用した照明手段が適宜採用可 能である。また、上記実施例では、撮像装置15を上部で水平に配設することから ２つの反射手段を設置しているが、第１の反射手段12による像を直接撮影するよ うに構成してもよい。

【００１４】 また、両足を同時に撮影するようにしてもよい。すなわち、図１と対称に他方 の載置台と反射手段と撮像装置を配設し、背景部分としての基板19の反対面にも ＥＬ照明板による均一照明手段を設置すればよいものである。

【００１５】 さらに、上記実施例では側面像のみを撮影するようにしているが、底面像をも 同時に撮影するようにしてもよい。例えば、前記載置台11を透明部材もしくはす りガラスで構成し、この載置台11の下方に被測定物Ｗの底面像を側方に反射する 反射手段と、この反射手段によって反射された底面像を上方に前記第２の反射手 段13に対して反射する反射手段を配設し、前記撮像装置15によって同一視野内に 側面像と底面像とを隣接して同時に撮影するのが好適である。この場合、下方か らの光源で被測定物Ｗの底面を照明する必要があるが、例えば、載置台の下方に 設けた反射手段をハーフミラーとしてその下方から照明すればよい。

【００１６】 本考案における被測定物Ｗは前記実施例のような足に限らず、側面からの輪郭 画像が必要な各種物品に対して適用可能である。

【００１７】

【考案の効果】

上記のような光学測定器によれば、載置台に載置した被測定物の背景部分に均 一照明手段を設置し、その側面像を反射手段を介して撮影するように設けたこと により、均一照明手段による明るい背景部分に対して暗い被測定物の側面像が、 高いコントラストで明瞭な輪郭形状を有する画像として得られ、簡易な画像処理 によっても輪郭形状の寸法の測定などを容易に行うことができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例における光学測定器の概略構
成を示す正面構成図

【図２】測定部の概略側面図

【符号の説明】

10 測定器 Ｗ 被測定物 11 載置台 12 第１の反射手段 13 第２の反射手段 15 撮像装置 17 均一照明手段 18 ＥＬ照明板

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 載置台に被測定物を載置し、この被測定
   物の側面像を反射手段を介して撮影するようにした光学
   測定器であって、前記載置台の被測定物の背景部分に均
   一照明手段を設置したことを特徴とする光学測定器。