JP3762952B2 - 光学装置並びにそれを用いた画像測定装置及び検査装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、被観察体を照明により照らして観察する光学装置に関し、さらに詳しくは透過像及び反射像を撮像する画像測定装置及び検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の液晶表示装置用の検査装置では反射光による画像と透過光による画像を別々に撮像するために落射光源と透過光源の両方が用いられていた。この検査装置について図7用いて説明する。図7は従来の液晶表示装置検査装置の構成を示した平面図である。101はFPD、111は落射光源、112は落射光源用コンデンサーレンズ、113はハーフミラー、114は結像レンズ、115はCCDカメラ、121は透過光源、122は透過光源用コンデンサーレンズである。
【0003】
この検査装置では被検査対象物体のFPD101を落射光源111と透過光源121の二つの照明により照らすための光学系が設けられている。このFPD101は液晶表示装置に用いられる液晶パネル、カラーフィルター基板、TFTアレイ基板等である。このFPD101を透明なガラスのステージ(図示せず)の上に載せて観察する。FPD101の透過像及び反射像をCCDカメラ115によって測定し、欠陥や異物の検査を行っている。
【0004】
先ず、反射像を撮像するための落射光源用の光学系について説明する。落射光源111から放射された光が落射光源用コンデンサーレンズ112を通過することにより、集光される。落射光源用コンデンサーレンズ112を通過した光線はハーフミラー113に照射され、二つの光線に分岐される。
【0005】
そのうちの一つはハーフミラー113によりFPD101の方向に反射される。この光は結像レンズ114を通過して、FPD101を照らす。そして、FPD101で反射された光はハーフミラー113を透過してCCDカメラ115に入射される。この光により反射像を撮像する。
【0006】
透過像を撮像するための透過光源121はFPD101の裏面側に設けられている。この透過光源121から放射された光は透過光源用コンデンサーレンズ122を通過し、集光される。そして、FPD101を照らす。
【0007】
FPD101を通過した光はさらにハーフミラー113を通過する。この光はCCDカメラ115に入射する。この光によって透過像を撮像する。これら2つの光源により、FPD101の透過像と反射像を撮像し、FPD101の欠陥や異物の検査を行っている。
【0008】
FPD101の全面を検査するためにはFPD101又は光学系を移動させる必要がある。しかし、FPD101を移動させた場合、装置サイズが大きくなるというデメリットがある。さらに、近年の基板サイズの大型化により、このデメリットは顕著になってしまう。
【0009】
従って、FPD101の全面を検査するために、FPD101を固定して、図8に示すように光学系を移動させていた(例えば、特許文献1参照)。しかし、上記のような構成の検査装置では以下のような問題点があった。落射光源111からの光と透過光源121からの光を同じ位置に照らす必要がある。この場合、CCDカメラ115を含む落射光学系110と透過光学系120をトラッキングしながら移動させなければならない。この場合、駆動系が複雑になり、部品点数を削減してコストダウンを図ることが困難であった。またFPD101は光を透過する透明なガラスステージに載せられるが、ガラスステージは振動に弱く検査に影響を及ぼすことがあった。また、FPD101の真下を非透明な物体で支持すると光が透過しないため、耐震性を向上することができなかった。
【0010】
特に近年は液晶表示装置の基板サイズが大型化しているため、駆動範囲を広げる必要がある。よって、構成部品の大型化、重量化を招くという問題点があった。また最近の配線パターンの微細化により、駆動系の精度を高める必要がある。上記のような構成において2つの光学系を精度よく移動させるためには駆動系が複雑化してしまうという問題点があった。
【0011】
別の構成の検査装置について図9を用いて説明する。図9は従来の検査装置の構成を示す斜視図である。図8で付した符号と同一の符号は同一の構成を示すため説明を省略する。ここで、126は蛍光灯、127は拡散板である。本検査装置では上述の検査装置の透過光源及び透過光学系が異なるものである。
【0012】
本検査装置においては透過光源として蛍光灯126を用いている。この蛍光灯126をFPD101の裏面側に設けている。この蛍光灯126からの光を拡散板127によって拡散させてFPD101の全面を裏面側から照らしている。この構成ならば、FPD101の全面を照らすことができる。よって、透過光学系120を移動させる必要はなくなり、落射光学系110のみの移動でFPD101の全面を観察することが出来る。
【0013】
しかし、本構成では照明の効率が著しく低く、検査に充分な光量を得るためには蛍光灯126の本数を増やす必要がある。従って、省電力化を図ることが難しいという問題点があった。特に近年は液晶表示装置の基板サイズが大型化しているため、この問題点は顕著になってしまう。
【0014】
また拡散板127によって光を拡散させているが、FPD全体に対して光を均一に照らすことは難しく、面内に明暗の差が生じ検査精度が悪くなるという問題点もあった。さらに、拡散板127を通過した蛍光灯126の光を用いているため、照明のコヒーレンスすなわちパーシャルコヒーレンスファクターを制御することが困難であった。従って、分解能やコントラストを制御することが困難であるといった問題点もあった。
【0015】
また、観察用のワークを載せる載物台の上に平面型発光体を設け、その上にワークを載せる画像測定機が開示されている。(例えば、特許文献2参照)しかし、この画像測定機では、発光励起源とその光学系を必要としていた。また発光体からの蛍光を利用しているため、光量を一定に保つことが難しい場合もあった。
【0016】
【特許文献1】
特開2001−305074号公報
【特許文献2】
特開2002−207004号公報
【0017】
【発明が解決しようとする課題】
本発明はこのような問題点を鑑みてなされたものであり、光学系が簡素化された観察用の光学装置を提供することを目的とし、さらにこの光学装置を用いた画像測定装置及び検査装置を提供することを目的とする。
【0018】
本発明にかかる光学観察装置は被観察体で反射された光と前記被観察体を透過した光を用いて、前記被観察体の反射像と透過像とを別々に観察するための光学観察装置であって、
直線偏光を出射する光源(例えば、本発明の実施の形態にかかる落射光源11及び偏光板16)と、前記光源からの光を前記被観察体の前面に導く第1の光学手段(例えば本発明の実施の形態にかかるハーフミラー13)と、前記被観察体の裏面側に配置された再帰反射部材(例えば、本発明の実施の形態にかかる再帰反射シート23)と、前記被観察体の前面で反射された反射光と前記再帰反射部材で反射され前記被観察体を透過した透過光とを受光する第2の光学手段(例えば、本発明の実施の形態にかかるカメラ側偏光板19)と、前記被観察体と前記再帰反射部材との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる1/4波長板(例えば、本発明の実施の形態にかかる透過側1/4波長板24)を備え、前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段を有し、前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被観察体の反射像を観察し、前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被観察体の透過像を観察するものである。これにより、透過光源がない簡易な構成で、透過像と反射像を別々に観察することができる。
【0019】
本発明にかかる光学観察装置は被観察体で反射された光と前記被観察体を透過した光を用いて、前記被観察体の反射像と透過像とを別々に観察するための光学観察装置であって、
直線偏光を出射する光源(例えば、本発明の実施の形態にかかる落射光源11及び偏光板16)と、前記光源からの光を前記被観察体の前面に導く第1の光学手段(例えば本発明の実施の形態にかかるハーフミラー13)と、前記被観察体の裏面側に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる再帰反射部材(例えば、本発明の実施の形態にかかる再帰反射シート23)と、前記被観察体の前面で反射された反射光と前記再帰反射部材で反射され前記被観察体を透過した透過光とを受光する第2の光学手段(例えば、本発明の実施の形態にかかるカメラ側偏光板19)とを備え、前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段と、偏光角を調整できるように可動設置された偏光板を備え、前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被観察体の反射像を観察し、前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被観察体の透過像を観察するものである。これにより、透過光源がない簡易な構成で、透過像と反射像を別々に観察することができる。
【0020】
本発明にかかる光学観察装置は上述の光学観察装置において、前記再帰反射部材は入射した光の2軸の偏光成分間の位相を1/4波長ずらすものである。これにより、簡易な構成で、透過像と反射像を観察することができる。
【0021】
本発明にかかる光学観察装置は被観察体で反射された光と前記被観察体を透過した光を用いて、前記被観察体を観察するための光学観察装置であって、直線偏光を出射する光源(例えば、本発明の実施の形態にかかる落射光源11及び偏光板16)と、前記被観察体の裏面側に配置された再帰反射部材(例えば、本発明の実施の形態にかかる再帰反射シート23)と、前記光源からの光を前記被観察体の前面に導き、前記被観察体の前面で反射された反射光と前記再帰反射部材で反射され前記被観察体を透過した透過光とを受光する偏光ビームスプリッタ(例えば、本発明の実施の形態にかかる偏光ビームスプリッタ17)と、前記被観察体と前記再帰反射部材との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる第1の1/4波長板(例えば、本発明の実施の形態にかかる透過側1/4波長板24)と、前記被観察体と前記偏光ビームスプリッタとの間に光路上へ移動可能な第2の1/4波長板(例えば、本発明の実施の形態にかかる1/4波長板18)とを備え、前記偏光ビームスプリッタは、前記被観察体からの光を当該光の偏光軸に基づいて分離するものである。これにより、透過光源がない簡易な構成で、透過像と反射像を別々に観察することができる。
【0022】
本発明にかかる光学観察装置は上述の光学観察装置において、前記偏光ビームスプリッタは光源からの直線偏光を前記被観察体への光路に反射するものである。これにより、簡易な構成で透過像と反射像を別々に観察することができる。
【0023】
本発明にかかる検査装置は被検体で反射された光と前記被検体を透過した光を用いて、前記被検体の反射像と透過像とを別々に撮像して検査する検査装置であって、直線偏光を出射する光源(例えば、本発明の実施の形態にかかる落射光源11及び偏光板16)と、前記光源からの光を前記被検体の前面に導く第1の光学手段(例えば本発明の実施の形態にかかるハーフミラー13)と、前記被検体の裏面側に配置され、前記被検体を透過した光を再帰反射する再帰反射手段(例えば、本発明の実施の形態にかかる再帰反射シート23)と、前記被検体の前面で反射された反射光と前記再帰反射手段で反射され前記被検体を再度透過した透過光とを受光する第2の光学手段(例えば、本発明の実施の形態にかかるカメラ側偏光板19)と、前記被検体と前記再帰反射部材との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる偏光手段(例えば、本発明の実施の形態にかかる透過側1/4波長板24)と、前記反射光と前記透過光とを用いて前記被検体を撮像する撮像手段(例えば、本発明の実施の形態にかかるCCDカメラ15)とを備え、前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段を有し、前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被検体の反射像を撮像し、前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被検体の透過像を撮像するものである。これにより、簡易な構成で、透過像と反射像を撮像することが可能になり、検査精度を向上できる。
【0024】
本発明にかかる検査装置は被検体で反射された光と前記被検体を透過した光を用いて、前記被検体の反射像と透過像とを別々に撮像して検査する検査装置であって、直線偏光を出射する光源(例えば、本発明の実施の形態にかかる落射光源11及び偏光板16)と、前記光源からの光を前記被検体の前面に導く第1の光学手段(例えば本発明の実施の形態にかかるハーフミラー13)と、前記被検体の裏面側に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる再帰反射手段(例えば、本発明の実施の形態にかかる再帰反射シート23)と、前記被検体の前面で反射された反射光と前記再帰反射手段で反射され前記被検体を再度透過した透過光とを受光する第2の光学手段(例えば、本発明の実施の形態にかかるカメラ側偏光板19)と、前記反射光と前記透過光とを用いて前記被検体を撮像する撮像手段(例えば、本発明の実施の形態にかかるCCDカメラ15)とを備え、前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段と、偏光角を調整できるように可動設置された偏光手段を備え、前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被検体の反射像を撮像し、前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被検体の透過像を撮像するものである。これにより、簡易な構成で、透過像と反射像を撮像することが可能になり、検査精度を向上できる。
【0025】
本発明にかかる検査装置は被検体で反射された光と前記被検体を透過した光を用いて、前記被検体を撮像して検査する検査装置であって、直線偏光を出射する光源(例えば、本発明の実施の形態にかかる落射光源11及び偏光板16)と、前記被検体の裏面側に配置され、前記被検体を透過した光を再帰反射する再帰反射手段(例えば、本発明の実施の形態にかかる再帰反射シート23)と、前記光源からの光を前記被検体の前面に導き、前記被検体の前面で反射された反射光と前記再帰反射手段で反射され前記被検体を再度透過した透過光とを受光する偏光ビームスプリッタ(例えば、本発明の実施の形態にかかる偏光ビームスプリッタ17)と、前記被検体と前記再帰反射手段との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる第1の1/4波長板(例えば、本発明の実施の形態にかかる透過側1/4波長板24)と、前記被検体と前記変更ビームスプリッタとの間に光路上へ移動可能な第2の1/4波長板(例えば、本発明の実施の形態にかかる1/4波長板18)と、前記反射光と前記透過光とを用いて前記被検体を撮像する撮像手段(例えば、本発明の実施の形態にかかるCCDカメラ15)とを備え、前記偏光ビームスプリッタは、前記被検体からの光を当該光の偏光軸に基づいて分離するものである。これにより、簡易な構成で、透過像と反射像を撮像することが可能になり、検査精度を向上できる。
【0026】
本発明にかかる検査方法は被検体で反射された反射光による反射像又は前記被検体を透過した透過光による透過像を撮像して検査する検査方法であって、直線偏光光を被検体に導くステップと、前記被検体を透過した光を前記被検体の裏面で再帰反射するステップと、前記被検体の裏面で再帰反射され、前記被検体を再度透過した透過光の偏光状態を、前記被検体の前面で反射された反射光の偏光状態と異なる偏光状態に変化させるステップと、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段を、前記偏光状態の違いに基づいて前記透過光及び前記反射光のいずれか一方を遮る角度から他方を遮る角度に回転させるステップと、前記透過像又は反射像を撮像するステップとを有するものである。これにより簡易な構成で、透過像と反射像を撮像することが可能になり、検査精度を向上できる。
【0027】
本発明にかかる検査方法は被検体で反射された光と前記被検体を透過した光とを用いて前記被検体を撮像して検査する検査方法であって、直線偏光光を被検体に導くステップと、前記被検体を透過した光を前記被検体の裏面で再帰反射するステップと、前記被検体の裏面で再帰反射され前記被検体を再度透過する透過光の偏光状態を、前記被検体の前面で反射された反射光の偏光状態と異なる偏光状態に変化させるステップと、1/4波長板を光路上に挿入し又は光路上から取り除き、前記偏光状態の違いに基づいて前記反射光の光量又は前記透過光の光量を変化させるステップと、前記透過像又は反射像を撮像するステップとを有するものである。これにより簡易な構成で、透過像と反射像を撮像することが可能になり、検査精度を向上できる。
【0032】
なお、本発明において第1の光学手段、第2の光学手段、第3の光学手段、偏光手段、分離手段、光分岐手段等の手段は重複していてもよく、さらにそれぞれに手段に含まれていても良い。
【0033】
【発明の実施の形態】
発明の実施の形態1.
本発明にかかる観察用の光学装置を用いた検査装置について図1を用いて説明する。図1は検査装置の構成を示す平面図である。1はFPD、11は落射光源、12はコンデンサーレンズ、13はビームスプリッタ、14は結像レンズ、15はCCDカメラ、23は再帰反射シートである。
【0034】
被観察体であるFPD1に対向して画像測定用のCCDカメラ15が設けられている。ここでFPD1は液晶表示装置に用いられる液晶パネル、カラーフィルタ基板又はTFTアレイ基板等であり、観察用ステージ(図示せず)の上に載せられているものとする。このCCDカメラ15とFPD1の間にはハーフミラー13が設けられている。落射光源11からの光をハーフミラー13で分岐することにより、同軸照明系が構成される。この同軸照明系により影ができず平面を効率よく照明することができる。そしてFPD1とハーフミラー13の間には結像レンズ14が設けられている。ハーフミラー13で反射された光がFPD1に入射するように落射光源11が設けられている。また、落射光源11とハーフミラー13の間にはコンデンサーレンズ12が設けられている。さらに、FPD1の裏面側には再帰反射シート23が設けられている。
【0035】
次にFPD1で反射した光を観察する反射照明系について説明する。なお、説明のためFPD1で反射してCCDカメラ15に向かう光を反射光とする。落射光源11から発光された光はコンデンサーレンズ12で集光されハーフミラー13に入射する。ハーフミラー13により分岐された光の一方はFPD1に対向して設けられた結像レンズ14に入射する。そして、この光は結像レンズ14を透過してFPD1を照らす。このFPD1で反射された反射光はハーフミラー13に入射して、その一部はハーフミラー13を透過する。この光はCCDカメラ15に入射され、反射像が撮像される。
【0036】
次にFPD1を透過して再帰反射シートで反射されて光を撮像する透過照明系について説明する。なお、再帰反射シート23で反射され、再度FPD1を透過した光を透過光とする。再帰反射シート23は表面にマイクロプリズムを多数散りばめたマイクロプリズム型のものや、球状のガラスビーズ等を多数散りばめたビーズ型のものがある。再帰反射シートは夜間における視認性の高さから交通標識や作業者用の保安用品等によく用いられている。
【0037】
この再帰反射シート23に入射した光は正確に再帰反射され、入射方向に帰っていく。従って、再帰反射シート23で反射されFPD1を透過した透過光は元の方向に帰っていく。つまり、光は再帰反射シート23によって反射され、ハーフミラー13に入射する。ハーフミラー13により分岐された透過光のうち一方はハーフミラー13により落射光源11の方向に反射される。もう一方はハーフミラー13を通過しCCDカメラ15に入射する。これにより、透過像を撮像することができる。
【0038】
本実施の形態では落射光源11のみで透過像と反射像の二つが重ね合わされた象を観察することが出来る。よって透過光源や透過光源用コンデンサーレンズを設ける必要がないためコストダウンを図ることができる。さらに、透過光源が不要であるため省電力化を図ることが出来る。なお、落射光源11に用いられる光源としてはハロゲンランプやキセノンランプが挙げられる。また上記以外の光源でも必要な光量を得ることができる光源であれば、いかなる光源でもよい。
【0039】
さらにFPD1全面を観察する場合はこの反射照明用の光学系のみを移動させればよい。FPD1全面の下に設けられた再帰反射シート23が透過照明系の役割を果たすため、透過照明系を移動させる必要がない。これにより、簡易な構成の駆動系でFPD1の全面を観察することができる。これにより、低コスト化につながる。また透明なガラスステージを用いる必要がなく、ステージを振動の影響を受けにくい金属で形成することができる。このように本実施の形態では落射光源11からの光を被検体に導き、反射光と透過光をCCDカメラに入射させている。これにより、反射像と透過像を撮像することができ、検査精度を向上することができる。
【0040】
また、本発明では再帰反射シート23の上に被観察体を載せるため、透過像を観察する場合でも観察用ステージを透明にする必要がない。従って、観察用ステージをガラス以外の金属等の安価で加工、取り扱いが容易な材質で製造することができる。よって、装置のメンテナンス性及び操作性の向上やさらなるコストダウンを図ることが出来る。また、再帰反射シート23の表面を保護するためにFPD1と再帰反射シート23の間に保護ガラスを設けることが望ましい。
【0041】
発明の実施の形態2.
本実施の形態2にかかる検査装置について図2を用いて説明する。実施の形態1では透過像と反射像を重ね合わせた像を撮像することができるが、検査装置は透過像と反射像を別々に撮像できることが望ましいこともある。そのため、本実施の形態では透過像と反射像を別々に観察、撮像するために2つのCCDカメラを設けた。実施の形態1で説明した内容と重複する内容の説明は省略する。また、図1で付した符号と同一の符号は同一の構成を示すため説明を省略する。なお、本実施の形態でも説明のため、FPD1によって反射された光を反射光、再帰反射シート23で反射してFPD1を透過した光を透過光とする。ここで15aは反射像を撮像するための反射像用カメラ、15bは透過像を撮影するための透過像用カメラである。16は偏光板、17は偏光ビームスプリッタ、18は1/4波長板、24は透過側1/4波長板、25は透過像用ハーフミラーである。
【0042】
実施の形態1で示した光学系との差異について説明する。本実施の形態では光路上に偏光ビームスプリッタ17が設けられている。さらに反射像を撮像するための反射像用カメラ15aが設けられている。コンデンサーレンズ12と偏光ビームスプリッタ17の間には偏光板16及び透過像用ハーフミラー25が設けられている。また透過像用ハーフミラー25によって反射された光を測定するための透過像用カメラ15bが設けられている。さらに、集光レンズ14とFPD1の間には1/4波長板18がFPD1と再帰反射シート24の間には透過側1/4波長板24が設けられている。この1/4波長板では入射した光の2軸の偏光成分間の位相を1/4波長ずらすことができる。すなわち、2回通過させることにより、直線偏光の光の振動方向を90度回転させることができる。
【0043】
反射像及び透過像を別々に撮像するための光学系について説明する。落射光源11から放射された自然光(非偏光光線)はコンデンサーレンズ12を通過することで、必要な光量が得られるように集光される。次に偏光板16を通過することによって、ある一定の振動方向以外の成分をカットする。従って非偏光光線が偏光板16により、ある一定の偏光角(振動方向)を持つ直線偏光の光に偏光される。この直線偏光の光が透過画像用ハーフミラー25を通過して偏光ビームスプリッタ17に入射される。
【0044】
この偏光ビームスプリッタ17はS偏光の光だけを分離することができる。すなわち、偏光ビームスプリッタ17では直線偏光の光の内、P偏光の光はそのまま偏光ビームスプリッタ17を通過する。S偏光の光はFPD1の方向に反射される。偏光ビームスプリッタ17で反射された光は結像レンズ14を透過してFPD1を照らす。また、偏光板16の偏光角を調整することにより、S偏光に偏光された光を入射させることができる。このように入射した光の偏光軸に基づいて分離することで、光量を落とさずに偏光ビームスプリッタ17に入射させることができる。
【0045】
本実施の形態では結像レンズ14とFPD1の間に1/4波長板18が設けられている。直線偏光の光が1/4波長板を通過すると、円偏光の光に偏光される。さらにもう一度通過すると最初の直線偏光の光とは直角の偏光角をなす直線偏光の光に偏光される。すなわち、偏光ビームスプリッタ17で反射されたS偏光の光はFPD1で反射して再度偏光ビームスプリッタ17に入射する時には2回1/4波長板18を通過しているためP偏光の光となっている。このP偏光の光は偏光ビームスプリッタ17を通過して反射像用カメラ15aに入射される。これにより反射像を撮像することができる。
【0046】
また、FPD1を透過した光は再帰反射シート23で反射される。この透過光は往復で1/4波長板18を2回、透過光用1/4波長板24を2回通過している。従って1/4波長板を計4回通過していることになる。よって、最初の直線偏光の光と同じ偏光角をなす直線偏光の光になる。従って、偏光ビームスプリッタ17で反射されたS偏光の光は再帰反射シート23で反射して再度偏光ビームスプリッタ17に入射する時もS偏光の光のままである。
【0047】
上記のように再帰反射シート23で反射してFPD1を透過した光はS偏光の光になっているため、偏光ビームスプリッタ17によって反射される。この光は透過画像用ハーフミラー25に入射され、2つに分岐される。透過画像用ハーフミラー25で反射された光は透過用カメラ15bに入射する。これにより、透過像を撮像することができる。
【0048】
上述に示す光学装置の構成では、反射光と透過光を偏光ビームスプリッタ17で分岐することができる。従って、反射像用カメラ15aには透過光は入射されず、FPD1で反射された反射光のみが入射される。これにより、反射像のみを撮像することができる。同様に透過像用カメラ15bには反射光は入射されず、FPD1を透過して再帰反射シート23で反射された透過光のみが入射される。これにより、透過像のみを撮像することができる。よって、落射光源11のみで反射像と透過像の観察を別々に行うことができ、CCDカメラでの撮像をすることができる。
【0049】
さらにFPD1全面を観察する場合は偏光ビームスプリッタ17、結像レンズ18及び反射像用カメラ15a等からなる反射照明用の光学系のみを移動させればよい。FPD1全面の下に設けられた再帰反射シート23が透過照明系の役割を果たすため、透過照明系を移動させる必要がない。これにより、簡易な構成の駆動系でFPD1の全面を観察することができる。よって、装置構成の複雑化を防ぐことができ、低コスト化につながる。なお、本実施の形態は上記の構成に限られるものではなく、レンズ、ミラー、フィルター等の光学部品をさらに設けても良い。
【0050】
また1/4波長板18を設けなくても良い。その場合、透過光は偏光ビームスプリッタ17を透過するため、反射像用カメラ15aで撮像することが出来る。一方、反射光は偏光ビームスプリッタ17によって反射されるため、透過像用カメラ15bで撮像することが出来る。
【0051】
発明の実施の形態3.
本実施の形態3にかかる光学装置は透過像と反射像を別々に観察できるようにしたものである。本実施の形態では透過像と反射像を1つのCCDカメラで撮像することができるため、コストダウンを図ることができる。実施の形態1又は2で説明した内容と重複する内容の説明は省略する。以下に実施の形態2との差異について説明する。
【0052】
本実施の形態にかかる検査装置について図3及び図4を用いて説明する。図3は本実施の形態にかかる検査装置で反射像を撮像する時の構成を示す平面図である。図4は本実施の形態にかかる検査装置で透過像を撮像する時の構成を示す平面図である。図2で付した符号と同一の符号は同一の構成を示すため説明を省略する。なお、本実施の形態でも説明のため、FPD1によって反射された光を反射光、FPD1を透過して再帰反射シート23で反射して光を透過光とする。
【0053】
本実施の形態3と実施の形態2の差異について説明する。本実施の形態では、透過像及び反射像を1つのCCDカメラで撮像するため、透過像用カメラ15bが設けられていない。また、透過画像用ハーフミラー25も設けられていない。また、本実施の形態では結像レンズ14とFPD1の間に設けられている1/4波長板18が光路上に出し入れできるようになっている。
【0054】
透過像を撮像するときは、図3に示すように1/4波長板18を光路上に挿入する。落射光源11から光は偏光板16を通過することにより、直線偏光の光になっている。この光は実施の形態2と同様に偏光ビームスプリッタ17によりS偏光とP偏光の光に分岐される。このうち、S偏光の光のみがFPD1の方向に反射される。反射像を撮像する時は、FPD1で反射された光は往復で2回1/4波長板18を通過することになり、光の偏光角が90度ずれる。従って、再度偏光ビームスプリッタ17に入射するときはP偏光の光になっている。よって、FPD1で反射された光はCCDカメラ15に入射することができる。
【0055】
一方、1/4波長板18が挿入されている状態において、FPD1を通過した光は透過側1/4波長板24を通過した後、再帰反射シート23によって反射される。従って、FPD1を透過した光は1/4波長板18と透過側1/4波長板24を往復で2回ずつ通過している。よって、S偏光の光は合計4回1/4波長板を通過するため、S偏光の光のまま偏光ビームスプリッタ17に入射される。この光は偏光ビームスプリッタ17で反射されるのでCCDカメラ15には入射されない。
【0056】
従って、図3に示す構成で1/4波長板18を光路上に挿入すれば、FPD1を透過して再帰反射シート23で反射された光はCCDカメラ15に入射されず、
FPD1で反射された光のみが入射される。これにより、反射像のみをCCDカメラで撮像することができる。
【0057】
一方、透過像を撮像するときは図4に示すように1/4波長板18を光路上から取り除く。この構成では上述と同様に落射光源11から放射された光は偏光板16により直線偏光の光に偏光される。この直線偏光の光は偏光ビームスプリッタ17により、S偏光の光とP偏光の光に分岐される。S偏光の光は偏光ビームスプリッタ17によって、FPD1の方向に反射される。
【0058】
透過像と撮像するときは1/4波長板18が取り除かれている。従って、FPD1で反射された光は1/4波長板を1度も通過していないため、S偏光のままである。このS偏光の光は再度偏光ビームスプリッタ17に入射されると、反射される。よって、CCDカメラ15には入射されない。
【0059】
一方、FPD1を透過して再帰反射シート23で反射した光は透過側1/4波長板24を往復で2回通過する。従って、S偏光であった光がP偏光の光に偏光される。このP偏光の光は再度偏光ビームスプリッタ17に入射されると、偏光ビームスプリッタ17を透過する。よってCCDカメラ15に入射される。
【0060】
以上のように1/4波長板18を光路上から出し入れすることにより、FPD1の反射像と透過像を1つのCCDカメラで撮像することができる。1/4波長板を光路上に出し入れするだけでCCDカメラ15を1つ削減することができるため、実施の形態2と比べてコストダウンを図ることができる。また1/4波長板18を回転させても同様の効果を得ることができる。このように落射光源11からの光を被検体に導き、その反射光の偏光状態と透過光の偏光状態を異なる偏光状態に変化させている。そして偏光状態に基づいて反射光と透過光の光量を変化させることにより、反射像と透過像を別々に撮像することができ、検査精度を向上することができる。なお、本実施の形態ではコンデンサーレンズ12及び結像レンズ14の効果の説明については実施の形態1、2と同様であるので説明を省略した。さらに、本実施の形態は上記の構成に限られるものではなく、レンズ、ミラー、フィルター等の光学部品をさらに設けても良い。
【0061】
発明の実施の形態4.
本実施の形態4にかかる検査装置は実施の形態3と同じように1つのCCDカメラで反射像と透過像を別々に撮像するものである。従って、実施の形態1乃至3で説明した内容と重複する内容の説明は省略する。本実施の形態にかかる検査装置の光学系と実施の形態3で示した光学系の差異について図5を用いて説明する。図5は本実施の形態にかかる検査装置の構成を示す平面図である。図3で付した符号と同一の符号は同一の構成を示すため説明を省略する。19はカメラ側偏光板である。なお、本実施の形態でも説明のため、FPD1によって反射された光を反射光、FPD1を透過して再帰反射シート23で反射して光を透過光とする。
【0062】
本実施の形態では1/4波長板18が設けられていない。また、本実施の形態ではハーフミラー13が設けられている。なお、このハーフミラー13は無偏光ビームスプリッタでもよい。さらに、本実施の形態ではCCDカメラ15の前にカメラ側偏光板19が設けられている。
【0063】
このカメラ側偏光板19に入射した光のうち、ある一定の振動方向を持つ成分以外の光がカットされ、透過光は直線偏光の光に偏光される。またカメラ側偏光板19は回転できるようになって、任意の振動方向の光のみを透過させることができる。従って、自然光(非偏光光線)や円偏光の光が入射した場合、直線偏光された光に偏光することができる。さらに、カメラ側偏光板19を回転させることにより、直線偏光の光の偏光角を調整することができる。
【0064】
落射光源11から放射された光は偏光板16により直線偏光の光に偏光される。この直線偏光の光はハーフミラー13によって分岐され、その一部はFPD1の方向に反射される。本実施の形態ではハーフミラー13であるため、偏光されず元と同じ偏光角を持つ直線偏光の光のままである。FPD1に入射した光は1/4波長板を通過しない。そのため、FPD1で反射した光は同じ偏光角の光のままCCDカメラ15に入射される。FPD1を通過して再帰反射シート24で反射した光は透過側1/4波長板24を往復で2回通過しているため、最初の直線偏光の光とは直角の偏光角をなす直線偏光の光に偏光される。
【0065】
上述の様にFPD1で反射した反射光とFPD1を通過して再帰反射シート23で再帰反射した透過光は偏光角が90度異なる直線偏光の光となって、カメラ側偏光板19に入射される。上述のように、カメラ側偏光板19はその角度を変えることにより、任意の方向に直線偏光された光にのみを透過させることができる。
【0066】
よって、反射像を撮像するときは、FPD1で反射された直線偏光の反射光と同じ偏光角の光が透過するようにカメラ側偏光板19を回転させ、取り付け角度を調整する。これにより、偏光角が90度異なる透過光はカットされ、反射光のみがCCDカメラ15に入射される。つまり、FPD1を透過して再帰反射シート23で反射した光はカメラ側偏光板19でカットされる。よって、反射光のみを分離することができ、反射像のみを撮像することが可能になる。
【0067】
一方、透過像を撮像する時は反射像を撮像した状態からカメラ側偏光板19を90度回転させる。するとカメラ側偏光板19の偏光方向と異なる偏光角を持つ反射光はカットされる。従って、カメラ側偏光板19の偏光方向と同じ偏光角を持つ透過光のみがカメラ側偏光板19を透過する。これにより、透過光のみがCCDカメラ15に入射される。よって、透過光のみを分離することができ、透過像のみ撮像することが可能になる。
【0068】
図5に示す構成の光学装置においても、1つのCCDカメラ15で透過像と反射像の両方を別々に撮像することが出来る。そのため、光学系の簡素化及びコストダウンを図ることができる。さらに、カメラ側偏光板19を上記の2つの角度と異なる角度に回転させれば、透過像と反射像を重ね合わせた象を撮像することも可能である。また、カメラ側偏光板19の角度を変えることにより、透過光と反射光の光量の割合を変えることも可能である。
【0069】
発明の実施の形態5.
本実施の形態では実施の形態2乃至4において再帰反射シート23で反射される時に、位相差が生じ偏光状態が変わることを考慮したものである。例えば、プリズムが多数散りばめられたマイクロプリズム型の再帰反射シート23を用いた場合、1/4波長板を1回通過した時と同じ偏光作用が生じる。すなわち、入射した直線偏光の光は円偏光の光に偏光される。このような再帰反射シート23の性質を利用することにより、部品点数の削減を図ることができる。
【0070】
このマイクロプリズム型の再帰反射シート23を用いた光学系について図6を用いて説明する。実施の形態4との差異について説明する。本実施の形態では図5の光学系の構成から透過側1/4波長板24を取り除いている。また、上述の様に再帰反射シート23はマイクロプリズム型のものを用いている。
【0071】
本実施の形態においてFPD1で反射される反射光の偏光状態は実施の形態4と同様であるため説明を省略する。また実施の形態4と同様の光学系についても説明を省略する。以下にFPD1を透過して再帰反射シート23で反射される透過光の偏光状態について説明する。
【0072】
実施の形態4と同様に落射光源11から放射した光は偏光板16により直線偏光の光に偏光される。この直線偏光の光はハーフミラー13によって分岐され、その一部がFPD1の方向に反射される。この光はFPD1を透過して、マイクロプリズム型の再帰反射シート23で反射される。
【0073】
本実施の形態では再帰反射シート23での反射により、1/4波長の位相差が生じ円偏光の光となって再度ハーフミラー13に入射される。従って、ハーフミラー13を透過して、カメラ側偏光板19に入射する光は円偏光の光である。よって、カメラ側偏光板19をいずれの方向に回転しても、光量は落ちるがある一定量の光は透過する。よって、FPD1で反射してくる光は直線偏光のままであるので透過像を撮像する時は、反射光をカットするようにカメラ側偏光板19を配置すると透過像のみを撮像することが出来る。
【0074】
さらに1/4波長板をカメラ側偏光板19とハーフミラー13の間に配置し、透過像撮像時と反射像撮像時でその1/4波長板を出し入れすれば透過像と反射像を別々に撮像することが出来る。また1/4波長板を偏光板16とハーフミラー13の間に配置し、それを出し入れしても同様の効果を得ることができる。
【0075】
上述に示す構成では透過側1/4波長板24を取り除くことができ、さらなる部品点数の削減が可能となる。なお、本実施の形態にかかる光学系は実施の形態2及び実施の形態3に対しても同様に利用することが出来る。
【0076】
その他の実施の形態.
本発明にかかる光学装置では透過照明として、被観察体の裏面側に再帰反射部材を設けている。従って、透過照明用の光源や透過光源用コンデンサーレンズ等の光学系が不要になり、部品点数の削減につながり、コストダウンを図ることができる。また、図示した光学系以外の光学系に用いても同様の効果を得ることができる。例えば、コンデンサーレンズ12は必要な光量が得られれば光路上のどこに設けられていてもよい。
【0077】
同様に結像レンズ18は必要な大きさのスポット光に集光できれば、どこに設けられていても良い。さらにレーザー等の指向性の高い光源を用いれば、コンデンサーレンズ12や結像レンズ18が不要となる場合もある。もちろんコンデンサーレンズ12や結像レンズ18は複数のレンズからなるレンズユニットでもよい。
【0078】
また再帰性光学部材はシート状ものや板状のものでもよい。板状の再帰性光学板を用いれば、被観察体を載せるステージとすることができ、さらに部品点数の削減を図ることができる。また、本発明では透明なガラスステージの上に載せる必要がない。そのため定盤等の安定したステージを用いることができ、振動の影響を受けにくくすることができる。さらに、被観察体が大型化した場合でも、メンテナンス性の向上や部品点数を削減できる。
【0079】
再帰反射シート23はマイクロプリズム型又はビーズ型のものを用いることができる。また実施の形態2乃至4では透過光と反射光の偏光角を直角にすることが出来る。これにより、偏光ビームスプリッタ17又はカメラ側偏光板19により、反射光と透過光を分岐することができる。よって、反射像と透過像を別々に撮像することができる。
【0080】
なお実施の形態2乃至3では、1/4波長板の通過回数を変え、透過光と反射光の偏光角を90度変えている。さらに実施の形態3では、透過像撮像時と反射像撮像時で1/4波長板を出し入れしてその向きを変えている。この光を偏光ビームスプリッタ17によって分岐して、透過像と反射像を別々に撮像している。従って、上述の条件を満たせば、図示した構成以外でもよい。例えば、偏光ビームスプリッタ17とFPD1の間にさらに1/4波長板を追加したりすることも可能である。
【0081】
実施の形態4では透過側1/4波長板24によって透過光と反射光の偏光角を90度変えている。透過像撮像時と反射像撮像時でカメラ側偏光板19の向きを変え透過光又は反射光のいずれかをカットして別々に撮像している。上述の条件を満たせば、図示した構成以外でもよい。例えば、ハーフミラー13とFPD1の間にさらに1/4波長板を追加したりすることも可能である。
【0082】
なお、上述に実施の形態では、落射光源11から放射された光をハーフミラー13又は偏光ビームスプリッタ17によって反射させ、FPD1に入射させているが、ハーフミラー13又は偏光ビームスプリッタ17を透過した光をFPD1に入射させてもよい。偏光ビームスプリッタ17を透過した光をFPD1に入射させる場合は、P偏光の光が入射するが、それ以外の構成は同様の構成を用いることが出来る。
【0083】
上述の実施の形態では撮像手段としてCCDカメラを用いたが、MOSやCMOSの個体撮像素子、フォトダイオードアレイ等を用いてもよい。もちろん、ラインセンサ、エリアセンサのいずれでもよい。さらに撮像手段を用いずに肉眼で被観察体を観察する観察装置、顕微鏡に適用することが可能である。このような観察装置、顕微鏡でも透過側の照明系を設ける必要がないので、コストダウンにつながる。
【0084】
落射光源11は必要な光量が得られる光源ならばよく、例えば、ハロゲンランプやキセノンランプが挙げられる。これ以外にもレーザー、LED、蛍光灯、電球等でもよい。もちろん、光の波長は特定されるものでなく、白色光でも特定の波長の光を放射する光源でもよい。また、可視光に限られるものでなく、測定機器により赤外線や紫外線等の可視光以外の光を放射する光源でも用いることができる。
【0085】
また、落射光源はCCDカメラ15を囲むリング照明であってもよい。例えば、リング照明を用いる場合は、リング照明の光を直線偏光の光に偏光する。透過側1/4波長板により、透過光の偏光角を90度偏光させる。透過光と反射光をCCDカメラ15の直前に設けたカメラ側偏光板19によって分離する。このカメラ側偏光板19を回転させることにより、透過像と反射像を別々に撮像することができる。さらに、光源は画像撮像時のみ光を照射するストロボ照明でもよい。
【0086】
上述の実施の形態2乃至5では落射光源11から放射される自然光を偏光板16により直線偏光の光に偏光したが、レーザー光のように直線偏光された光を放射する光源を落射光源11に用いれば偏光板16は不要になる。
【0087】
また偏光板16の位置はコンデンサーレンズ12の前でも後ろでもよい。ただし、コンデンサーレンズ12を通過することにより、光が偏光されてしまう場合は偏光板16をコンデンサーレンズ12の後ろに設けることが望ましい。また、偏光板、1/4波長板は板状のものに限られるものでない。
【0088】
本発明にかかる検査装置は簡易な構成で透過像及び反射像を撮像することができる。そのため透明又は半透明である被観察体、すなわち光を透過する被観察体を検査する検査装置に用いることが好適である。もちろん被観察体は液晶表示装置以外のものであってもよい。
【0089】
さらに被観察体が大型化して、光学系の駆動範囲が広がる場合に利用することが好適である。もちろん、検査装置以外に光学観察装置にも用いることができる。
【0090】
【発明の効果】
本発明によれば、透過光源を用いることなく透過像及び反射像が観察可能な光学装置並びにそれを用いた画像測定装置及び検査装置を提供することができる。これにより、光学系及びその駆動系を簡素化することができコストダウンを図ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1にかかる検査装置の構成を示す平面図である。
【図2】本発明の実施の形態2にかかる検査装置の構成を示す平面図である。
【図3】本発明の実施の形態3にかかる検査装置で反射像を撮像する時の構成を示す平面図である。
【図4】本発明の実施の形態3にかかる検査装置で透過像を撮像する時の構成を示す平面図である。
【図5】本発明の実施の形態4にかかる検査装置の構成を示す平面図である。
【図6】本発明の実施の形態5にかかる検査装置の構成を示す平面図である。
【図7】従来の検査装置の構成を示す平面図である。
【図8】従来の検査装置における光学系の移動の様子を示す斜視図である。
【図9】従来の検査装置の構成を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 FPD
11 落射光源
12 コンデンサーレンズ
13 ハーフミラー
14 結像レンズ
15 CCDカメラ
15a 反射像用カメラ
15b 透過像用カメラ
16 偏光板
17 偏光ビームスプリッタ
18 1/4波長板
19 カメラ側偏光板
23 再帰反射シート
24 透過側1/4波長板
25 透過画像用ハーフミラー
101 FPD
110 落射光学系
111 落射光源
112 落射光源用コンデンサーレンズ
113 ハーフミラー
114 結像レンズ
115 CCDカメラ
120 透過光学系
121 透過光源
122 透過光源用コンデンサーレンズ
126 蛍光灯
127 拡散板
Claims (10)
- 被観察体で反射された光と前記被観察体を透過した光を用いて、前記被観察体の反射像と透過像とを別々に観察するための光学観察装置であって、
直線偏光を出射する光源と、
前記光源からの光を前記被観察体の前面に導く第1の光学手段と、
前記被観察体の裏面側に配置された再帰反射部材と、
前記被観察体の前面で反射された反射光と前記再帰反射部材で反射され前記被観察体を透過した透過光とを受光する第2の光学手段と、
前記被観察体と前記再帰反射部材との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる1/4波長板を備え、
前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段を有し、
前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被観察体の反射像を観察し、
前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被観察体の透過像を観察する、光学観察装置。 - 被観察体で反射された光と前記被観察体を透過した光を用いて、前記被観察体の反射像と透過像とを別々に観察するための光学観察装置であって、
直線偏光を出射する光源と、
前記光源からの光を前記被観察体の前面に導く第1の光学手段と、
前記被観察体の裏面側に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる再帰反射部材と、
前記被観察体の前面で反射された反射光と前記再帰反射部材で反射され前記被観察体を透過した透過光とを受光する第2の光学手段とを備え、
前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段と、
偏光角を調整できるように可動設置された偏光板を備え、
前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被観察体の反射像を観察し、
前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被観察体の透過像を観察する、光学観察装置。 - 前記再帰反射部材は入射した光の2軸の偏光成分間の位相を1/4波長ずらす請求項2記載の光学観察装置。
- 被観察体で反射された光と前記被観察体を透過した光を用いて、前記被観察体を観察するための光学観察装置であって、
直線偏光を出射する光源と、
前記被観察体の裏面側に配置された再帰反射部材と、
前記光源からの光を前記被観察体の前面に導き、前記被観察体の前面で反射された反射光と前記再帰反射部材で反射され前記被観察体を透過した透過光とを受光する偏光ビームスプリッタと、
前記被観察体と前記再帰反射部材との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる第1の1/4波長板と、
前記被観察体と前記偏光ビームスプリッタとの間に光路上へ移動可能な第2の1/4波長板とを備え、
前記偏光ビームスプリッタは、前記被観察体からの光を当該光の偏光軸に基づいて分離する、光学観察装置。 - 前記偏光ビームスプリッタは光源からの直線偏光を前記被観察体への光路に反射する請求項4記載の光学観察装置。
- 被検体で反射された光と前記被検体を透過した光を用いて、前記被検体の反射像と透過像とを別々に撮像して検査する検査装置であって、
直線偏光を出射する光源と、
前記光源からの光を前記被検体の前面に導く第1の光学手段と、
前記被検体の裏面側に配置され、前記被検体を透過した光を再帰反射する再帰反射手段と、
前記被検体の前面で反射された反射光と前記再帰反射手段で反射され前記被検体を再度透過した透過光とを受光する第2の光学手段と、
前記被検体と前記再帰反射部材との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる偏光手段と、
前記反射光と前記透過光とを用いて前記被検体を撮像する撮像手段とを備え、
前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段を有し、
前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被検体の反射像を撮像し、
前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被検体の透過像を撮像する、検査装置。 - 被検体で反射された光と前記被検体を透過した光を用いて、前記被検体の反射像と透過像とを別々に撮像して検査する検査装置であって、
直線偏光を出射する光源と、
前記光源からの光を前記被検体の前面に導く第1の光学手段と、
前記被検体の裏面側に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる再帰反射手段と、
前記被検体の前面で反射された反射光と前記再帰反射手段で反射され前記被検体を再度透過した透過光とを受光する第2の光学手段と、
前記反射光と前記透過光とを用いて前記被検体を撮像する撮像手段とを備え、
前記第2の光学手段は、回転可能に配置され、第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段と、
偏光角を調整できるように可動設置された偏光手段を備え、
前記偏光分離手段を前記透過光を遮断する回転角度として、前記被検体の反射像を撮像し、
前記偏光分離手段を回転させ前記反射光を遮断する回転角度として、前記被検体の透過像を撮像する、検査装置。 - 被検体で反射された光と前記被検体を透過した光を用いて、前記被検体を撮像して検査する検査装置であって、
直線偏光を出射する光源と、
前記被検体の裏面側に配置され、前記被検体を透過した光を再帰反射する再帰反射手段と、
前記光源からの光を前記被検体の前面に導き、前記被検体の前面で反射された反射光と前記再帰反射手段で反射され前記被検体を再度透過した透過光とを受光する偏光ビームスプリッタと、
前記被検体と前記再帰反射手段との間に配置され、入射する光の偏光状態を変化させる第1の1/4波長板と、
前記被検体と前記変更ビームスプリッタとの間に光路上へ移動可能な第2の1/4波長板と、
前記反射光と前記透過光とを用いて前記被検体を撮像する撮像手段とを備え、
前記偏光ビームスプリッタは、前記被検体からの光を当該光の偏光軸に基づいて分離する、検査装置。 - 被検体で反射された反射光による反射像又は前記被検体を透過した透過光による透過像を撮像して検査する検査方法であって、
直線偏光光を被検体に導くステップと、
前記被検体を透過した光を前記被検体の裏面で再帰反射するステップと、
前記被検体の裏面で再帰反射され、前記被検体を再度透過した透過光の偏光状態を、前記被検体の前面で反射された反射光の偏光状態と異なる偏光状態に変化させるステップと、
第1の振動方向を有する光を透過し、第1の振動方向と直交する第2の振動方向を有する光を遮る偏光分離手段を、前記偏光状態の違いに基づいて前記透過光及び前記反射光のいずれか一方を遮る角度から他方を遮る角度に回転させるステップと、
前記透過像又は反射像を撮像するステップとを有する検査方法。 - 被検体で反射された光と前記被検体を透過した光とを用いて前記被検体を撮像して検査する検査方法であって、
直線偏光光を被検体に導くステップと、
前記被検体を透過した光を前記被検体の裏面で再帰反射するステップと、
前記被検体の裏面で再帰反射され前記被検体を再度透過する透過光の偏光状態を、前記被検体の前面で反射された反射光の偏光状態と異なる偏光状態に変化させるステップと、
1/4波長板を光路上に挿入し又は光路上から取り除き、前記偏光状態の違いに基づいて前記反射光の光量又は前記透過光の光量を変化させるステップと、
前記透過像又は反射像を撮像するステップとを有する検査方法。
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