JPH06281591A - 中空糸モジュールの検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 中空糸モジュールにおける不浸透欠陥を高い
精度でかつ簡単に検出することを目的とする。 【構成】 中空糸モジュールを支持する支持装置１と、
前記中空糸モジュールの端面から所定距離離れた位置に
おいて該モジュールと略同軸上に配置されかつ外径が該
モジュールの外径以上であるリング状の光出射部２０２
Ａと、前記中空糸モジュールの端面に対向しかつ前記光
出射部２０２Ａから照射された光の前記端面での正反射
光が入射しない位置で、前記中空糸モジュールの端面の
細分化された領域ごとの光量を測定する第１の測光装置
３Ａと、前記中空糸モジュールの端面における任意の１
の選択点の測光量もしくは２以上の選択点の平均測光量
に任意のオフセット量を加算して閾値を演算し、この閾
値によって前記端面の測光量を２値化する２値化処理部
４０３と、前記２値化により分別された一方の側の総面
積を基準値と比較することで、中空糸モジュールが両品
であるか否かを判別する演算判定部５０２とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、例えば、中空糸内を
通過する血液と前記中空糸外を通過する透析液間で物質
交換する透析器等に用いられる中空糸モジュールのため
の検査装置に関し、特に前記樹脂剤が必要な位置まで浸
透していない欠陥（以下、不浸透欠陥という。）および
前記中空糸の糸束の端部を固める樹脂剤が中空糸の端部
からその内部に入り込んでいる欠陥（以下、不通糸欠陥
という。）を検出するのに好適な中空糸モジュールの検
査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】周知のように、血液透析器は半透膜によ
って血液と透析液を仕切ってなるもので、透析器内に導
入した血液と透析液との圧力および濃度差によって、前
記血液と透析液の間で物質交換することによって、血液
内の不純物を除去しこの血液を浄化するようにしたもの
である。

【０００３】このような血液透析器として、図２５に示
すように、両端面開放でかつ左右対称形状の略円筒状の
透明容器Ａ内に、半透膜でなりかつ両端面開放の複数の
中空糸により構成される略円筒状の糸束Ｂを配設した中
空糸モジュールＭを用いたものがある。この中空糸モジ
ュールＭは、前記容器Ａの両端部に、この容器Ａの内周
面および前記糸束Ｂを構成する中空糸の外周面に密着す
るウレタン樹脂等の熱硬化性樹脂剤からなる所定厚みの
樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 を有しており、この樹脂剤層Ｃ1 ，
Ｃ2 によって、中空糸内の血液室と中空糸外の透析液室
を仕切るようにしている。すなわち、この図２５に示す
ような中空糸モジュールＭを用いた透析器では、中空糸
内を通過する血液と容器Ａ内において前記中空糸外を通
過する透析液の間で物質交換が行われる。

【０００４】図２５に例示した血液透析器は、一般に次
のように構成される。

【０００５】まず、多数本の中空糸を束ねた円筒状の糸
束Ｂを図２６に示すように前記容器Ａに対し、この容器
Ａを貫通した状態に配置する。次に、前記容器Ａの両端
面に樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 を形成する加工を行い、図２５
に示す中空糸モジュールＭとなし、次に容器Ａの両端部
にエンドキャップＤ1 ，Ｄ2 を装着して構成する。これ
らエンドキャップＤ1 ，Ｄ2 に予め形成したノズルｄ1
，ｄ2 は血液導入部および血液排出部であり、前記容
器Ａに予め形成したノズルｄ3 ，ｄ4 は透析液排出部お
よび透析液導入部である。

【０００６】図２５の中空糸モジュールは以上のように
して構成されるが、この中空糸モジュールには、前述の
樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 を形成する工程において、中空糸束
の単糸相互間に樹脂剤が十分浸透しない欠陥（以下、不
浸透欠陥という）および中空糸の中空穴が樹脂剤で閉塞
される欠陥（以下、不通糸欠陥という）が生じることが
ある。こうした不浸透欠陥や不通糸欠陥は、人工透析治
療において治療効果を低下させる等の種々の問題の原因
となるため、製造工程において各中空糸モジュールごと
に検査することが必要である。

【０００７】前述の不浸透欠陥は、中空糸が密集してい
る樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面の中央部で発生し易く、そ
の欠陥部分は比較的樹脂剤が少ないため正常部分と比べ
て白色の度合が強い。一方、不通糸欠陥による欠陥部分
は、中空糸端部が樹脂剤で固められ中空糸の開口端も閉
塞されているので、樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面の該欠陥
部の光沢の程度が正常部分と比べて強い。従来、こうし
た不浸透欠陥や不通糸欠陥は、前述の樹脂剤層の端面の
白色の度合いや糸束部の部分的な光沢の程度を、検査員
が目視により識別することで検査するようにしていた。
しかしながら、こうした目視による検査の精度は、検査
員の検査能力やその時の体調等により、必ずしも一定の
水準を満たしていない場合が予想される。

【０００８】目視による検査において、上述のような検
査ミスを発生させないようにするため細心の注意と多大
な検査時間をかけているのであるが、大量の中空糸モジ
ュールの検査を行う場合には作業時間の短縮を図る上で
も支障となる。すなわち、製造工程を完全に自動化しコ
ストの低減を図るようにするためには、前記のような不
浸透欠陥や不通糸欠陥の検出も自動的に行えるようにす
る必要がある。

【０００９】目視によらずかつ自動的に上記の中空糸モ
ジュールにおける不浸透欠陥や不通糸欠陥を検出する一
般的な方法として、光を照射した樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の
端面をテレビカメラで撮像し、その画像信号を処理して
判定する方法が考えられる。このように、光を照射した
検査対象面を撮像し、その画像信号を処理することによ
って表面状態を評価する方法として、特開昭６１―２０
１１０５号公報に開示される方法がある。この公報に開
示される方法では、検査対象面に斜めから光を照射し、
この検査対象面の画像信号を所定の閾値で２値化するこ
とで、前記検査対象面の陰影に対応する部分の面積を算
出するようにしており、この算出面積の大きさから、検
査対象面の表面状態を評価するようにしている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
不浸透欠陥や不通糸欠陥を検出する場合、上記公報に開
示される方法では以下のような問題があった。

【００１１】まず、不浸透欠陥の検査では、検査対象面
である樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面全体を均一に照明する
必要があるのに対し、前記公報に開示されるように検査
対象端面に斜めから光を照射する方法では、光源から前
記検査対象端面までの距離が一定でないために、検査対
象端面上の輝度分布が不均一になるという問題があっ
た。このように斜めから光を照射する場合、光源を検査
対象面から遠ざけることで輝度分布を均一化することが
できるが、同時に、正反射により高輝度点が発生すると
いう問題が生じる。これは、輝度分布を均一化するため
に前記検査対象端面に直交する位置に光源をおいた場合
にも同様に生じる問題である。一方、検査対象端面を斜
めから照射する方法を採用する場合、前記検査対象端面
を輝度分布が一定範囲にある複数の領域に分割し、分割
した領域毎に条件を変えて検査することも考えられる
が、このような方法は前述の条件設定が繁雑で検査時間
を要するため実用的ではない。

【００１２】なお、検査対象面を均一に照射し且つ局部
的な高輝度点の発生がない照射手段として、図２７に示
すような複数光源７０１と形状および特性に工夫を施し
た拡散板７０２を組合せてなる光照射手段７００が公知
であるが、このような光照射手段７００は設計が微妙且
つ複雑で高価になる欠陥がある。

【００１３】ところで、一般に円形である中空糸モジュ
ールの端面を均一照射するには、光源の形は円形ないし
はリング状であることが適当であることは容易に推察さ
れる。しかしながら、円形ないしはリング照明は幾何学
的な作用効果から通常リング中心軸上の照明効果が最も
強く半径方向に弱くなる現象は避け難い。また、リング
径が小さい場合や遠く離して配置した場合は、既述の場
合と同様、正反射による高輝度点が発生する。さらに、
リング照明における半径方向の照明むらは、前方に拡散
性円筒反射板を設けても緩和されるにとどまり、前述の
ような不浸透欠陥を的確に把える照明効果は得られな
い。

【００１４】一方、既述のように、前記樹脂剤層Ｃ1 ，
Ｃ2 の端面における不通糸欠陥部分は正常部分と比較し
て光沢がある。このように、面上において光沢の程度が
強い部分の検出方法としては、斜方向照明の正反射光の
程度を検出する方法が最も一般的である。しかし、この
ような方法では、以下の（１）〜（３）の理由により不
通糸欠陥を精度よく検出することができない。 （１）中空糸の肉厚が厚いモジュールでは、正常部と不
通糸欠陥部の差が顕著でない。 （２）樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面を成形する工程で、端
面上における正常部と不通糸欠陥部の差が出難くなる場
合がある。 （３）不通糸欠陥が糸束部分の外周辺部に発生した場合
は、糸束部外側の樹脂剤のみの部分と全く区別がつかな
い。

【００１５】発明者は、前記樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の端面
における不通糸欠陥部分を観察した結果、こうした不通
糸欠陥部においては、中空糸の開口端を塞ぐ樹脂剤及び
この不通糸欠陥部の中空糸を固める樹脂剤に、極微小気
泡が密集した気泡群である白色の小塊が存在することを
見出した。この白色気泡群の小塊は、前記端面の表面だ
けでなく樹脂剤層の内部に入り込んでいる場合もある。
すなわち、このような白色気泡群を検出するには、端面
表面の気泡群を検出するとともに、樹脂剤層の内部にあ
る白色気泡群すなわち糸束周辺部分にあり且つ端面表面
下に潜っている白色気泡群をも把える必要がある。この
ため、前述した不浸透欠陥の検出の場合のように正反射
を避けてこの端面を均一に照明することを考慮するのに
加え、樹脂層内部の照明をも考慮する必要がある。

【００１６】

【発明の目的】本発明の第１の目的は、複数の中空糸の
端部を樹脂剤により固めた樹脂剤層を有する中空糸モジ
ュールの良否、特に不浸透欠陥の有無による良否を検査
する装置であって、簡単な方法で検査対象表面を均一に
照明することで、中空糸モジュールの樹脂剤層における
不浸透欠陥を精度よく且つ容易に検出できる中空糸モジ
ュールの検査装置を提供することにある。

【００１７】本発明の第２の目的は、複数の中空糸の端
部を樹脂剤により固めた樹脂剤層を有する中空糸モジュ
ールの良否、特に不通糸欠陥の有無による良否を検査す
る装置であって、検査対象面に対する照明手段を工夫す
ることで、中空糸モジュールの樹脂剤層における不通糸
欠陥を精度よく且つ容易に検出できる中空糸モジュール
の検査装置を提供することにある。

【００１８】

【課題を解決するための手段】請求項１の中空糸モジュ
ールの検査装置は、複数の中空糸の端部を樹脂剤により
固めた樹脂剤層を有する中空糸モジュールの検査装置で
あって、前記中空糸モジュールを支持する支持手段と、
前記中空糸モジュールの端面から所定距離離れた位置に
おいて該モジュールと略同軸上に配置されかつ外径が該
モジュールの外径以上であるリング状の光出射部と、前
記中空糸モジュールの端面に対向しかつ前記光出射部か
ら照射された光の前記端面での正反射光が入射しない位
置で、前記中空糸モジュールの端面の細分化された領域
ごとの光量を測定する測光手段と、前記中空糸モジュー
ルの端面における任意の１の選択点の測光量もしくは２
以上の選択点の平均測光量に任意のオフセット量を加算
して閾値を演算するとともに、前記測光手段が測定した
各領域ごとの測光量を前記閾値で２値化した２値化信号
を出力する２値化処理手段と、前記２値化処理手段の処
理結果に基づいて中空糸モジュールが不良品であるか否
かを判別する判別手段とを備える。

【００１９】請求項２の中空糸モジュールの検査装置
は、複数の中空糸の端部を樹脂剤により固めた樹脂剤層
を有する中空糸モジュールの検査装置であって、前記中
空糸モジュールを支持する支持手段と、前記中空糸モジ
ュールの端面から所定距離離れた位置において該モジュ
ールと略同軸上に配置されかつ外径が該モジュールの外
径以上であるリング状の第１の光出射部と、前記充填樹
脂剤に対応する位置で前記中空糸モジュールに側方から
光を照射すべく前記樹脂剤層を囲繞するリング状の第２
の光出射部と、前記中空糸モジュールの端面に対向しか
つ前記第１の光出射部から照射された光の前記端面での
正反射光が入射しない位置で、前記中空糸モジュールの
端面の細分化された領域ごとの測光量を測定する測光手
段と、前記中空糸モジュールの端面における任意の１の
選択点の測光量もしくは２以上の選択点の平均測光量に
任意のオフセット量を加算して閾値を演算するととも
に、前記測光手段が測定した各領域ごとの測光量を前記
閾値で２値化した２値化信号を出力する２値化処理手段
と、前記２値化処理手段の処理結果に基づいて中空糸モ
ジュールが不良品であるか否かを判別する判別手段とを
備え、かつ、前記第１の光出射部と第２の光出射部は、
前記撮像カメラにより撮像した、中空糸の端部が樹脂剤
により目詰まりを起こしていない中空糸モジュールでの
前記測光量の分布が、少なくとも前記端面における前記
中空糸領域においてフラットとなる光を照射する。

【００２０】請求項３の中空糸モジュールの検査装置
は、請求項１又は２において、前記判別手段による判別
結果に基づいて欠陥中空糸モジュールを分別する分別手
段を備えている。

【００２１】

【作用】請求項１の中空糸モジュールの検査装置による
と、リング状の光出射部によって、支持手段に支持され
た中空糸モジュールの端面を、その中央部の光量が周辺
部の光量とほぼ等しいかもしくは周辺部の光量よりも大
である光量分布で照射する。２値化処理手段は、検査す
る中空糸モジュールごとに個別に閾値を演算するととも
に、検査対象の中空糸モジュールに関する端面の光量を
細分化された領域ごとに２値化し、判別手段は、前記２
値化処理手段が出力する２値化信号に基いて中空糸モジ
ュールが不良品か否かを判別する。

【００２２】請求項２の中空糸モジュールの検査装置に
よると、第１および第２の光出射部から光を照射するこ
とで、中空糸の端部が樹脂剤により目詰まりを起こして
いない中空糸モジュールの端面における光量分布をほぼ
フラットにしている。２値化処理手段は、検査する中空
糸モジュールごとに個別に閾値を演算するとともに、検
査対象の中空糸モジュールに関する端面の光量を細分化
された領域ごとに２値化し、判別手段は、前記２値化信
号に基づいて中空糸モジュールが不良品であるか否かを
判別する。

【００２３】請求項３の中空糸モジュールの検査装置に
よると、前記判別手段による判別結果に基づき、欠陥中
空糸モジュールを自動的に生産ラインから取り除くこと
ができる。

【００２４】

【実施例】本発明による中空糸モジュールの検査装置
（以下、単に検査装置という。）の実施例を図１に示
す。この図１の検査装置は、中空糸モジュールＭの支持
装置１、第１の光照射装置２Ａ、第２の光照射手段２
Ｂ、第３の光照射手段２Ｄ、第４の光照射手段２Ｅ、第
１の測光装置３Ａ、第２の測光装置３Ｄ、第３の測光装
置３Ｅ、異常検出用信号形成部４、判別装置５、表示部
６および操作指令部７を備えている。

【００２５】以上のようしてなる検査装置は、中空糸モ
ジュールＭに発生する、Ｉ．不浸透欠陥、II．糸乱れ欠
陥、III.不通糸欠陥、IV. 剥離欠陥、Ｖ．発泡欠陥を検
査する。以下に、これらの検査項目別に各部の構成と動
作を説明する。

【００２６】Ｉ．＜不浸透欠陥の検査＞ 不浸透欠陥については既述しているのでここでの説明は
省略する。

【００２７】支持装置１は、図２に示すように、中空糸
モジュールＭを搭載するもので、且つ、この中空糸モジ
ュールＭの軸心Ｃ0 が後述する集光レンズ３２Ａとテレ
ビカメラ３１Ａの光学中心軸３２Ａａと平行になるよう
にこの中空糸モジュールＭの傾きを調整することができ
るとともに、この中空糸モジュールＭをその品種毎に異
なる外径に適応して上下左右に移動させることで、前記
軸心Ｃ0 を前記光学中心軸３２Ａａに合致させることが
できる。

【００２８】この不浸透欠陥の検査では、光照射装置と
して、第１の光照射装置２Ａを用いる。図２に示すよう
に、この第１の光照射装置２Ａは、第１の光源２０１Ａ
および第１のリング状出射部２０２Ａを備えている。

【００２９】第１の光源２０１Ａは、後述する操作指令
部７より与えられた指令に基づいて、リング状出射部２
０２Ａからの光の出射のオン・オフおよび光強度の調整
を行う。

【００３０】図３に示すように、リング状出射部２０２
Ａは、拡散性で発光面積の広いタイプが好ましく、この
実施例では市販の環状螢光灯を用いている。また、この
リング状出射部２０２Ａは、中空糸モジュールＭの端面
を均一に照射するとともに後述するＣＣＤカメラ３１で
取り込む前記中空糸モジュールＭの端面の画像に高光量
点が発生しないように、数１を満足する位置に設けられ
ている。

【００３１】

【数１】ｄ＞（１＋Ｌ／Ｌ0 ）・Ｄ

【００３２】ここでｄはリング状出射部２０２Ａの内径
（リング状出射部２０２Ａが多角形である場合は、内接
円の径）、Ｌは中空糸モジュールＭの端面からリング状
出射部２０２Ａまでの距離、Ｌ0 は前記端面とＣＣＤカ
メラ３１間の距離、Ｄは中空糸モジュールＭの端面の直
径である。内径ｄ、距離Ｌ0 および直径Ｄが一定である
場合、上記数１を満足する中空糸モジュールＭの端面か
らリング状出射部２０２Ａまでの距離Ｌの最大値Ｌ1
は、

【００３３】

【数２】Ｌ1 ＝（ｄ−Ｄ）・Ｌ0 ／Ｄ

【００３４】となる。断面円形の中空糸モジュールＭで
は、前記リング状出射部２０２Ａと中空糸モジュールＭ
の端面の距離Ｌを数２で得た最大値Ｌ1 とすると、図４
（ａ）に示すように、前記端面における直径方向の光量
分布が、端面の中心Ｏの近傍において高い山状となる。
前記距離Ｌを最大値Ｌ1 よりも小さくすると、図４
（ｂ），（ｃ）に示すように、中心Ｏ近傍の山のピーク
値が下がり、距離Ｌをさらに小さくすると、図４（ｄ）
に示すように、光量分布は端面の中心Ｏにおいて逆に下
がるようになる。

【００３５】図４（ａ）に示すような光量分布は、前記
端面における中空糸の糸束の中心部とこの糸束の周辺部
との間で、光量に比較的大きな差が生じるため、糸束の
中央部と周辺部とで検出精度が不均一になるという問題
がある。すなわち、図４（ａ）に示すような光量分布は
端面全域における照明の均一性が不足しており、不浸透
欠陥の検出に用いるのは好ましくない。また、図４
（ｄ）に示すように、端面の中心Ｏにおいて下がってい
る光量分布も、肝心の端面中央の糸束部分の光量分布が
著しく低いため、不浸透欠陥の検出には適さない。

【００３６】軸心Ｃ0 に対して垂直な理想的な端面を持
つ中空糸モジュールにおける不浸透欠陥の検出には、端
面の中央部分がほぼフラットである図４（ｃ）に示すよ
うな光量分布が好ましい。しかし、現実には、中空糸モ
ジュールによっては前記端面が歪んでいる場合があり、
このような中空糸モジュールＭの不浸透欠陥を検出する
には、光量分布の落込みを確実に避けるために、端面の
中心部に対応する位置で僅かに分布が高くなる図４
（ｂ）の光量分布であってもよい。

【００３７】既述のように、リング状出射部２０２Ａ
は、端面Ｃ1 を均一に照明するため、指向性の有る発光
面よりも拡散性で発光面積の広いタイプが必要である。
このため、実施例のような環状の螢光灯を使うことで所
定の目的を達成することができる。しかし、螢光灯は、
強度の調節に適さず、また検査項目切替のため点滅を繰
返す場合に適さない。このため、蛍光灯に代えて、図５
に示す如く、内径が中空糸モジュールＭの端部の外径よ
り大きいリング状の本体２０２Ａａとこの本体２０２Ａ
ａ内に収容された複数の光ファイバー２０２Ａｂとから
なるリング状ファイバーライトガイドを用いてもよい。
この図５の場合、第１の光源２０１Ａとしてランプを用
いるとともに、この第１の光源２０１Ａの発光光束を光
ファイバー束２０３Ａによってリング状出射部２０２Ａ
の光ファイバー２０２Ａｂに導くことで、本体２０２Ａ
ａの端面から中空糸モジュールＭの端面に光を照射する
ことができる。

【００３８】前記リング状ファイバーライトガイドの各
光ファイバー２０２Ａｂの先端面は、本体２０２Ａａの
一方の端面においてこの本体２０２Ａａの外周縁に沿っ
て環状に配置されている。この場合に、出射方向すなわ
ち光ファイバー２０２Ａｂの先端を、中空糸モジュール
Ｍの端面に対し垂直な方向に配列したものでは、正反射
を避けるために数１の式関係を満足する位置にリング状
出射部２０２Ａを置くと、中空糸モジュールＭの端面に
入射する光量が弱くなる。このため、この図５に示すよ
うなファイバーライトガイドをリング状出射部２０２Ａ
として採用する場合には、光ファイバー２０２Ａｂの先
端を中空糸モジュールＭの端面の中心Ｏ点方向へ、たと
えば４５°程度傾けるのがよい。

【００３９】また、前記光ファイバー２０２Ａｂの出射
開口角は広いタイプが望ましいが、広角のタイプでも開
口角１２０°にすぎず、蛍光灯に比べ拡散性も不足して
いるので、図５に示した如く、リング状出射部２０２Ａ
の前面に拡散板２０４Ａを配置するのが好ましい。

【００４０】この不浸透欠陥の検査では、測光装置とし
て、第１の測光装置３Ａを用いる。この第１の測光装置
３Ａは、視野内をたとえば５１２（横）×４８０（縦）
個からなる微小領域に分割してこれらの微小領域の各々
に対応するべく配列されたフォトセンサ群を有するカメ
ラ本体３１と前記フォトセンサ群上に集光する集光レン
ズ３２とを備える公知の２次元テレビカメラである（図
２参照）。既述のように、支持装置１の移動機構を作動
させることにより、中空糸モジュールＭの軸心Ｃ0 を集
光レンズ３２Ａの光学中心軸３２Ａａに合致させること
ができ、これによってこの第１の測光装置３は、前記中
空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の端面を撮影すること
ができる。この第１の測光装置３は、前記第１のリング
状出射部２０２Ａからの光を照射された樹脂剤層Ｃ1 の
端面を撮影し、各フォトセンサに対応する微小領域の光
量を表す第１のアナログ画像信号を出力する。この第１
のアナログ画像信号は異常検出用信号形成部４に与えら
れる。

【００４１】異常検出用信号形成部４は、Ａ／Ｄ変換器
４０１、画像記憶部４０２、２値化処理部４０３および
２値化画像表示部４０４を備えている。

【００４２】Ａ／Ｄ変換器４０１は、前記第１の測光装
置３Ａから与えられた第１のアナログ画像信号を第１の
ディジタル画像信号に変換して画像記憶部４０２へ送
る。

【００４３】画像記憶部４０２は、前記第１のディジタ
ル画像信号を一旦記憶する。

【００４４】２値化処理部４０３は、前記第１のディジ
タル画像信号を所定の閾値Ｂ1Pで２値化し、第１の２値
化画像信号を形成する。すなわち、この２値化処理部４
０３は、前記閾値Ｂ1Pよりもレベルの高い画像信号（図
７に破線で示す部分）を白色レベルに置換し、閾値Ｂ1P
よりもレベルの低い画像信号を黒色レベルに置換する
（図７参照）。

【００４５】また、２値化処理部４０３は、以下の方法
で前記閾値Ｂ1Pを設定する。

【００４６】前記リング状出射部２０２Ａによって照明
された中空糸モジュールＭの端面の光量は、樹脂剤のロ
ット間差や端面を成形する成形機の切れ味の劣化、ある
いは前記第１の光源２０１Ａとなるランプの劣化等のた
め、中空糸モジュール個別間でバラツクことが避け難
い。この現象に適応するため、この実施例の二値化処理
部４０３では、画像記憶部４０２に記憶された第１のデ
ィジタル画像信号から、図６に示した如く、端面の中心
Ｏの光量Ｂ10および半径ｋＲ上に均等配置した（ｊ−
１）個の微小領域ｐ1 〜ｐ(j-1) の光量Ｂ1i（ｉ＝１〜
ｊ−１）を計測する。ここでＲは、中空糸モジュールＭ
の本体ケースの内径である。また、ｋは１＞ｋ＞０であ
り品種に依らず任意に設定する。

【００４７】以上のようにして計測した中空糸モジュー
ルＭの端面の測光量Ｂ1i（ここでｉ＝０，１，…，ｊ−
１）は、通常、既述の図４（ｂ）の場合のように前記端
面の中心での値Ｂ0 が最大になる。また、不浸透欠陥が
端面の中央部分で発生するとこの中央部の測光量は正常
品と比べて更に高くなる。また、通常、前記図４（ｃ）
に示すように中央部の光量が若干高い光量分布の場合で
も、不浸透欠陥が生じると、その発生場所が前記端面の
周辺部分であっても、その不浸透欠陥に対応する部分の
光量は、光量分布の中央部のピークよりも高くなる。こ
の二値化処理部４０３では、不浸透欠陥により端面の光
量分布のピークが高く盛り上がること把えるために、数
３の式により、正常品の場合にはない光量の高い部分を
分別できるような２値化レベルすなわち閾値Ｂ1Pを演算
する。

【００４８】

【数３】Ｂ1P＝バーＢ1 ＋ΔＢ1

【００４９】ここでバーＢ1 はｊ点の光量測定値の最大
値と最小値を除いた（ｊ−２）個の光量データの平均値
であり、ΔＢ1 は品種に依存する２値化レベルの定数オ
フセットである。定数オフセット量ΔＢ1 は、樹脂剤の
ロット間の色度差や光源の経時変化などに適応して正常
品の端面の光量分布を推定することによって決定するの
が基本であるが、光量計測と演算が複雑になるため、こ
こでは光量分布の傾きを品種によってほぼ一定であるも
のとして決定している。前記バーＢ1 を決定する方法
は、この他、テレビカメラで撮影した視野内の各微小領
域毎の光量値分布の範囲（最大―最小）ないしはこの分
布の標準偏差値から演算して決定するなど、一般に知ら
れた方法を採用してもよい。このように、バーＢ1 は平
均値や偏差値として求めるのが検出精度を向上させる上
で好ましいが、前記中空糸モジュールＭの端面の中心の
光量Ｂ10をそのままバーＢ1 として採用するようにして
もよい。

【００５０】以上のようにして求めた閾値Ｂ1Pは、図７
に実線と一点鎖線で示すように、中空糸モジュール個別
間の全体的な色の差に応じて若干上下する。

【００５１】２値化画像表示部４０４は、前記２値化処
理部４０３によって白色レベルと黒色レベルに置換され
た第１の２値化画像信号により得られる画像、すなわち
不浸透部の存在によって高光量となった部分のみを白色
で示した画像を表示する。

【００５２】判別装置５は、記憶部５０１と演算判定部
５０２を備えている。この判別装置５は、不浸透欠陥を
検出するために以下のように動作する。

【００５３】演算判定部５０２は、前記２値化画像表示
部４０４において白色で表示される前記第１の２値化画
像信号による第１の高光量部分総面積を演算する。この
総面積は、前記カメラ本体３１のフォトセンサのうち、
出力した画像信号が白色レベルの画像信号に置換された
フォトセンサの数に相当する。また、演算判定部５０２
は、記憶部５０１にあらかじめ記憶された中空糸モジュ
ールＭの品番ごとの基準値の中から、記述していないデ
ータ入力装置より入力された品番の不浸透欠陥検査用面
積基準値を読み出す。

【００５４】また、演算判定部５０２は、２値化された
前記第１の高光量部分総面積を、前記不浸透欠陥検査用
面積基準値と比較し、中空糸モジュールの良否を判定す
る。ここでは、前記比較結果が基準値＞総面積であると
きその中空糸モジュールＭを不浸透欠陥検査に関して良
品と判定し、基準値≦総面積であるときその中空糸モジ
ュールＭを不良品と判定する。

【００５５】表示部６はＣＲＴディスプレイおよびプリ
ンタを備えており、中空糸モジュールの不浸透欠陥検査
に関する良否の判定結果を表示する。

【００５６】操作指令部７は、前記演算判定部５０２か
ら、上述の不浸透欠陥検査の判定結果に加え、後述する
糸乱れ欠陥検査、不通糸検査、剥離検査および発泡検査
の判定結果を受けた後、図８に示す中空糸モジュール移
載装置８を作動させ、支持装置１に搭載された中空糸モ
ジュールＭを取り外すとともに、この支持装置１に新規
モジュールを搭載させる。

【００５７】図８において、中空糸モジュールの供給ラ
イン８１から支持装置１へそして次工程移送部８２への
着脱と、良品・不良品の判定結果に基づく次工程移送部
８２もしくは欠陥モジュール収集部８６への仕分けは、
オートハンド８０が操作指令部７の指令で自動的に行
う。このため、オートハンド８０は、ガイド８３に沿っ
て二点鎖線で示したごとく移動できる。また、この操作
指令部７は、入力装置により入力された中空糸モジュー
ルＭの品番に関する情報に基づいて、支持装置１に搭載
された中空糸モジュールの軸心Ｃ0 を前記集光レンズ３
２の光学中心軸に合致させるように、前記支持装置１の
ための図示しない移動機構を制御する。

【００５８】上記操作指令部７は、さらに、前記演算判
定部５０２の判定結果に基づいて、前記支持装置１から
取り外した中空糸モジュールＭを良品と不良品に分別す
る分別機能も備えている。すなわち、この操作指令部７
は、前記判定結果が支持装置１に搭載されている中空糸
モジュールＭを良品とするものである場合には、図８の
中空糸モジュール移載装置８に対し、支持装置１から取
り外した中空糸モジュールＭを次工程移送部８２に移動
させる指令を出し、前記比較結果が前記中空糸モジュー
ルＭを不良品とするものである場合には、中空糸モジュ
ール移載装置８に対し、支持装置１から取り外した中空
糸モジュールＭを欠陥中空糸モジュール収集部８６に移
動させる指令を出す。

【００５９】以上のようにしてなる検査装置により、既
述のような不浸透欠陥のある中空糸モジュールを不良品
として排除することができる。

【００６０】なお、上記実施例では、演算判定部５０２
で求めた第１の高光量部分総面積が記憶部５０１から読
み出した基準値を越えているか否かのみをその中空糸モ
ジュールが良品であるか不良品であるかの判定条件とし
ている。しかしながら、この発明によるさらに他の中空
糸モジュールの検査装置では、前記面積の大小を指標と
する方法に代えて、前記２値化画像表示部４０４で白色
に表示される高光量部分の形状的な特徴すなわちこの高
光量部分の長さ等の特徴を数量化して前記特徴量を基準
量と比較するようにしてもよい。

【００６１】II. ＜糸乱れ欠陥の検査＞ 糸乱れ欠陥は、糸束Ｂを構成する中空糸の一部が、前記
樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 に密着した部分において、容器Ａの
中心部にまとまらず糸束Ｂの周辺でばらけ、折れ曲がっ
て糸束Ｂから食み出す欠陥である。図１の中空糸モジュ
ールの検査装置では、このような糸乱れ欠陥も検査する
ことができる。

【００６２】糸乱れ欠陥を検査するための支持装置１の
構成と動作は、既述の不浸透欠陥の検査の場合と同様で
あるので、ここでは詳細な説明は省略する。

【００６３】この糸乱れ欠陥の検査では、光照射装置と
して、第２の光照射装置２Ｂを用いる。図２に示すよう
に、この第２の光照射装置２Ｂは、第２の光源２０１Ｂ
およびリング状出射部２０２Ｂを備えている。

【００６４】第２の光源２０１Ｂは、操作指令部７より
与えられた指令に基づいて、リング状出射部２０２Ｂか
らの光の出射のオン・オフおよび光強度の調整を行う。

【００６５】第２のリング状出射部２０２Ｂは、図９に
示すように、内径φが中空糸モジュールＭの端部の外径
より大きいリング状の本体２０２Ｂａとこの本体２０２
Ｂａ内に収容された複数の光ファイバー２０２Ｂｂとか
らなるリング状ファイバーライトガイドである。各光フ
ァイバー２０２Ｂｂの先端面は、本体２０２Ｂａの内周
面に沿って配置されており、かつそれぞれ本体２０２Ｂ
ａの中心を向いている。なお、図２では、簡便のため光
ファイバー２０２Ｂｂを周方向に間隔をおいて配置して
いるが、この光ファイバー２０２Ｂｂは、周方向にはな
るべく密集させて配置するのが好ましい。いずれにして
も、このリング状出射部２０２Ｂは、中空糸モジュール
Ｍの端部の側面を周方向において均一に照明する。前記
複数本の光ファイバー２０２Ｂｂは、光ファイバーコネ
クタ等を介して前記本体２０２Ｂａの外部に延出してお
り、それぞれ前記第２の光源２０１Ｂと光学的に接続さ
れている。

【００６６】前記第２のリング状出射部２０２Ｂは、中
空糸モジュールＭの軸方向に移動することでその内周側
に中空糸モジュールＭの端部を挿入することができる。
この実施例では、前記第２のリング状出射部２０２Ｂ
は、図１０に実線で示すように、光ファイバー２０２Ｂ
ｂの出射端面が中空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の軸
方向中央部Ｘでこの樹脂剤層Ｃ1 の側面に対向するよう
に固定される。前記本体部２０２Ｂａの内径φは、この
光ファイバー２０２Ｂｂの出射端面から出射される光が
樹脂剤層Ｃ1 の側面を軸方向全体にわたって照射するこ
とができるように光ファイバー２０２Ｂｂの出射角αに
応じて設定されている。このようにして樹脂剤層Ｃ1 の
側面を照射すると、軸心Ｃ0 とほぼ平行に樹脂剤層Ｃ1
の端面に達している中空糸は、この樹脂剤層Ｃ1 の端面
側にほとんど反射光を作らないのに対し、円柱状の糸束
Ｂから食み出して湾曲している異常中空糸は、この樹脂
剤層Ｃ1 の端面側に向かう強い反射光を作る。

【００６７】なお、前記リング状出射部２０２Ｂの固定
位置は、必ずしも図１０に実線で示すような位置に限定
されるものではなく、たとえば、図１０に実線で示す位
置よりもモジュールＭの端部方向にズレた位置であって
もよい。しかし、図１０に一点鎖線で示すように、光フ
ァイバー２０２Ｂｂの先端が樹脂剤層Ｃ1 の外側端面に
一致する位置Ｙよりも先端側に位置するようになると、
光ファイバー２０２Ｂｂから出射された光が直接樹脂剤
層Ｃ1 の外側端面を照射するためこの端面で強い反射光
が発生し、この端面での反射光により前記のような異常
中空糸による反射光とのコントラストが悪化して検出エ
ラーを起こす。また、図１０に二点鎖線で示すように、
光ファイバー２０２Ｂの先端が樹脂剤層Ｃ1 の内側端面
に一致する位置Ｚからさらに内側に位置するようになる
と、光ファイバー２０２Ｂｂから出射した光が樹脂剤層
Ｃ1 内に閉じ込めた気泡を照らして強い反射光を作り、
これによる検出エラーが発生し易い。ただし、光ファイ
バー２０２Ｂｂの先端位置は、上記ＺとＸの中間位置で
あっても上記と同様の検出エラーを起こすことがあり、
上記Ｙ位置からその内側へ８ｍｍ程度の範囲内に設定す
ることが好ましい。

【００６８】なお、リング状出射部２０２Ｂとしては上
記のリング状ファイバーライトガイドの他にリング状螢
光灯を採用することも可能である。しかし、螢光灯は口
金具部での光強度むらを避け難い。また、蛍光灯は無指
向性であり樹脂剤層Ｃ1 の端面近傍のみでなく中空糸モ
ジュールの胴部分まで広く照明するため、前記検出エラ
ーが前記ファイバーライトガイドに比べて発生し易いた
め、前記ファイバーライトガイドを用いるのがより好ま
しい。

【００６９】この糸乱れ欠陥の検査において用いる測光
装置は、先の不浸透欠陥の検査の場合と同様、第１の測
光装置３Ａである。したがって、ここではこの第１の測
光装置３Ａの詳細な説明は省略する。第１の測光装置３
は、この糸乱れ欠陥の検査では、第２のリング状出射部
２０２Ｂから光が照射されている状態で前記樹脂剤層Ｃ
1 の端面を撮影し、各フォトセンサに対応する微小領域
の光量を表す第２のアナログ画像信号を出力する。この
第２のアナログ画像信号も異常検出用信号形成部４に与
えられる。

【００７０】第２のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける異常検出用信号形成部４のＡ／Ｄ変換器４０１およ
び画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥の検査
の場合と同様である。

【００７１】糸乱れ欠陥の検査の場合、すなわち異常検
出用信号形成部４が第２のアナログ画像信号を入力した
場合、２値化処理部４０３は、前記第２のアナログ画像
信号をＡ／Ｄ変換した第２のディジタル画像信号を所定
の閾値ＳP で２値化し、第２の２値化画像信号を形成す
る。すなわち、この２値化処理部４０３は、前記閾値Ｓ
P よりもレベルの高い画像信号を白色レベルに置換し、
閾値ＳP よりもレベルの低い画像信号を黒色レベルに置
換する。

【００７２】また、２値化処理部４０３は、以下の方法
で前記閾値ＳP を設定する。前記リング状出射部２０２
Ｂから出射される中心方向に向かう光により側面から樹
脂剤層Ｃ1 を照明すると、光は糸束Ｂの周縁部で散乱
し、この糸束Ｂの中心部にはほとんど到達しない。この
結果、前記リング状出射部２０２Ｂから光を出射させた
状態で、前記測光装置３により前記中空糸ｂ1 のような
異常中空糸がない中空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の
端面の光量を測定すると、中空糸モジュールＭの径方向
における光量分布は、図１１（ｂ）に実線で示すように
糸束Ｂの周縁部で最も高くなる。しかし、異常中空糸が
存在すると、既述のように、この異常中空糸は樹脂剤層
Ｃ1 の端面側に向かう強い反射光を作るため、図１１
（ｂ）に一点鎖線で示すように、糸束Ｂの周縁部よりも
遥かに光量が高くなる異常部分Ｅができる。前記閾値Ｓ
P は、前記異常部分Ｅを切り分けるべく設定される。前
記閾値ＳP は、図４（ｂ）に実線で示す光量分布中で最
も高い前記糸束Ｂの周縁部に対応する基準光量Ｓに所定
のオフセット量ΔＳを加算したものである。

【００７３】

【数４】ＳP ＝Ｓ＋ΔＳ

【００７４】前記オフセット量ΔＳは、あらかじめ中空
糸モジュールＭの品種ごとに決定した定数である。

【００７５】一方、前記基準光量Ｓも、オフセット量Δ
Ｓと同様、中空糸モジュールＭの品種ごとにあらかじめ
決定しておくことができる。しかしながら、図１１
（ｂ）に実線で示す光量分布の全体的なレベルは、主に
以下の(a) 〜(c) の理由により、検査を行う各中空糸モ
ジュールＭによって異なることが避け難い。(a) 樹脂剤
層Ｃ1 を形成する樹脂剤そのものの色にロット間差があ
る。(b) 樹脂剤層Ｃ1 を形成する際の樹脂剤層Ｃ1 の端
部表面状態が、透明なものから濁り気味のものまで中空
糸モジュールＭごとに差が生じる場合がある。(c) 光源
２０１に用いているランプの劣化により出射光量が低下
する。

【００７６】したがって、基準光量Ｓをあらかじめ設定
する方法では、高い検査精度を得ることが難しくなる。
このため、この実施例では、図１（ａ）に示したように
直径ｍＲの円周上において等間隔で配置されるｎ個の微
小領域ｔ1 〜ｔn の光量Ｓi（ｉ＝１〜ｎ）を計測し、
これらの光量Ｓi の平均値を前記基準光量Ｓとしてい
る。ここでＲは中空糸モジュールＭの容器Ａの内径であ
る。また、ｍは１＞ｍ＞０から中空糸モジュールＭの品
種に応じて選べれる定数である。この定数ｍは、前記微
小領域ｔ1 〜ｔn を、通常の糸束Ｂ周縁部での最高光量
発生部に一致もしくは最も接近する位置に設けることが
できるように設定するのが好ましい。このような微小領
域ｔ1 〜ｔn の最適設定位置は、中空糸モジュールＭの
品種によって異なる。したがって、前記定数ｍは各中空
糸モジュールＭの品種ごとに決定する必要がある。２値
化閾値ＳP を決定する方法は、この他、テレビカメラで
撮影した視野内の各微小領域毎の光量値分布の範囲（最
大―最小）ないしはこの分布の標準偏差値から演算して
決定するなど、一般に知られた方法を採用してもよい。
前記(1) 式を用いて決定する方法は、簡便ながらよい精
度が得られるのでより好ましい。

【００７７】２値化画像表示部４０４は、前記２値化処
理部４０３によって白色レベルと黒色レベルに置換され
た第２の２値化画像信号により得られる画像、すなわち
異常中空糸による反射光によって高光量となった部分の
みを白色で示した画像を表示する。

【００７８】判別装置５では、前記第２の２値化画像信
号に基づいて、演算判定部５０２が、前記２値化画像表
示部４０４において白色で表示される第２の高光量部分
総面積を演算する。前記第１の高光量部分総面積の場合
と同様、この第２の高光量部分総面積も、前記カメラ本
体３１のフォトセンサのうち、出力した画像信号が白色
レベルの画像信号に置換されたフォトセンサの数に相当
する。また、演算判定部５０２は、記憶部５０１にあら
かじめ記憶された中空糸モジュールＭの品番ごとの基準
値の中から、記述していないデータ入力装置より入力さ
れた品番の糸乱れ欠陥用面積基準値を読み出す。

【００７９】また、演算判定部５０２は、２値化された
前記第２の高光量部分総面積を、前記糸乱れ欠陥検査用
面積基準値と比較し、中空糸モジュールの良否を判定す
る。ここでは、前記比較結果が基準値＞総面積であると
きその中空糸モジュールＭを糸乱れ欠陥検査に関して良
品と判定し、基準値≦総面積であるときその中空糸モジ
ュールＭを不良品と判定する。

【００８０】表示部６は、不浸透検査の場合と同様にし
て、中空糸モジュールの糸乱れ欠陥検査に関する良否の
判定結果を表示する。

【００８１】糸乱れ欠陥検査における操作指令部７の動
作は、前述の不浸透欠陥検査の場合と同様であるので、
ここではその説明を省略する。

【００８２】以上のようにしてなる検査装置により、異
常中空糸が存在する中空糸モジュールを不良品として排
除することができる。中空糸モジュールＭの糸束Ｂの中
心は必ずしも容器Ａの中心と一致しておらず、樹脂剤層
Ｃ1 の端面からみた糸束Ｂの形状も必ずしも真円ではな
いが、上記検査装置によると、異常中空糸による反射光
で樹脂剤層Ｃの端面に高光量部分が形成されるような照
明を行い、前記高光量部分を判定することで異常中空糸
の存在を判定するようにしているので、糸束Ｂの中心と
容器Ａの中心の不一致や糸束Ｂの真円度に関係なく異常
中空糸の存在を検出し、この異常中空糸が存在する中空
糸モジュールを不良品として排除できる。

【００８３】なお、上記実施例では、演算判定部５０２
で求めた第２の高光量部分総面積が記憶部５０１から読
み出した基準値を越えているか否かのみをその中空糸モ
ジュールが良品であるか不良品であるかの判定条件とし
ている。しかしながら、他の中空糸モジュールの検査装
置では、前記面積の大小を指標とする方法に代えて、前
記２値化画像表示部４０４で白色に表示される高光量部
分の形状的な特徴すなわちこの高光量部分の長さ等の特
徴を数量化して前記特徴量を基準量と比較するようにし
てもよい。

【００８４】III.＜不通糸欠陥の検査＞ 不通糸欠陥については、既に詳述しているのでここでの
説明は省略する。

【００８５】不通糸欠陥を検査するための支持装置１の
構成と動作は、既述の不浸透欠陥および糸乱れ欠陥の検
査の場合と同様であるので、ここでは詳細な説明は省略
する。

【００８６】この不通糸欠陥の検査では、光照射装置と
して、第１の光照射装置２Ａと第２の光照射装置２Ｂを
用いる。これら第１および第２の光照射装置２Ａ，２Ｂ
の構成は既述の通りであるのでここではその詳細な説明
は省略する。

【００８７】第１の光照射装置２Ａの第１のリング状出
射部２０２Ａは、この第１のリング状出射部２０２Ａか
ら光を照射したことによる中空糸モジュールＭの端面の
光量分布が、既述の図４（ａ）あるいは図４（ｂ）のよ
うに、前記端面の中央部で光量が高くなる光量分布とな
る位置に設ける。これによって、第１の光源２０１Ａ
は、中空糸モジュールＭの端面の中央表面付近の白色変
質ポリマのみならず、前記中央表面付近において若干樹
脂剤層の内部に潜った微小気泡群をも照明する。

【００８８】一方、第２の光照射装置２Ｂの第２のリン
グ状出射部２０２Ｂは、図１０に示した場合と同様の環
状のファイバーライトガイトである。しかし、この第２
のリング状出射部２０２Ｂは、不通糸欠陥の検査におい
ては、既述の糸乱れ欠陥の検査の時とは若干異なる位置
に固定される。すなわち、この糸乱れ欠陥の検査におけ
る第２のリング状出射部２０２Ｂの位置は、図１０にお
いて一点鎖線で示すような、中空糸モジュールＭの端面
近傍の糸束周辺を照射するこの端面の前方位置であって
もよく、同じく図１０に実線で示すような前記端面から
後退した位置であってもよい。図１０に実線で示すよう
な端面から後退した位置では、不通糸欠陥部分の白色微
小気泡群を背後から照明するため、中空糸が密集してい
る中空糸モジュールＭの端面近傍においては効果的に光
拡散作用を得られて好ましい。しかし、図１０に二点鎖
線で示すように実線で示す位置よりもさらに前記端面か
ら後退した位置（端面から約１０ｍｍ以上後退した位
置）では、バックライトの如き効果が強く、中空糸モジ
ュールの端面の画像のコントラストが低下して使えな
い。

【００８９】以上のように設定した第２のリング状出射
部２０２Ｂから光を照射したことによる光量分布は、図
１１（ｂ）に示した糸乱れ欠陥の場合の光量分布と同
様、中空糸モジュールの端面の周辺部で光量が大きく、
中央部で光量が小さい光量分布となる。これによって、
第２のリング状出射部２０２Ｂから照射された光は、中
空糸モジュールＭの端面における糸束周辺近くにある白
色微小気泡群を照明する。

【００９０】なお、この不通糸欠陥の検査においては、
第２のリング状出射部２０２Ｂとして環状の螢光灯を用
いてもよい。しかし、螢光灯は、口金具部での光強度む
らを避け難くまた無指向性のためカット面近傍の端部の
みでなく透析器の胴部分まで広く照明するため、検査対
象面である端面画像のコントラストが悪い。したがっ
て、第２のリング状出射部２０２Ｂとしては前述のファ
イバーライトガイトがより好ましい。

【００９１】この不通糸欠陥の検査においては、操作指
令部７より与えられた指令に基づいて、図１２に示すよ
うに、前記第１の光照射手段２Ａの照射による中空糸モ
ジュールＭの端面の光量分布Ｍ1 と第２の光照射手段２
Ｂの照射による前記端面の光量分布Ｍ2 とによって、前
記端面の径方向における光量分布がこの端面の全域にわ
たってほぼフラットな光量分布Ｍ0 となるように、第１
および第２の光源２０１Ａ，２０１Ｂの強度の調整およ
び第１および第２のリング状出射部２０２Ａ，２０２Ｂ
の位置の調整を行う。また、第１および第２の光源２０
１Ａ，２０１Ｂのオン・オフは同時に行われる。

【００９２】この不通糸欠陥の検査において用いる測光
装置は、先の不浸透欠陥および糸乱れ欠陥の検査の場合
と同様、第１の測光装置３Ａである。したがって、ここ
ではこの第１の測光装置３Ａの詳細な説明は省略する。
第１の測光装置３は、この不通糸欠陥の検査では、第１
のリング状出射部２０２Ａおよび第２のリング状出射部
２０２Ｂの両方から光が照射されている状態で前記樹脂
剤層Ｃ1 の端面を撮影し、各フォトセンサに対応する微
小領域の光量を表す第３のアナログ画像信号を出力す
る。この第３のアナログ画像信号も異常検出用信号形成
部４に与えられる。

【００９３】第３のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける異常検出用信号形成部４のＡ／Ｄ変換器４０１およ
び画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥および
糸乱れ欠陥の検査の場合と同様である。

【００９４】不通糸欠陥の検査の場合、すなわち異常検
出用信号形成部４が第３のアナログ画像信号を入力した
場合、２値化処理部４０３は、前記第３のアナログ画像
信号をＡ／Ｄ変換した第３のディジタル画像信号を所定
の閾値Ｂ2Pで２値化し、第２の２値化画像信号を形成す
る。すなわち、この２値化処理部４０３は、前記閾値Ｂ
2Pよりもレベルの高い画像信号を白色レベルに置換し、
閾値Ｂ2Pよりもレベルの低い画像信号を黒色レベルに置
換する。

【００９５】２値化処理部４０３は、前記不浸透欠陥検
出において閾値Ｂ1Pを決定する場合と同様の理由によ
り、この閾値Ｂ1Pと同様の手順で不通糸欠陥検出のため
の閾値Ｂ2Pを設定する。すなわち、画像記憶部４０２に
記憶された第３のディジタル画像信号から、図６に示し
た中空糸モジュールＭの端面の中心Ｏの光量Ｂ20および
半径ｋＲ上に均等配置した（ｊ−１）個の微小領域ｐ1
〜ｐ(j-1) の光量Ｂ2i（ｉ＝１〜ｊ−１）を計測する。
前記定数ｋは、前述の不浸透欠陥の検出時のものと同値
であってもよいが、必要に応じて異なる値としていても
よい。

【００９６】不通糸欠陥の発生位置は糸束部分の種々の
場所に出現し、また不通糸の周辺に存在する白色変質ポ
リマは照明しても輝度レベルは正常部より僅かに高くな
るにすぎない。この二値化処理部４０３では、不通糸欠
陥により中空糸モジュールＭの端面のいずれの箇所で光
量が高く盛り上がっても、正常品の場合にはない光量の
高い部分を分別できるような２値化レベルすなわち閾値
Ｂ1Pを数５の式により演算する。

【００９７】

【数５】Ｂ2P＝バーＢ2 ＋ΔＢ2

【００９８】ここでバーＢ2 はｊ点の光量測定値の最大
値と最小値を除いた（ｊ−２）個の光量データの平均値
であり、ΔＢ2 は品種に依存する２値化レベルの定数オ
フセットである。定数オフセット量ΔＢ2 は、前記オフ
セット量ΔＢ1 と同様、樹脂剤のロット間の色度差や光
源の経時変化などに適応して正常品の端面の光量分布を
推定することによって決定する。

【００９９】前記不浸透欠陥の検査の場合のバーＢ1 と
同様、前記バーＢ2 を決定する方法は、この他、テレビ
カメラで撮影した視野内の各微小領域毎の光量値分布の
範囲（最大―最小）ないしはこの分布の標準偏差値から
演算して決定するなど、一般に知られた方法を採用して
もよい。このように、バーＢ2 は平均値や偏差値として
求めるのが検出精度を向上させる上で好ましいが、前記
中空糸モジュールＭの端面の中心の光量Ｂ20をそのまま
バーＢ2 として採用するようにしてもよい。

【０１００】２値化画像表示部４０４は、前記２値化処
理部４０３によって白色レベルと黒色レベルに置換され
た第３の２値化画像信号により得られる画像、すなわち
前記不通糸の存在によって高光量となった部分のみを白
色で示した画像を表示する。

【０１０１】判別装置５では、２値化処理部４０３で求
めた第３の２値化画像信号に基づいて、演算判定部５０
２が、前記２値化画像表示部４０４において白色で表示
される第３の高光量部分総面積を演算する。前記第１お
よび第２の高光量部分総面積の場合と同様、この第３の
高光量部分総面積も、前記カメラ本体３１のフォトセン
サのうち、出力した画像信号が白色レベルの画像信号に
置換されたフォトセンサの数に相当する。また、演算判
定部５０２は、記憶部５０１にあらかじめ記憶された中
空糸モジュールＭの品番ごとの基準値の中から、記述し
ていないデータ入力装置より入力された品番の不通糸欠
陥用面積基準値を読み出す。

【０１０２】また、演算判定部５０２は、２値化された
前記第３の高光量部分総面積を、前記不通糸欠陥用面積
基準値と比較し、中空糸モジュールの良否を判定する。
ここでは、前記比較結果が基準値＞総面積であるときそ
の中空糸モジュールＭを不通糸欠陥の検査に関して良品
と判定し、基準値≦総面積であるときその中空糸モジュ
ールＭを不良品と判定する。

【０１０３】表示部６は、不浸透欠陥検査および糸乱れ
欠陥の場合と同様にして、中空糸モジュールの不通糸欠
陥の検査に関する良否の判定結果を表示する。

【０１０４】不通糸欠陥検査における操作指令部７の動
作は、前述の不浸透欠陥検査および糸乱れ欠陥検査の場
合と同様であるので、ここではその説明を省略する。

【０１０５】以上のようにしてなる検査装置により、既
述のような不通糸欠陥のある中空糸モジュールを不良品
として排除することができる。

【０１０６】なお、上記実施例では、演算判定部５０３
で求めた第３の高光量部分総面積が記憶部５０２から読
み出した基準値を越えているか否かのみをその中空糸モ
ジュールが良品であるか不良品であるかの判定条件とし
ている。しかしながら、この発明によるさらに他の中空
糸モジュールの検査装置では、前記面積の大小を指標と
する方法に代えて、前記２値化画像表示部４０５で白色
に表示される第３の高光量部分の形状的な特徴すなわち
この第３の高光量部分の長さ等の特徴を数量化して前記
特徴量を基準量と比較するようにしてもよい。

【０１０７】IV．＜剥離欠陥の検査＞ 剥離欠陥は、図２１における中空糸モジュールＭの容器
Ａと樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 が剥離するという欠陥である。
この剥離欠陥を、図１に示す中空糸モジュールの検査装
置は以下の構成と動作により検査する。

【０１０８】図１３に示すように、図１に示す前記支持
装置１は、前記剥離欠陥を検査するために、支持台１０
１、駆動モータ１０２、駆動ローラ１０３、モジュール
支持ローラ１０４，１０５、従動ローラ１０６およびベ
ルト１０７を備えている。前記駆動モータ１０２および
各ローラ１０３〜１０６は支持台１０１に取り付けられ
ている。また、駆動ローラ１０３は、前記従動ローラ１
０６の直下に配置されており、駆動モータ１０２によっ
て回転駆動される。

【０１０９】以上のようにしてなる支持装置１は、既述
したように、中空糸モジュールＭをその軸芯Ｃ0 を水平
に維持した状態で搭載することができる。また、この支
持装置１に搭載された中空糸モジュールＭは、駆動モー
タ１０２を作動させることにより、前記軸芯Ｃ0 を回転
中心として回転する。前記駆動モータ１０２の回転速度
の設定、起動および停止は、駆動制御部１０８によって
制御され、この駆動制御部１０８は後述する操作指令部
７により与えられる指令信号に基づいて動作する。前記
駆動モータ１０２によって回転駆動される前記駆動ロー
ラ１０３の回転角は、公知の光学式エンコーダ等の回転
角検出器１０９によって検出され、後述する操作指令部
７に与えられるようになっている。

【０１１０】また、既述のように、前記支持装置１は、
図示しない上下動機構により、搭載した中空糸モジュー
ルＭを軸芯Ｃ0 を水平に維持したまま上下動させること
ができる。これによって、中空糸モジュールＭの検出位
置Ｍ0 を上下に移動させることができる。前記検出位置
Ｍ0 は、前記中空糸モジュールＭにおいて樹脂剤層Ｃ1
もしくはＣ2 と容器Ａの界面Ｋのうち、最も上位に位置
している界面Ｋの位置である。

【０１１１】なお、この支持装置１に対する中空糸モジ
ュールＭの着脱は、図８に概略構成を示した既述の中空
糸モジュール移載機構８によって自動的に行うことがで
きるようになっている。

【０１１２】この剥離欠陥の検査では、光照射装置とし
て、図１における第３の光照射装置２Ｄを用いる。図１
３に示すように、この第３の光照射装置２Ｄは、第３の
光源２０１Ｄおよびスリット光発光部２０２Ｄを備えて
いる。

【０１１３】第３の光源２０１Ｄは、操作指令部７より
与えられた指令に基づいて、発光のオン・オフおよび光
強度の調整を行う。

【０１１４】スリット光発光部２０２Ｄは、たとえば複
数本の光ファイバー２０３Ｄによって前記第３の光源２
０１Ｄと接続されており、これらの光ファイバー２０３
Ｄを横一列に配列した後、これらの光ファイバー２０３
Ｄの端末から照射された光をシリンドリカルレンズ２０
４Ｄでスリット状に集光し、このスリット状の光を出射
する。図１４および図１５に示すように、前記スリット
光Ｈは、前記検出位置Ｍ0 で、界面Ｋを周方向に細分化
することで形成されるスリット幅ｄs の微小領域Ｐに入
射角α0 で入射する。既述のように、前記駆動モータ１
０２を作動させて前記中空糸モジュールＭを回転させる
ことにより、スリット光発光部２０２Ｄが出射するスリ
ット光Ｈは、前記検出位置Ｍ0 において、前記容器Ａと
樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 の界面Ｋを全周すなわち全域
にわたって照射することができる。

【０１１５】このスリット光発光部２０２から出射され
たスリット光Ｈは、図１４に示すように、その一部が容
器Ａの表面で反射し反射光Ｒ11となるとともに、他の一
部が容器Ａ内に侵入する。容器Ａ内に侵入したスリット
光Ｈは前記検出位置Ｍ0 に到達する。この検出位置Ｍ0
に位置している界面Ｋで容器Ａと樹脂剤層Ｃ1 もしくは
Ｃ2 とが剥離していれば、スリット光Ｈはこの界面で垂
線CLに対し反射角β0で反射し反射光Ｒ12となる。前記
反射角β0 は、前記入射角α0 で前記容器Ａと空気層の
界面に到達したスリット光Ｈがこの界面で反射する場合
の反射角である。前記検出位置Ｍ0 に位置している界面
Ｋで容器Ａと樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2が正常に接着さ
れており両者が剥離していなければ、スリット光Ｈは大
部分がこの界面を介して樹脂材層Ｃ1 もしくはＣ2 に侵
入する。この樹脂材層Ｃ1 もしくはＣ2 に侵入したスリ
ット光Ｈは、中空糸モジュールＭの糸束Ｂを構成する中
空糸の表面で反射し反射光Ｒ13となる。

【０１１６】前記図１４から容易に類推できるように、
スリット幅ｄs が広いと、反射光Ｒ11とＲ12が重なる不
都合が生じる。スリット幅ｄs はこのような不都合が生
じないように設定する必要がある。たとえば、前記容器
Ａの端部における径Ｄ（図１４参照）は通常２８mm以上
であるが、いずれの場合であっても、前記スリット幅ｄ
s は１〜２mm程度とするのが好ましい。また、前記スリ
ット光Ｈが照射する微小領域Ｐの幅方向の中心と前記検
出位置Ｍ0 は完全に一致していることが好ましく、誤差
は１mm以内に止めると好ましい。この誤差が大きくなる
と、前記反射光Ｒ12の強度と角度が変動し、精度の高い
検出結果を得ることができなくなる。さらに、前記入射
角α0 と反射角β0 は、前記反射光Ｒ2 が最も強くなる
ように設定するか、あるいは、反射光Ｒ12，Ｒ13が十分
離れて障害にならないように設定するのがよい。入射角
α0 は２０°〜５０°の範囲に設定するのがよい。

【０１１７】図１５は、検出位置Ｍ0 に位置している界
面Ｋの微小領域Ｐを軸方向に６分割して示している。こ
の図１５における微小領域Ｐでは、中空糸モジュールＭ
先端側の３つの分割領域ａ，ｂ，ｃ（網線で表示した部
分）が剥離部、他の３つの分割領域ｄ，ｅ，ｆが正常接
着部である。この図１５に示す微小領域Ｐに前記スリッ
ト光発光部２０２が出射するスリット光Ｈを照射する
と、分割領域ａ，ｂ，ｃを照射したスリット光Ｈは界面
Ｋで強く反射して前記反射光Ｒ12となる。一方、分割領
域ｄ，ｅ，ｆを照射したスリット光Ｈはほとんど界面Ｋ
を通過して樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 に入り込み、糸束
Ｂを照射することで前記反射光Ｒ13となる。

【０１１８】この剥離欠陥の検査では、測光装置とし
て、第２の測光装置３Ｄを用いる。この第２の測光装置
３Ｄは公知の２次元ＣＣＤカメラである。この第２の測
光装置３Ｄは、前記スリット光発光部２０２Ｄから出射
された光による前記反射光Ｒ11〜Ｒ13を２次元で受光
し、この２次元上の各画素の光の輝度を表す画像データ
を第４のアナログ画像信号として出力する。この第２の
測光装置３Ｄは、少なくとも前記検出位置Ｍ0 に位置す
る界面Ｋの微小領域Ｐで垂線CLに対し反射角β0 で反射
する反射光Ｒ12を受光できる位置に設けられている必要
があり、前記反射角β0 は１５°〜７０°の範囲の反射
光を受講する位置に設けるのがよい。この第２の測光装
置３Ｄが出力する前記第４のアナログ画像信号も、先の
第１〜第３のアナログ画像信号と同様、異常検出用信号
形成部４に与えられる。

【０１１９】第４のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける、異常検出用信号形成装置４のＡ／Ｄ変換器４０１
および画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥、
糸乱れ欠陥および不通糸欠陥の場合と同様である。

【０１２０】剥離欠陥の検査の場合、すなわち異常検出
用信号形成部４が第４のアナログ画像信号を入力した場
合、２値化処理部４０３は、後述する演算判定部５０２
から２値化指令信号を受けるごとに、第４のアナログ画
像信号をＡ／Ｄ変換した各画素に関する第４のディジタ
ル画像信号を所定の閾値で２値化し、白色レベルと黒色
レベルに置換した第４の２値化画像信号を形成する。前
記２値化指令信号は、前記界面Ｋが周方向にスリット幅
ｄs だけ回転するごとに出力される。界面Ｋが周方向に
スリット幅ｄs だけ回転したことは前記回転角検出器１
０９の検出結果に基づいて前記操作指令部７が出力す
る。また、２値化のための閾値は、前記微小領域Ｐにお
ける剥離部を写す画像の画素のデータのみがこの閾値よ
りも大きくなるように、前記光源２０１Ｄの光強度およ
び迷光等によるノイズを考慮して設定する。

【０１２１】前記反射光Ｒ12は、容器Ａと樹脂剤層Ｃ1
，Ｃ2 が剥離している場合には、正常な場合に比べ比
較的強いので、２値化閾値は経験的に決めた固定値を使
用できるが、光量測光装置３Ｄの測光量分布から演算し
て決定するなど一般に知られた方法を適用しても良い。
前記のような経験的に決めた固定値を用いる方法は、簡
便ながら良い精度が得られるので、より好ましい。

【０１２２】２値化画像表示部４０４は、剥離欠陥の検
査では、図１６に示すように、前記２値化処理部４０３
によって反射光受光部Ｒ11′〜Ｒ13′と反射光非受光部
Ｎの２値化された画像を、反射光受光部Ｒ11′〜Ｒ13′
を白色で、また、反射光非受光部Ｎを黒色で表示する。
ここで、反射光受光部Ｒ11′は前記反射光Ｒ11の受光
部、反射光受光部Ｒ12′は前記反射光Ｒ12の受光部、ま
た反射光受光部Ｒ13′は前記反射光Ｒ13の受光部であ
る。図１６にも示すように、反射光受光部Ｒ11′〜Ｒ1
3′は、２値化画像表示部４０４の画面４０４ａ上で界
面Ｋの周方向に対応する一方向に関して互いに間隔をあ
けた状態で表れる。また、同一形状の中空糸モジュール
Ｍでは、各中空糸モジュールＭ間において各受光部Ｒ1
1′，Ｒ12′，Ｒ13の位置はそれぞれ前記画面４０４ａ
上のほぼ同一位置に表れる。特に、受光部Ｒ12′は前記
容器Ａの内径がほぼ真円に形成されているため、精度よ
く所定位置に表れる。

【０１２３】上記のように、図１６は、前記図１５に示
す微小領域Ｐに前記スリット光Ｈを照射させた場合に、
前記２値化画像表示部４０４に表示される２値化画像を
示している。したがって、この図１６では、反射光受光
部Ｒ12′は前記微小領域Ｐの分割領域ａ，ｂ，ｃに対応
する領域ａ′，ｂ′，ｃ′で構成されている。また、反
射光受光部Ｒ13′は前記微小領域Ｐの分割領域ｄ，ｅ，
ｆに対応する領域ｄ′，ｅ′，ｆ′で構成されている。

【０１２４】判別装置５では、演算判定部５０２が２値
化画像表示部４で白色で表示される部分の面積を演算す
る。

【０１２５】演算判定部５０２は、前記画面４０４ａ上
において前記受光部Ｒ12′が表れる位置を含む所定幅の
領域ｍにおいて、前記２値化処理部４０３の閾値よりも
大きな２値化画像信号である白色レベルの信号に対応す
る画素が形成する部分、すなわち前記受光部Ｒ12′の面
積を演算する。ここで演算される受光部Ｒ12′の面積
は、前記スリット光発光部２０２Ｄから出たスリット状
の光が照射する、前記界面Ｋにおけるスリット幅ｄs の
微小領域Ｐ中の剥離面積に比例する剥離面積の指数値で
ある。図１６に示す２値化画像では前記受光部Ｒ12′の
面積は、前記領域ａ′，ｂ′，ｃ′の面積の和に比例す
る。

【０１２６】なお、前記受光部Ｒ13′の面積は、糸束Ｂ
が正しく真円の円筒形状に仕上がっている場合は、前記
微小領域Ｐ中の正常接着部の面積（図１５の分割領域
ｄ，ｅ，ｆの面積の和）に比例する。しかし、通常、糸
束Ｂは変形しており、界面Ｋを透過した反射光Ｒ13の受
光部Ｒ13′は位置ずれが多く、この受光部Ｒ13′は単に
正常であることの定性情報に止まる。

【０１２７】また、演算判定部５０２は、前記各微小領
域Ｐの受光部Ｒ12′の面積を順次積算する。演算判定部
５０２は、前記駆動モータ１０２により中空糸モジュー
ルＭが３６０度回転した時点で、界面Ｋ全周にわたる受
光部Ｒ12′の面積すなわち界面Ｋ全域における剥離面積
に相当する積算値を演算し、この積算値すなわち面積演
算値を、記憶部５０１から記述していないキーボード等
のデータ入力装置によって予め入力してある品番毎の剥
離欠陥検査用面積基準値と比較し、その大小に基づいて
中空糸モジュールＭの良否を判定する。すなわち、前記
の面積演算値≧面積基準値であるときその中空糸モジュ
ールＭを剥離欠陥検査に関して不良品と判定し、面積演
算値＜面積基準値であるとき中空糸モジュールＭを良品
と判定する。前記面積基準値は経験的に定めることがで
きる。

【０１２８】表示部６は、中空糸モジュールごとに前記
演算判定部５０２が出力する比較結果、すなわち中空糸
モジュールの剥離欠陥に関する良否の判別結果を表示す
る。

【０１２９】操作指令部７は、既述の不浸透欠陥の検査
等の説明において記載したようにして図８に示す中空糸
モジュール移載機構８を作動させる。また、この操作指
令部７は、駆動制御部１０８に指令して駆動モータ１０
２を作動させ、中空糸モジュールＭを、前記界面Ｋが周
方向にスリット幅ｄs ずつ移動するように、連続的又は
間欠的に３６０度回転移動させる。また、この操作指令
部７は、前記記憶部５０１に与えた中空糸モジュールＭ
の品番に関する情報に基づいて、前記品番の中空糸モジ
ュールの界面Ｋの最上位が前記検出位置Ｍ0 と一致する
ように、前記支持装置１のための図示しない上下動機構
を制御する。

【０１３０】以上のようにしてなる検査装置により、中
空糸モジュールの容器Ａと樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 間
に生じている剥離部の総面積を求め、この剥離部の総面
積が所定値以上である場合にその中空糸モジュールを不
良品として排除することができる。

【０１３１】なお、上記実施例では、光源２０１Ｄから
光ファイバーによって導いた光を、スリット光照射部２
０２Ｄでスリット状に集光し、このスリット光を中空糸
モジュールＭの最上端位置Ｍ0 に照射するようにしてい
るが、スリット光照射部２０２Ｄは、光源２０１Ｄをレ
ーザ光源とし、レーザ光をシリンドリカルレンズ等でス
リット状に拡げ、中空糸モジュールＭの最上端位置Ｍ0
に照射するようにしたものであってもよい。

【０１３２】また、上記実施例では、第２の測光装置３
Ｄとして２次元ＣＣＤカメラを用いているが、発明によ
る他の検査装置では、第２の測光装置３Ｄとして１次元
ＣＣＤカメラ等のラインセンサを採用することもでき
る。この場合、第２の測光装置３Ｄは、検出位置Ｍ0 で
反射する反射光すなわち図１４における反射光Ｒ12のみ
をとらえる位置に設ける。一方、２値化処理部４０３で
は、前記走査によって第２の測光装置３Ｄがとらえる各
画素の輝度を所定の閾値で２値化し、演算判定部５０２
は前記閾値を越える画素の数をカウントする。この演算
判定部５０２でカウントされた画素の総数は、前記微小
領域Ｐにおける剥離部の面積に比例する剥離指数とな
る。この場合、２値化のための閾値は、先の実施例の場
合の光源２０１Ｄの光強度と迷光等によるノイズに加
え、ラインセンサの走査時間も考慮する。このように第
２の測光装置３Ｄとしてラインセンサを用いた場合で
も、上記した部位以外の他の部位の構成および機能は、
２値化画像表示部４０４を除き、先の実施例の場合と同
様である。したがって、この検査装置における他の部位
の説明はここでは省略する。

【０１３３】この剥離欠陥の検査においては、第２の測
光装置３Ｄとして単一の受光素子を用いることもでき
る。このように第２の測光装置３Ｄとして単一の受光素
子を用いる場合は、この受光素子が図１４に示す反射光
Ｒ11，Ｒ13をとらえることがないように、中空糸モジュ
ールＭの近傍に、前記反射光Ｒ11，Ｒ13を遮蔽する一点
鎖線で示すようなウィンド９（図１４参照）を設ける。
この場合、図１７に示すように、第２の測光装置３Ｄ´
である単一受光素子の出力信号は、２値化処理されるこ
となく異常検出用信号形成部４´に送られる。異常検出
用信号形成部４´は、前記第２の測光装置３Ｄ´の出力
信号のレベルから、迷光および正常接着部で生じる僅か
の反射光等を考慮してあらかじめ設定したノイズ分を差
し引くことによって、前記微小領域Ｐにおける剥離面積
に比例して変化する剥離指数を求め、この剥離指数を信
号化した剥離信号すなわち異常検出用信号を出力する。

【０１３４】このように第２の測光装置として単一の受
光素子を用いる場合も、図１における第２の測光装置３
Ｄと異常検出用信号形成部４に代えて前記第２の測光装
置３Ｄ´と異常検出用信号形成部４´を用いること、お
よび新たに前記ウィンド９を設けること以外は、前記図
１の実施例の検査装置とほぼ同様である。したがって、
ここではこの検査装置の動作に関する詳細な説明は省略
する。

【０１３５】次に、上記実施例では、演算判定部５０２
で求めた、前記界面Ｋにおける剥離部の面積に相当する
積算値が記憶部５０１で読み出した閾値を越えているか
否かのみをその中空糸モジュールが良品であるか不良品
であるかの判別条件としている。しかしながら、他の中
空糸モジュールの検査装置では、図１における剥離信号
形成部４に加えて、前記分割領域ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，
ｆごとの剥離の有無を示す剥離信号を形成する第２の剥
離信号形成部を設け、判別装置５では、連続する所定数
の微小領域Ｐの各分割領域ａ，ｂ，ｃあるいはａ，ｂ，
ｃ，ｄ，ｅ，ｆが全て剥離信号を検出しているような場
合には、たとえ前記積算値が閾値を越えていない場合で
も、その中空糸モジュールを不良品とするようにするこ
ともできる。

【０１３６】このようにすると、分割領域ａ，ｂ，ｃの
剥離が連続する所定数の微小領域Ｐにわたっていること
により、樹脂剤層Ｃ1 ，Ｃ2 の経年変化で、前記分割領
域ａ，ｂ，ｃの剥離が拡散する虞がある中空糸モジュー
ルＭを不良品として判別することができる。また、上記
のような第２の剥離信号形成部を備える場合、微小領域
Ｐのいずれか一つでも前記分割領域ａ，ｂ，ｃ，ｄ，
ｅ，ｆの全てにおいて剥離信号が検出されているような
場合は、他の判定条件に関係なくその中空糸モジュール
を不良品とするようにしていてもよい。これはたとえ一
つの微小領域Ｐであってもその分割領域ａ，ｂ，ｃ，
ｄ，ｅ，ｆ全てで剥離が生じていればそこから血液の漏
れ等を起こす可能性があるからである。

【０１３７】どのような剥離状態が検出された場合にそ
の中空糸モジュールＭを不良品とするか否かは、中空糸
モジュールの特性と工程の解析結果に基づいて決定す
る。

【０１３８】Ｖ．＜発泡欠陥の検査＞ 発泡欠陥は、容器Ａの端面に合わせて切断した樹脂材層
Ｃ1 ，Ｃ2 の端面に、気泡跡等の微小な凹部が形成され
ている欠陥である。この発泡欠陥を、図１に示す中空糸
モジュールの検査装置は以下の構成と動作により検査す
る。

【０１３９】発泡欠陥を検査するための支持装置１の構
成は、図１３に示した剥離欠陥の検査の場合と同様であ
る。したがって、ここでは図１８に符号を付すのみと
し、支持装置１の詳細な説明は省略する。

【０１４０】この発泡欠陥の検査では、光照射装置とし
て、図１における第４の光照射装置２Ｅを用いる。図１
８に示すように、第４の光照射装置２Ｅは、第４の光源
２０１Ｅおよびスリット光照射部２０２Ｅを備えてい
る。

【０１４１】第４の光源２０１Ｅは、ハロゲンランプ等
によってなり、操作指令部７より与えられた指令に基づ
いて、発光のオン・オフおよび光強度の調整を行う。こ
の第４の光源２０１Ｅは、前記光強度を後述する第３の
測光装置３Ｅが測定する輝度がいずれかの画素において
飽和する光強度となるように調整する。この光強度の調
整については後述する。

【０１４２】スリット光照射部２０２Ｅは、たとえば複
数本の光ファイバー２０３Ｅによって前記光源２０１Ｅ
と接続されており、これらの光ファイバー２０３Ｅを横
一列に配列した後、これらの光ファイバー２０３Ｅの端
末から照射された光をシリンドリカルレンズ（不図示）
でスリット状に集光し、このスリット状の光を出射す
る。図１９に示すように、前記スリット状の光は、前記
中空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 の端面Ｃ11がこの端
面全域において前記軸芯Ｃ0 と直角である理想的に形成
された面である場合には、この端面Ｃ11の直径上に入射
角α1 で入射し、この端面Ｃ11の直径を含む幅ｈのスリ
ット状被照射領域Ｈを照射する。以下においては、前記
端面が理想形成面である場合にこの端面Ｃ11に照射され
るスリット光の被照射領域Ｈを、任意の端面Ｃ11に関す
る被照射領域Ｈとして説明する。

【０１４３】端面Ｃ11が前記理想端面であるとき、この
スリット光発光部２０２Ｅから出射されたスリット光Ｌ
は、図４に実線で示すように、前記スリット状被照射領
域Ｈで反射角β21で反射し正反射光Ｒ21となる。

【０１４４】前記端面Ｃ11に気泡跡等による凹部DPが存
在すると、前記スリット光Ｌの正反射光Ｒ22は、図２０
に仮想線で示すように、凹部DP部分で前記反射角β21と
異なる反射角β22で反射する。反射光は、乱反射光を受
光せず、正反射光を受光するのが好ましい。

【０１４５】また、前記端面Ｃ11が理想端面に対し傾斜
してカットされていたり、歪みを有する端面であったり
する場合も、前記スリット光Ｌの正反射光Ｒ21′は前記
反射角β21と異なる反射角β21′で反射する。しかし、
この場合、被照射領域Ｈにおける端面Ｃ11の傾斜は、前
記凹部DPの場合に比べて小さく、したがって、正反射光
Ｒ21′の反射角β21′は前記正反射光Ｒ22の反射角β22
に比べて理想端面での反射角β21に近似している。

【０１４６】なお、前記スリット状被照射領域Ｈの幅ｈ
の設定方法については後述する。

【０１４７】この発泡欠陥の検査では、測光装置とし
て、第３の測光装置３Ｅを用いる。この第３の測光装置
３Ｅは公知の２次元テレビカメラを主体とするものであ
る。この第３の測光装置３Ｅは、前記端面Ｃ11の画像を
２次元で撮像する。また、この第３の測光装置３Ｅは、
前記端面Ｃ11の直径上に対応する、図１９に仮想線で示
すようなウィンドＷ内の画像の画素ごとの光の輝度を表
すアナログの画像信号を出力する。

【０１４８】前記ウィンドＷの幅ｗは、たとえば画素の
幅σの５倍以上に設定している。前記画素は、前記２次
元テレビカメラがＣＣＤ素子を使用する機種である場合
には、カメラの各ＣＣＤ素子、レンズの焦点距離および
テレビカメラと前記端面Ｃ11間の距離等を条件として決
定される寸法分解能であって、画像上での前記端面Ｃ11
の最小構成単位である。すなわち、測光装置３が２次元
ＣＣＤカメラの場合、２次元に配列された多数のＣＣＤ
素子上に端面画像を結像させ、各ＣＣＤ素子出力より画
像を形成する関係にあるので、画像上の各画素とＣＣＤ
素子の最小単位とは、それぞれ１対１に対応する関係に
ある。前記画素の幅σは、好ましくは検出対象となる凹
部DPのうち最も小さな凹部DPの幅ｄの１／３以下、さら
に好ましくは１／４以下とするのがよい。画素の幅σを
大きくして、凹部DPの画像に完全に含まれる画素が発生
しないようになると検出精度が低下する。図２２では、
画素の幅σを検出すべき最も小さな凹部DPの幅ｄの１／
４としている。なお、図２２では、画素を正方形として
いるが、長方形であってもよい。

【０１４９】前記ウィンドＷの幅ｗは、この検査装置の
処理スピードに大きな影響を与える。前記処理スピード
を向上させるためには、前記ウィンドＷの幅ｗを大きく
するのがよい。しかしながら、後述するように、ウィン
ドＷの幅ｗを大きくし過ぎると、端面Ｃ11の傾斜や歪み
が大きい場合にこのウィンドＷの一部が均一に照射され
ない場合が生じる問題が生じる。このため、ウィンドＷ
の幅ｗは、後述する被照射領域Ｈの幅ｈの１／２以下と
することが好ましい。

【０１５０】なお、前記ウィンドＷの幅は、中空糸モジ
ュールＭの品種に応じて切り替えるようにしてもよい。

【０１５１】前記スリット状被照射領域Ｈの幅ｈは、こ
の第３の測光装置３Ｅが受光する反射光が前記図２０に
示す正反射光Ｒ21若しくはＲ21′であるときには、前記
ウィンドＷが前記正反射光Ｒ21若しくはＲ21′の受光範
囲に位置することができる幅に設定する。この実施例で
は、図２２に示すように、前記最小凹部DPの幅ｄの２倍
の幅（２ｄ）の両側にそれぞれ画素の幅σを補充した幅
（２ｄ＋２σ）を被照射領域Ｈの幅ｈとしている。既述
のように、前記最小凹部DPの幅ｄは画素の幅σの４倍で
あるから、前記被照射領域Ｈの幅ｈは、１０σすなわち
画素の幅σの１０倍の幅に設定されていることになる。

【０１５２】前記被照射領域Ｈの幅ｈは、好ましくは、
画素の幅σの１０倍（図２２の場合）、若しくはそれ以
上になるように設定するのがよい。実験によれば、被照
射領域Ｈの幅ｈが画素の幅σの１０倍よりも小さいと、
端面Ｃ11が傾斜カットされていたり端面Ｃ11に歪みがあ
る場合に、こうした歪み等が許容範囲であっても、前記
ウィンドＷの一部から前記正反射光Ｒ21若しくはＲ21′
がズレる場合が生じる。このような場合、検出対象とな
る凹部DPが存在しないにも拘らず、正反射光Ｒ1 若しく
はＲ21′がズレて照射されない部分の画素の輝度が、凹
部DPに対応する部分と同程度のレベルに下がる問題が発
生する。

【０１５３】また、既述のように、前記被照射領域Ｈの
幅ｈは前記ウィンドＷの幅ｗの２倍以上とするのが好ま
しい。これによって、中空糸モジュールＭの端面Ｃ11の
傾斜やこの中空糸モジュールＭの支持装置１に対する取
付誤差によって前記ウィンドＷに正反射光Ｒ21もしくは
Ｒ21′に照射されない画素部分が生じることを防止でき
る。

【０１５４】以上のようにして前記スリット状被照射領
域Ｈを設定すると、前記端面Ｃ11が理想端面であれば、
前記ウィンドＷは、図２１（ａ）に示すように、前記ス
リット状被照射領域Ｈで反射した正反射光Ｒ21の受光領
域Ｈ1 の中央に設定される。すなわち、ウィンドＷはそ
の全域が正反射光Ｒ21によって照明される。

【０１５５】また、前記端面Ｃ11が傾斜カットされてい
る場合、その傾斜が許容範囲であれば、前記ウィンドＷ
は、図２１（ｂ）に示すように、前記スリット状被照射
領域Ｈで反射した正反射光Ｒ21′の受光領域Ｈ1 の幅方
向に偏った位置Ｈ1 ′に設定されたり、図２１（ｃ）に
示すごとく傾いた位置に設定される。しかし、この場合
も、前記傾斜が許容範囲であるため、前記ウィンドＷは
正反射光Ｒ21′によってその全域が照明される。

【０１５６】さらに、前記端面Ｃ11が歪んでいる場合、
前記スリット状被照射領域Ｈで反射した正反射光Ｒ21′
の受光領域Ｈ21′は、たとえば図２１（ｄ）に示すよう
に湾曲した形状となる。しかし、その歪みが許容範囲で
あれば、前記ウィンドＷは、前記受光領域Ｈ1 ′内に設
定され、前記ウィンドＷは正反射光Ｒ21′によってその
全域が照明される。

【０１５７】前記端面Ｃ11に気泡跡等による凹部DPが存
在すると、この凹部DPにおいて反射した前記反射光Ｒ2
は、前記ウィンドＷから外れた位置で受光される。した
がって、前記ウィンドＷに対応する位置に凹部DPが存在
すると、その位置の輝度が低下する。

【０１５８】前記第３の測光装置３Ｅは、前記ウィンド
Ｗ内の全ての画素についての輝度レベルを測定し、この
輝度レベルを第５のアナログ画像信号として異常検出信
号形成装置４に与える。

【０１５９】第５のアナログ画像信号を受けた場合にお
ける異常検出用信号形成装置４のＡ／Ｄ変換器４０１お
よび画像記憶部４０２の動作は、前述の不浸透欠陥、糸
乱れ欠陥、不通糸欠陥および剥離欠陥の検査の場合と同
様である。

【０１６０】発泡欠陥の検査の場合、すなわち異常検出
用信号形成部４が第４のアナログ画像信号を入力した場
合、２値化処理部４０３は、演算判定部５０２からの指
令により、前記画像記憶部４０２から前記ディジタル画
像信号すなわち図２３（ａ）に示すもウィンドＷの領域
のディジタル画像信号を読み出す。そして、このディジ
タル画像信号を所定の閾値Ｓ1Pで２値化して、第５の２
値化画像信号を形成する。すなわち、この２値化処理部
４０３は、前記閾値Ｓ1Pよりもレベルの高い画像信号を
白色レベルに置換し、前記閾値Ｓ1Pよりもレベルの低い
画像信号を黒色レベルに置換する。

【０１６１】ところで、従来知られている光による一般
的な凹部の検出方法では、光照射装置が照射する光の強
度を、その反射光の測光量である輝度が、前記第３の測
光装置３Ｅによる測光輝度レベルにおいて部分的に飽和
することがないように設定している。このように、従来
の方法による光強度のスリット光を照射した場合、前記
ウィンドＷ内の輝度レベルは、端面Ｃ11に露出している
多数の中空糸の端部による凹凸により、図２３（ｂ）に
示すように起伏の激しいプロフィールとなる。また、検
査する中空糸モジュールＭを取り替えるごとに、端面Ｃ
11の微小な凹凸形状が変化し、それに伴って輝度レベル
も上下動する。このため、凹部DPと正常部分の輝度レベ
ル差が小さく、前記２値化処理部４０３において画像信
号を２値化する場合に、検出対象となる凹部DP以外の箇
所を黒色レベルに置換してしまう検出エラーが発生する
可能性が高い。

【０１６２】上記のような検出エラーを防止するため、
この発明では、前記第４の光照射装置２Ｅが照射するス
リット光の光強度を、画素ごとの輝度が一部の画素にお
いて飽和し始める時点の光強度より大きな光強度に設定
している。図２３（ｃ）は、スリット光の光強度を最初
に端面Ｃ11の一部が飽和し始めた時点の２倍程度に設定
したときの前記図２３（ａ）に対応する位置の輝度レベ
ルを示している。この図２３（ｃ）からも分かるよう
に、前記端面Ｃ11に露出している糸束Ｂの先端の光拡散
性が強いため、スリット光の光強度を大きくしてゆく
と、端面Ｃ11の輝度はまず前記糸束Ｂがある中央部から
飽和し始める。

【０１６３】図２３（ｄ）は、スリット光の光強度を最
初に端面Ｃ11の一部が飽和し始めた時点の４倍に設定し
たときの前記図２３（ａ）に対応する位置の輝度レベル
を示している。この図２３（ｄ）では、凹部DPに対応す
る位置以外の輝度レベルは全て飽和値に達している。ス
リット光の光強度を最初に端面Ｃ11の一部が飽和し始め
た時点の何倍にするかは、端面Ｃ11の成形精度や端面Ｃ
11と測光装置３の位置関係に依存するが、４倍を越える
値に設定すると、検出対象となる凹部DPに対応する部分
の輝度レベルが飽和値に接近するか若しくは飽和値に達
してしまう上、ＣＣＤカメラを用いている場合には、ス
ミア現象やブルーミング現象といったＣＣＤカメラ特有
の異常現象が強く発生する虞があるため、この発明で
は、スリット光の光強度を最初に端面Ｃ11の一部が飽和
し始めた時点の４倍以内に規定している。

【０１６４】一方、光強度は、図２４を用いて説明する
以下の理由により、なるべく大きく取ることが有効であ
る。

【０１６５】図２４は、ほぼ理想的な端面Ｃ11内に検出
対象となる径０．８ｍｍの凹部DPのある中空糸モジュー
ルＭと、欠陥となる凹部DPはないが面ゆがみの大きい中
空糸モジュールＭについて、ランプ電圧と閾値Ｓ1Pによ
る２値化画像の変化を説明するためのものである。

【０１６６】図２４に示す特性曲線Ｋ1 は、径０．８ｍ
ｍの凹部DPのみを単独に、前記２値化処理部４０３にお
いて検出するための限界閾値Ｓ1Pのランプ電圧に対する
変化を示している。すなわち、端面Ｃ11が理想的な面で
あれば、特性曲線Ｋ1 よりも上の任意の閾値Ｓ1Pを採用
することができる。一方、特性曲線Ｋ1 よりも下の閾値
を採用すると、凹部DP以外の低輝度部を誤検出する。し
かし、端面Ｃ11がゆがみの強い端面であると、閾値Ｓ1P
を高くするにつれて、検出対象となる凹部DP以外のゆが
み箇所を検出するようになり、検出エラーが発生し始め
る。

【０１６７】図２４の特性曲線Ｋ2 は、特にゆがみの強
い中空糸モジュールについて、検出エラーが発生し始め
る閾値Ｓ1Pのランプ電圧に対する変化を示しており、こ
の特性曲線Ｋ2 より下側の閾値Ｓ1Pを用いることによ
り、検出エラーの発生を回避できることがわかる。すな
わち、前述の径０．８ｍｍおよびこれ相当の凹部DPをエ
ラーなく検出するためには、特性曲線Ｋ1 ，Ｋ2 に挟ま
れた領域（図２４における斜線部）Ｅを用いることが好
ましい。そして、図２４から明らかなように、領域Ｅは
光強度が大きくなるほど、使用できる閾値Ｓ1Pの幅が広
くなっている。したがって、閾値Ｓ1Pの選択幅を広げる
ためには、前述したスリット光の光強度を最初に端面Ｃ
11の一部が飽和し始めた時点の４倍以内の光強度で、か
つ、大きな光強度とするのが好ましいといえる。光強度
を強くする程、２値化された凹部DPの画像径が小さくな
るので、最も強い光強度とすることは好ましくないが、
光強度を強くすることで上記のごとく凹部DPを検出し易
くなり、検出精度が向上する。

【０１６８】２値化閾値Ｓ1Pを決定する方法は、図２４
のデータに基づく一定値（品種、ランプ電圧で変えてよ
い）を予め記憶部５０１に入力しておいて読み出す方法
の他、テレビカメラで撮像したウィンドウ内の輝度分布
の標準偏差ないしは範囲から演算して決定するなど一般
に知られた各方法を適用してもよい。

【０１６９】２値化画像表示部４０４は、この発泡欠陥
の検査では、前記２値化処理部４０３によって白色レベ
ルと黒色レベルに置換された画像信号により得られる画
像、すなわち前記凹部DPのみを黒色で示したウィンドＷ
内の画像を表示する。

【０１７０】判別装置５では、演算判定部５０２が以下
のようにして前記２値化画像表示部４で白色で表示され
る部分の面積を演算する。

【０１７１】演算判定部５０２は、前記２値化処理部４
０３において黒色レベルに置換した画素を検出し、ここ
の凹部DPを構成する画素の数、位置関係等に基づいて、
これらの画素が構成する凹部DPの寸法、面積等の特徴量
を演算する。

【０１７２】記憶部５０１は、演算判定部５０２の指令
を受けてあらかじめ記憶された中空糸モジュールＭの品
番ごとの前記特徴量に関する基準値の中から、キーボー
ド等の記述していないデータ入力装置により入力された
品番の発泡欠陥検査用基準値を読み出し、演算判定部５
０２に与える。前記発泡欠陥検査用基準値は経験的に定
めることができる。

【０１７３】演算判定部５０２は、また前記凹部DPの寸
法、面積等の特徴量を、記憶部５０１が出力する発泡欠
陥検査用基準値と比較し、中空糸モジュールＭの良否を
判定し、この判定結果に基いて前記支持装置１から取り
外した中空糸モジュールＭと不良品に分別する分別機能
を備えている。すなわち、前記比較結果が基準値＞演算
特徴量値であるときは良品と判定し、基準値≦演算特徴
量値であるときは不良品と判定し、比較判定結果を表示
部６および操作指令部７に与える。

【０１７４】表示部６は、中空糸モジュールごとに前記
演算判定部５０２が出力する比較結果、すなわち中空糸
モジュールの発泡欠陥に関する良否の判別結果を表示す
る。

【０１７５】操作指令部７は、既述の不浸透欠陥の検査
等の説明において記載したようにして図８に示す中空糸
モジュール移載機構８を作動させる。また、操作指令部
７は、この発泡欠陥の検査においては、演算判定部５０
２からのタイミング指令を受けて、駆動制御部１０８に
指令信号を与える。既述のように、この指令信号を受け
た駆動制御部１０８は、前記駆動モータ１０２を、前記
軸心Ｃ0 を中心として所定時間ないしは所定角度だけ一
定スピードで回転するように駆動し、停止させる。そし
て、前記検出器１０９が検出する中空糸モジュールＭの
回転角が１８０度以上に達するごとに既述の中空糸モジ
ュール移載機構８を作動させ、支持装置１上に搭載され
た中空糸モジュールＭを取り外すとともにこの支持装置
１に新たな中空糸モジュールＭを搭載させる。

【０１７６】また、この操作指令部７は、前記基準値読
出部５０２に与えた中空糸モジュールＭの品番に関する
情報に基いて、前記品番の中空糸モジュールＭの軸心Ｃ
0 が前記ウィンドＷに対応する位置と一致するように、
前記支持装置１のための図示しない上下動機構を制御す
る。

【０１７７】以上のようにしてなる検査装置により、中
空糸モジュールＭの樹脂剤層Ｃ1 もしくはＣ2 の端面に
発生した気泡跡等による凹部DPを検出し、この凹部DP部
が存在する中空糸モジュールを不良品として排除するこ
とができる。

【０１７８】以上の装置により、表１に示す条件Ａ〜Ｃ
で凹部DPの検出を行う検査を行ったところ、以下のよう
な検出結果が得られた。

【０１７９】

【表１】

【０１８０】条件Ａは被照射領域Ｈの幅ｈ／画素の幅σ
を「７」に設定している。この条件Ａでは、端面Ｃ11の
仕上がりが比較的良好な中空糸モジュールＭについては
直径１mm以下の凹部DPを検出することができたが、端面
Ｃ11が傾斜カットされていたり端面Ｃ11に歪みがある場
合には、その程度が大きくなるとウィンドＷの一部が正
反射光に照射されないために検出エラーが発生した。し
かし、この検出エラーは、被照射領域Ｈの幅ｈおよびウ
ィンドＷの幅ｗの設定に問題があることによる。

【０１８１】このような検出エラーを抑制するために
は、被照射領域Ｈの幅ｈおよびウィンドＷの幅ｗを、関
係を保って拡げることが考えられる。ただし、被照射領
域Ｈの幅ｈを広げるに当たっては、端面Ｃ11の光拡散効
果が強いことにより、欠点像である凹部DPの像のコント
ラストが悪化する可能性が高いことに留意する必要があ
る。一方、ウィンドＷの幅ｗは、既述のように、検査エ
ラーの発生を抑制するために被照射領域Ｈの幅ｈの１／
２以下とする一方、端面Ｃ11全域を検査するための処理
スピードを考慮してなるべく大きめに設定する。

【０１８２】条件Ｂは上のこと考慮して被照射領域Ｈの
幅ｈ／画素の幅σを５０に設定している。実験の装置で
は、この条件Ｂでは、前記端面Ｃ11の傾斜カットや中空
糸モジュールＭの支持装置１に対する取付位置のずれに
対しては問題なく検出すべき径１mm以下の凹部DPを検出
できたが、面ゆがみの強い一部のワークで検出エラーが
発生した。

【０１８３】条件Ｃは、条件Ｂに比べ、被照射領域Ｈの
幅ｈを大きくするとともにウィンドＷの幅ｗを小さくし
ている。これによって、条件Ｂで検出エラーが生じた面
ゆがみの強い中空糸モジュールＭについても確実に凹部
DPを検出することができた。

【０１８４】なお、この発泡欠陥の検査の場合、上記の
では、第３の測光装置Ｅ３が、駆動モータ１０２を駆動
させて中空糸モジュールＭを所定量回転させることによ
って、端面Ｃ11全面の輝度レベルを測定するようにして
いるが、図示しない上下動機構により前記中空糸モジュ
ールＭをウィンドＷの幅ｈづつ上方または下方に移動さ
せることで、端面Ｃ11全面の輝度レベルを測定するよう
にしてもよい。

【０１８５】また、上記の例では、第３の測光装置３Ｅ
の画素ごとの測光量を高くする等の検出精度向上手段と
して、スリット光の強度を強くする方法を例示している
が、第３の測光装置３Ｅに取り付けるカメラ用レンズの
絞りを開放していくとか、明るいレンズと交換するよう
にしてもよい。また、第３の測光装置３Ｅが包含する信
号増幅器による、増幅と飽和特性機能による方法であっ
てもよい。しかし、スリット光の強度を強くする方法が
使い易くより好ましい。

【０１８６】また、上記の例では、第３の測光装置３Ｅ
として、ウィンドＷ内の画素の輝度レベルに関する情報
を一時に得ることができる２次元テレビカメラを用いて
いるが、他の検査装置では、第３の測光装置３Ｅとし
て、ＣＣＤ素子を１次元に並べた１次元ＣＣＤカメラ等
のラインセンサを採用することもできる。

【０１８７】また、第４の光照射装置２Ｅとして、レー
ザー光を光学素子でスリット光に変換するようした光照
射装置を用いてもよい。しかし、光強度が低下してもラ
ンプ電圧によって定期的に光強度を管理して調節できる
ので、実施例で用いたタイプの光照射装置を用いる方が
より好ましい。

【０１８８】なお、図１の検査装置では、中空糸モジュ
ールＭの一端側のみの検査を行うようにしている。しか
しながら、発明による中空糸モジュールの検査装置は、
両端を同時に検査できる装置を含むことはもちろんであ
る。

【０１８９】なお、本実施例では、中空糸モジュールを
透析器に用いた例を示したが、これは一例であって、本
発明の検査装置は、同様に中空糸モジュールを用いる水
処理モジュール、浄水器モジュール等の発泡検査に対し
ても好適に適用することができる。

【０１９０】

【発明の効果】請求項１の中空糸モジュールの検査装置
によると、正常なものに比べ白っぽくなった中空糸モジ
ュールの端面の色変化を、この端面の画像信号を２値化
する方法で確実にとらえることができることにより、不
浸透欠陥を簡単且つ確実に検査することができる。

【０１９１】請求項２の中空糸モジュールの検査装置に
よると、第１および第２の光出射部によって中空糸モジ
ュールの端面を照射することで、この中空糸モジュール
の端面の光量分布をフラットにしたことにより、この端
面の画像信号をこの画像信号を補正することなく２値化
しても、不通糸部に生成する白色微小気泡群を確実にと
らえることができ、中空糸モジュールにおける不通糸欠
陥の自動検査が可能になるという効果を奏する。また、
第１の光出射部により中空糸モジュールの端面の照明効
果を均一にすることができ、第１および第２の光出射部
の組合わせにより前記端面から少し潜った部分の照明効
果を均一にすることができるので、局部的な斑検出（白
黒では濃淡検出、カラーでは色斑検出）での照明効果補
正が不要であり、比較的簡単な装置で不通糸欠陥を検査
することができる。

【０１９２】請求項３による中空糸モジュールの検査装
置によると、不良中空糸モジュールを分別することによ
り、後工程でこうした不良中空糸モジュールに加工作業
を行うような不合理を解消することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】発明の実施例による中空糸モジュールの検査装
置の概略構成図である。

【図２】第１および第２の光照射装置を説明する図であ
る。

【図３】第１のリング状出射部による照明状態を説明す
る図である。

【図４】第１のリング状出射部による照明時の光量分布
を説明する図である。

【図５】第１のリング状出射部の変形例を示す図であ
る。

【図６】中空糸モジュールの端面における光量検出部を
説明する図である。

【図７】不浸透欠陥がある場合の光量分布を示する図で
ある。

【図８】中空糸モジュールの移載機構を示す平面概略図
である。

【図９】リング状出射部を説明する図である。

【図１０】リング状出射部による照射状態を説明する断
面説明図である。

【図１１】糸乱れ欠陥の検査における光量分布を説明す
る図である。

【図１２】不通糸欠陥の検査における光量分布を説明す
る図である。

【図１３】図１の検査装置における剥離欠陥の検査に用
いる部分の詳細図である。

【図１４】剥離部での反射状態を示す説明図である。

【図１５】スリット光が照射する微小領域を説明する図
である。

【図１６】反射光の２値化画像を示す図である。

【図１７】剥離欠陥の検査のための他の中空糸モジュー
ル検査装置の要部の構成を示す図である。

【図１８】図１の検査装置における発泡欠陥の検査に用
いる部分の詳細図である。

【図１９】端面に対するスリット光の照射状態を示す図
である。

【図２０】端面での反射状態を示す図である。

【図２１】被照射部とウィンドの関係を説明する図であ
る。

【図２２】凹部と画素の関係を示す図である。

【図２３】光強度に対応する測定輝度レベルを示す図で
ある。

【図２４】光強度と２値化のための閾値の関係を示すグ
ラフである。

【図２５】中空糸モジュールの断面図である。

【図２６】中空糸モジュールの使用状態を説明する図で
ある。

【図２７】公知の照明方法を説明する図である。

【符号の説明】

１ 支持装置 ２Ａ 第１の光照射装置 ２Ｂ 第２の光照射装置 ２０２Ａ 第１のリング状出射部 ２０２Ｂ 第２のリング状出射部 ３Ａ 第１の測光装置 ４０３ ２値化処理部 ５０２ 演算判定部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の中空糸の端部を樹脂剤により固め
   た樹脂剤層を有する中空糸モジュールの検査装置であっ
   て、 前記中空糸モジュールを支持する支持手段と、 前記中空糸モジュールの端面から所定距離離れた位置に
   おいて該モジュールと略同軸上に配置されかつ外径が該
   モジュールの外径以上であるリング状の光出射部と、 前記中空糸モジュールの端面に対向しかつ前記光出射部
   から照射された光の前記端面での正反射光が入射しない
   位置で、前記中空糸モジュールの端面の細分化された領
   域ごとの光量を測定する測光手段と、 前記中空糸モジュールの端面における任意の１の選択点
   の測光量もしくは２以上の選択点の平均測光量に任意の
   オフセット量を加算して閾値を演算するとともに、前記
   測光手段が測定した各領域ごとの測光量を前記閾値で２
   値化した２値化信号を出力する２値化処理手段と、 前記２値化処理手段の処理結果に基づいて中空糸モジュ
   ールが不良品であるか否かを判別する判別手段と、を備
   えることを特徴とする中空糸モジュールの検査装置。
2. 【請求項２】 複数の中空糸の端部を樹脂剤により固め
   た樹脂剤層を有する中空糸モジュールの検査装置であっ
   て、 前記中空糸モジュールを支持する支持手段と、 前記中空糸モジュールの端面から所定距離離れた位置に
   おいて該モジュールと略同軸上に配置されかつ外径が該
   モジュールの外径以上であるリング状の第１の光出射部
   と、 前記充填樹脂剤に対応する位置で前記中空糸モジュール
   に側方から光を照射すべく前記樹脂剤層を囲繞するリン
   グ状の第２の光出射部と、 前記中空糸モジュールの端面に対向しかつ前記第１の光
   出射部から照射された光の前記端面での正反射光が入射
   しない位置で、前記中空糸モジュールの端面の細分化さ
   れた領域ごとの光量を測定する測光手段と、 前記中空糸モジュールの端面における任意の１の選択点
   の測光量もしくは２以上の選択点の平均測光量に任意の
   オフセット量を加算して閾値を演算するとともに、前記
   測光手段が測定した各領域ごとの測光量を前記閾値で２
   値化した２値化信号を出力する２値化処理手段と、 前記２値化処理手段の処理結果に基づいて中空糸モジュ
   ールが不良品であるか否かを判別する判別手段と、を備
   え、かつ、 前記第１の光出射部と第２の光出射部は、前記撮像カメ
   ラにより撮像した、中空糸の端部が樹脂剤により目詰ま
   りを起こしていない中空糸モジュールでの前記測光量の
   分布が、少なくとも前記端面における前記中空糸領域に
   おいてフラットとなる光を照射すること、を特徴とする
   中空糸モジュールの検査装置。
3. 【請求項３】 前記判別手段による判別結果に基づいて
   欠陥中空糸モジュールを分別する分別手段を備えること
   を特徴とする請求項１又は２の中空糸モジュールの検査
   装置。