JPH06230033A - プローブ基板 - Google Patents

プローブ基板

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JPH06230033A
JPH06230033A JP3925093A JP3925093A JPH06230033A JP H06230033 A JPH06230033 A JP H06230033A JP 3925093 A JP3925093 A JP 3925093A JP 3925093 A JP3925093 A JP 3925093A JP H06230033 A JPH06230033 A JP H06230033A
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JP
Japan
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probe
substrate
probes
fixed
supporting member
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JP3925093A
Other languages
English (en)
Inventor
Kimiyoshi Saito
公義 斉藤
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TOHO DENSHI KK
Original Assignee
TOHO DENSHI KK
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Publication date
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Publication of JPH06230033A publication Critical patent/JPH06230033A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 プローブの小ピッチ化を容易にすると共に、
被検査体に対するプローブの圧力、及び、プローブの耐
久性を安定したものにする。 【構成】 プローブ4を、先鋭な先端4aを有した板状
の弾性材により形成し、それぞれのプローブを、それぞ
れの幅広面が絶縁物10を介して対向するように、プロ
ーブ支持部材5に所定の傾きをもって固定するように
し、プローブを板状にすることでその剛性を高め、か
つ、プローブの厚み及びそれぞれのプローブ間を絶縁す
る絶縁物の厚みにより、それぞれのプローブのピッチを
決定するようにしている。また、それぞれのプローブを
所定の傾きをもってプローブ支持部材に固定し、被検査
体に先端が当接した際の撓み方向が一方向となるように
している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、大規模半導体集積回路
(LSI)の製造工程などにおいて、集積回路チップの
検査などに使用されるプローブ基板の改良に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】この種のプローブ基板は、一般に円形あ
るいは略正方形の、スルーホールを有するプリント基板
の中央部下面に、セラミックあるいはアルミニウムによ
り形成される環状のプローブ支持部材を介して、多数の
プローブを、その先端が下方を向くように絶縁材のモー
ルド加工などにより固定するようにして構成されてい
る。
【0003】図7は、従来のプローブ基板の例を示す断
面図であり、何れもプローブを含む断面図として示され
ている。
【0004】図7(a)の断面図では、従来のプローブ
基板21の中心から右半分の断面図として示されている
が、プローブ基板21では、プローブ22が先端22a
に近づくにしたがって次第にその径が細くなるようにテ
ーパー状に形成され、プローブ22全体がプローブ基板
21の基板23に対して斜め(一般に基板23の面に対
して約10度程度の角度)に、絶縁材24にモールド加
工などにより固定され、絶縁材24は、プローブ支持部
材25を介して、基板23の中央部下面に固定されてい
る。プローブ支持部材25は、セラミックあるいはアル
ミニウムなどにより形成され、スペーサの機能をも果た
すものである。
【0005】プローブ22の先端22aは、基板23を
水平に置いたとき、先端22aが略垂直方向を向くよう
に、先端22aの近傍において折り曲げ加工されてい
る。
【0006】また、図7(b)に示すプローブ基板26
では、プローブ27は基板28に対して直角に、したが
って、基板28を水平に置いたとき、プローブ27がす
べて垂直方向を向くように絶縁材29にモールド加工な
どにより固定され、絶縁材29がプローブ支持部材30
を介して基板28に固定されている。
【0007】半導体集積回路の検査に当たっては、集積
回路チップ31を載せた検査台32を下方からプローブ
基板21に向かって上昇させると、プローブ22の先端
22aが、被検査半導体集積回路のパッド33にそれぞ
れ接触する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年におけ
る半導体集積回路の集積度の進展は著しく、カメラ等の
小型精密機器などへの利用とあいまって、集積回路チッ
プの高密度化がますます顕著となっている。この集積回
路チップの高密度化に伴い、パッドの小型化は勿論、隣
接するパッドのピッチも小ピッチ化し、将来的には10
0μm,50μmとなることが予想される。したがっ
て、プローブ基板においても、プローブのピッチをパッ
ドのピッチに合せる構造とする必要がある。
【0009】しかしながら、上述した様なプローブ基板
において、プローブのピッチを小ピッチ化するには、そ
の位置決めの困難さから限界(150μm程度が限界と
されている)があり、例えば100μm,50μmの高
密度化された集積回路チップを有する半導体集積回路へ
の対応は実現不可能であった。
【0010】また、仮に、パッドのピッチが150μm
程度の被検査半導体集積回路に対応した、限界とされる
プローブのピッチが150μm程度のプローブ基板を構
成できたとしても、この際のプローブの径(太さ)は非
常に小さい(細い)ものとなり、針圧や耐久性に問題を
生じてくる。又、直進性(プローブを真直に保つこと)
にも難を生じ、パッドとの位置決めを容易に行えないと
いった新たな問題も生じくる。さらに、プローブの先端
側の折り曲げ部分も細くなる為、パッドとのコンタクト
が不安定になるといった問題も生じてくることが予想さ
れる。
【0011】(発明の目的)本発明の目的は、プローブ
の小ピッチ化を容易にすると共に、被検査体に対するプ
ローブの圧力、及び、プローブの耐久性を安定したもの
にすることのできるプローブ基板を提供することであ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、プローブを、
先鋭な先端を有した板状の弾性材により形成し、それぞ
れのプローブを、それぞれの幅広面が絶縁物を介して対
向するように、プローブ支持部材に所定の傾きをもって
固定するようにしている。
【0013】
【作用】本発明では、プローブを板状にしてその剛性を
高め、かつ、プローブの厚み及びそれぞれのプローブ間
を絶縁する絶縁物の厚みにより、それぞれのプローブの
ピッチを決定するようにしている。また、それぞれのプ
ローブを所定の傾きをもってプローブ支持部材に固定
し、被検査体に先端が当接した際の撓み方向が一方向と
なるようにしている。
【0014】
【実施例】図1〜図3は本発明の一実施例に係る図であ
り、図1はプローブ基板の分解斜視図、図2は図1にお
けるA−A′断面図、図3は図1のプローブの拡大斜視
図である。
【0015】プローブ基板1は、基板2の中央付近に形
成された長穴3の上面に、板状(幅広状)の多数のプロ
ーブ4を保持したプローブ支持部材5が、前記プローブ
4の先端4aが基板2の下方を向くように固定され、こ
れらに、スペーサの機能を果たす部材6(図1では一方
のみ図示してある)を介してプリント基板7が固定され
て成る。
【0016】この状態において、プローブ4の他端は、
プリント基板7の導電性部材で覆われた端子を兼用する
スルーホール8を介して上面に形成されるプリントパタ
ーン9にそれぞれ半田付けされ、このプリントパターン
9により該プリント基板7の外周側へ引き出されて(図
1参照)、接地および電源、電子回路部品、検査用装置
などに接続される。つまり、プローブ4の端部は信号取
出部4bとして用いられる。
【0017】プローブ4は、板状(幅広状)のタングス
テンにより形成され、先端4aが先鋭なV字状に形成さ
れている。そして、それぞれのプローブ4は、絶縁性の
フィルム10を介して幅広面が対向する様にして接着剤
にて固定され、さらに、図2に示す様にプローブ支持部
材5に対して斜めの状態にて、絶縁材(樹脂)5aにモ
ールド加工などにより固定され、その周囲をリング5b
によって保持されて、基板2に固定される。
【0018】上記の様にプローブ4をプローブ支持部材
5に対して斜めに(所定の傾きをもって)固定するよう
にしている為、プローブ4の先端4aに被検査体である
ところの集積回路チップ11のパッド12を押し付ける
べく、該集積回路チップ11を載せた検査台13を、図
4(a)の状態から上昇させた場合、図4(b)に示す
様に、その撓む方向は矢印aの方向に一方向となり、こ
の状態において隣接するプローブどうしが接触するとい
ったことを無くすことが可能となる。
【0019】また、プローブ4の圧力〔図4(b)にお
いて、矢印aの力に抗する力〕はその幅(プロープ4の
幅広方向の長さ)と長さ(プローブ支持部材5に保持さ
れた部分から先端4aまでの距離)により決まるが、図
3等から明らかなように、この実施例におけるプローブ
4は、幅広の、いわゆる板状を成しており、かつ、プロ
ーブ支持部材5に保持された部分から先端4aまでの距
離は自在に調整可能であることから、従来の微細な径の
プローブに較べてはるかに腰の強いものとなり、圧力の
安定したものとすることができる。又このことから、耐
久性の優れたものとすることができる。
【0020】また、プローブ4の厚さを薄くすることに
より、プローブ間のピッチを小さくすることができる。
【0021】(第2の実施例)図5は、本発明の他の実
施例であるプローブ基板の、要部断面図(図2と直交す
る方向の断面図)であり、第1の実施例と同じ部分は同
一符号を付すと共にその詳細は省略する。
【0022】この第2の実施例は、プローブ4の信号取
出部4bとプリント基板7との接続の方法を、上記の第
1の実施例とは異ならせた場合の構造を示すものであ
る。
【0023】多数のプローブ4を保持したプローブ支持
部材5は、導電性部材で覆われたスルーホール8を有す
るプリント基板7に直接固定される。
【0024】この際、プローブ4の信号取出部4bは、
プリント基板7の端子を兼ねるスルーホール8を介して
プリントパターン9にそれぞれ半田付けされ、このプリ
ントパターン9により、該プリント基板7の外周側へ引
き出されて、接地および電源、電子回路部品、検査用装
置などに接続される。
【0025】(変形例)本実施例におけるプローブ4
は、その材質としてタングステンを想定しているが、弾
性力があり、金メッキやニッケルメッキなどを施すこと
が可能なものであれば、その材質は特に限定されない。
【0026】また、プロープ4は、図6の(a)に示す
様にその先端4aがV字状であったが、これに限定され
るものではなく、図6の(b),(c)に示すような先
端14a,15aを有するプローブであってもよい。つ
まり、プローブの先端が先鋭なものであれば図6(a)
に示すものには限定されない。
【0027】また、プローブ4は真直なものであった
が、図6(d)に示すように、プローブ支持部材5(不
図示)に斜めに(所定の角度をもって)固定された状態
で、先端16aが、プローブ支持部材5に対して、した
がって集積回路チップに対して、直角に折り曲げ加工さ
れた形状のものであっても良い。このような形状であっ
ても、先端16aと不図示のパッドが当接した状態にお
いて、それぞれのプローブ16の撓む方向は同一の方向
となる。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
プローブを、先鋭な先端を有した板状の弾性材により形
成し、それぞれのプローブを、それぞれの幅広面が絶縁
物を介して対向するように、プローブ支持部材に所定の
傾きをもって固定するようにし、プローブを板状にする
ことでその剛性を高め、かつ、プローブの厚み及びそれ
ぞれのプローブ間を絶縁する絶縁物の厚みにより、それ
ぞれのプローブのピッチを決定するようにしている。ま
た、それぞれのプローブを所定の傾きをもってプローブ
支持部材に固定し、被検査体に先端が当接した際の撓み
方向が一方向となるようにしている。
【0029】よって、プローブの小ピッチ化を容易にす
ると共に、被検査体に対するプローブの圧力、及び、プ
ローブの耐久性を安定したものにすることが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるプローブ基板の分解斜
視図である。
【図2】図1のA−A´断面図である。
【図3】図1のプローブの拡大斜視図である。
【図4】本発明の一実施例において、プローブへパッド
を押し付ける前と後の状態を示す断面図である。
【図5】本発明の他の実施例であるプローブ基板の要部
を示す断面図である。
【図6】図1及び図5に示すプローブとは、その先端形
状が異なったプローブについて説明するための図であ
る。
【図7】従来のプローブ基板の例を示す断面図である。
【図8】従来のプローブ基板におけるプローブの動きを
示す図である。
【符号の説明】
1 プローブ基板 2 基板 4 プローブ 4a 先端 4b 信号取出部 5 プローブ支持部材 7 プリント基板 10 絶縁性フィルム 11 集積回路チップ 12 パッド

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一端が被検査体に当接する先端を成し、
    他端がプリント基板上のプリントパターンに接続される
    導電性の多数のプローブと、前記プリント基板に直接、
    或は、間接的に固定され、前記多数のプローブを保持す
    るプローブ支持部材とを備えたプローブ基板において、
    前記プローブは先鋭な先端を有した板状の弾性材より成
    り、それぞれのプローブは、それぞれの幅広面が絶縁物
    を介して対向するように、前記プローブ支持部材に所定
    の傾きをもって固定されることを特徴とするプローブ基
    板。
JP3925093A 1993-02-04 1993-02-04 プローブ基板 Pending JPH06230033A (ja)

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