JPH06275216A - ストリーク管 - Google Patents

ストリーク管

Info

Publication number
JPH06275216A
JPH06275216A JP5064113A JP6411393A JPH06275216A JP H06275216 A JPH06275216 A JP H06275216A JP 5064113 A JP5064113 A JP 5064113A JP 6411393 A JP6411393 A JP 6411393A JP H06275216 A JPH06275216 A JP H06275216A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
electrode
electron
minute
divided
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5064113A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3372584B2 (ja
Inventor
Katsuyuki Kinoshita
勝之 木下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP06411393A priority Critical patent/JP3372584B2/ja
Priority to DE69412159T priority patent/DE69412159T2/de
Priority to EP94302104A priority patent/EP0617450B1/en
Publication of JPH06275216A publication Critical patent/JPH06275216A/ja
Priority to US08/785,829 priority patent/US5719623A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3372584B2 publication Critical patent/JP3372584B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/86Vessels; Containers; Vacuum locks
    • H01J29/89Optical or photographic arrangements structurally combined or co-operating with the vessel
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/08Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
    • H01J31/50Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
    • H01J31/501Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system
    • H01J31/502Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system with means to interrupt the beam, e.g. shutter for high speed photography
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2231/00Cathode ray tubes or electron beam tubes
    • H01J2231/50Imaging and conversion tubes
    • H01J2231/50005Imaging and conversion tubes characterised by form of illumination
    • H01J2231/5001Photons
    • H01J2231/50015Light
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2231/00Cathode ray tubes or electron beam tubes
    • H01J2231/50Imaging and conversion tubes
    • H01J2231/503Imaging and conversion tubes with scanning or gating optics
    • H01J2231/5033Imaging and conversion tubes with scanning or gating optics electrostatic

Landscapes

  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、全長の短いストリーク管を提供す
ることを目的とする。 【構成】 変換手段(21、22)で被写体光像を複数
の微小分割入力電子像に変換し、これらの微小分割入力
電子像からの光電子が集束電子レンズ(40)で集束さ
れる。さらに、偏向手段(50)で掃引されて、出力面
(31)に結像する。このように、被写体光像を複数の
微小分割入力電子像に変換しているので、短い距離で集
束・掃引が行える。したがって、管の全長を短くでき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高速度で形状や明るさ
が変化する物体や像等の時間変化を二次元的に計測でき
るストリーク管に関する。
【0002】
【従来の技術】二次元画像の時間情報を得ることのでき
る従来のストリーク管としては、文献Rev.Sci
Instrum 52(8). Aug. 1981
p.1190〜1192に記載されたものがある。この
従来のストリーク管の構造を、図24を用いて説明す
る。同図より、従来のストリーク管は、光電面101の
前方に光学マスク102および光学レンズ103を備
え、光電面101の後方には、メッシュ加速電極10
4、集束レンズ105、偏向電極106、107、出力
蛍光面108を備えている。このストリーク管に入射さ
れた二次元の被写体光像は、光学マスク102を通して
微小分割画像となり、この微小分割画像が光電面101
上に結像する。そして、光電面101から放出された光
電子ビームが偏向電極106、107で掃引され、各微
小分割画像(画素)のストリーク像を出力蛍光面108
上に結像する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この場合、入射された
被写体光像は5〜10mmの大きさを持つので、これに
対応するストリーク像を出力蛍光面上に結像するには、
球面収差等を考慮すると、被写体光像の大きさの数倍の
口径の集束電子レンズが必要となり、それに対応した集
束電極系の管軸方向の長さは、集束電子レンズの口径の
5〜6倍となる。このため、ストリーク管の全長は20
0〜300mmと長くなる。さらに、ストリーク管の全
長が長いため、その間の光電子の走行時間広がりも大き
くなり、明度の高い被写体光像は空間電荷効果によるボ
ケが大きくなる。また、光像全体に対応して放出される
光電流が陽極アパーチャー109付近で交差して、光電
流密度が大きくなるので、やはり空間電荷効果による像
のボケが大きくなる。
【0004】また、光電面101上の異なった位置から
放出された光電子は、集束レンズ105の異なった位置
を通り抜けるので、ストリーク像の幾何学的歪みもレン
ズの収差により大きくなる欠点があった。
【0005】本発明では、ストリーク管の全長を大幅に
短くするとともに、上記特性上の欠点を除去したストリ
ーク管を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のストリーク管は、被写体光像を複数の微小
分割入力電子像からなる2次元配列像に変換する変換手
段と、変換手段で作成された各微小分割入力電子像に対
応して配列された複数の開口をそれぞれに有する複数の
集束電極板からなり、これらの集束電極板の各開口を一
致させて一体構造とし、各開口を通過させることにより
微小分割入力電子像からの光電子を集束させる集束電子
レンズと、一対の櫛歯状偏向電極の櫛歯部分を相互に噛
み合わせた構造を有し、集束電子レンズを通過した微小
分割入力電子像からの光電子を1列ごとに当該偏向電極
の櫛歯間を通過させることにより各微小分割入力電子像
からの光電子を偏向させる偏向手段と、偏向手段を通過
した微小分割入力電子像からの光電子が結像する出力面
とを備える。
【0007】ここで、変換手段は、被写体光像を複数の
微小分割光像に分割する分割手段と、分割手段で分割さ
れた各微小分割光像をそれぞれ微小分割入力電子像に変
換する光電面とを備えていてもよく、また、被写体光像
を被写体光電子群に変換する光電面と、光電面から放出
された被写体光電子群を複数の微小分割入力電子像に分
割する分割手段とを備えていてもよい。
【0008】さらに、集束電子レンズの開口の列の数に
比して、2つの偏向電極の櫛歯間の空間の数が少なくて
もよく、出力面の各微小分割出力電子像の掃引される際
の待機位置に相当する領域をアルミ遮蔽していてもよ
い。
【0009】
【作用】図25は、本発明の基本概念図である。以下、
同図を参照しながら本発明の作用を説明する。まず、変
換手段110に入射された被写体光像は、所定の間隔を
もって離散した画素からなる複数の微小分割入力電子像
に変換されて放出される。これらの微小分割入力電子像
からの光電子は、集束電子レンズ111の各開口を通過
することにより集束され、さらに、偏向手段112を通
過することにより掃引されて、出力面113に再結像す
る。
【0010】偏向手段112では、各微小分割入力電子
像の間隔の範囲で掃引されるので、出力面113上には
入射した微小分割光像の各画素の時間強度変化に対応し
た輝度分布が掃引方向に沿って生じる。微小分割入力電
子像の大きさは、例えば直径10μm程度と小さいの
で、これに対応する集束電子レンズ111の径も小さ
く、従って集束電子レンズ111の管軸方向の長さも短
くてよい。また、出力面113上に生じる各出力像の大
きさもやはり10μm程度と小さいので、それを偏向す
る距離は短く、偏向手段112と出力面113間の距離
も短くてよい。したがって、管の全長は極めて短くでき
る。
【0011】さらに、本発明によれば、変換手段110
から放出された微小分割入力電子像からの光電子は、偏
向手段112に入射する時には既に画素に分解されてい
るので、偏向手段112には斜状電極を印加するだけで
も像のボケが生じることもなく、光電子流のゲート動作
も必要ない。
【0012】
【実施例】以下、本発明の一実施例について添付図面を
参照して説明する。
【0013】図1は、本実施例の構成を示す側面断面図
である。同図より、本実施例に係るストリーク管は、円
筒状のガラス管10の2つの開口部をガラス板で塞ぎ、
一方を入射窓20、他方を出射窓30としている。入射
窓20の内面には、光学マスク21が蒸着されている。
光学マスク21は、例えば、Alを数1000オングス
トロームの厚さで蒸着し、これをレジストを用いたエッ
チングにより、光電面の有効面積100mm×100m
mの範囲で、直径20μmの開口をピッチ0.5mmで
マトリクス状に空けている。図では開口の数を省略し
て、一部だけを拡大して示している。さらに、光学マス
ク21の内面には、S−20光電面22が形成されてい
る。また、出射窓30の内面には、蛍光面31が形成さ
れている。
【0014】入射窓20と出射窓30の間には、複数枚
の円板状の電極からなる微小集束電子レンズ40と、一
対の櫛歯状の電極からなる偏向電極50とが設けられて
いる。つまり、入射窓20の光電面22の約1.5mm
後方に微小集束電子レンズ40が、微小集束電子レンズ
40の約1.5mm後方に偏向電極50がそれぞれ配置
されており、偏向電極50と蛍光面31の間隔は約15
mmである。
【0015】さらに、偏向電極50と出射窓30の間の
管壁には帯電防止のための壁電極60が蒸着されてい
る。この壁電極60は、管内部で蛍光面31のフランジ
と電気的に接続されている。
【0016】図2(a)は、微小集束電子レンズ40の
構造を示す断面図であり、図2(b)は、微小集束電子
レンズ40の外観を示す斜視図である。図2(a)に示
すように、微小集束電子レンズ40は、G1 電極41、
2 電極42、G3 電極43が備えられ、各電極の間に
は厚さ1mmのセラミックからなる絶縁リング44、4
5が挟まれている。G1 電極41、G2 電極42、G3
電極43はそれぞれ厚みが1mm、2.5mm、1mm
からなるステンレス金属板で、かつ、G1 電極41とG
3 電極43は直径0.1mmの開口が、G2 電極42は
直径0.15mmの開口がピッチ0.5mmで100m
m×100mmの範囲で空けられている。
【0017】また、図2(b)に示すように、絶縁リン
グ44、45の周辺部には金属ピンが埋め込まれてお
り、これらの金属ピンに固定用金具が溶接されている。
この固定用金具によって、各電極と絶縁リングが一体構
造となっている。また、固定の際には、各電極の開口の
中心が一致するよう調整されている。
【0018】図3(a)は、偏向電極50の外観を示す
斜視図であり、図3(b)は、偏向電極50を光電面2
2側から見た平面図である。図3(a)に示すように、
偏向電極50は1対の櫛歯状の電極51、52を、櫛歯
が噛み合うように交互に挟み込んでいる。各電極51、
52は、管軸方向の長さ2mm、管軸方向に垂直な方向
の長さ120mm、厚さ0.1mmの偏向板を平行かつ
0.5mmピッチで並べることにより、櫛歯形状として
いる。さらに、それぞれの偏向板が0.5mmピッチの
間隔を保つために、偏向板の両端には幅0.4mm、高
さ0.5mmの絶縁板が挟み込まれている。各電極5
1、52からは、それぞれリードが取り出され、ガラス
管10から導出されている。
【0019】また、図3(b)に示すように、偏向電極
50は、各電極51、52の偏向板間の空間上に、G1
電極41、G2 電極42、G3 電極43の各開口が来る
よう位置付けられている。このため、光電面22側から
見通す時、偏向電極50はその視野を妨げない。つま
り、光電面22から光電子が放出されて出力側に向かう
時、光電子ビームの走行を妨げないように偏向電極50
が配置されているのである。
【0020】本実施例に係るストリーク管の部品展開図
を図4に示す。同図より、このストリーク管は、微小集
束電子レンズ40や偏向電極50などの多くの部品を全
長の短いガラス管10に収めていることが判る。このよ
うに、ストリーク管の全長が小さくできれば、光電子の
走行時間が短くなり、空間電荷効果によるボケを大幅に
小さくすることができる。
【0021】次に、本実施例に係るストリーク管を用い
たストリークカメラの構成を図5に示す。このストリー
クカメラを用いて、本実施例の動作を説明する。まず、
被写体70の入力光像が光学レンズ71を通して入射窓
20内側の光電面22に結像される。入射窓20と光電
面22の間にはAl層の光学マスク21が設けられてい
るので、0.5mmピッチの200×200個のマスク
の開口によって分割された画素ごとの微小分割光像が光
電面22に結像される。開口の大きさは20μmである
ので、光電面22からはこの部分からだけ光電子が放出
される。こうして、被写体70の入力光像は複数の微小
分割入力電子像に変換される。この場合、開口の縦・横
の間隔は、等しくなくてもよい。
【0022】一方、管内の各部には、次の直流電圧が印
加されている。まず、光電面22には−10kVが、G
1 電極41とG3 電極43には0V(グランド電位)が
印加されている。また、G2 電極42には可変抵抗72
により−10kVから0Vの間の電圧で光電面22上の
各微小分割入力電子像が蛍光面31上に再結像するよう
な電圧が、壁電極60と蛍光面31には0V(グランド
電位)が印加されている。このような電圧がそれぞれ印
加されることにより、光電面22上の微小分割入力電子
像の各々に対して、微小集束電子レンズ40が形成さ
れ、各微小分割入力電子像は蛍光面31上に離散的に配
列された微小分割出力電子像として再結像される。
【0023】このような処理の流れに併行して入射光の
一部がハーフミラー73によりPINダイオード75に
入射し、トリガー信号を発生する。このトリガー信号
は、遅延回路76を通って偏向電圧発生回路77を起動
して、この例では斜状の掃引電圧を発生させる。この掃
引電圧が偏向電極50の一方の電極52に印加され、か
つ他方の電極51には0V(グランド電極)が印加され
ているので、各々の微小分割出力電子像は蛍光面31上
で分離されているピッチに相当する間隙で掃引される。
ここで、斜状偏向電圧の振幅は、各画素の掃引像が重な
らない範囲、この例では画素ピッチの0.5mm以内と
なるよう調整される。例えば、5nsで−60Vから+
60Vに立ち上がる波形を印加する。
【0024】こうして蛍光面31に、入力光像の各画素
の明るさの変化が掃引方向の明るさの空間分布として得
られる。本実施例では、偏向電極50の各々の偏向板間
で交互に反対方向の掃引が行われるので、時間軸の方向
も交互に反対になっている。こうして得られた出力光像
をTVカメラ78で撮像し、解折すれば、入力光像の明
るさの分布の時間変化を知ることができる。この例で
は、1ns程度の時間分解能が得られる。なお、TVカ
メラ78の代わりに写真機を備え付けて、フィルムに記
録してもよい。
【0025】このように本実施例では、偏向電極50に
よって掃引される幅が狭いので、光電面22と蛍光面3
1の間隔は26.5mmと非常に短くでき、ガラス管1
0の全長も45mmとなった。また、偏向電極50に掛
ける掃引電圧も、階段波電圧でなく斜状電圧でよい。
【0026】次に、微小分割入力電子像を形成する方法
について説明する。光学マスク21で入力光像を複数の
画素に分離する場合、光学マスク21を被写体70の側
に置き、あらかじめ画素分離した像を光学レンズ71で
光電面22上に結像する方法がある。また図6に示すよ
うに、多数のファイバーケーブル23を被写体70のそ
ばに置き、これらのファイバーケーブル23の出射端を
ファイバー面板24にマトリクス状に接続した装置を用
いて、入力光像を複数の画素に分離して光電面22に導
く方法がある。
【0027】さらに図7に示すように、微細加工技術を
用いて入射窓20自体に微小光学レンズをマトリクス状
に設け、それぞれに入射する光を微小スポットに絞り、
光電面22に入射させて、微小分割入力電子像を形成す
る方法がある。これは、開口を通り抜ける以外の光はマ
スクで阻止されて光の利用率が低いといった光学マスク
21の問題点を改善したものである。この場合、各画素
間のクロストークをなくすために、図8(a)に示すよ
うに、マイクロレンズで形成される各々の微小光像の間
をAl層等でマスクしてもよい。これは、マイクロレン
ズとマトリクス状に開口の開いた光学マスク21の組合
わせであり、図8(b)に示すように入射窓20のマイ
クロレンズ間を不透明ガラスとすることもできる。
【0028】その他、図9に示すように画素毎にファイ
バー群25を入射窓20に埋め込み、光電面22に縮小
光像を作る方法や、図10に示すように表面を鏡面とし
た金属板26を入射窓20に埋め込み、多数回反射させ
て光電面22に縮小光像を作る方法もある。
【0029】また、図7〜図10に示したような、マイ
クロ光学レンズを入射窓20内に直接作る代わりに、図
11に示すようにマイクロレンズを形成した板27を入
射窓20に密着させてもよい。さらに、図12に示すよ
うに画素毎にファイバー群25を埋め込んだ板28をフ
ァイバー面板24に密着させてもよい。
【0030】次に、微小分割入力電子像を電子レンズを
用いて得る実施例を図13に示す。同図より、本実施例
に係るストリーク管には、光電面22から0.5mm離
れて直径0.18mmの開口が0.5mmピッチでマト
リクス状に開いた金属板からなるコリメート電極80が
設けられ、さらに3mm離れて、20μmの開口がマト
リクス状に0.5mmピッチで開いたマスク電極81が
設けられている。その後には微小集束電子レンズ40が
配置されている。この場合、それぞれの電極の開口のセ
ンターは一致している。
【0031】コリメート電極80には光電面22の印加
電圧−10kVに近い−9.95kVが印加され、一方
マスク電極81には0V(グランド電位)が印加されて
いる。また、G1 電極41とG3 電極43には0V(グ
ランド電位)が印加され、G2 電極42には可変抵抗7
2の調整により−10kVから0Vの間の適当な電圧が
印加されている。この時、光電面22から放出された光
電子流は、光電面22、コリメート電極80、マスク電
極81で形成される電子レンズにより、コリメート電極
80のそれぞれの開口に対応して、その開口の直径0.
18mmと同等かそれより少し大きいくらいの範囲の光
電子が、それぞれマスク電極81の20μmの開口に向
かって、縮小されながら(コリメートされて)流れ込
む。マスク電極81では、光電子流の一部は20μmの
開口よりはずれてマスク電極81に吸収されるが、大部
分の光電子流はこの開口を通過して出力側に向かう。こ
うして、微小分割入力電子像が形成され、これが微小集
束電子レンズ40により蛍光面31上に結像されること
になる。
【0032】この場合、コリメート電極80は1つであ
るがマスク電極81の開口への光電子の流入効率を良く
するために2つ設けることもできる。また、コリメート
電極80の開口は丸で示したが、マスク電極81のアパ
ーチャーに集めるのが目的なので結像電子レンズのよう
な軸対称レンズの必要はなく長方形もしくは正方形の開
口や、楕円の開口でもよい。また、マスク電極81とG
1 電極41を、接着して一体としてもよい。
【0033】図14は図13のマスク電極81の出力側
表面に薄膜の透過形電子増倍ダイノード82を張ったも
のである。マスク電極81の開口を通過した光電子は、
透過形電子増倍ダイノード82によって出力側に増倍二
次電子を放出する。こうして、微小分割入力電子像が形
成され、これを微小集束電子レンズ40で出力面に結像
する。
【0034】コリメート電極80には光電面22の印加
電圧−18kVに近い−17.8kVが印加され、一方
マスク電極81と透過形電子増倍ダイノード82には−
10kVが印加されている。また、G1 電極41とG3
電極43には0V(グランド電位)が印加され、G2
極42には可変抵抗72の調整により−10kVから0
Vの間の適当な電圧が印加されている。
【0035】図15は、入力側が開いた開口を持つ連続
ダイノードを複数束ねたマイクロチャンネルプレート
(MCP)83を用いて微小分割入力電子像を形成する
実施例を示す。MCP83のチャンネルの入力側の開口
の直径は0.19mm、出口側の開口の直径は20μ
m、ピッチは0.5mmで長さは1.5mmである。光
電面22とMCPinの間隔は0.5mm、MCPout
微小集束電子レンズ40の間隔は、1.5mmである。
【0036】光電面22には−12kVが印加され、M
CPinには−11.5kV、MCPout には−10kV
が印加されている。また、G1 電極41とG3 電極43
には0V(グランド電位)が印加され、G2 電極42に
は可変抵抗72の調整により−10kVと0Vの間の適
当な電圧が可変抵抗72により印加されている。
【0037】光電面22に結像された光像に対応して、
光電子流が放出される。これが、MCPinに入射して、
電子増倍されながらMCPout の方へ移動していくが、
MCP83のチャンネルがしだいに細くなり、MCP
out では20μmの径までしぼられて出力側に放出され
る。こうして、微小分割入力電子像が形成される。この
電子像が微小集束電子レンズ40で蛍光面31上に結像
される。
【0038】さらに、図16に示すようにMCP83の
後に透過形電子増倍ダイノード82を設けて、MCP8
3出力で生じた微小分割入力電子像を透過形電子増倍ダ
イノード82に入射させて、増倍してから微小集束電子
レンズ40で蛍光面31上に結像してもよい。
【0039】次に、微小集束電子レンズ40の他の変形
例について述べる。本実施例で用いた微小集束電子レン
ズ40は、G1 電極41、G2 電極42、G3 電極43
の印加電圧は、G1 電極41とG3 電極43を同じ電圧
に、G2 電極42をそれより低い(負とする)の電圧と
したユニポテンシャルレンズであるが、G2 電極42
を、G1 電極41、G3 電極43より高い電圧(正とす
る)としたユニポテンシャルも可能である。また、G1
電極41の電圧は必ずしもG3 電極43と等しくする必
要はなく、例えばG1 電極41を−5kV、G3 電極4
3を0Vとすることも可能である。要するに結像電子レ
ンズに使われる電極であれば使用でき、それを微小サイ
ズにして所定のピッチでマトリクス状に並べればよい。
【0040】さらに、図2に示す実施例では、G1 電極
41、G2 電極42、G3 電極43を別々に用意し、絶
縁リング44、45を介して重ねているが、例えば最近
行われているマイクロ電子管の製作手法を用いて、図1
7のように同一Si基板上に作ることも可能である。こ
こでは1mm厚のSi基板46の両側に10μm厚のS
iO2 膜47を形成してから、0.5mmピッチで0.
18mmの開口をエッチングによりマトリクス状に開
け、さらにその両側に5000オングスクロームのAl
層48を蒸着して、G1 電極、G2 電極、G3 電極とし
たものである。
【0041】図18は偏向電極50の他の実施例を示す
斜視図である。0.2mm厚のセラミック板53を11
0mm×2mmの長方形にして、その両側の面にAl層
54を蒸着して、偏向板とする。そして、図でそれぞれ
の板の上側の面同士を電気的に接続し、また下側の面同
士も電気的に接続し、2本のリードとして管の外へ取り
出し、これらのリードに図に示したプッシュブルの偏向
電圧55を印加する。このような偏向電圧55を印加す
れば、それぞれの微小分割出力電子像は蛍光面31上で
同一方向に掃引される。また偏向板は必ずしも0.5m
mピッチの間隔にしなくてもよく、1mmピッチ又は
1.5mmピッチの間隔にして、その間隔の範囲に属す
る微小出力電子像をまとめて掃引してもよい。
【0042】また、図19のように1組の偏向電極群5
6の後に、もう1組の偏向電極群57を設けて、それぞ
れの組に階段状の電圧を加えることによって、各々の微
小分割入力電子像に対してAn 、Bn 、Cn 、Dn とい
うような時系列の出力光像を蛍光面31上に得ることも
できる。この出力光像を図20に示す。
【0043】図21は、蛍光面31上の電子ビームの待
機位置にストライプ状のAl厚膜層32を設けたもので
ある。これは、各微小分割出力電子像を掃引する際、掃
引する前後の待機状態で蛍光面31上に発光像が生じる
とバックグラウンド上昇が生じるので、Al厚膜層32
を設けて電子ビームの待機位置で発光しないようにした
ものである。また、この変形として、図22に示すよう
に、偏向電極50と蛍光面31の間に、ストライプ状の
電極90を設けてもよい。
【0044】さらに上述の例では、微小集束電子レンズ
40をマトリクス状に並べたが、分光器からのスペクト
ルを測定する場合は2次元である必要はない。したがっ
て図23に示すように、入射窓20の表面をカマボコレ
ンズとして、1次元アレイの微小集束電子レンズ91を
用いてもよい。
【0045】なお、本実施例の説明では、微小光学レン
ズ、微小集束電子レンズをマトリクス状に並べるピッチ
を0.5mmで説明したが、もちろんこれは0.3mm
でも0.2mmでもよく、それに応じて短冊状の偏向板
群のピッチも変えればよい。またG1 電極41、G2
極42、G3 電極43の開口の直径もいろいろの値を取
ることができる。
【0046】また、本実施例では蛍光面31を用いて出
力像を検出しているが、もちろん電子打込みCCDのよ
うな固体撮像デバイスを管の中に入れたものやマルチア
ノードを配列して読み出すこともできる。さらに、光電
子流を増倍するために蛍光面31の直前にMCPを置い
てもよい。
【0047】また、微小分割出力電子像を図21、図2
2のような蛍光面31で掃引する時、その掃引面上を時
間軸としないで、掃引方向の全信号を積分して利用して
もよく、この場合は1枚のこま撮り像が得られてシャッ
ターカメラとして働くことになる。
【0048】さらに、繰り返し現象の場合は、それに同
期して掃引を繰り返し、写真機やTVカメラで積分すれ
ばSNの向上が図られるのは、従来のストリークカメラ
と同様である。このような時は掃引電圧波形として正弦
波電圧を印加してもよい。
【0049】
【発明の効果】本発明のストリーク管であれば、変換手
段で被写体光像を複数の微小分割入力電子像に変換し、
これらの微小分割入力電子像からの光電子が集束電子レ
ンズで集束されて、さらに、偏向手段で掃引されて、出
力面に結像する。このように、被写体光像を複数の微小
分割入力電子像に変換しているので、短い距離で集束・
掃引が行える。したがって、管の全長を短くできる。
【0050】また、管の全長を短くできるので光電子の
走行時間が短くなり、空間電荷効果によるボケを大幅に
小さくできる。
【0051】さらに、入力光像全体に対応する光電子流
の交差点はなくなる(個々の微小分割入力電子像ではそ
の交差はあるが、密度は非常に小さくなる)ので、やは
り空間電荷効果による像のボケを大幅に小さくできる。
【0052】また、出力像の各画素の位置は分割された
要素の配列で決まるので、入力光像に対応する出力像の
幾何学的歪みは生じない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例に係るストリーク管の構成を示す側面
断面図である。
【図2】微小集束電子レンズの構造を示す断面図であ
る。
【図3】偏向電極の外観を示す斜視図である。
【図4】本実施例に係るストリーク管の部品展開図であ
る。
【図5】本実施例に係るストリーク管を用いたストリー
クカメラの構成を示す平面図である。
【図6】ファイバーケーブルの出射端をファイバー面板
にマトリクス状に接続した例を示す図である。
【図7】入射窓自体に微小光学レンズをマトリクス状に
設けた例を示す図である。
【図8】マイクロレンズとマトリクス状に開口の開いた
光学マスクを組み合わせた例を示す図である。
【図9】ファイバー群を入射窓に埋め込み、光電面に縮
小光像を作る例を示す図である。
【図10】金属板を入射窓に埋め込み、多数回反射させ
て光電面に縮小光像を作る例を示す図である。
【図11】マイクロレンズを形成した板を入射窓に密着
させた例を示す図である。
【図12】ファイバー群を埋め込んだ板をファイバー面
板に密着させた例を示す図である。
【図13】コリメート電極およびマスク電極を用いたス
トリーク管を示す平面図である。
【図14】マスク電極の出力側表面に透過形電子増倍ダ
イノードを貼付したストリーク管を示す平面図である。
【図15】MCPを用いたストリーク管を示す平面図で
ある。
【図16】MCPと透過形電子増倍ダイノードを用いた
ストリーク管を示す平面図である。
【図17】微小集束電子レンズの変形例を示す断面図で
ある。
【図18】偏向電極の他の実施例を示す斜視図である。
【図19】マトリクス状に偏向電極を配置させた例を示
す斜視図である。
【図20】蛍光面上に得られる出力光像を示す平面図で
ある。
【図21】蛍光面上にAl厚膜層を設けた例を示す平面
図である。
【図22】偏向電極と蛍光面の間にストライプ状電極を
設けた例を示す平面図である。
【図23】入射窓の表面をカマボコレンズ形状とした例
を示す図である。
【図24】従来のストリーク管の構造を示す図である。
【図25】本発明の基本概念を示す図である。
【符号の説明】
10…ガラス管、20…入射窓、21…光学マスク、2
2…光電面、30…出射窓、31…蛍光面、32…Al
厚膜層、40、91…微小集束電子レンズ、41…G1
電極、42…G2 電極、43…G3 電極、44、45…
絶縁リング、46…Si基板、47…SiO2 膜、4
8、54…Al層、50…偏向電極、51、52、90
…電極、53…セラミック板、55…偏向電圧、56、
57…偏向電極群、60…壁電極、70…被写体、7
1、74…光学レンズ、72…可変抵抗、73…ハーフ
ミラー、75…PINダイオード、76…遅延回路、7
7…偏向電圧発生回路、78…TVカメラ、80…コリ
メート電極、81…マスク電極、82…透過形電子増倍
ダイノード、83…MCP。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体光像を複数の微小分割入力電子像
    からなる2次元配列像に変換する変換手段と、 前記変換手段で作成された各微小分割入力電子像に対応
    して配列された複数の開口をそれぞれに有する複数の集
    束電極板からなり、これらの集束電極板の各開口を一致
    させて一体構造とし、各開口を通過させることにより微
    小分割入力電子像からの光電子を集束させる集束電子レ
    ンズと、 一対の櫛歯状偏向電極の櫛歯部分を相互に噛み合わせた
    構造を有し、前記集束電子レンズを通過した微小分割入
    力電子像からの光電子を1列ごとに当該偏向電極の櫛歯
    間を通過させることにより各微小分割入力電子像からの
    光電子を偏向させる偏向手段と、 前記偏向手段を通過した微小分割入力電子像からの光電
    子が結像する出力面とを備えることを特徴とするストリ
    ーク管。
  2. 【請求項2】 前記変換手段は、被写体光像を複数の微
    小分割光像に分割する分割手段と、前記分割手段で分割
    された各微小分割光像をそれぞれ微小分割入力電子像に
    変換する光電面とを備えていることを特徴とする請求項
    1記載のストリーク管。
  3. 【請求項3】 前記変換手段は、被写体光像を被写体光
    電子群に変換する光電面と、前記光電面から放出された
    被写体光電子群を複数の微小分割入力電子像に分割する
    分割手段とを備えていることを特徴とする請求項1記載
    のストリーク管。
  4. 【請求項4】 前記集束電子レンズの開口の列の数に比
    して、前記2つの偏向電極の櫛歯間の空間の数が少ない
    ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記
    載のストリーク管。
  5. 【請求項5】 前記出力面の各微小分割出力電子像の掃
    引待機位置に相当する領域をアルミ遮蔽したことを特徴
    とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のストリ
    ーク管。
  6. 【請求項6】 前記集束電子レンズは、金属/絶縁部材
    /金属/絶縁部材/金属の5層を積層した構造であるこ
    とを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載
    のストリーク管。
JP06411393A 1993-03-23 1993-03-23 ストリーク管 Expired - Fee Related JP3372584B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06411393A JP3372584B2 (ja) 1993-03-23 1993-03-23 ストリーク管
DE69412159T DE69412159T2 (de) 1993-03-23 1994-03-23 Streifen - Elektronenstrahlröhre
EP94302104A EP0617450B1 (en) 1993-03-23 1994-03-23 Streak tube
US08/785,829 US5719623A (en) 1993-03-23 1997-01-15 Streak tube

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06411393A JP3372584B2 (ja) 1993-03-23 1993-03-23 ストリーク管

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06275216A true JPH06275216A (ja) 1994-09-30
JP3372584B2 JP3372584B2 (ja) 2003-02-04

Family

ID=13248699

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06411393A Expired - Fee Related JP3372584B2 (ja) 1993-03-23 1993-03-23 ストリーク管

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5719623A (ja)
EP (1) EP0617450B1 (ja)
JP (1) JP3372584B2 (ja)
DE (1) DE69412159T2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011040721A (ja) * 2009-08-18 2011-02-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh 高感度検出器装置
WO2011070628A1 (ja) * 2009-12-11 2011-06-16 パイオニア株式会社 撮像装置
JP2015507321A (ja) * 2011-12-12 2015-03-05 ケーエルエー−テンカー コーポレイション 電子衝撃電荷結合素子(ebccd)、およびebccd検出器を用いた検出システム
WO2016203667A1 (ja) * 2015-06-19 2016-12-22 江藤 剛治 高速撮像装置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2382666B (en) 1998-06-05 2003-07-16 Drs Hadland Ltd Imaging arrangement and method
DE19944857A1 (de) * 1999-09-18 2001-03-22 Ceos Gmbh Elektronenoptische Linsenanordnung mit weit verschiebbarer Achse
JP2003075261A (ja) * 2001-08-16 2003-03-12 Agilent Technol Inc 光パルス測定装置
DE10232689A1 (de) * 2002-07-18 2004-02-05 Leo Elektronenmikroskopie Gmbh Mit Strahlen geladener Teilchen arbeitende Anwendungen
UA77289C2 (en) * 2004-11-05 2006-11-15 X-radiation receiver
US20090184638A1 (en) * 2008-01-22 2009-07-23 Micron Technology, Inc. Field emitter image sensor devices, systems, and methods
JP5049174B2 (ja) * 2008-03-21 2012-10-17 浜松ホトニクス株式会社 飛行時間型質量分析装置及びそれに用いられる荷電粒子検出装置
JP5824328B2 (ja) * 2011-10-31 2015-11-25 浜松ホトニクス株式会社 ストリーク管及びそれを含むストリーク装置
RU2561312C1 (ru) * 2014-03-06 2015-08-27 Открытое акционерное общество "Центральный научно-исследовательский институт "Электрон" Входной узел полупроводникового прибора

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3043910A (en) * 1958-05-19 1962-07-10 American Optical Corp Fiber optical image transfer devices
US3240987A (en) * 1961-08-28 1966-03-15 Mosaic Fabrications Inc Metal and glass fiber structures and electrical devices using same
GB1064076A (en) * 1963-05-01 1967-04-05 Mullard Ltd Improvements in or relating to image intensifiers
GB1081829A (en) * 1965-03-24 1967-09-06 Csf Electron multipliers
US3534219A (en) * 1969-01-03 1970-10-13 Gen Electric Cascaded electron optical system
US3602903A (en) * 1969-01-06 1971-08-31 Northrop Corp Optical sensing system for detecting and storing the position of a point source target
US3628080A (en) * 1969-08-08 1971-12-14 Westinghouse Electric Corp Fiber optic output faceplate assembly system
US3919588A (en) * 1972-10-02 1975-11-11 Gen Electric Two-aperture immersion lens
US3936693A (en) * 1972-10-02 1976-02-03 General Electric Company Two-aperture immersion lens
US4350919A (en) * 1977-09-19 1982-09-21 International Telephone And Telegraph Corporation Magnetically focused streak tube
US4196373A (en) * 1978-04-10 1980-04-01 General Electric Company Electron optics apparatus
JPS58146B2 (ja) * 1980-10-14 1983-01-05 浜松テレビ株式会社 フレ−ミング管
US4645918A (en) * 1982-12-07 1987-02-24 Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha Instruments for measuring light pulses clocked at high repetition rate and electron tube devices therefor
US4585948A (en) * 1983-03-15 1986-04-29 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Non-scanning integrated optical system with wide field of view search capability
US4611124A (en) * 1984-06-13 1986-09-09 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Fly's eye sensor nonlinear signal processing
JPH07118286B2 (ja) * 1985-02-08 1995-12-18 浜松ホトニクス株式会社 ファイバケーブル付きストリーク管
EP0265888B1 (en) * 1986-10-27 1994-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Electron beam information exchange apparatus
JPS6460944A (en) * 1987-09-01 1989-03-08 Hamamatsu Photonics Kk Framing camera
JPH0617819B2 (ja) * 1988-05-13 1994-03-09 浜松ホトニクス株式会社 電気光学式ストリークカメラ
US5013902A (en) * 1989-08-18 1991-05-07 Allard Edward F Microdischarge image converter
JPH0727762B2 (ja) * 1989-12-01 1995-03-29 浜松ホトニクス株式会社 ストリーク管
US5111035A (en) * 1990-02-22 1992-05-05 Universidad Autonoma Metropolitana Digital anode to determine the location of electrons on a given surface
US5278403A (en) * 1991-04-29 1994-01-11 Alfano Robert R Femtosecond streak camera
US5268570A (en) * 1991-12-20 1993-12-07 Litton Systems, Inc. Transmission mode InGaAs photocathode for night vision system
US5304791A (en) * 1992-07-23 1994-04-19 Ail Systems, Inc. Apparatus for detecting high speed events
US5381000A (en) * 1993-05-07 1995-01-10 Picker International, Inc. Image intensifier with modified aspect ratio

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011040721A (ja) * 2009-08-18 2011-02-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh 高感度検出器装置
WO2011070628A1 (ja) * 2009-12-11 2011-06-16 パイオニア株式会社 撮像装置
JPWO2011070628A1 (ja) * 2009-12-11 2013-04-22 パイオニア株式会社 撮像装置
JP2015507321A (ja) * 2011-12-12 2015-03-05 ケーエルエー−テンカー コーポレイション 電子衝撃電荷結合素子(ebccd)、およびebccd検出器を用いた検出システム
WO2016203667A1 (ja) * 2015-06-19 2016-12-22 江藤 剛治 高速撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE69412159D1 (de) 1998-09-10
EP0617450B1 (en) 1998-08-05
US5719623A (en) 1998-02-17
JP3372584B2 (ja) 2003-02-04
EP0617450A1 (en) 1994-09-28
DE69412159T2 (de) 1999-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3372584B2 (ja) ストリーク管
US4323925A (en) Method and apparatus for arraying image sensor modules
TW202013422A (zh) 用於操作多射束粒子束顯微鏡之方法
CA1054209A (en) Streak camera tube
CN108013891B (zh) 一种x射线诊断装置
JPH0762987B2 (ja) 管内に像切出し装置を有するストリ−ク管
JPS5847823B2 (ja) スリツトソウサシキゾウヘンカンカン
US5532475A (en) Method and apparatus for two-dimensional radiation detection
US4220975A (en) Proximity focused shutter tube and camera
US20030072566A1 (en) Device and method for the analysis of one or more signals with wide dynamic range
JPH03147240A (ja) 光電子増倍管
US5393972A (en) Imaging device with high speed shuttering
JP6401600B2 (ja) ストリーク管及びそれを含むストリーク装置
JP3881629B2 (ja) 入射光の二次元位置検出装置
GB2082830A (en) Electron-beam shutters and shutter tubes
US4264811A (en) Semiconductor image sensing device
JPS5935344A (ja) 電子光学的イメージ管
US9368315B2 (en) Streak tube with connection lead to reduce voltage propagation differences
JPS5858007B2 (ja) ストリ−ク管
CH670920A5 (ja)
SU1191979A1 (ru) Сенсорная трубка для из’мерения. быстропротекающих световых процессов
Dunham et al. Performance factors for intensified-CCD systems
Olsen EG&G, Inc., fast streak camera operation
JPS5812697B2 (ja) イメ−ジ増強器
JP2556338B2 (ja) 素粒子時間相関測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees