JPH05302823A - 光学測定機 - Google Patents
光学測定機Info
- Publication number
- JPH05302823A JPH05302823A JP15128891A JP15128891A JPH05302823A JP H05302823 A JPH05302823 A JP H05302823A JP 15128891 A JP15128891 A JP 15128891A JP 15128891 A JP15128891 A JP 15128891A JP H05302823 A JPH05302823 A JP H05302823A
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- Japan
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- reflecting means
- reflection
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定物の底面像と側面像とを簡易な構成に
よって同一視野内に隣接して観察すると共に両像のピン
ト、倍率を一致させるようにする。 【構成】 被測定物Ｗを載置する試料台11の下方に設け
て底面像を側方に反射する第１の反射手段12と、この底
面像を上方に反射する第２の反射手段13と、試料台の側
方に設けて側面像を上記底面像に隣接して上方に反射す
る第３の反射手段14と、第３の反射手段の反射角度およ
び反射距離が変更可能な調整手段15,16とを備えてな
る。
よって同一視野内に隣接して観察すると共に両像のピン
ト、倍率を一致させるようにする。 【構成】 被測定物Ｗを載置する試料台11の下方に設け
て底面像を側方に反射する第１の反射手段12と、この底
面像を上方に反射する第２の反射手段13と、試料台の側
方に設けて側面像を上記底面像に隣接して上方に反射す
る第３の反射手段14と、第３の反射手段の反射角度およ
び反射距離が変更可能な調整手段15,16とを備えてな
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定物の底面像と側
面像とを同時に観察測定し得るようにした光学測定機に
関するものである。
面像とを同時に観察測定し得るようにした光学測定機に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、例えば足型を測定する場合に
は、その底面像と側面像とを観察測定する必要があり、
この底面形状と側面形状とをレーザー光を利用してスキ
ャンすることで計測するようにした測定機が実用化され
ている。
は、その底面像と側面像とを観察測定する必要があり、
この底面形状と側面形状とをレーザー光を利用してスキ
ャンすることで計測するようにした測定機が実用化され
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかして、上記のよう
なレーザー光を利用した測定器では、装置が大型となっ
てコスト面でも不利となる。すなわち、被測定物の底面
像と側面像とを別途の方向からそれぞれ観察するもので
は、複数の撮像装置もしくは計測装置が必要となり、像
を得るための機構、装置が複雑となるものであり、撮像
後の底面像と側面像との照合も必要となる。
なレーザー光を利用した測定器では、装置が大型となっ
てコスト面でも不利となる。すなわち、被測定物の底面
像と側面像とを別途の方向からそれぞれ観察するもので
は、複数の撮像装置もしくは計測装置が必要となり、像
を得るための機構、装置が複雑となるものであり、撮像
後の底面像と側面像との照合も必要となる。
【０００４】また、被測定物の底面像と側面像とを同時
に得る場合に、像のピントが両者で同時に合い、像の倍
率が等しくなっていることが、得られた画像の測定など
を行う点で有効であるが、このような像を簡易に得るこ
とも困難性を伴う。
に得る場合に、像のピントが両者で同時に合い、像の倍
率が等しくなっていることが、得られた画像の測定など
を行う点で有効であるが、このような像を簡易に得るこ
とも困難性を伴う。
【０００５】そこで本発明は上記事情に鑑み、被測定物
の底面像と側面像とを同一視野内に隣接して観察すると
共に両像のピントと倍率が一致するようにした光学測定
機を提供することを目的とするものである。
の底面像と側面像とを同一視野内に隣接して観察すると
共に両像のピントと倍率が一致するようにした光学測定
機を提供することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の光学測定機は、被測定物を載置する試料台と、
該試料台の下方に配設され被測定物の底面像を側方に反
射する第１の反射手段と、該第１の反射手段によって反
射された被測定物の底面像を上方に反射する第２の反射
手段と、前記試料台の側方に配設され被測定物の側面像
を上記第２の反射手段で反射された底面像に隣接して上
方に反射する第３の反射手段と、上記第３の反射手段の
反射角度および反射距離が変更可能な調整手段とを備え
てなるものである。
本発明の光学測定機は、被測定物を載置する試料台と、
該試料台の下方に配設され被測定物の底面像を側方に反
射する第１の反射手段と、該第１の反射手段によって反
射された被測定物の底面像を上方に反射する第２の反射
手段と、前記試料台の側方に配設され被測定物の側面像
を上記第２の反射手段で反射された底面像に隣接して上
方に反射する第３の反射手段と、上記第３の反射手段の
反射角度および反射距離が変更可能な調整手段とを備え
てなるものである。
【０００７】
【作用および効果】上記のような光学測定機では、被測
定物の底面像は第１および第２の反射手段によって上方
に反射され、また、側面像は第３の反射手段によって上
方に反射され、上記底面像と側面像とが隣接して同一視
野内に観察でき、調整手段によって第３の反射手段の反
射角度および反射距離を調整することで被測定物の底面
像と側面像のピントが同時に合うと共に倍率が同一とな
り、所望の２面像が簡易な構成によって得ることができ
るものである。
定物の底面像は第１および第２の反射手段によって上方
に反射され、また、側面像は第３の反射手段によって上
方に反射され、上記底面像と側面像とが隣接して同一視
野内に観察でき、調整手段によって第３の反射手段の反
射角度および反射距離を調整することで被測定物の底面
像と側面像のピントが同時に合うと共に倍率が同一とな
り、所望の２面像が簡易な構成によって得ることができ
るものである。
【０００８】
【実施例】以下、図面に沿って本発明の実施例を説明す
る。図１に一実施例の光学測定機の測定部の構成を示
す。
る。図１に一実施例の光学測定機の測定部の構成を示
す。
【０００９】測定部10は、足などの被測定物Ｗを載置す
る試料台11が水平状態に設置されている。この試料台11
は、その下面から被測定物Ｗの底面が観視可能であり、
例えば透明部材もしくはすりガラスで構成されている。
すりガラスの場合には、下方からの光が拡散され、被測
定物Ｗの試料台11に対する接触部分のみが被測定物Ｗの
底面像WAとして得られ、輪郭形状がより鮮明となるもの
である。
る試料台11が水平状態に設置されている。この試料台11
は、その下面から被測定物Ｗの底面が観視可能であり、
例えば透明部材もしくはすりガラスで構成されている。
すりガラスの場合には、下方からの光が拡散され、被測
定物Ｗの試料台11に対する接触部分のみが被測定物Ｗの
底面像WAとして得られ、輪郭形状がより鮮明となるもの
である。
【００１０】上記試料台11の下方には、被測定物Ｗの底
面像WAを側方に反射する第１の反射手段12が配設されて
いる。この第１の反射手段12としては、例えば、平面鏡
が側方に向けて45度に傾斜配設されている。
面像WAを側方に反射する第１の反射手段12が配設されて
いる。この第１の反射手段12としては、例えば、平面鏡
が側方に向けて45度に傾斜配設されている。
【００１１】また、上記第１の反射手段12の側方には、
第１の反射手段12によって反射された被測定物Ｗの底面
像WAを上方に反射する第２の反射手段13が配設されてい
る。この第２の反射手段13としては、例えば、平面鏡が
第１の反射手段12に対して約90度に傾斜して配設されて
いる。すなわち、上記第１の反射手段12と第２の反射手
段13とによって、被測定物Ｗの底面像WAを上方に反射す
るように構成されている。
第１の反射手段12によって反射された被測定物Ｗの底面
像WAを上方に反射する第２の反射手段13が配設されてい
る。この第２の反射手段13としては、例えば、平面鏡が
第１の反射手段12に対して約90度に傾斜して配設されて
いる。すなわち、上記第１の反射手段12と第２の反射手
段13とによって、被測定物Ｗの底面像WAを上方に反射す
るように構成されている。
【００１２】さらに、前記試料台11の側方には、被測定
物Ｗの側面像WBを上記第２の反射手段13で反射された底
面像WAに隣接して上方に反射する第３の反射手段14が配
設されている。この第３の反射手段14は、第１の調整手
段15によって横方向位置を調整して反射距離が変更可能
であるとともに、第２の調整手段16によってあおり角度
を調整して反射角度が変更可能である。この第３の反射
手段14としては、例えば、平面鏡が第２の反射手段13の
延長上に、横方向位置（反射距離）およびあおり角（反
射角度）を所定状態として傾斜配設されるものであっ
て、上記第１および第２の調整手段15,16 の詳細機構は
図示しないが、公知のスライド機構およびあおり機構が
適宜採用される。
物Ｗの側面像WBを上記第２の反射手段13で反射された底
面像WAに隣接して上方に反射する第３の反射手段14が配
設されている。この第３の反射手段14は、第１の調整手
段15によって横方向位置を調整して反射距離が変更可能
であるとともに、第２の調整手段16によってあおり角度
を調整して反射角度が変更可能である。この第３の反射
手段14としては、例えば、平面鏡が第２の反射手段13の
延長上に、横方向位置（反射距離）およびあおり角（反
射角度）を所定状態として傾斜配設されるものであっ
て、上記第１および第２の調整手段15,16 の詳細機構は
図示しないが、公知のスライド機構およびあおり機構が
適宜採用される。
【００１３】一方、前記試料台11の下方側部には、被測
定物Ｗの底面を照明する光源17が設置されている。この
光源17としては、例えば、試料台11の長手方向に延びる
蛍光灯が配設され、第１の反射手段12の端部から試料台
11の下面を照明するように構成される。
定物Ｗの底面を照明する光源17が設置されている。この
光源17としては、例えば、試料台11の長手方向に延びる
蛍光灯が配設され、第１の反射手段12の端部から試料台
11の下面を照明するように構成される。
【００１４】そして、前記被測定物Ｗの側部上方には、
被測定物Ｗの底面像WAおよび側面像WBを同時に撮影する
テレビカメラ等の撮像装置18が設置されている。すなわ
ち、この撮像装置18で撮影される画像は、図２に示すよ
うに、前記第１の反射手段12および第２の反射手段13に
よって反射された被測定物Ｗの底面像WAに隣接して前記
第３の反射手段14によって反射された被測定物Ｗの側面
像WBが同一視野Ｓ内に位置している。なお、撮像装置18
の実際の配設位置は、図示の場合より相当上方に離れて
設置される。また、詳細は図示しないが、前記撮像装置
18によって得られた画像は、その輪郭形状などから各種
寸法が計測される。
被測定物Ｗの底面像WAおよび側面像WBを同時に撮影する
テレビカメラ等の撮像装置18が設置されている。すなわ
ち、この撮像装置18で撮影される画像は、図２に示すよ
うに、前記第１の反射手段12および第２の反射手段13に
よって反射された被測定物Ｗの底面像WAに隣接して前記
第３の反射手段14によって反射された被測定物Ｗの側面
像WBが同一視野Ｓ内に位置している。なお、撮像装置18
の実際の配設位置は、図示の場合より相当上方に離れて
設置される。また、詳細は図示しないが、前記撮像装置
18によって得られた画像は、その輪郭形状などから各種
寸法が計測される。
【００１５】また、前記第３の反射手段14の調整手段1
5,16 による反射距離および反射角度の調整は、上記撮
像装置18から被測定物Ｗの底面までの距離と、側面（図
示の場合はかかと中心）までの距離を等しくすると同時
に底面像WAと側面像WBの反射位置を所定の隣接状態に設
定するものであり、この調整によって両像WA,WB のピン
トが両方同時に合うと共に、両像WA,WB の倍率を等しく
して各種寸法の計測比較が容易に行えるようにするもの
である。
5,16 による反射距離および反射角度の調整は、上記撮
像装置18から被測定物Ｗの底面までの距離と、側面（図
示の場合はかかと中心）までの距離を等しくすると同時
に底面像WAと側面像WBの反射位置を所定の隣接状態に設
定するものであり、この調整によって両像WA,WB のピン
トが両方同時に合うと共に、両像WA,WB の倍率を等しく
して各種寸法の計測比較が容易に行えるようにするもの
である。
【００１６】また、前記被測定物Ｗに対して前記第３の
反射手段14と反対側の側方には、背景部材19が試料台11
に立設されている。この背景部材19は、被測定物Ｗとコ
ントラストを有しており、被測定物Ｗが白色系の場合に
は黒色等に形成され、被測定物Ｗの側面像WBの輪郭を鮮
明とするように構成されている。
反射手段14と反対側の側方には、背景部材19が試料台11
に立設されている。この背景部材19は、被測定物Ｗとコ
ントラストを有しており、被測定物Ｗが白色系の場合に
は黒色等に形成され、被測定物Ｗの側面像WBの輪郭を鮮
明とするように構成されている。
【００１７】上記実施例では、第１の反射手段12および
第２の反射手段13は平面鏡によって別体に形成されてい
るが、被測定物Ｗがそれほど大きくない場合には、上記
第１の反射手段12および第２の反射手段13を一体のプリ
ズム鏡よって構成するようにしてもよい。
第２の反射手段13は平面鏡によって別体に形成されてい
るが、被測定物Ｗがそれほど大きくない場合には、上記
第１の反射手段12および第２の反射手段13を一体のプリ
ズム鏡よって構成するようにしてもよい。
【００１８】なお、被測定物Ｗは実施例のような足に限
らず、２方向からの画像が必要な各種物品に対して適用
可能である。また、上記実施例においては撮像装置18を
使用したが、これに限らず肉眼で観察してもよい。
らず、２方向からの画像が必要な各種物品に対して適用
可能である。また、上記実施例においては撮像装置18を
使用したが、これに限らず肉眼で観察してもよい。
【図１】本発明の光学測定機の測定部の一実施例の構成
図
図
【図２】画像例を示す説明図
10 測定部 Ｗ 被測定物 WA 底面像 WB 側面像 11 試料台 12 第１の反射手段 13 第２の反射手段 14 第３の反射手段 15,16 調整手段 17 光源 19 背景部材
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定物を載置し下方から被測定物の底
面が観視可能な試料台と、該試料台の下方に配設され被
測定物の底面像を側方に反射する第１の反射手段と、該
第１の反射手段によって反射された被測定物の底面像を
上方に反射する第２の反射手段と、前記試料台の側方に
配設され被測定物の側面像を上記第２の反射手段で反射
された底面像に隣接して上方に反射する第３の反射手段
と、上記第３の反射手段の反射角度および反射距離が変
更可能な調整手段とを備えたことを特徴とする光学測定
機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15128891A JPH05302823A (ja) | 1991-06-24 | 1991-06-24 | 光学測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15128891A JPH05302823A (ja) | 1991-06-24 | 1991-06-24 | 光学測定機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05302823A true JPH05302823A (ja) | 1993-11-16 |
Family
ID=15515410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15128891A Withdrawn JPH05302823A (ja) | 1991-06-24 | 1991-06-24 | 光学測定機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05302823A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000073738A1 (fr) * | 1999-05-26 | 2000-12-07 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Dispositif de mesure de forme |
| JP2013064657A (ja) * | 2011-09-19 | 2013-04-11 | Asahi Corp | 足背高測定法及びその測定法を使用した足型測定器 |
-
1991
- 1991-06-24 JP JP15128891A patent/JPH05302823A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000073738A1 (fr) * | 1999-05-26 | 2000-12-07 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Dispositif de mesure de forme |
| US6909513B1 (en) | 1999-05-26 | 2005-06-21 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Shape measuring device |
| JP2013064657A (ja) * | 2011-09-19 | 2013-04-11 | Asahi Corp | 足背高測定法及びその測定法を使用した足型測定器 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980903 |