JPH0628302A - マイクロプロセッサ装置 - Google Patents

マイクロプロセッサ装置

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Publication number
JPH0628302A
JPH0628302A JP4182318A JP18231892A JPH0628302A JP H0628302 A JPH0628302 A JP H0628302A JP 4182318 A JP4182318 A JP 4182318A JP 18231892 A JP18231892 A JP 18231892A JP H0628302 A JPH0628302 A JP H0628302A
Authority
JP
Japan
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data
ram
microprocessor
test
microprocessor unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP4182318A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Akimoto
吉則 秋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0628302A publication Critical patent/JPH0628302A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 DMAコントローラによりアクセスされる可
能性のあるRAMの領域もRAMテストできるようにす
る。 【構成】 バス獲得要求ゲート5を設け、DMAコント
ローラ3を制御し、MPU1がRAM2をテストしてい
るときはDMAコントローラ3のDMA要求を受け付け
ないようにする。また、バス獲得要求ゲートは5、MP
U1に内設することもできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、マイクロプロセッサ
装置のRAMの信頼性向上に関するものである。
【0002】
【従来の技術】高信頼性を要求されるような装置、例え
ば電力系統保護用デジタルリレーにおいては、装置の不
具合によってリレー機能が中断することは望ましくな
い。したがって、リレー演算処理の余裕時間を活用した
自己診断による常時監視によって、リレー機能を中断す
ることなく装置の不具合を発見するようにしている。そ
の中で、装置の中のRAMチェックを行うための常時R
AMテストには、文献(「電気協同研究 第41巻 第
4号デジタルリレー」の「5−1−1デジタルリレーの
常時監視手法」及び「5−1−2乗時間子の処理フロ
ー」)に説明されているRAM監視方法(RAMリード
/ライト・テスト)などが用いられている。
【0003】図8は、上記RAM監視を行うデジタルリ
レーの一部である従来のマイクロプロセッサ装置の構成
を示すブロック図であり、同図において、1はレジスタ
と演算回路とを含み命令を解読して演算処理や制御を行
うマイクロプロセッサユニット(MPU)、2はデータ
の随時書き込み読みだしが可能なRAM、3は外部記憶
装置(図示せず)などの周辺装置とRAM2との間でデ
ータの転送をMPU1の動作とは独立して行うダイレク
ト・メモリ・アクセス(DMA)によりデータ転送を制
御するDMAコントローラ、4は外部記憶装置とのイン
ターフェースである外部入力インターフェースである。
RAMテストは、図8においてMPU1がRAM2の所
定の領域に対して所定のデータを書き込み、その後、R
AM2に書き込んだデータをMPU1が読みだして、こ
の読みだしたデータと書き込んだデータとを比較するこ
とにより行う。
【0004】この方法によるRAMテストを常時行う際
のMPU1の常時RAMテストの動作を、図9のフロー
チャートを用いて説明する。まず、RAM2のRAMテ
ストを実施する領域の開始アドレスと終了アドレスを設
定する(ステップS1)。次に、このテストの途中でR
AM2のテストをしている領域のデータが、他の割り込
みにより変化するのを防ぐため割り込み禁止を行い(ス
テップS2)、次いでRAM2のテストを行う領域の現
在のデータをMPU1内のレジスタ上に保存する(ステ
ップS4)。そして、所定のテストデータをRAM2の
テストを行う領域に書き込み(ステップS5)、このデ
ータを再び読み出す(ステップS6)。この状態では、
RAM2の内容がこのRAMテストのデータに書き変わ
ったままなので、MPU1内のレジスタに保存したテス
ト前のRAM2に記憶されていたデータをRAM2に書
き戻し(ステップS7)、次いで割り込み禁止を解除す
る(ステップS9)。
【0005】次ぎに、ステップS5で書き込んだテスト
データと、ステップS6で読み出したデータの一致チェ
ックを行い(ステップS10)、不一致であればエラー
処理を行い(ステップS13)、RAMテストを終了す
る。一方、一致チェックの結果、書き込んだデータと読
み込んだデータが一致した場合は、RAM2の他の領域
のRAMテストを行うためにRAMテストを行う領域の
テスト番地を更新し(ステップS11)、次いで、RA
Mテストの継続/終了をチェックする(ステップ1
2)。継続の場合は、ステップS2に戻り、前述のこと
を繰り返す。上記の一連の処理を一定時間毎に行うこと
により、常時RAMテストを行う。
【0006】ところで、MPU1が外部記憶装置からデ
ータを取込む命令を出した場合、外部入力インターフェ
ース4はDMAコントローラ3に外部記憶装置からRA
M2へのデータ転送の許可を求め、この要求を受けたD
MAコントローラ3は外部入力インターフェース4にデ
ータ転送の許可を出し、この後、外部記憶装置からのデ
ータをRAM2に転送する。MPU1は外部記憶装置か
らのデータ取り込み命令を出した後は、そのデータがR
AM2に転送されたかどうかは監視せず、データの転送
はDMAコントローラ3に任せてある。また、外部記憶
装置などからのDMAによるデータ転送のときに、DM
Aコントローラ3はMPU1に対してRAM2のバス獲
得要求を出すが、MPU1はそれに対して何の判断もせ
ずに、バス使用許可を出すだけである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ここで、MPU1が外
部記憶装置に対してデータ取り込み命令を出した後、直
ちにRAMテストを開始するタイミングになった場合、
外部記憶装置は機械的な動作部分が多くデータを取り出
すのに時間がかかるので、MPU1がRAMテストを行
っているときに外部記憶装置からのデータの転送がDM
Aコントローラ3により行われることになる。MPU1
はRAMテストを行っているとき、図9のステップS2
により割り込みを禁止するが、この割り込みはMPU1
自身が行う割り込みであり、MPU1が制御しないDM
Aによるデータ転送のRAM2への割り込みは禁止でき
ない。この時、外部入力インターフェイス4よりDMA
転送されるデータのアドレスが、MPU1がRAMテス
トを実行しているRAM2のアドレスと同一であった場
合、タイミングによってはデータが書き換えられてしま
う。すなわち、図9のフローチャートのステップS5の
テストデータ書き込み動作と、ステップS6のテストデ
ータ読み出し動作との間で、RAMテストのために一時
的にテストデータに書き換えられたRAM2のRAMテ
ストの領域(テスト番地)のデータが、DMAコントロ
ーラ3により割り込んだ外部記憶装置よりのデータに書
き換えられてしまう。
【0008】以上の状態で、書き込んだテストデータと
読み出したデータとの一致チェックを行えば、MPU1
は書き込んだデータと読みだしたデータが異なったと判
断し、RAM2が正常であるにもかかわらずRAMテス
ト異常と判断してしまい、リレー機能が停止してしまう
という問題があった。したがって、DMAコントローラ
3によりアクセスされる可能性のあるRAM2の領域は
常時RAMテストの対象から外す必要があった。
【0009】この発明は、上記のような課題を解決する
ためになされたものであり、DMAコントローラにより
アクセスされる可能性のあるRAMの領域もRAMテス
トできるようにすることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】以上のような問題点を解
決するために、この発明ではデータ転送手段の動作を制
御するバス獲得要求制御手段を設け、RAMの検査を行
うときは、データ転送手段のRAMへのデータ転送を停
止することを特徴とする。また、RAMに書き込まれる
データに誤り検出用の冗長データをつけ加えるデータ加
工手段と、RAMのデータを読み出すときにそのデータ
にデータ加工手段により付け加えられた冗長データを調
べることにより、そのデータの異常を検出する誤り検出
手段とを有し、マイクロプロセッサユニットがRAMよ
りデータを読み出すときには必ずそのデータの異常を検
査することを特徴とする。また、マイクロプロセッサユ
ニットがデータ転送手段の動作を制御するバス獲得要求
制御手段と、RAMへのデータ書き込み時に、そのデー
タを読み返して書き込んだデータと読み返したデータと
を比較する一致チェック手段とを有し、マイクロプロセ
ッサユニットがRAMにデータを書き込むとき、同時に
その書き込んだデータの異常を検査することを特徴とす
る。
【0011】
【作用】RAMの検査中にデータ転送手段によるRAM
へのデータ転送が行われないので、正確なRAMの検査
ができる。また、RAMからのデータ読み出し時には、
必ずデータの検査が行われる。また、RAMへのデータ
書き込み時には必ずデータの検査が行われる。
【0012】
【実施例】以下、この発明の1実施例を図を参照して説
明する。 (実施例1)図1は、この発明の1実施例であるマイク
ロプロセッサ装置の構成を示すブロック図である。図1
において、5はDMAコントローラ3からのバス獲得要
求を受けるバス獲得要求ゲート(バス獲得要求制御手
段)であり、他は図8と同様である。この、バス獲得要
求ゲートが空いているときには、DMAコントローラ3
の出すバス獲得要求はMPU1に到達し、閉じていると
きは到達しない。
【0013】RAMテストのためにMPU1がRAM2
に対して所定のデータを書き込んだり、それを読み出し
たりしているときに、外部入力インターフェース4より
DMAコントローラ3に対してDMA要求が発生する
と、DMAコントローラ3はMPU1に対してバス獲得
要求を出力する。ここでバス獲得要求ゲート5が閉じて
いれば、このバス獲得要求はMPU1に到達しない。従
って、バス使用許可はMPU1から出力されず、DMA
コントローラ3は外部入力インターフェース4に対する
DMA許可を出さない。この結果、外部入力インターフ
ェース4からRAM2へのデータ転送は行われない。す
なわち、外部記憶装置からのDMAによるデータ転送
は、バス獲得要求ゲート5の開閉によって制御可能とな
る。
【0014】図2は、この発明のマイクロプロセッサ装
置が、バス獲得要求ゲート5を用いてRAMテストを行
う場合の動作を示すフローチャートである。図2におい
て、割り込みの禁止を行った後(ステップS2)、バス
獲得要求ゲートを閉じてDMAによるRAM2へのデー
タ転送を禁止する動作と(ステップS3)、MPU1の
レジスタ上に保持されていたデータをRAM2に書き戻
した後(ステップS7)、バス獲得要求ゲートを開いて
DMAによるデータ転送が可能な状態にする動作が(ス
テップS8)、図9のフローチャートに示す従来のマイ
クロプロセッサ装置の動作と異なるところであり、他の
ステップS4〜6,9〜12は図9と同様である。
【0015】(実施例2)上記実施例では、DMAによ
るデータ転送を制御するために、バス獲得要求ゲート5
(図1)を設けていたが、この機能をMPUが持つよう
にしても良い。図3は、この発明の第2の実施例である
マイクロプロセッサ装置の構成を示すブロック図であ
り、実施例1で使用したバス獲得要求ゲート5をMPU
1aの内部に組み込み、MPU1aにバス獲得要求受付
禁止の命令が出せるようにすることにより、実施例1の
マイクロプロセッサ装置と全く同一の機能を実現するこ
とができる。
【0016】図4は、バス獲得要求受付を制御する機能
を有したMPU1aを用いて常時RAMテストを行う実
施例2のマイクロプロセッサ装置の動作を示すフローチ
ャートである。基本的には図2に示すフローチャートと
同様であるが、DMAコントローラ3に対するバス獲得
要求の制御動作(ステップS3a,ステップS8a)
が、MPU1aから直接されることが実施例1と異なる
ところであり、他は図2のフローチャートと同様であ
る。
【0017】(実施例3)ところで、上記実施例ではR
AMのテストとして、テストするRAMに所定のデータ
を書き込み、次いでこれを読み出して書き込んだ所定の
データと読み出したデータとを比較していたが、通常の
データを加工して誤り検出用のデータを追加し、一方、
RAMとMPUの間にパリティチェック等の誤り検出手
段を設け、データを読み出すときはいつもその誤り検出
手段によりチェックすることにより、テストデータを書
き込むことをしなくてもRAMテストが可能となる。図
5において、6はパリティチェック部、7はこの実施例
3のマイクロプロセッサ装置が起動するときにRAM2
に設定されるデータ加工部である。また、図6は図5に
示す実施例3のマイクロプロセッサ装置のRAMテスト
動作を示すフローチャートであり、以下このフローチャ
ートを用いて実施例3のマイクロプロセッサ装置のRA
Mテストの動作を説明する。
【0018】まず、RAM2のRAMテストを行う領域
の開始アドレスと終了アドレスを設定する(ステップS
1)。次に、設定したRAM2のテスト領域のデータを
読み出す(ステップS14)。RAM2に書き込まれる
データは、データ加工部7により1ビットの冗長ビット
が付加され、このデータのビット中の「1」の総数が偶
数(奇数)個になるようになっている。これにより、読
み出したデータはパリティチェック部6によりパリティ
チェックがなされ、データに異常があればデータ中の
「1」の総数が変化して偶数(奇数)個でなくなってい
るので、異常として検出される(ステップS10a)。
【0019】次ぎに、RAM2のこの領域のデータにエ
ラーが発生した場合は、パリティチェック部6がMPU
に対して停止不能な割り込み(NMI)を起し(ステッ
プS15)、これによりMPU1ではパリティエラー割
り込み処理が起動し、表示部(図示せず)にエラー発生
アドレスの表示をするなどのエラー処理を行う(ステッ
プS13)。エラーがない場合は、RAMテスト番地を
更新し(ステップS11)、RAMテストの継続/終了
をチェックし(ステップS12)、継続の場合はステッ
プS14に戻り上記の動作を再び繰り返す。この実施例
3では、RAMテストのためのデータをRAM2に書き
込む必要がなく、RAM2にあるデータを利用してRA
Mテストをするので、RAM2のDMA転送アドレスと
RAMテスト・アドレスが重なる場合も、テストの誤判
定が発生せず実施例1及び2に示したバス獲得要求制御
手段は不要となる。
【0020】(実施例4)なお、上記実施例1,2で
は、MPU1がROMなどに記憶されているプログラム
に従ってRAMテストのための動作をしていたが、RA
Mテストのための動作が予めMPU内に用意されていて
も良い。すなわち、MPUの動作であるメモリ書き込み
機能を、メモリ書き込み後直ちにメモリの読み返しを行
い正常に書き込まれたことをチェックするようなメモリ
チェック機能付きメモリライト機能(マイクロコード)
として、このMPUを用いて通常のメモリ書き込みによ
り、そのメモリ書き込みと同時に常時RAMテストを行
う。これにより、わざわざテスト用のデータを用意し
て、RAMテストを行う状態を設定する必要がなくな
る。
【0021】図7は、この実施例4のメモリチェック機
能付きメモリライト機能を有するMPUの動作を示すフ
ローチャートであり、まずデータをRAMに書き込むと
きDMAコントローラの動きを止めるためバス獲得要求
受付の禁止を行い(ステップS31)、データをRAM
に書き込む(ステップS32)。書き込みが終了したら
直ちにそのデータを読み出し(リードバック)(ステッ
プS33)、書き込んだデータと読み返した(読み出し
た)データとの一致チェックを行う(ステップS3
4)。RAMに何らかの障害が発生した場合はその判定
結果が不一致となり、エラー発生を示すRAMエラー例
外割り込みを発生させ(ステップS36)、これにより
エラー処理を行う(ステップS37)。一方、書き込ん
だデータと読み返したデータが一致した場合はバス獲得
要求受付の禁止を解除し(ステップS35)、RAMに
対するデータの書き込み処理を終了する。
【0022】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、RA
Mと入出力装置が直接データ転送をする状態であって
も、それ関係なくRAMを常時テストすることが可能と
なるので、RAMの信頼性を向上させることができる。
また、RAMに書き込まれるデータ全てに所定のデータ
(冗長ビットなど)を付加し、これを読み出すときにこ
れらが所定の関係になっているかどうかを調べることに
よりRAMテストを行うので、RAMからデータを読み
出す度にRAMテストを行うことになるので、より一層
の信頼性の向上が図れる。そして、MPUのRAMへの
データ書き込み時に、それに付随してデータを読み返し
て書き込んだデータと比較するようにしたので、RAM
へのデータの書き込み時には必ずRAMテストが行われ
ることになるので、装置の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の1実施例であるマイクロプロセッサ
装置の構成を示すブロック図である。
【図2】図1のマイクロプロセッサ装置の動作を示すフ
ローチャートである。
【図3】この発明の他の実施例であるマイクロプロセッ
サ装置の構成を示すブロック図である。
【図4】図3のマイクロプロセッサ装置の動作を示すフ
ローチャートである。
【図5】この発明の他の実施例であるマイクロプロセッ
サ装置の構成を示すブロック図である。
【図6】図5のマイクロプロセッサ装置の動作を示すフ
ローチャートである。
【図7】この発明の他の実施例のマイクロプロセッサ装
置の動作を示すフローチャートである。
【図8】従来のマイクロプロセッサ装置の構成を示すブ
ロック図である。
【図9】図8のマイクロプロセッサ装置の動作を示すフ
ローチャートである。
【符号の説明】
1 MPU 2 RAM 3 DMAコントローラ 4 外部入出力インターフェース 5 バス獲得要求ゲート

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レジスタと演算回路と制御回路とを含み
    命令を解読して演算・制御動作を実行するマイクロプロ
    セッサユニットと、データを随時書き込み・読み出しす
    ることが可能なRAMと、前記マイクロプロセッサユニ
    ットの動作とは独立に周辺装置と前記RAMとの間でデ
    ータ転送を行うためのデータ転送手段とによって構成さ
    れ、前記RAMに所定のデータを書き込みこれを読み出
    し、前記書き込んだデータと前記読み出したデータとを
    比較することにより、前記RAMの検査を行うマイクロ
    プロセッサ装置において、 前記データ転送手段の動作を制御するバス獲得要求制御
    手段を設け、 前記RAMの検査を行うときは、前記データ転送手段の
    前記RAMへのデータ転送を停止することを特徴とする
    マイクロプロセッサ装置。
  2. 【請求項2】 レジスタと演算回路と制御回路とを含み
    命令を解読して演算・制御動作を実行するマイクロプロ
    セッサユニットと、データを随時書き込み・読み出しす
    ることが可能なRAMと、前記マイクロプロセッサユニ
    ットの動作とは独立に周辺装置と前記RAMとの間でデ
    ータ転送を行うためのデータ転送手段とによって構成さ
    れるマイクロプロセッサ装置において、 前記RAMに書き込まれるデータに誤り検出用の冗長デ
    ータを付け加えるデータ加工手段と、 前記RAMのデータを読み出すときに、そのデータに前
    記データ加工手段によりつけ加えられた冗長データを調
    べることにより、そのデータの異常を検出する誤り検出
    手段とを有し、 前記マイクロプロセッサユニットが前記RAMよりデー
    タを読み出すときには必ずそのデータの異常を検査する
    ことを特徴とするマイクロプロセッサ装置。
  3. 【請求項3】 レジスタと演算回路と制御回路とを含み
    命令を解読して演算・制御動作を実行するマイクロプロ
    セッサユニットと、データを随時書き込み・読み出しす
    ることが可能なRAMと、前記マイクロプロセッサユニ
    ットの動作とは独立に周辺装置と前記RAMとの間でデ
    ータ転送を行うためのデータ転送手段とによって構成さ
    れるマイクロプロセッサ装置において、 前記マイクロプロセッサユニットは、前記データ転送手
    段の動作を制御するバス獲得要求制御手段と、 前記RAMへのデータ書き込み時に、そのデータを読み
    返して書き込んだデータと読み返したデータとを比較す
    る一致チェック手段とを有し、 前記マイクロプロセッサユニットが前記RAMにデータ
    を書き込むとき、同時にその書き込んだデータの異常を
    検査することを特徴とするマイクロプロセッサ装置。
JP4182318A 1992-07-09 1992-07-09 マイクロプロセッサ装置 Pending JPH0628302A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4182318A JPH0628302A (ja) 1992-07-09 1992-07-09 マイクロプロセッサ装置

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JP4182318A JPH0628302A (ja) 1992-07-09 1992-07-09 マイクロプロセッサ装置

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JPH0628302A true JPH0628302A (ja) 1994-02-04

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ID=16116213

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JP4182318A Pending JPH0628302A (ja) 1992-07-09 1992-07-09 マイクロプロセッサ装置

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