JPH0626706B2 - 単分子累積膜の製造方法 - Google Patents
単分子累積膜の製造方法Info
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- JPH0626706B2 JPH0626706B2 JP63221754A JP22175488A JPH0626706B2 JP H0626706 B2 JPH0626706 B2 JP H0626706B2 JP 63221754 A JP63221754 A JP 63221754A JP 22175488 A JP22175488 A JP 22175488A JP H0626706 B2 JPH0626706 B2 JP H0626706B2
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Description
関するものである。さらに詳しくは、分子素子等の機能
性電子デバイスの製造に利用すべく開発された化学吸着
型単分子累積膜の製造方法に関するものである。
られている。この方法では、疎水性基と親水性基を持つ
両親媒性の物質を有機溶媒に溶解させて水面上に展開
し、前記有機溶媒を蒸発させた後水面上に残った前記物
質の分子を水面上で水面方向にバリヤでかき集め、所定
の表面圧を加えながら此の単分子膜を横切るように基板
を上下させることにより単分子膜を前記基板上に複数層
累積することを特徴としている。[この累積法を開発者
の名前にちなんでラングミュアー・ブロジェット(L
B)法と言う。また、この方法により累積された単分子
膜をLB膜という] LB法は、近年分子そのものに機能を持たせた分子デバ
イス開発において、構築手段の一つとして有望視されて
いる方法である。LB法によれば、数十オングストロー
ムオーダの単分子膜を作成でき、さらにその累積膜も容
易に得ることが出来る。
単分子膜間では、化学結合がないため膜としての性能が
不安定であり、しかも分子密度の点でもそれほど優れた
膜が得られず、ピンホール等も非常に多い欠点がある。
の性能を十分発揮できてないのが現状である。
単分子膜間で相互に化学結合した膜質の優れた高密度単
分子累積膜を提供することにある。
の酸素とシラン界面活性剤を非水系の有機溶剤中で化学
吸着させ前記基板表面に前記シラン界面活性剤よりなる
第1の単分子膜を形成し、前記第1の単分子膜に、所定
のガス雰囲気中で高エネルギー線を照射するか又はプラ
ズマ処理を施した後シラン界面活性剤を化学吸着させる
ことにより前記第1の単分子膜上に前記第1の単分子膜
と化学結合した第2の単分子膜を形成するものである。
H−(CH2)n−SiCl3(n:整数)で表される化
学物質を用いる。さらに望ましくはCH2=CH−基が
CH≡C−よりなる。そして、ガス雰囲気はたとえばN
2またはO2を用いることができる。
学吸着させて単分子吸着膜形成後さらに所定のガスを含
む雰囲気中でエネルギー線(光、電子ビーム、X線、γ
線、イオンビーム等)を照射したりあるいはプラズマ処
理を行うこと等により前記シラン界面活性剤の感応基を
変性させた後再びシラン界面活性剤を吸着するため、膜
質がすぐれ、ピンホールのない単分子有機累積膜を形成
することができる、そして、以上の工程を多数回交互に
行うことにより、互いに単分子膜間で化学結合した多数
層の単分子膜を累積形成することも可能てなる。
含むものとしてたとえば熱酸化あるいはCVD法により
SiO2膜2を形成し表面を親水性化した後、シラン界
面活性剤としてCH2=CH−(CH2)n−SiCl
3(n:整数。10〜20程度が最も扱いやすい)を用
い、2×10-3〜5×10-2Mol/l程度の濃度で溶かし
た80%n−ヘキサン、12%四塩化炭素、8%クロロ
ホルム溶液を調整し、前記基板を30分程度浸漬する
と、Si基板表面はすでにSiO2が形成されているの
で表面で の結合が生成され、シラン界面活性剤による単分膜3が
一層(20〜30の厚み)形成される。(第2図) 次に、酸素あるいはN2を含んだ雰囲気中で(空気中で
もよい)ビニル基(CH2=CH−)4をエネルギー線
(電子線、X線、γ線、紫外線、イオン線)で照射し、
ビニル基に水酸(−OH)基5(第3図)あるいはアミ
ノ(−NH2)基6(第4図)又はイミノ基(−NH)
を付加させる。なお、このとき水酸基5やアミノ基5が
形成されることはフーリエ変換型赤外分光分析(FTI
R分析)により確認された。また、このとき表面に並ん
だビニル基4に、O2やN2を含んだプラズマ中で処理す
る方法でも−OH基や−NH2基の付加を行うことがで
きる。
吸着工させ、シラン界面活性剤の−SiCl基とOH基
あるいはNH2基の付加反応を生じせしめ、基板の表面
に複数層の単分子膜が互いに層間で化学結合した状態の
単分子累積膜7を得ることができる。第5図はOH基と
の結合、第6図はNH2基との結合による状態を示す。
を末端に付加した試薬を用いても、同様の方法が可能で
あることがFTIR分析により確認された。
体〔例えば、CH2=CH−(CH2)n−C≡C−C≡
C−(CH2)m−SiCl3(n、m:整数)等〕を用
いた場合には、紫外線照射により架橋を生成させ面方向
の導電性を持たすことが可能となる。
例で説明してきたが、表面が親水性の基を有する物質な
ら、全てのものに応用できることは明かである。
工程とOH基あるいはNH2基の付加工程とを多数交互
に繰り返すことにより、多数層の単分子累積膜を形成す
ることが可能となる。
単分子膜が互いに層間で化学結合した状態の非常に薄い
有機薄膜(単分子累積膜)を高密度でピンホール無く、
均一な厚みで形成できる。従って、本発明の方法は、分
子レベルでの取扱が必要な分子素子などの製造に極めて
有効なものである。
面図を示し、第1図は概念図、第2図〜第6図は第1図
中O印A部を分子レベルまで拡大した断面図である。 1……Si基板、2……SiO2、3……単分子膜、4
……ビニル基、5……水酸基、6……アミノ基、7……
単分子累積膜。
Claims (4)
- 【請求項1】親水性の基板表面の酸素とシラン界面活性
剤を非水系の有機溶媒中で化学吸着させ前記基板表面に
前記シラン界面活性剤よりなる第1の単分子膜を形成
し、前記第1の単分子膜に、所定のガス雰囲気中で高エ
ネルギー線を照射するか又はプラズマ処理を施した後シ
ラン界面活性剤を化学吸着させることにより、前記第1
の単分子膜上に前記第1の単分子膜と化学結合した第2
の単分子膜を形成することを特徴とした単分子累積膜の
製造方法。 - 【請求項2】シラン界面活性剤として、CH2=CH−
(CH2)n−SiCl3(n:整数)で表される化学物
質を用いることを特徴とした特許請求の範囲第1項記載
の単分子累積膜の製造方法。 - 【請求項3】ガス雰囲気がN2またはO2であることを特
徴とした特許請求の範囲第2項記載の単分子累積膜の製
造方法。 - 【請求項4】CH2=CH−基がCH≡C−基であるこ
とを特徴とした特許請求の範囲第2項記載の単分子累積
膜の製造方法。
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JP63221754A JPH0626706B2 (ja) | 1988-09-05 | 1988-09-05 | 単分子累積膜の製造方法 |
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JP63221754A JPH0626706B2 (ja) | 1988-09-05 | 1988-09-05 | 単分子累積膜の製造方法 |
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JP63221754A Expired - Lifetime JPH0626706B2 (ja) | 1988-09-05 | 1988-09-05 | 単分子累積膜の製造方法 |
Country Status (2)
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