JPH06244031A - 可変インダクタ調整装置 - Google Patents
可変インダクタ調整装置Info
- Publication number
- JPH06244031A JPH06244031A JP3160593A JP3160593A JPH06244031A JP H06244031 A JPH06244031 A JP H06244031A JP 3160593 A JP3160593 A JP 3160593A JP 3160593 A JP3160593 A JP 3160593A JP H06244031 A JPH06244031 A JP H06244031A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- variable inductor
- circuit
- core
- pulse motor
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 可変インダクタなどインダクタンス値が可変
できるインダクタのインダクタンス値を高速で精度よく
測定を行い、指定されたインダクタンス値に短時間かつ
高い調整精度で調整することが可能な可変インダクタ調
整装置を提供することを目的とする。 【構成】 可変インダクタ２に回路部３を接触させ、パ
ルスモータ４を前進させて可変インダクタ２のコア２ａ
にドライバ５を当て、ドライバ５がコア２ａに係合する
と制御部９より回路部３に測定開始命令が出され、回路
部３における位相の測定を開始し、回転制御部７へ測定
した位相値に対応したデータを出力し、回転制御部７か
ら駆動部８へモータパルスが出力されてパルスモータ４
が回転し、位相値が０度になった所でパルスモータ４を
停止する。
できるインダクタのインダクタンス値を高速で精度よく
測定を行い、指定されたインダクタンス値に短時間かつ
高い調整精度で調整することが可能な可変インダクタ調
整装置を提供することを目的とする。 【構成】 可変インダクタ２に回路部３を接触させ、パ
ルスモータ４を前進させて可変インダクタ２のコア２ａ
にドライバ５を当て、ドライバ５がコア２ａに係合する
と制御部９より回路部３に測定開始命令が出され、回路
部３における位相の測定を開始し、回転制御部７へ測定
した位相値に対応したデータを出力し、回転制御部７か
ら駆動部８へモータパルスが出力されてパルスモータ４
が回転し、位相値が０度になった所でパルスモータ４を
停止する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は例えば可変インダクタな
どのようにインダクタンス値が可変できるインダクタの
インダクタンス値を、自動的にかつ正確に測定すると共
に指定された値に調整を行う可変インダクタ調整装置に
関するものである。
どのようにインダクタンス値が可変できるインダクタの
インダクタンス値を、自動的にかつ正確に測定すると共
に指定された値に調整を行う可変インダクタ調整装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】可変インダクタは、それが組み込まれる
機器の無調整化のために高精度のインダクタンス調整が
要求されている。
機器の無調整化のために高精度のインダクタンス調整が
要求されている。
【０００３】このような可変インダクタのインダクタン
ス調整では、微小で変化するインダクタンス値を測定・
調整する必要があり、これを行うためにインダクタンス
メータを使用したのでは高速化が難しいことから従来の
調整装置では、可変インダクタと外付けの抵抗及びコン
デンサで共振回路を構成したものを用い、インダクタン
ス値を共振周波数に置き換えて測定を行っていた。
ス調整では、微小で変化するインダクタンス値を測定・
調整する必要があり、これを行うためにインダクタンス
メータを使用したのでは高速化が難しいことから従来の
調整装置では、可変インダクタと外付けの抵抗及びコン
デンサで共振回路を構成したものを用い、インダクタン
ス値を共振周波数に置き換えて測定を行っていた。
【０００４】以下に、上記従来のインダクタンス調整装
置について図面を用いて説明する。図４は従来の可変イ
ンダクタ調整装置の構成をブロック図を併用して示した
斜視図であり、同図において１はトラッキングスコープ
を用いた測定信号源、２は測定試料である可変インダク
タ、２ａは可変インダクタ２のコア、３はこの可変イン
ダクタ２を接続することにより共振回路を形成する回路
部であり、この回路部３の詳細は図２（ａ）に回路図を
用いて示す。
置について図面を用いて説明する。図４は従来の可変イ
ンダクタ調整装置の構成をブロック図を併用して示した
斜視図であり、同図において１はトラッキングスコープ
を用いた測定信号源、２は測定試料である可変インダク
タ、２ａは可変インダクタ２のコア、３はこの可変イン
ダクタ２を接続することにより共振回路を形成する回路
部であり、この回路部３の詳細は図２（ａ）に回路図を
用いて示す。
【０００５】また、４は先端にドライバ５が結合された
パルスモータであり、可変インダクタ２のコア２ａにド
ライバ５を係合させてコア２ａを回転させるものであ
る。６は回路部３により測定した可変インダクタ２の共
振点を検出する検出部、７はパルスモータ４を制御する
回転制御部、８はパルスモータ４を回転させる駆動部で
ある。
パルスモータであり、可変インダクタ２のコア２ａにド
ライバ５を係合させてコア２ａを回転させるものであ
る。６は回路部３により測定した可変インダクタ２の共
振点を検出する検出部、７はパルスモータ４を制御する
回転制御部、８はパルスモータ４を回転させる駆動部で
ある。
【０００６】このように構成された従来の可変インダク
タ調整装置は、図４に示す回路部３での可変インダクタ
２のインダクタンス値をＬ、コンデンサの容量値をＣと
すると、この回路における同図（Ａ）部のインピーダン
スＺは（数１）に示すようになる。
タ調整装置は、図４に示す回路部３での可変インダクタ
２のインダクタンス値をＬ、コンデンサの容量値をＣと
すると、この回路における同図（Ａ）部のインピーダン
スＺは（数１）に示すようになる。
【０００７】
【数１】
【０００８】ここで、この回路部３にＩＮ端子から信号
を入力するとω＝ωoなる周波数で（Ａ）部のインピー
ダンスは最大になり、ＯＵＴ端子からの出力は最大とな
る。また逆に、測定信号源１の周波数を規定の範囲で掃
引（可変）させ、出力が最大となる点（共振点）を求め
るとインダクタンス値を知ることができる。
を入力するとω＝ωoなる周波数で（Ａ）部のインピー
ダンスは最大になり、ＯＵＴ端子からの出力は最大とな
る。また逆に、測定信号源１の周波数を規定の範囲で掃
引（可変）させ、出力が最大となる点（共振点）を求め
るとインダクタンス値を知ることができる。
【０００９】さらに図４に示すようにパルスモータ４を
回転させながらコア２ａを回転させ、この測定を繰り返
し行うと、図５（ｂ）に示すようにインダクタンス値の
変化と共に共振点が移動し、規定のインダクタンス値に
対応した目標共振点に達した時にパルスモータ４の回転
を止めて調整を完了するように構成されたものであっ
た。
回転させながらコア２ａを回転させ、この測定を繰り返
し行うと、図５（ｂ）に示すようにインダクタンス値の
変化と共に共振点が移動し、規定のインダクタンス値に
対応した目標共振点に達した時にパルスモータ４の回転
を止めて調整を完了するように構成されたものであっ
た。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の可変インダクタ調整装置では、周波数を掃引さ
せた上で利得の最大値を検出しなければならないため、
図６に示すように測定信号源１の性能から掃引が一回当
り１５ｍｓｅｃ程度必要となり、測定時間は掃引時間で
決定されてしまい一回当り１５ｍｓｅｃ程度であった。
な従来の可変インダクタ調整装置では、周波数を掃引さ
せた上で利得の最大値を検出しなければならないため、
図６に示すように測定信号源１の性能から掃引が一回当
り１５ｍｓｅｃ程度必要となり、測定時間は掃引時間で
決定されてしまい一回当り１５ｍｓｅｃ程度であった。
【００１１】このため、調整時間が長く必要となり、
又、パルスモータ４の回転に対し測定が遅いため分解能
も悪いという課題を有したものであった。
又、パルスモータ４の回転に対し測定が遅いため分解能
も悪いという課題を有したものであった。
【００１２】本発明は上記課題を解決し、可変インダク
タのコアの回転状態におけるインダクタンス値の検査を
高速で精度よく行うことにより、短時間で高い調整精度
を実現することが可能な可変インダクタ調整装置を提供
することを目的とするものである。
タのコアの回転状態におけるインダクタンス値の検査を
高速で精度よく行うことにより、短時間で高い調整精度
を実現することが可能な可変インダクタ調整装置を提供
することを目的とするものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明による可変インダクタ調整装置は、可変インダ
クタを接続することにより共振回路を形成する回路部
と、この回路部に接続され可変インダクタの位相を測定
する測定部と、この測定部を制御する制御部と、上記可
変インダクタのコアと係合しこのコアを回転させる調整
部と、上記測定部で測定した結果をもとに上記調整部の
駆動を行う回転制御部からなる構成としたものである。
に本発明による可変インダクタ調整装置は、可変インダ
クタを接続することにより共振回路を形成する回路部
と、この回路部に接続され可変インダクタの位相を測定
する測定部と、この測定部を制御する制御部と、上記可
変インダクタのコアと係合しこのコアを回転させる調整
部と、上記測定部で測定した結果をもとに上記調整部の
駆動を行う回転制御部からなる構成としたものである。
【００１４】
【作用】この構成により、回路部に接続した可変インダ
クタの位相値を測定部で測定し、この結果をもとに位相
値が０度になるように調整部により可変インダクタのコ
アを回転させることによって可変インダクタのインダク
タンス値を極めて高速で、かつ高精度に調整することが
できる。
クタの位相値を測定部で測定し、この結果をもとに位相
値が０度になるように調整部により可変インダクタのコ
アを回転させることによって可変インダクタのインダク
タンス値を極めて高速で、かつ高精度に調整することが
できる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の一実施例による可変インダク
タ調整装置について図面を参照しながら説明する。
タ調整装置について図面を参照しながら説明する。
【００１６】なお、従来例で説明した部品と同じ構成の
部品には同じ符号を付与する。図１は本発明の可変イン
ダクタ調整装置の構成をブロック図を併用して示した斜
視図であり、同図において２は測定試料である可変イン
ダクタ、２ａは可変インダクタ２のコア、３はこの可変
インダクタ２を接続することにより共振回路を形成する
回路部であり、この回路部３の詳細は図２（ａ）に回路
図を用いて示す。また、４は先端にドライバ５が結合さ
れたパルスモータであり、可変インダクタ２のコア２ａ
にドライバ５を係合させてコア２ａを回転させるもので
ある。
部品には同じ符号を付与する。図１は本発明の可変イン
ダクタ調整装置の構成をブロック図を併用して示した斜
視図であり、同図において２は測定試料である可変イン
ダクタ、２ａは可変インダクタ２のコア、３はこの可変
インダクタ２を接続することにより共振回路を形成する
回路部であり、この回路部３の詳細は図２（ａ）に回路
図を用いて示す。また、４は先端にドライバ５が結合さ
れたパルスモータであり、可変インダクタ２のコア２ａ
にドライバ５を係合させてコア２ａを回転させるもので
ある。
【００１７】１０は上記回路部３に接続されて回路部３
に信号を入力し、回路部３からの出力を測定することに
よって可変インダクタ２の位相値を求め、位相値のラン
クデータを出力する位相計からなる測定部、９はこの測
定部１０を制御する制御部、７は上記測定部１０からの
ランクデータを読み込み、これに対応したパルスを出力
する回転制御部、８はパルスモータ４を回転させる駆動
部である。
に信号を入力し、回路部３からの出力を測定することに
よって可変インダクタ２の位相値を求め、位相値のラン
クデータを出力する位相計からなる測定部、９はこの測
定部１０を制御する制御部、７は上記測定部１０からの
ランクデータを読み込み、これに対応したパルスを出力
する回転制御部、８はパルスモータ４を回転させる駆動
部である。
【００１８】このように構成される本発明の可変インダ
クタ調整装置は、図２（ａ）に示す回路部３における回
路の反電圧伝達関数Ｔは（数２）のようになり、さらに
位相値θは（数３）のようになる。
クタ調整装置は、図２（ａ）に示す回路部３における回
路の反電圧伝達関数Ｔは（数２）のようになり、さらに
位相値θは（数３）のようになる。
【００１９】
【数２】
【００２０】
【数３】
【００２１】この（数２）ならびに（数３）から、共振
点（ω＝ωo）では位相値が０度になることがわかる。
この状態を示すのが図３（ａ）であり、この図３（ａ）
において目標とするインダクタンス値に対応する共振点
における位相値に着目すると、同図（ｂ）に示すように
コア２ａの移動に伴って位相値は初期値から徐々に０度
に近づく。これを横軸を時間軸としてみると同図（ｃ）
のようになる。
点（ω＝ωo）では位相値が０度になることがわかる。
この状態を示すのが図３（ａ）であり、この図３（ａ）
において目標とするインダクタンス値に対応する共振点
における位相値に着目すると、同図（ｂ）に示すように
コア２ａの移動に伴って位相値は初期値から徐々に０度
に近づく。これを横軸を時間軸としてみると同図（ｃ）
のようになる。
【００２２】従って、この方法を用いると周波数を掃引
させる必要がなく、周波数１点のみの測定で良いため、
１ｍｓｅｃ程度で位相値の測定を行うことができる。さ
らに、測定後の位相値をその値によりいくつかの領域
（ランク）に分割し、測定値がどの領域にあるかにより
パルスモータ４の回転の制御を行う方式や、或いは、初
期値からの換算式でパルスモータ４を制御する方式など
を用い、図３（ｃ）に示すように位相値が０度に達した
点でパルスモータ４を停止させることにより、１ｍｓｅ
ｃ程度の測定繰り返し時間で測定ならびにインダクタン
ス調整を行うことができる。
させる必要がなく、周波数１点のみの測定で良いため、
１ｍｓｅｃ程度で位相値の測定を行うことができる。さ
らに、測定後の位相値をその値によりいくつかの領域
（ランク）に分割し、測定値がどの領域にあるかにより
パルスモータ４の回転の制御を行う方式や、或いは、初
期値からの換算式でパルスモータ４を制御する方式など
を用い、図３（ｃ）に示すように位相値が０度に達した
点でパルスモータ４を停止させることにより、１ｍｓｅ
ｃ程度の測定繰り返し時間で測定ならびにインダクタン
ス調整を行うことができる。
【００２３】以上のように構成された本発明の可変イン
ダクタ調整装置について、以下にその動作を説明する。
ダクタ調整装置について、以下にその動作を説明する。
【００２４】まず、調整を行う可変インダクタ２を投入
し、これに回路部３を接触させ、又、パルスモータ４を
前進させて可変インダクタ２のコア２ａにドライバ５を
当てる。可変インダクタ２と回路部３との接続ならびに
ドライバ５と可変インダクタ２の係合が確認されると、
制御部９より測定部１０に測定開始命令が出され、可変
インダクタ２の位相の測定を開始し、この測定した位相
に対応したランクデータを回転制御部７に出力する。こ
の際、位相の＋か−かによってパルスモータ４の回転方
向の指定も同時に行う。
し、これに回路部３を接触させ、又、パルスモータ４を
前進させて可変インダクタ２のコア２ａにドライバ５を
当てる。可変インダクタ２と回路部３との接続ならびに
ドライバ５と可変インダクタ２の係合が確認されると、
制御部９より測定部１０に測定開始命令が出され、可変
インダクタ２の位相の測定を開始し、この測定した位相
に対応したランクデータを回転制御部７に出力する。こ
の際、位相の＋か−かによってパルスモータ４の回転方
向の指定も同時に行う。
【００２５】回転制御部７は、上記ランクデータに対応
したパルスを駆動部８に送りパルスモータ４を回転させ
る。パルスモータ４が回転すると、徐々に位相値は０度
に近づき、やがてスローダウン領域に達する。この後、
回転制御部７は測定部１０からの測定タイミング信号に
同期したパルスを出力し、一回の測定に対し１ステップ
のパルスモータ４の回転となり、目標値に達すると１ス
テップの誤差もなくパルスモータ４を止め、可変インダ
クタ２のインダクタンス値を調整することができる。
したパルスを駆動部８に送りパルスモータ４を回転させ
る。パルスモータ４が回転すると、徐々に位相値は０度
に近づき、やがてスローダウン領域に達する。この後、
回転制御部７は測定部１０からの測定タイミング信号に
同期したパルスを出力し、一回の測定に対し１ステップ
のパルスモータ４の回転となり、目標値に達すると１ス
テップの誤差もなくパルスモータ４を止め、可変インダ
クタ２のインダクタンス値を調整することができる。
【００２６】
【発明の効果】以上のように本発明による可変インダク
タ調整装置は、可変インダクタのコアの回転に伴って変
化する可変インダクタのインダクタンス値を共振回路に
おける位相値として周波数１点のみで測定し、このデー
タによりパルスモータを制御して可変インダクタのコア
を回転させることにより、可変インダクタのインダクタ
ンス値を極めて高速（従来比１／１５の時間）で、かつ
精度よく調整することができ、可変インダクタの生産性
向上に大きく貢献できるものである。
タ調整装置は、可変インダクタのコアの回転に伴って変
化する可変インダクタのインダクタンス値を共振回路に
おける位相値として周波数１点のみで測定し、このデー
タによりパルスモータを制御して可変インダクタのコア
を回転させることにより、可変インダクタのインダクタ
ンス値を極めて高速（従来比１／１５の時間）で、かつ
精度よく調整することができ、可変インダクタの生産性
向上に大きく貢献できるものである。
【００２７】又、上記本発明は可変インダクタのみなら
ず、フィルタ、共振器の調整、検査にも適用できること
はいうまでもない。
ず、フィルタ、共振器の調整、検査にも適用できること
はいうまでもない。
【図１】本発明の一実施例による可変インダクタ調整装
置の構成をブロック図を併用して示した斜視図
置の構成をブロック図を併用して示した斜視図
【図２】（ａ）同実施例および従来の回路部の一例を示
す回路図 （ｂ）同回路図の周波数特性図
す回路図 （ｂ）同回路図の周波数特性図
【図３】（ａ）同実施例による回路部の利得の周波数特
性図と位相値の周波数特性図 （ｂ）同コアの移動による位相値の変化を表す特性図 （ｃ）同位相値の時間的変化とランク分割によるモータ
制御を説明する特性図
性図と位相値の周波数特性図 （ｂ）同コアの移動による位相値の変化を表す特性図 （ｃ）同位相値の時間的変化とランク分割によるモータ
制御を説明する特性図
【図４】従来の可変インダクタ調整装置の構成をブロッ
ク図を併用して示した斜視図
ク図を併用して示した斜視図
【図５】（ａ）本発明ならびに従来のドライバの回転に
よるコアの移動の様子を表す斜視図 （ｂ）同コアの移動による共振点の移動の様子を表す特
性図
よるコアの移動の様子を表す斜視図 （ｂ）同コアの移動による共振点の移動の様子を表す特
性図
【図６】従来のインダクタンス値測定とパルスモータの
パルスのタイミングを表す特性図
パルスのタイミングを表す特性図
２ 可変インダクタ ２ａ コア ３ 回路部 ４ パルスモータ ５ ドライバ ７ 回転制御部 ８ 駆動部 ９ 制御部 １０ 測定部
Claims (1)
- 【請求項１】 可変インダクタを接続することにより共
振回路を形成する回路部と、この回路部に接続され可変
インダクタの位相を測定する測定部と、この測定部を制
御する制御部と、上記可変インダクタのコアと係合しこ
のコアを回転させる調整部と、上記測定部で測定した結
果をもとに上記調整部の駆動を行う回転制御部からなる
可変インダクタ調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3160593A JPH06244031A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | 可変インダクタ調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3160593A JPH06244031A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | 可変インダクタ調整装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06244031A true JPH06244031A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12335838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3160593A Pending JPH06244031A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | 可変インダクタ調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06244031A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1129961A2 (en) | 2000-02-29 | 2001-09-05 | Ricoh Company, Ltd. | Powder container, method of assembling the same and method of reducing the volume of the same |
| US7006180B2 (en) * | 2000-08-29 | 2006-02-28 | Nec Corporation | Method for producing a reflection liquid crystal display |
| JP2015226196A (ja) * | 2014-05-28 | 2015-12-14 | 竹中エンジニアリング株式会社 | 光線式検知器の受光回路 |
-
1993
- 1993-02-22 JP JP3160593A patent/JPH06244031A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1129961A2 (en) | 2000-02-29 | 2001-09-05 | Ricoh Company, Ltd. | Powder container, method of assembling the same and method of reducing the volume of the same |
| US7006180B2 (en) * | 2000-08-29 | 2006-02-28 | Nec Corporation | Method for producing a reflection liquid crystal display |
| JP2015226196A (ja) * | 2014-05-28 | 2015-12-14 | 竹中エンジニアリング株式会社 | 光線式検知器の受光回路 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5063454A (en) | Automatic adjustment method and system for servo motor circuit of a magnetic disk apparatus | |
| JPH06244031A (ja) | 可変インダクタ調整装置 | |
| US4387338A (en) | Method and apparatus for testing a metallic workpiece by inducing eddy currents therein | |
| US3970931A (en) | Method of indicating and/or recording electrical quantities and indicating respectively recording apparatus embodying said method | |
| US20040212862A1 (en) | Optical scanner and laser machining apparatus | |
| JP3011555B2 (ja) | 信号位相差の補正方法及び装置 | |
| EP0257726A2 (en) | Sweep generator error characterization | |
| JP2607533B2 (ja) | 加工装置及び加工方法 | |
| JPS6347601A (ja) | スキヤニングキヤパシタンスマイクロスコピ− | |
| JP2735241B2 (ja) | 光ディスクのシーク方法及び光ディスク装置 | |
| JP2706686B2 (ja) | 位置制御方式 | |
| JP2605177Y2 (ja) | 周波数調整装置 | |
| JP2919646B2 (ja) | 位置決め判定方法と該判定方法による位置決め制御装置 | |
| JPS6299054A (ja) | 微細位置決め方法 | |
| JP3160089B2 (ja) | Ｎｑｒプローブのチューニング法 | |
| JP2897080B2 (ja) | 変位計調整方法及びその装置 | |
| JPH0525597B2 (ja) | ||
| KR100187206B1 (ko) | 검사조정 제어기의 멀티포인트 조정장치 및 그 조정방법 | |
| JPH10270969A (ja) | アンテナ整合回路の可変素子制御回路 | |
| JP2803416B2 (ja) | 磁気記録再生装置 | |
| JPH0630576A (ja) | サーボ制御装置およびサーボ制御方法 | |
| JP2510994B2 (ja) | 移動テ−ブル制御装置 | |
| JP2599989B2 (ja) | 磁気ディスク装置とそのサーボ回路調整方法 | |
| SU1397730A1 (ru) | Ультразвуковой интерферометрический толщиномер | |
| JPH03203591A (ja) | 周波数調整装置 |